原子力显微镜

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原子力显微镜相关的厂商

  • 400-878-6829
    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
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  • 400-860-5168转3750
    企业概况英国工业显微镜有限公司是一家专业从事开发和生产人机工学的体视显微镜和非接触式测量系统的制造厂商。自1958年创立以来,英国Vision已成为世界上最具有创新活力的显微镜制造厂商,其分支机构遍及欧亚及北美。 世界各地的工程人员和科学家广泛地使用着我们的产品系统来从事他们在工业领域以及生物工程的日常的放大、检测和测量应用。迄今为止,已在全球各地安装 超过30万套设备系统。 英国Vision主要的生产基地设立在英国伦顿南部的沃京。商业运行及生产装配部门也设立在附近的厂房。英国Vision的北美生产分部设立在美国康州丹堡丽市,并在美国东岸和西岸的独立机构进行直销和分销网络运作。 本公司分别在日本、中国、法国、德国、意大利、以及比利时-荷兰-卢森堡经济联盟等国家建立了多个分支机构,此外加上由120多个拥有库存并经过专业技术培训的分销代理商所组成的服务网络,在所有其它发达国家里为企业提供解决问题的应用方案。同时我们根据发展,不断地扩大新代理的加盟机会。 出口和分销渠道英国Vision的产品出口占总产值的80%%以上,所以我们认识健全分销渠道的重要性。在1991 年,英国Vision荣获出口成就的英女皇奖。公司获得的其他荣誉还包括:1997年度科技创新的威尔士亲王奖和 1974 年度技术成就的英女皇奖。**的光学技术 英国Vision所拥有的世界**光学技术改变了在传统双目显微镜上安装目镜的必要。这些技术来源于采用英国Vision的高能光学(Dynascope)装置、扩大光瞳和宽阔成像光学系统、以及先进的人-机工学所带来的舒适使用、光学的清晰度、和减轻眼部疲劳。这一系列的功能改善了客户的生产效益和产品质量。Vision 的 Mantis 体视观察器在各行业得以广泛采用的实例可说明无目镜光学技术的优势效益。 在1994 年推出的第一代Mantis体视观察器主要是填补台式放大镜与显微镜之间的空白。 从此Mantis 就成了所有体视观察器的首选,超过13 万套的Mantis设备已在全球安装使用。 英国Vision的新一代Mantis系列产品于2005年开始在各行业里使用,它秉承原型产品的实用价值,并融合人机工学以进一步优化Mantis的设计。 产品研发近年来,大量的研发投入已成为取得 成功的关键,它确保了新产品和现有产品的持续的发展,以不断满足科学界和制造领域的需求。英国Vision不断地以研发新产品和新技术在光学革新和技术前沿引领全球。
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  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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原子力显微镜相关的仪器

  • 美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能,具有强大的分析能力,使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具,还可以进行材料纳米级尺度的成分分析,热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点:简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上,确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成,即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式:接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM,实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)独有的可升级功能□ 热学性能:独有的热探针技术,提供纳米级红外分析□ 机械性能:洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能:可升级具有纳米红外光谱技术,实现局部化学组分分析□ 近场成像:可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能
