射线荧光谱分析仪行业标准

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  • 日立分析 EA1000VX X射线荧光分析仪 400-860-2717
    概要：对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号：EA1000VX测量元素：原子序数13(Al)～92(U)样品形态：固体、粉末、液体射线源：X射线管球(Rh靶材) 管电压：最大50kV 管电流：最大1000μA检测器：多阴极半导体检测器分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)样品观察：彩色CCD摄像头滤波器：5种模式自动切换样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析：块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理：配备EXCEL、配备WORD外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm安装尺寸：1500（W）×1000（D）重量：约60kg使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相 选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点：1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间（平均值）*Cd为20 ppm，除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。（本公司推荐条件下实施）2. 高技术率检测器（Vortex）不需要液氮，使用最大15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音，了解测量进度。根据测量面板的进度条，把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器（选购项）自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短，通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理（检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成），可测量检查的效率，达到消减成本。
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    厂商： 日立分析仪器（上海）有限公司
    品牌： 日立/Hitachi
    型号： EA1000VX
    价格： 50万 - 100万元
  • 马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪Zetium 400-875-0089
    X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染，并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别（固体和液体）条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案
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    厂商： 马尔文帕纳科
    品牌： 马尔文帕纳科/Malvern PANalytical
    型号： Zetium
    价格： 面议
  • Vanta手持式X射线荧光分析仪 400-860-5168转6113
    Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格
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    厂商： 赢洲科技
    品牌： 仪景通/EVDENT
    型号： Vanta Max/Vanta Core
    价格： 面议
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射线荧光谱分析仪行业标准相关的论坛

  • 《能量色散X荧光光谱仪》行业标准起草工作会议在昆召开

    《能量色散X荧光光谱仪》行业标准起草工作会议在昆召开

