织物厚度检测

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织物厚度检测相关的仪器

  • 电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征:1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640测试原理:将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。执行标准:ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)应用材料:基础应用:薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用:金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640技术指标:① C640M型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.8μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg② C640H型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.4μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg
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  • TTM150纺织物厚度测试仪技术参数:1.符合标准:《GB3820纺织品和纺织制品厚度测试》;《FZT60004-1991非织造布厚度的测定》、《ISO5084-1996纺织品和纺织制品厚度的测定》;2.用于各种普通类织物、非织造布、毛绒类、疏软类织物的厚度测定3.自动测定厚度,厚度测量范围0-50mmm,厚度测量精度0.01mm;4.自动加压,测量过程中仪器自动向检品施加压力,默认压力选项1.00±0.01kpa,0.5±0.01kpa,0.1±0.01kpa,0.02±0.005kpa;5.自动平移控制,压脚和参考板之间的距离仪器自动控制移动,移动范围0-50mm,移动控制精度±0.01mm;移动过程中压脚和参考板保持平行;6.可调换的压脚,通用压脚面积(20000±20)mm2,相应于圆形压脚面积(50.5±0.2)mm2;备用压脚板(10000±10)mm2,(40000±50)mm2,(1000±2)mm2;7.参考板,面积为50000mm2;8.自动计时功能,系统内部设定有高精度计时器,计时范围0-9999s/min/h;精度0.1s;系统智能识别分配多段独立计时;9.仪器采用7寸真彩触摸屏显示和控制,中文菜单,显示清晰明了,触摸按键操作快捷方便;10.设备自动储存检测数据,检测数据可打印,可查阅;11.设备电源:AC220V,50Hz,功率460W;12.设备尺寸420*380*360mm;13.设备重量28kg
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  • 电子式纸张厚度仪 纸板厚度测试仪 纸板厚度检测仪 型号C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征:1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。电子式纸张厚度仪 纸板厚度测试仪 纸板厚度检测仪 型号C640测试原理:将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。执行标准:ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)电子式纸张厚度仪 纸板厚度测试仪 纸板厚度检测仪 型号C640应用材料:基础应用:薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用:金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定电子式纸张厚度仪 纸板厚度测试仪 纸板厚度检测仪 型号C640技术指标:① C640M型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.8μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg② C640H型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.4μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg
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织物厚度检测相关的方案

织物厚度检测相关的论坛

  • 近红外能检测样品厚度问题

    各位同仁,现在想用近红外检测一个颗粒,这个颗粒被另一个颗粒给盖住了,位于其下面,想知道近红外一般能检测到多厚的东西下面的样品信息?还有是否跟样品有关?近红外的检测厚度跟什么有关?关于这个厚度方面的问题一直弄不清楚,求解答!不胜感激!!!

织物厚度检测相关的耗材

  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • HL-6321土壤湿度/酸度检测仪
    HL-6321土壤湿度/酸度检测仪 二合一园艺检测仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度.使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米;然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质,如叶子、根系等;将土壤用水浸透,调匀成泥状。(最好使用雨水) 为了达到较准确的分析结果,你可以从被测土壤中采集一部分土,清除石子及有机碎屑物,然后把土壤碾碎成粉末状,并从中取出2杯的样土;准备一个干净的玻璃或塑料容器,倒入2杯蒸馏水或去离子水,再加入样土,搅拌使他们充分混合并压实,倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面;再使用棉制品或纸将探棒抹净,每次应从探头擦至探棒尾部。 3.将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深;若探棒不容易插入,请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒,以免损伤探头。 4.在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次,确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好; 5.等待60秒后读取数据。 6.如果测试结果大于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次,30秒后读取数据 7.如果测试结果小于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次,60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长,以免损坏探棒金属表面; - 确认在存放仪器前,探棒应干燥、干净; - 应使探棒远离其他金属物质; 此仪器只用于测试土壤,请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实(盆栽和重量较轻的土壤) * 清洁探棒后,有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态(仅限于盆栽土壤) * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1.将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时,不要使探棒离植物过近,以免伤及植物根系; 2.在探棒插入被测土壤的过程中,你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定,这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果; 3.读取结果; 4.将探棒从被测土壤中取出,请不要拉、拽白色连接线,以免使用时出现接触不良等故障; 5.用棉布将探棒完全擦净,以备下次使用。 如何读取结果 1.湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求,在此情况下您不需继续浇水;若结果低于规定要求,提醒您应立即浇水。 2.浇灌次数(参考说明书): &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3.特殊水分要求 以下数字代表: i 每天向叶面洒水; ii 不要让土壤变干; iii 保持土壤湿润,但不应过于潮湿; iv 土壤应始终保持湿润; v 在浇灌间隙可令土壤变干; vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干; vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量; viii 将水倒入盆栽托盘中;不需洒水在叶子表面。
  • HL-6326土壤PH/湿度检测仪
    HL-6326土壤PH/湿度检测仪 土壤酸碱度湿度检测仪 本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度. 土壤酸度计技术参数: PH范围:3-8 PH;水分范围:1-8% PH精度:± 0.2PH;水分精度:± 1% 环境温度:5-50℃ 可测深度:2-30cm 使用方法: 第一次使用时, 把探头在土里插几次, 去掉上面的油和杂质, 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里, 大约10分钟后读取PH值, 按下旁边的白色按钮, 仪表将显示水份. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极 不要将仪器和磁性材料放在一起, 不要一直放在土壤里超过1小时.用完后把电极洗干净. 如何测量湿度 1.将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时,不要使探棒离植物过近,以免伤及植物根系; 2.在探棒插入被测土壤的过程中,你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定,这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果; 3.读取结果; 4.将探棒从被测土壤中取出,请不要拉、拽白色连接线,以免使用时出现接触不良等故障; 5.用棉布将探棒完全擦净,以备下次使用。 如何读取结果 1.湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求,在此情况下您不需继续浇水;若结果低于规定要求,提醒您应立即浇水。 2.浇灌次数(参考说明书): &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3.特殊水分要求 以下数字代表: i 每天向叶面洒水; ii 不要让土壤变干; iii 保持土壤湿润,但不应过于潮湿; iv 土壤应始终保持湿润; v 在浇灌间隙可令土壤变干; vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干; vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量; viii 将水倒入盆栽托盘中;不需洒水在叶子表面。 如何测量土壤pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米;然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质,如叶子、根系等;将土壤用水浸透,调匀成泥状。(最好使用雨水) 为了达到较准确的分析结果,你可以从被测土壤中采集一部分土,清除石子及有机碎屑物,然后把土壤碾碎成粉末状,并从中取出2杯的样土;准备一个干净的玻璃或塑料容器,倒入2杯蒸馏水或去离子水,再加入样土,搅拌使他们充分混合并压实,倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面;再使用棉制品或纸将探棒抹净,每次应从探头擦至探棒尾部。 3.将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深;若探棒不容易插入,请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒,以免损伤探头。 4.在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次,确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好; 5.等待60秒后读取数据。 6.如果测试结果大于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次,30秒后读取数据 7.如果测试结果小于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次,60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长,以免损坏探棒金属表面; - 确认在存放仪器前,探棒应干燥、干净; - 应使探棒远离其他金属物质; 此仪器只用于测试土壤,请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实(盆栽和重量较轻的土壤) * 清洁探棒后,有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态(仅限于盆栽土壤) * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒