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  • AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且,通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。 特点 1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 4英寸自动马达台自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。 AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。 AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。SEM-AFM在同一视野观察实例(样品:石墨烯/SiO2)上图是AFM5500M拍摄的形貌像(AFM像)和电位像(KFM像)分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。 SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。
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  • Nanowizard V 第五代生物型原子力显微镜(BioAFM最新一代产品充满各种创新 25年引领生物原子力显微镜技术的研发和创新 全球超过1000家用户的广泛认可8500多篇在生物学领域具有影响的文章 拥有专注于高清晰成像和其它应用的探针研发支持丰富的功能为实现科学研究突破铺平了道路:PeakForce-QI, PeakForce Tapping, PeakForce QNM, QI 单分子力谱技术 单细胞力谱技术 DirectOverlay 2实现AFM与先进光学技术的绝佳整合 全新V8软件 新的ExperimentPlanner和ExperimentControl功能 高数值孔径显微镜整合,多维度环境控制等各类高级整合方案完美的性能,更高的效率 NanoWizardV 诠释了BioAFM的美好未来 无与伦比的易用性 高速成像可用于捕捉动力学过程以及提高实验效率 自动化、高分辨成像
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原子力显微镜相关的资讯

  • Park纳米科学原子力显微镜系列讲座培训(1) I 原子力显微镜在纳米研究中的应用:AFM的成像原理
    Park纳米科学原子力显微镜系列讲座培训一原子力显微镜在纳米研究中的应用:AFM的成像原理2021年5月25日(周二)北京时间下午3:30-4:30原子力显微镜(AFM)作为扫描探针显微镜家族的一员,具有纳米级的分辨能力,其操作容易简便,是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。此外原子力显微镜还具有摩擦性能,纳米机械性能和电学性能等高级性能。 在本研究中,我们将讨论接触模式、非接触模式和轻敲模式等原子力显微镜使用中的不同操作模式;内容将概括到从原子力显微镜测量中常用的原子相互作用的基本理论,到原子力显微镜的主要硬件组成。本讲座还将讨论各模式的关键点(如设定值、反馈)。 在接触模式下,系统会给探针恒定的力作为设定的基准点也就是设定点来物理接触样品。扫描期间为了维持这个设定点而进行反馈。在三种模式中,原理相对简单。然而,由于接触模式很容易对针尖和样品造成损伤。相比之下,非接触模式允许在不接触表面的情况下进行形貌测量。因此,可以很好地保护针尖和样品。轻敲模式与非接触模式原理相似,在扫描过程中,探针轻触样品表面,以获得测量材料属性分布的额外信息(例如模量分布)。 本次讲座主要针对AFM原理的基础知识,帮助大家了解探针和样品之间的相互作用。由三种模式测出的图像对比也将在讲座中呈现。