    《能量色散X射线荧光光谱仪》行业标准起草工作会议在昆召开9月17-19日，《能量色散X射线荧光光谱仪》系列行业标准起草工作会议在昆山嘉乐国际酒店召开。天瑞仪器作为标准起草单位组织了本次会议。根据工信厅科74号文下达的2010年第一批行业标准制修订项目计划，其中项目代号2010-1130T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、2010-1131T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和2010-1132T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》等三项为行业标准制定项目。该三项标准由天瑞仪器股份有限公司负责起草，并于2011年8月成立起草工作组。本次会议，EDX行业标准专家组就起草的标准提出了修改意见，对标准做了进一步完善。会上，中国仪器仪表行业协会秘书长马雅娟给天瑞仪器研发部副部长周晓辉颁发了“全国专业标准化技术委员会委员证书”。同期，工作组专家参观了天瑞仪器。本次会议的出席单位有：中国仪器仪表行业协会中国科学院上海硅酸盐研究所北京分析仪器研究所昆山市产品质量监督检验所岛津企业管理（中国）有限公司牛津仪器（上海）有限公司聚光科技（杭州）股份有限公司北京普析通用仪器有限责任公司上海思百吉仪器系统有限公司北京分公司http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/09/201209250903_392843_2090336_3.jpg 秘书长马亚娟为天瑞仪器颁发证书http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/09/201209250904_392844_2090336_3.jpg 行业标准专家组参观天瑞公司

  • 【好消息】中国仪器仪表学会分析仪器分会X射线荧光光谱分析技术培训5月在北京举办

    X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析，扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及，X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。　　X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高，能同时对多元素快速分析等优点，已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来，国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪，由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高，需要掌握其原理，性能和多种应用技术，为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平，充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能，提高分析测试质量，特举办培训班，系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用，欢迎大家前来参加。　　[b]一、授课教师[/b]　　邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析，主持国家、部、院科学研究项目　　[b]二、培训内容[/b]　　1、X射线荧光光谱分析基础　　2、X射线荧光光谱理论强度计算公式　　3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能　　4、X射线荧光光谱定量分析　　5、X射线荧光光谱分析基体校正　　6、X射线荧光光谱定性和半定量分析　　7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析　　8、X射线荧光光谱分析样品制备　　9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用　　10、X射线荧光光谱分析不确定度评定　　11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用　　12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍　　13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果　　[b]三、培训对象[/b]　　各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员　　[b]四、培训时间、地点及收费[/b]　　2010年5月24日—5月29日 北京　　培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等)，食宿统一安排，费用自理。　[b]　五、培训考核与发证[/b]　　培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费，工本费、邮寄费20元)　[b][color=#ec0078]　六[/color][color=#ff483f]、报名方式：010-51299927-101,13269178446，[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

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  • X射线荧光光谱分析专用标准物质
    X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商：美国ARMI公司主要分析方法：X射线荧光法用途：校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质，是封装在PE或PVC材料中，用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%