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  • 幕墙玻璃厚度检测仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 幕墙玻璃厚度检测仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 中国建材检验认证集团股份有限公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 2em " 艾福强 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 2em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 2em " afq@ctc.ac.cn /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □技术转让□技术入股□合作开发& nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 成果简介: /strong br/ /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/64e1b730-057a-4fac-9850-b46e628b289c.jpg" title=" 厚度检测仪.jpg" width=" 350" height=" 224" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 224px " / /p p style=" line-height: 2em " & nbsp /p p style=" line-height: 2em " span style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp 幕墙玻璃厚度检测仪利用激光测距技术,通过计算光程差来获得所测玻璃的厚度,厚度检测仪不仅可以测量单层玻璃的厚度,还可以测量中空玻璃三层厚度(包括:玻璃厚度、空气层厚度),采用数字化技术,将所测结果直观的显示在液晶显示屏上,可以快速、直观的获得所需结果,并设有内部存储功能可以存储9次测量结果,方便用户使用,该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于现场检测。& nbsp /span /p p style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 主要特点 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 操作简单:只需将仪器放在待测玻璃上按测量键即可完成测量。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度高:该仪器测量精度达到微米级。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测试速度快:测试时间1-2秒。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 便于携带:该仪器尺寸合适重量轻。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 稳定性好:多次测量结果无偏差。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 具有存储功能:可以存储9次的测量结果并查看。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 可同时测量玻璃厚度、空气层厚度。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 技术参数: br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度:微米级 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 物理尺寸:130*70*30 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 开关频率:1-2秒 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 采样频率:10Hz br/ & nbsp & nbsp & nbsp 供电电压:9v br/ & nbsp & nbsp & nbsp 重量:200g br/ & nbsp & nbsp & nbsp 使用温度:-20℃- 40℃ br/ & nbsp & nbsp & nbsp 机体重量:约1Kg /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于玻璃幕墙的现场检测,同时也适合于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等玻璃的生产检测、和开发研究等领域。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
  • 珍珠珠层厚度无损检测研究有重大突破
    从广西质量技术监督局获悉,2009年3月15日,该局承担的“X射线和近红外光珍珠珠层厚度无损检测仪研究与应用”科技成果项目鉴定验收会在广西产品质量监督检验院召开。此次项目验收鉴定会由广西科技厅组织,全国有关方面的权威专家对项目进行了审定。   据了解,该课题技术在珍珠检测领域具有较高的创新性。 一是国内首创微焦斑(Φ=8μm)X射线透射技术和CCD光电成像技术相结合,实时整体成像;二是珠层图像自动甄别采集,根据灰度级差原理,自动由外向内搜索(图像由白到黑)之最大梯度处视为珍珠核与珍珠层边缘;三是用测量误差理论最小二乘法圆度拟合,自动获取最接近珠核与珠层平均圆,实现准确和快速自动检测;四是用计算机技术实现尺寸自动匹配,以消除点光源引起不同尺寸珍珠的投影与其真正直径测量偏差的问题;五是研究出仪器的校准标准,建立量传溯源体系,确保测量准确度;六是实现珍珠球体多截面测量;七是控制测量误差,实现仪器测量准确度≤0.02mm。   参会专家一致认为:该课题在全国率先开展采用X射线和近红外光学相干层析成像技术对珍珠进行无损检测综合对比研究,并取得突破性进展,成功研制出两种珍珠无损检测高精度新仪器,把先进的测量理论成功转化为具有广泛应用意义的技术创新成果和测量仪器,属于国内首创,技术水平达到国内领先,国际先进水平。   目前该项目所研究的两种无损检测方法已被纳入国家技术标准在全国推广应用。对提高珍珠产品质量,促进广西珍珠产业的发展将具有深远的社会效益和经济效益。
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