报告人 : Park原子力显微镜应用科学家Chris Jung Chris Jung, is an Application Scientist for Park Systems Korea - Research Application Technology Center (RATC) department. He received his Master’s degree in Physics from the Kyung Hee University, and his Bachelor’s degree in Physics from Dankook University in South Korea. His major project includes Evaluation of Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) at the perspective of resolution.Park原子力显微镜系列讲座列表(5月-9月) 想了解更多详情,请关注微信公众号:Park原子力显微镜 400电话:400-878-6829 Park官网:parksystems.cn
  • 全流程高智能!Park原子力显微镜发布全新系列原子力显微镜Park FX40
    仪器信息网讯 2021年6月25日,Park帕克原子力显微镜公司(以下简称为“Park”)宣布推出一款重量级的全新系列原子力显微镜——Park FX40!该原子力显微镜集全自动技术、安全性能、智能学习等人工智能软件一体化,并描述之为“世界首台能够自动化所有前期设置和扫描过程的智能型原子力显微镜(AFM)”,Park FX40或将为研究界带来全新体验。全新型原子力显微镜Park FX40“与Park推出的前几代AFM系列不同,Park FX40自行负责了扫描前和扫描期间的所有设置,包括自动换针、探针识别、激光校准、样品定位以及近针和成像优化等操作。”Park全球产品研发部门副总裁Ryan Yoo评论道,“Park FX40兼有最新的人工智能技术和Park领先于半导体行业且价值百万美金的自动化技术,所以可以轻松自主执行上述任务。”Park FX40中文版预告视频于近日全球首播:新的 Park FX40 原子力显微镜不仅是几十个新功能的组合和原件的再升级,它还在原有的设计基础上,进行了全面而彻底的改革,使得AFM 具备高级的自动化能力。福音来了!即便是未经专业培训的研究型科学家们也能通过该显微镜轻松快捷地完成扫图过程,而专业的研究人员更可以将选择和正确装载探针的时间节省下来,以专注于他们更擅长的领域。除此之外,Park FX40还彻底升级了AFM的许多关键方面,其中包括采用尖端的机电技术极大降噪,减少束斑大小,调整光学视野,以及多功能嵌入样品台等。“作为研发的新品,Park FX40的强大功能来源于其他AFM迄今为止从未使用过的全新技术。”Yoo补充道。“我们很高兴能成为北美第一个体验Park FX40原子力显微镜的研究所。”哥伦比亚大学机械工程系的James Home教授发言道,“这款FX40增加了许多新功能并且升级了很多特性。作为Park的长期用户,我们对此感到非常兴奋和激动。这款FX40在人工智能和自动化技术上都实现了崭新的突破。我相信它可以极大地提高我们实验室的研究水平,并且推动整个纳米计量领域的创新。”Park FX 尖端的智能系统可以让用户在初始操作时同时放置多个样品(相同或不同类型),并将根据用户的需求进行自动成像。除此之外,该显微镜还能轻松及时地获取可发布的数据,并缩短研究周期来获得科学和工程上的最终成功。这些都有助用户实现更快更准的研究。 同时,Park FX40 独特的环境传感、自我诊断系统和避免头部碰撞的智能系统确保自身能够以更佳性能持续运行。据悉,在与全球原子力显微镜应用科学家们的密切合作下,Park产品市场部过去一整年都在不懈努力,潜心研发Park FX。“我们的科学家认识到AFM可以帮助研究人员获得前所未有的科学数据,并对纳米科学创新产生不可估量的影响。” Park公司的创立者,全球CEO朴尚一博士(Dr. Sang-il Park)评论道,“一直以来,我们都秉承着一颗赤诚之心来研发超级智能自动化的 Park FX 。因为我们的终极目标是为研究人员的工作保驾护航,帮助他们发现并打开科学更深处奥秘的大门!”在半导体市场,Park一直以其先进的自动化AFM 系统而闻名。它率先将AFM 技术作为纳米级计量的主要工具,使其成为行业的主流。