    供应商： 北京博德恒悦科贸有限公司
    品牌： ARMI
    价格： 面议
  • 富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140
    富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140符合GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所规定的要求技术参数1、分析范围：50PPM-5%。2、分析范围宽度： S % max—S % min≤5%； 例如石油：S：0.001~5%。3、固有误差、分析精度:石油,符合国家标准GB/T 17040 , 同时符合美国国家标准ASTM D4294的相关要求。4、系统分析时间： 1～999秒，推荐值为60秒。5、检测限：10ppm6、使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%，7、供电电源：220V±20V，50Hz，整机功耗：150W。
    供应商： 长沙富兰德实验分析仪器有限公司
    品牌： 富兰德
    价格： ¥10
  • 美国X射线荧光光谱仪杯SC-7332
    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-7332 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 规格：双开端口 特点：进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518
    供应商： 北京美同达科技有限公司
    品牌： premier
    价格： 面议
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  • 《能量色散X射线荧光光谱仪》行业标准起草工作会议在昆召开
    9月17-19日，《能量色散X射线荧光光谱仪》系列行业标准起草工作会议在昆山嘉乐国际酒店召开。天瑞仪器作为标准起草单位组织了本次会议。 根据工信厅科[2010]74号文下达的2010年第一批行业标准制修订项目计划，其中项目代号2010-1130T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、2010-1131T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和2010-1132T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》等三项为行业标准制定项目。该三项标准由天瑞仪器股份有限公司负责起草，并于2011年8月成立起草工作组。 本次会议，EDX行业标准专家组就起草的标准提出了修改意见，对标准做了进一步完善。会上，中国仪器仪表行业协会秘书长马雅娟给天瑞仪器研发部副部长周晓辉颁发了&ldquo 全国专业标准化技术委员会委员证书&rdquo 。同期，工作组专家参观了天瑞仪器。本次会议的出席单位有：中国仪器仪表行业协会中国科学院上海硅酸盐研究所北京分析仪器研究所昆山市产品质量监督检验所岛津企业管理（中国）有限公司牛津仪器（上海）有限公司聚光科技（杭州）股份有限公司北京普析通用仪器有限责任公司上海思百吉仪器系统有限公司北京分公司秘书长马雅娟为天瑞仪器颁发证书行业标准专家组参观天瑞公司天瑞仪器 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业。旗下拥有北京邦鑫伟业公司和深圳天瑞仪器公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱、医疗仪器等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。了解天瑞仪器：www.skyray-instrument.com
    时间： 2012-09-21
    作者： 天瑞仪器（Skyray）
  • 天瑞仪器参与制定三项能量色散X射线荧光光谱仪行业标准
    2016年10月，工业和信息化部发布了三项机械行业标准，分别为JB/T 12962.1-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》（以下简称“三项标准”）。三项标准将于2017年4月1日正式实施。这三项行业标准均由天瑞仪器起草撰写。天瑞仪器作为在国内最大的X荧光光谱仪生产厂商，X荧光光谱仪产品齐全、种类繁多，包括能量色散X射线荧光光谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪等，基本覆盖了X荧光光谱仪的所有产品。其在业内的知名度获得了国家标准化管理委员会的认可。2010年，全国工业过程测量和控制标准化技术委员会分析仪器分技术委员会任命天瑞仪器为三项标准的主编单位。 天瑞仪器手持式合金分析仪 EXPLORER5000本次起草编撰历时4年。经过多次的验证、讨论及意见征求， 2014年1月，天瑞仪器依据参编单位意见对标准工作组讨论稿再次进行修改并形成了标准送审稿。2016年10月，工业和信息化部批准发布了该标准，并定于2017年4月1日实施。二十世纪七十年代末，我国引进能量色散X射线荧光光谱仪投入使用，到90年代我国已具备自主生产能量色散X射线荧光光谱仪的能力。经历了近30年的发展，到二十一世纪初我国能量色散X射线荧光光谱仪生产技术已日臻成熟。目前，我国已有多家研制、生产、组装能量色散X射线荧光光谱仪的厂商，其产品主要性能指标基本接近国际先进水平。但是如何对能量色散X射线荧光光谱仪进行有效的质量评定，确保能量色散X射线荧光光谱仪的品质，目前国内还没有统一的行业标准，相关企业基本按照自定的标准生产，难免造成仪器性能不稳定、产品质量参差不齐、使用者对仪器性能不了解、仪器购销贸易纠纷不断等问题，严重影响了行业的健康发展。三项标准的实施将打破能量色散X射线荧光光谱仪行业的乱象，将规范本行业对于产品的技术要求及其测试方法，促进产业的进步和发展 将为产品的合同订立和产品交易提供技术支持，确保供货方和使用方的权利和利益 将使相关学术交流中，实验数据和测量结果的表述更加准确、可靠，更具参考性 将为仪器的生产及制造过程中提供可做为验收依据的参考数据。 天瑞仪器食品重金属快速检测仪EDX 3200S PLUS X近几年，天瑞仪器在X射线荧光光谱仪行业屡创辉煌，譬如，自主研发生产的食品重金属快速检测仪EDX 3200S PLUS X，采用了能量色散X射线荧光光谱技术实现食品中微量重金属有害元素的快速检测，操作简单，自动化程度高，可同时检测24个样本；在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上，在国家重大科学仪器设备开发专项资金支持下，融合独有的科技创新和发明，推出了国内第一台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪——WDX 4000，为土壤重金属检测提供新支持；成功研发EXPLORER手持式能量色散X射线荧光光谱仪，促进了仪器的小型化与便携化等。 天瑞仪器顺序式波长色散X射线荧光光谱仪 WDX 4000今后，天瑞仪器将继续以“行业领导者”为目标，不断提升技术水平，使国产仪器媲美国外，走向国际。同时，天瑞仪器着眼于日益严峻的环保形势，积极调整产品结构，致力于环保解决方案的提供，守护碧水蓝天。与时俱进开拓创新，用科学技术服务于国家，服务于人民，是每一个天瑞人的追求。
    时间： 2017-03-31
    作者： 天瑞仪器（Skyray）
  • 28726项行业标准复审 这些仪器分析标准将废止
    日前，工信部发布了28726项推荐性行业标准的复审结论的公告。其中《带压密封技术规范》等20466项行业标准继续有效，《镁钢制品绝热工程施工技术规范》等5511项行业标准予以修订，《化工蒸汽系统设计规定》等2749项行业标准自本公告发布之日起废止。　　经粗略统计，复审的28726项行业标准包含近千条仪器分析标准。其中，《硅钙合金铝含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法》等185条仪器标准予以修订，《惰性气体中微量氢、氧、甲烷、一氧化碳的测定氧化锆检测器气相色谱法》等79条仪器标准计划废止。　　仪器信息网编辑特别摘录拟废止及修订的多项仪器分析标准，详情如下(复审结论见附件)：拟废止的仪器分析标准序号标准编号标准名称复审结论安全生产—化工行业1HG/T23005-1992可燃性气体检测报警仪技术条件及检验方法废止2HG/T23006-1992有毒气体检测报警仪技术条件及检验方法废止3HG/T23007-1992氧气检测报警仪技术条件和检验方法废止化工行业1HG/T2686-1995惰性气体中微量氢、氧、甲烷、一氧化碳的测定氧化锆检测器气相色谱法废止2HG/T2954-2008原子吸收光谱分析方法标准编写格式废止3HG/T3516-2011工业循环冷却水中亚硝酸盐的测定分子吸收分光光度法废止有色金属行业1YS/T631-2007锌分析方法光电发射光谱法废止机械行业1JB/T5224-1991示波极谱仪技术条件废止2JB/T5225-1991气相色谱仪测试用标准色谱柱废止3JB/T5226-1991液相色谱仪测试用标准色谱柱废止4JB/T5233-1991电磁感应式数字化仪通用技术条件废止5JB/T5365.1-1991铸造机械清洁度测定方法重量法废止6JB/T5365.2-1991铸造机械清洁度测定方法显微镜法废止7JB/T5375-1991漏气量测量仪技术条件废止8JB/T5383-1991透射电子显微镜技术条件废止9JB/T5384-1991扫描电子显微镜技术条件废止10JB/T5476-1991旋光糖量计废止11JB/T5480-1991电子显微镜用光阑废止12JB/T5481-1991电子显微镜用灯丝废止13JB/T5489-1991光学仪器用润滑脂废止14JB/T5490-1991光学零件用刻线填料废止15JB/T5515-1991自动记录颗粒沉积天平废止16JB/T5516-1991加速度计校准仪技术条件废止17JB/T5519-1991高速冷冻离心机废止18JB/T5520-1991干燥箱技术条件废止19JB/T5584-1991透射电子显微镜放大率测试方法废止20JB/T5585-1991透射电子显微镜分辨力测试方法废止21JB/T5586-1991透射电子显微镜分类和基本参数废止22JB/T5590-1991光谱仪器用滤光片废止23JB/T5593-1991旋光仪废止24JB/T5594-1991荧光分光光度计废止25