而Park最新推出的Park FX也将为AFM创新领域开启新的篇章。关于Park帕克原子力显微镜公司Park公司成立于1988年,是全球第一个推出商业原子力显微镜产品的上市公司。Park公司成立30多年以来,始终致力于纳米领域的形貌、力学测量和半导体先进制程工艺的计量的新技术新产品的开发。Park独创的技术包括将XY和Z扫描器分离,实现了探针与样品间的真正非接触,避免形貌扫描过程中因探针磨损带来的图像失真,能够快速成像的同时还可以大大提高测试效率,降低实验测试成本等。Park公司成立至今,致力于开发新产品和新技术,旨在为客户解决各类技术难题,以提供最完善的解决方案。其原子力显微镜以高端的产品质量和快捷优质的售后服务受到广大客户的认可。为给中国客户提供更加高效便捷的售后服务, Park公司在中国区建立了售后服务中心并配有备件仓库。
  • 测试秘籍丨原子力显微镜(AFM)
    原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器,它不但能像扫描隧道显微镜(STM)那样观察导体和半导体材料的表面现象,而且能用来观察诸如玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构,还可以在气体、水和油中无损伤地直接观察物体,大大地拓展了显微技术在生命科学、物理、化学、材料科学和表面科学等领域中的应用,具有广阔的应用前景。1 原子力显微镜的工作原理1.1 基本原理AFM 进行表面分析的基本原理如下:AFM 中有一由氮化硅片或硅片制成的对微弱力极敏感的弹性臂,微悬臂顶端有一硅或碳纳米管等材料制成的微小针尖,控制这一针尖,使其扫描待测样品的表面,这一过程是由压电陶瓷三维扫描器驱动的。当针尖与样品表面原子做相对运动时,作用在样品与针尖之间的力会使微悬臂发生一定量的形变。通过光学或电学的方法检测微悬臂的形变,转化成为图像输出,即可用于样品表面分析。简单地说,原子力显微镜是通过分析样品表面与一个微弱力敏感元件之间的相互作用力来呈现材料表面结构的。1.2 工作模式(一)接触工作模式扫描时如果控制针尖一直与样品表面原子或分子接触,那么这种工作模式称为接触模式。在这一过程中,针尖原子与样品表面原子之间力的作用主要表现为是两者相接触原子间的互斥力(大小约为10-8-10-11 N)。接触模式下工作的原子力显微镜可得到稳定的、高分辨率的样品表面图像。但是这种工作模式也有它的不足之处:当研究易变形的样品(液体样品)、生物大分子等的时候,由于针尖与样品原子直接接触,会使样品表面的原子移动、粘附于针尖或者发生较大形变,从而造成样品损坏、污染针尖或者结果中出现假象。(二)非接触工作模式扫描时如果控制针尖一直不与样品表面的原子或分子接触,那么这种工作模式称为非接触模式。非接触工作模式下由于扫描样品时针尖始终在样品上方5-20 nm 距离范围内,针尖与样品间的距离较接触模式远,所以获得的样品表面图像分辨率相对接触模式较低。但正是这一距离也克服了接触模式的不足之处,不再会造成样品的损坏、针尖污染等问题,灵敏度也提高了。(三)间歇接触工作模式扫描时如果控制针尖间歇性的与样品表面的原子或分子接触,那么这种工作模式称为间歇接触模式,也称为轻敲模式,常通过振动来实现针尖与样品的间歇性接触。该模式下微悬臂的振动是由磁线圈产生的交流磁场直接激发的,针尖与样品表面原子作用力主要是垂直方向的,不再受横向力的影响。间歇接触工作模式集合了接触与非接触模式的优点,既减少了剪切力对样品表面的破坏,又适用于柔软的样品表面成像,因此特别适合于生物样品研究。2 原子力显微镜的组成AFM 的硬件系统由力检测部分、位置检测部分和反馈控制系统三部分组成。图1 所示为AFM 的工作原理图,从图中可以看出,AFM 就是通过集合以上三个系统来将样品的表面特性反映出来的:在AFM的工作系统中,使用由微小悬臂和针尖组成的力检测部分来感应样品与针尖间的作用力;当微悬臂受力形变时,照射在微悬臂末端的激光会发生一定程度的偏移,此偏移量反射到激光检测器的同时也会将信号传递给反馈控制系统;反馈控制系统根据接受的调节信号调节压电陶瓷三维扫描器的位置,最终通过显示系统将样品表面的形貌特征以图像的形式呈现出来。3 样品制备3.1 样品要求原子力显微镜研究对象可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等,样品的载体选择范围很大,包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等,其中最常用的是新剥离的云母片,主要原因是其非常平整且容易处理。