JB/T5595-1991测色色差计废止26JB/T5596-1991测微光度计废止27JB/T5667-1991光学和光学仪器大地测量仪器术语废止28JB/T5747-1991振动测量仪器型号命名及编制方法废止29JB/T6176-1992摄谱仪感光板暗盒和暗盒框架基本参数废止30JB/T6177-1992熔点测定仪废止31JB/T6777-1993紫外可见分光光度计废止32JB/T6778-1993紫外可见近红外分光光度计废止33JB/T6779-1993红外分光光度计废止34JB/T6780-1993原子吸收分光光度计废止35JB/T6781-1993手持式糖量计废止36JB/T6783-1993相位式红外测距仪废止37JB/T6793-1993冲天炉熔炼微机优化控制仪废止38JB/T6841-1993电子光学仪器术语废止39JB/T6842-1993扫描电子显微镜试验方法废止40JB/T6851-1993分析仪器质量检验规则废止41JB/T6860-1993测量激光辐射功率能量的探测器、仪器与设备废止42JB/T7393-1994活塞式压力计废止43JB/T7400-1994测长机废止44JB/T7403-1994光照度计废止45JB/T7412-1994固定式（移动式）工业X射线探伤仪废止46JB/T7413-1994携带式工业X射线探伤机废止47JB/T7440-1994压铸工艺参数测试仪废止48JB/T9300-1999精密仪器用开关废止49JB/T9304-1999光线示波器废止50JB/T9324-1999可见分光光度计废止51JB/T9325-1999分光光度计系列及其基本参数废止52JB/T9326-1999激光喇曼分光光度计废止53JB/T9329-1999仪器仪表运输，运输贮存基本环境条件及试验方法废止54JB/T9334-1999显微镜光谱滤光片基本规格废止55JB/T9335-1999平板仪废止56JB/T9338-1999坐标测量机技术要求废止57JB/T9339-1999测量显微镜废止58JB/T9341.3-1999计量光栅玻璃光栅尺技术要求废止59JB/T9341.4-1999计量光栅玻璃光栅盘技术要求废止60JB/T9354-1999pH值测定用甘汞电极废止61JB/T9355-1999原子吸收测量用校准溶液的制备方法废止62JB/T9362-1999离子选择电极技术条件废止63JB/T9364-1999极谱仪试验溶液制备方法废止64JB/T9368-1999电导电极通用技术条件废止65JB/T9387-2008液压式木材万能试验机技术条件废止66JB/T9402-1999工业X射线探伤机性能测试方法废止67JB/T9514-1999数显热量计废止轻工行业1QB/T1036-1991工业用三聚磷酸钠（包括食品工业用）氯化物含量的测定电位滴定法废止2QB/T1863-1993染发剂中对苯二胺的测定气相色谱法废止3QB/T1912-1993眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法废止4QB/T2261-1996灯用卤磷酸钙荧光粉发射光谱及色坐标的测试方法废止5QB/T2410-1998防晒化妆品UVB区防晒效果的评价方法紫外吸光度法废止拟修订的仪器分析标准序号标准编号标准名称复审结论化工行业1HG/T3710-2003直读式橡胶密度计技术条件修订2HG/T3243-2005硫化橡胶拉伸应力松弛仪技术条件修订3HG/T3987-2007电化学式硫化氢气体检测仪修订4JC/T728-2005水泥筛析用标准筛和筛析仪修订钢铁行业1YB/T178.6-2008硅铝合金、硅钡铝合金碳含量的测定红外线吸收法修订2YB/T178.7-2008硅铝合金、硅钡铝合金硫含量的测定红外线吸收法修订3YB/T4021-2007萘中全硫含量的测定方法-还原滴定法修订4YB/T4174.1-2008硅钙合金铝含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法修订5YB/T4174.2-2008硅钙合金磷含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法修订6YB/T5320-2006金属材料定量相分析-X射线衍射K值法修订7YB/T5337-2006金属点阵常数的测定方法X射线衍射仪法修订8YB/T5190-2007高纯石墨材料氯含量的分光光度测定方法修订9YB/T5191-2007高纯石墨材料总稀土元素含量的分光光度测定方法修订10YB/T5154-1993工业甲基萘中甲基萘、萘含量的气相色谱测定方法修订11YB/T5156-1993高纯石墨制品中硅的测定硅-钼蓝分光光度法修订12YB/T5157-1993高纯石墨制品中铁的测定邻二氮菲分光光度法修订13YB/T5176-1993炭黑用原料油试验方法钾\钠含量测定方法（火焰光度计法）修订14YB/T5312-2006硅钙合金化学分析方法高氯酸脱水重量法测定硅量修订15YB/T5313-2006硅钙合金化学分析方法EDTA滴定法测定钙量修订16YB/T5314-2006硅钙合金化学分析方法EDTA滴定法测定铝量修订17YB/T5315-2006硅钙合金化学分析方法磷钼蓝分光光度法测定磷量修订18YB/T5316-2006硅钙合金化学分析方法红外线吸收法测定碳量修订19YB/T5317-2006硅钙合金化学分析方法红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