而抛光硅片最好要用浓硫酸与30%双氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用电性能测试时需要导电性能良好的载体,如石墨或镀有金属的基片。试样的厚度,包括试样台的厚度,最大为10 mm。如果试样过重,有时会影响Scanner的动作,请不要放过重的试样。试样的大小以不大于试样台的大小(直径20 mm)为大致的标准。稍微大一点也没问题。但是,最大值约为40 mm。如果未固定好就进行测量可能产生移位。请固定好后再测定。3.2 样品制备粉末样品的制备:粉末样品的制备常用的是胶纸法,先把两面胶纸粘贴在样品座上,然后把粉末撒到胶纸上,吹去为粘贴在胶纸上的多余粉末即可。块状样品的制备:玻璃、陶瓷及晶体等固体样品需要抛光,注意固体样品表面的粗糙度。液体样品的制备:液体样品的浓度不能太高,否则粒子团聚会损伤针尖。(纳米颗粒:纳米粉末分散到溶剂中,越稀越好,然后涂于云母片或硅片上,手动滴涂或用旋涂机旋涂均可,并自然晾干)。4 原子力显微镜的应用4.1 在材料科学及化学中的应用目前,AFM 在材料科学中主要应用于材料的表面结构、表面重构现象以及表面的动态过程(例如扩散现象)等方面的研究,表面科学的中心内容是研究晶体表面的原子结构,例如从理论上推算出的金属表面结构往往不如实际复杂,借助原子力显微镜可以直观地观察材料的表面重构现象,有助于理论的进一步完善。4.1.1 在探测材料样貌方面的应用利用原子力显微镜来观测材料的样貌进行成像的时候,材料与探针之间出现相应作用力改变能够很好的反映出材料表面的三维图像。可以通过数值分析出材料表面的高低起伏情况,因此,在利用原子力显微镜对材料进行图像分析的时候,可以有效地发现材料表面的颗粒程度、粗糙程度、孔径分布以及孔的结构等。可以利用这种成像的方式把材料表面的情况形成三维图像进行模拟显示,促使形成的图像更加利于人们观察。4.1.2 在粉体材料中的应用在对粉体材料进行分析和研究的时候,可以利用原子力显微镜来逐渐分析原子或者分子中尺度,从而保证可以准确观测晶体以及非晶体的位置、形态、缺陷、聚能、空位以及不同力之间的相互作用。一般来说,粉体材料基本上都是使用在工业中的,但是现阶段有关于检测粉体材料的方法还是十分少的,研制样品也相对比较困难。原子力显微镜实际上是一种新兴的检测方式,具有操作方便、制样简单等特点。很多专家学者认为,人们使用化学方式研制出了SnS粉末,利用原子力显微镜把涂在硅基板上的材料进行成像,从图像上我们很容易发现此类材料具有分布均匀的特点,每一个大约15nm。4.1.3 在晶体材料中的应用专家学者经过不断研究和分析得到了很多晶体生长的模型,但是经过更加深入的分析和研究发现这些理论模型和实际情况是否相同还是具有一定差异,也逐渐成为学者讨论和研究的重点,所以人们希望通过显微镜来监测和观察生长过程。虽然,使用传统的显微镜已经观测出一定的成果,但是由于这些光学显微镜、激光全息干涉技术等存在分辨率不是十分高、实验条件不是很好以及放大不足等问题,使得研究过程出现很大困难,导致不能观测纳米级的分子等。原子力显微镜的发展,为科学家们研究纳米级分子或者原子提供了依据,也成为了专业人士研究晶体过程的重要方式。利用这种显微镜具有的能够在溶液中观察以及高分辨率等特点,可以保证科学家们能够很好的观测到晶体生长过程中的纳米级图像,从而不断分析和掌握材料的情况。4.2 在生物学中的应用AFM 能在气体、液体中无损伤地直接观察物体,可对生物分子在近生理条件下进行检测,是生命科学研究中的有力工具。目前,在生命科学中AFM 主要应用于对细胞、病毒、核酸、蛋白质等生物大分子的三维结构和动态结构信息进行研究。4.2.1 对细胞膜表面形态的研究细胞膜有重要的生理功能,它既使细胞维持稳定代谢的胞内环境,又能调节和选择物质进出细胞。AFM 能够观察到细胞膜表面的超微结构,因此它可以用来观察正常细胞与病变细胞的细胞膜,发现两者的异同,为临床病理诊断提供新的视角和方法。4.2.2 测定细胞弹性以及力学性质病变这一生理过程与细胞的形态和力学性质有关。细胞形态学的变化会影响和反映细胞性质、功能以及细胞微环境的改变。健康细胞与病理状态的细胞在机械性能上是完全不同的。抓住这一点,可以利用AFM 测量出的细胞弹性性质识别癌细胞,以及辅助诊断红细胞相关的各种疾病等,从细胞层面上对各种疾病进行早期诊断和治疗。4.2.3 检测活细胞间相互作用AFM 也可以对细胞间的相互作用进行观察。