量修订20YB/T5338-2006钢中残余奥氏体定量测定--X射线衍射仪法修订有色金属行业1YS/T63.16-2006铝用炭素材料检测方法第16部分：微量元素的测定X射线荧光光谱分析方法修订2YS/T832-2012丁辛醇废催化剂化学分析方法铑量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法修订3YS/T833-2012铼酸铵化学分析方法铼酸铵中铍、镁、铝、钾、钙、钛、铬、锰、铁、钴、铜、锌和钼量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法修订4YS/T870-2013高纯铝化学分析方法痕量杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法修订5YS/T240.10-2007铋精矿化学分析方法三氧化二铝量的测定铬天青S分光光度法修订6YS/T240.11-2007铋精矿化学分析方法银量的测定火焰原子吸收光谱法修订7YS/T240.1-2007铋精矿化学分析方法铋量的测定Na2EDTA滴定法修订8YS/T240.2-2007铋精矿化学分析方法铅量的测定Na2EDTA滴定法和火焰原子吸收光谱法修订9YS/T240.3-2007铋精矿化学分析方法二氧化硅量的测定钼蓝分光光度法和重量法修订10YS/T240.4-2007铋精矿化学分析方法三氧化钨量的测定硫氰酸盐分光光度法修订11YS/T240.5-2007铋精矿化学分析方法钼量的测定硫氰酸盐分光光度法修订12YS/T240.6-2007铋精矿化学分析方法铁量的测定重铬酸钾滴定法修订13YS/T240.7-2007铋精矿化学分析方法硫量的测定燃烧-中和滴定法修订14YS/T240.8-2007铋精矿化学分析方法砷量的测定DDTC-Ag分光光度法和萃取-碘滴定法修订15YS/T240.9-2007铋精矿化学分析方法铜量的测定碘量法和火焰原子吸收光谱法修订16YS/T271.1-1994黄药化学分析方法乙酸铅滴定法测定黄原酸盐含量修订17YS/T271.2-1994黄药化学分析方法乙酸滴定法测定游离碱含量修订18YS/T271.3-1994黄药化学分析方法红外干燥法测定水分及挥发物含量修订19YS/T372.18-2006贵金属合金元素分析方法钆量的测定偶氮氯膦III分光光度法修订20YS/T372.19-2006贵金属合金元素分析方法钇量的测定偶氮氯膦III分光光度法修订21YS/T482-2005铜及铜合金分析方法光电发射光谱法修订22YS/T483-2005铜及铜合金分析方法X射线荧光光谱法修订23YS/T539.11-2009镍基合金粉化学分析方法第11部分：钨量的测定辛可宁称量法修订24YS/T539.1-2009镍基合金粉化学分析方法第1部分：硼量的测定酸碱滴定法修订25YS/T539.2-2009镍基合金粉化学分析方法第2部分：铝量的测定铬天青S分光光度法修订26YS/T539.5-2009镍基合金粉化学分析方法第5部分：锰量的测定高碘酸钠（钾）氧化分光光度法修订27YS/T539.7-2009镍基合金粉化学分析方法第7部分：钴量的测定亚硝基R盐分光光度法修订28YS/T539.8-2009镍基合金粉化学分析方法第8部分：铜量的测定新亚铜灵-三氯甲烷萃取分光光度法修订29YS/T37.1-2007高纯二氧化锗化学分析方法硫氰酸汞分光光度法测定氯量修订30YS/T37.2-2007高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量修订31YS/T37.3-2007高纯二氧化锗化学分析方法石墨炉原子吸收光谱法测定砷量修订32YS/T37.4-2007高纯二氧化锗化学分析方法化学光谱法测定铁、镁、铅、镍、铝、钙、铜、铟和锌量修订33YS/T37.5-2007高纯二氧化锗化学分析方法石墨炉原子吸收光谱法测定铁含量修订34YS/T521.2-2009粗铜化学分析方法第2部分：金和银量的测定火试金法修订35YS/T540.1-2006钒化学分析方法高锰酸钾-硫酸亚铁铵滴定法测定钒量修订36YS/T540.2-2006钒化学分析方法二苯基碳酰二肼光度法测定铬量修订37YS/T540.3-2006钒化学分析方法CAS-TPC光度法测定铝量修订38YS/T540.4-2006钒化学分析方法邻菲啰啉光度法测定铁量修订39YS/T540.5-2006钒化学分析方法异戊醇萃取光度法测定铁量修订40YS/T540.6-2006钒化学分析方法正丁醇萃取光度法测定硅量修订41YS/T540.7-2006钒化学分析方法脉冲熔融-气相色谱法测定氧量修订42YS/T645-2007金化合物分析方法金量的测定硫酸亚铁电位滴定法修订43YS/T646-2007铂化合物分析方法铂量的测定高锰酸钾电流滴定法修订44YS/T806-2012铝及铝合金中稀土分析方法X-射线荧光光谱法测定镧、铈、镨、钕、钐含量修订稀土行业1XB/T601.1-2008六硼化镧化学分析方法硼量的测定酸碱滴定法修订2XB/T601.2-2008六硼化镧化学分析方法铁、钙、镁、铬、锰、铜量的测定电感耦合等离子体发射光谱法修订3XB/T601.3-2008六硼化镧化学分析方法钨量的测定电感耦合等离子体发射光谱法修订4XB/T601.4-2008六硼化镧化学分析方法碳量的测定高频感应燃烧红外线吸收法测定修订5XB/T601.5-2008六硼化镧化学分析方法酸溶硅量的测定硅钼蓝分光光度法修订6XB/T616.1-2012钆铁合金化学分析方法第1部分：稀土总量的测定重量法修订7XB/T616.2-2012钆铁合金化学分析方法第2部分：稀土杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法修订8XB/T616.3-2012钆铁合金化学分析方法第3部分：钙、镁、铝、锰量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法修订9XB/T616.4-2012钆铁合金化学分析方法第4部分：铁量的测定重铬酸钾容量法修订10XB/T616.5-2012钆铁合金化学分析方法第5部分：硅量的测定硅酸蓝分光光度法修订机械行业1JB/T5996-1992圆度测量三测点法及其仪器的精度评定修订2JB/T5228-1991测汞仪技术条件修订3JB/T6203-1992工业pH计修订4JB/T6245-1992实验室离子计修订5JB/T6855-1993工业电导率仪修订6JB/T6856-1993热重-差热分析仪修订7JB/T6858-1993pH计和离子计试验方法修订8JB/T9366-1999实验室电导率仪修订9JB/T9369-1999差热分析仪修订10JB/T9240-1999比色温度计修订11JB/T9259-1999蒸汽和气体压力式温度计修订12JB/T5592-1991V棱镜折射仪修订13JB/T6266-1992光学测角比较仪基本参数修订14JB/T6826-1993压电式振动测量仪技术条件修订15JB/T7520.1-1994磷铜钎料化学分析方法EDTA容量法测定铜量修订16JB/T7520.2-1994磷铜钎料化学分析方法氯化银重量法测定银量修订17JB/T7520.3-1994磷铜钎料化学分析方法钒钼酸光度法测定磷量修订18JB/T7520.4-1994磷铜钎料化学分析方法碘化钾光度法测定锑量修订19JB/T7520.5-1994磷铜钎料化学分析方法次磷酸盐还原容量法测定锡量修订20JB/T7520.6-1994磷铜钎料化学分析方法丁二酮肟光度法测定镍量修订21JB/T7948.10-1999熔炼焊剂化学分析方法燃烧-库伦法测定碳量修订22JB/T7948.11-1999熔炼焊剂化学分析方法燃烧-碘量法测定硫量修订23JB/T7948.12-1999熔炼焊剂化学分析方法EDTA容量法测定氧化钙、氧化镁量修订24JB/T7948.2-1999熔炼焊剂化学分析方法电位滴定法测定氧化锰量修订25JB/T7948.4-1999熔炼焊剂化学分析方法EDTA容量法测定氧化铝量修订26JB/T7948.5-1999熔炼焊剂化学分析方法磺基水杨酸光度法测定氧化铁量修订27JB/T7948.6-1999熔炼焊剂化学分析方法热解法测定氟化钙量修订28JB/T7948.8-1999熔炼焊剂化学分析方法钼蓝光度法测定磷量修订29JB/T7948.9-1999熔炼焊剂化学分析方法火焰光度法测定氧化钠、氧化钾量修订30JB/T9342-1999光学计量仪器用测帽修订31JB/T9343-1999分格值为1′的光学测角比较仪修订32JB/T9346-1999测角仪（分光计）基本参数修订33JB/T9385-1999刮板细度计技术条件修订34JB/T9386-1999摆杆阻尼试验仪技术条件修订35JB/T9395-2004四球摩擦试验机技术条件修订36JB/T10632-2006凸轮轴测量仪修订37JB/T10761-2007压路机压实度测量仪修订38JB/T6174-1992仪器仪表功能电路板老化工艺规范修订39JB/T6175-1992仪用电子元器件引线成型工艺规范修订40JB/T6178-1992焦距仪修订41JB/T6246-1992实验室震摆式筛砂仪修订42JB/T6248-1992记录式发气性测定仪修订43JB/T6261-1992电阻应变仪技术条件修订44JB/T6877-1993转矩转速测量仪修订45JB/T7441-1994涡洗式洗砂仪修订46JB/T7463-2005热阴极电离真空计修订47JB/T8230.5-1999显微镜目镜和镜筒的配合尺寸修订48JB/T8230.7-1999显微镜载物台装压簧和移动尺用孔的尺寸和位置修订49JB/T8230.8-1999显微镜可拆卸之聚光镜及滤色片的连接尺寸修订50JB/T9220.9-1999铸造化铁炉酸性炉渣化学分析方法磷矾钼黄甲基异丁基甲酮萃取光度法测定五氧化二磷量修订51JB/T9493.1-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法电解重量法测定铜量修订52JB/T9493.2-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法硝酸铵氧化-硫酸亚铁铵滴定法测定锰量修订53JB/T9493.3-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法丁二酮肟重量法测定镍量修订54JB/T9493.4-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法磺基水杨酸光度法测定铁量修订55JB/T9493.5-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法硅钼兰光度法测定硅量修订56JB/T9493.6-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法高氯酸脱水重量法测定硅量修订57JB/T9493.7-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法苯甲酸铵分离-EDTA滴定法测定铝量修订58JB/T10061-1999A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件修订59JB/T6207-1992氢分析器技术条件修订60JB/T6240-1992二氧化硫分析器技术条件修订61JB/T6242-2005荧光光度计修订62JB/T7439.4-1994实验室仪器术语噪声测量仪器修订63JB/T7439.5-1994实验室仪器术语振动测量仪器修订64JB/T8283-1999声发射检测仪器性能测试方法修订65JB/T9314-1999大地测量仪器的包装修订66JB/T9315-1999大地测量仪器水准标尺修订67JB/T9316-1999大地测量仪器强制中心机构配合尺寸修订68JB/T9317-1999激光指向仪修订69JB/T9318-1999大地测量仪器目视读数的度盘分划修订70JB/T9319-1999垂准仪修订71JB/T9332-1999大地测量仪器仪器与三脚架之间的连接修订72JB/T9333-1999显微镜光学显微术通用浸油修订73JB/T9336-1999大地测量仪器分划板修订74JB/T9337-1999大地测量仪器三脚架修订75JB/T9363-1999四极质谱计技术条件修订76JB/T9499.1-1999康铜电阻合金化学分析方法电解重量法测定铜量修订77JB/T9499.2-1999康铜电阻合金化学分析方法碘化钾-硫代硫酸钠滴定法测定铜量修订78JB/T9499.3-1999康铜电阻合金化学分析方法过硫酸铵氧化-硫酸亚铁铵滴定法测定锰量修订79JB/T9499.4-1999康铜电阻合金化学分析方法高碘酸钾光度法测定锰量修订80JB/T9499.5-1999康铜电阻合金化学分析方法电解除铜-EDTA滴定法测定镍量修订81JB/T9499.6-1999康铜电阻合金化学分析方法磺基水杨酸光度法测定铁量修订82JB/T9499.7-1999康铜电阻合金化学分析方法硅钼兰光度法测定硅量修订83JB/T8230.1-1999光学显微镜术语修订船舶行业1CB/T3746-2013平板式油位计修订2CB/T3788-2013船用声波计程仪修订3CB/T3905.10-2005锡基轴承合金化学分析方法第10部分：原子吸收光谱法测定铅量修订4CB/T3905.11-2005锡基轴承合金化学分析方法第11部分：邻菲啰啉光度法测定铁量修订5CB/T3905.1-2005锡基轴承合金化学分析方法第1部分：总则修订6CB/T3905.12-2005锡基轴承合金化学分析方法第12部分：原子吸收光谱法测定铁量修订7CB/T3905.13-2005锡基轴承合金化学分析方法第13部分：原子吸收光谱法测定锌量修订8CB/T3905.14-2005锡基轴承合金化学分析方法第14部分：铬天菁S光度法测定铝量修订9CB/T3905.15-2005锡基轴承合金化学分析方法第15部分：硫脲光度法测定铋量修订10CB/T3905.16-2005锡基轴承合金化学分析方法第16部分：蒸馏分离-砷钼蓝光度法测定砷量修订11CB/T3905.2-2005锡基轴承合金化学分析方法第2部分：溴酸钾滴定法测定锑量修订12CB/T3905.3-2005锡基轴承合金化学分析方法第3部分：高锰酸钾滴定法测定锑量修订13CB/T3905.4-2005锡基轴承合金化学分析方法第4部分：电解法测定铜量修订14CB/T3905.5-2005锡基轴承合金化学分析方法第5部分：二乙基二硫代氨基甲酸钠光度法测定铜量修订15CB/T3905.6-2005锡基轴承合金化学分析方法第6部分：原子吸收光谱法测定铜量修订16CB/T3905.7-2005锡基轴承合金化学分析方法第7部分：丁二酮肟光度法测定镍量修订17CB/T3905.8-2005锡基轴承合金化学分析方法第8部分：原子吸收光谱法测定镍量修订18CB/T3929-2013铝合金船体对接接头X射线检测及质量分级修订19CB/T4390.9-2013螺旋桨用高锰铝青铜化学分析方法第9部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法修订轻工行业1QB/T2578-2002陶瓷原料化学成分光度分析方法修订2QB/T2623.6-2003肥皂试验方法肥皂中氯化物含量的测定滴定法修订3QB/T2561-2002实验室玻璃仪器试管和培养管修订4QB/T2110-1995实验室玻璃仪器分液漏斗和滴液漏斗修订5QB/T2631.1-2004金饰工艺画金层厚度与含金量的测定ICP光谱法第1部分：金膜画修订　　附件：　　1.行业标准复审结论统计表.doc　　2.工程建设、节能与综合利用和安全生产领域行业标准复审结论表.doc　　3.原材料（化工、建材、钢铁、有色金属、稀土、黄金）行业标准复审结论表.doc　　4.装备（机械、汽车、船舶、航空）行业标准复审结论表.doc　　5.消费品（轻工、纺织、包装）行业标准复审结论表.doc　　6.兵工民品和核工业行业标准复审结论表.doc　　7.电子和通信行业标准复审结论表.doc
    时间： 2017-06-05
    作者： weidy
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