将一种细胞连接在AFM 扫面探针的尖端,使针尖功能化,对另一种单层排列的细胞进行扫描就可以进行细胞间相互作用的研究。4.2.4 观察动态生物过程AFM也是观察细胞生物过程非常有效的工具。研究痘病毒和活细胞,得到了痘病毒感染活细胞全过程的AFM 图。通过活着的细胞观察子代病毒颗粒,并用AFM 在水溶液环境中在分子水平分辩出有规则重复的烙铁状结构和准有序的环状结构。观察中发现: 在感染前后最初几小时,细胞并无显著变化 子代病毒粒子沿细胞骨架进入细胞内部,还有胞吐、病毒颗粒聚集等现象。通过AFM 图像可以看出哑铃状小泡逐渐形成、消失并在细胞膜表面形成凹陷的全过程。4.2.5 观察生物大分子之间相互作用在生物体内,DNA 与蛋白质间的相互作用有着同样举足轻重的地位。在转录、翻译的过程中,DNA 与特定的蛋白质如解旋酶、聚合酶、启动因子等的结合就决定着生命活动的开启。Gilmore 等利用AFM 以每500 ms 拍摄1 次的速度,清晰地观察到了蛋白质在DNA 上的结合情况。因此,AFM 可以真正帮助我们深入地“看到”生命活动的本质。4.2.6 测定细胞电学性质细胞不论在静止状态还是活动状态,都会产生与生命状态密切相关的、有规律的电现象,生物电信号包括静息电位和动作电位,其本质是离子的跨膜流动。因此,研究细胞的电生理学也成为了生命科学领域一个重要的分支。在AFM 系统中增加了导电模块,在迎春花细胞、酵母菌细胞等样品和探针之间加一个偏压,在扫描的过程中,同时获得样品的表面形貌和电流像,且在成像的同时检测探针和细胞样品之间的电流,得到样品表面形貌和局域电流分布及两者之间的对应关系,从而实现AFM 在纳米尺度上对细胞样品电学特性的分析检测。参考文献[1]高翔.原子力显微镜在材料成像中的应用[J].化工管理,2015(08):67.[2]王明友,王卓群,焦丽君.原子力显微镜在表面分析中的应用[J].邢台职业技术学院学报,2015,32(01):75-78.[3]万旻亿.原子力显微镜的核心技术与应用[J].科技资讯,2016,14(35):240-241.[4]鞠安,蒋雯,许阳,杨升,常宁,王鹏,顾宁.原子力显微镜在生命科学领域研究中的应用进展[J].东南大学学报(医学版),2015,34(05):807-812.

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  • 【原创】原子力显微镜的原理

    【原创】原子力显微镜的原理

    一、原理 原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用扫描探针显微镜(SPM)进行观测。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191623_119371_1601358_3.jpg[/img] 图1、原子与原子之间的交互作用力因为彼此之间的距离的不同而不同,其之间的能量表示也会不同。 原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧道效应,而是利用原子之间的范德华力(Van Der Waals Force)作用来呈现样品的表面特性。假设两个原子中,一个是在悬臂(cantilever)的探针尖端,另一个是在样本的表面,它们之间的作用力会随距离的改变而变化,其作用力与距离的关系如“图1” 所示,当原子与原子很接近时,彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之间的吸引力作用,所以整个合力表现为斥力的作用,反之若两原子分开有一定距离时,其电子云斥力的作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用,故整个合力表现为引力的作用。若以能量的角度来看,这种原子与原子之间的距离与彼此之间能量的大小也可从Lennard –Jones 的公式中到另一种印证。 img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191628_119373_1601358_3.gif[/img] 为原子的直径 为原子之间的距离 从公式中知道,当r降低到某一程度时其能量为+E,也代表了在空间中两个原子是相当接近且能量为正值,若假设r增加到某一程度时,其能量就会为-E 同时也说明了空间中两个原子之距离相当远的且能量为负值。不管从空间上去看两个原子之间的距离与其所导致的吸引力和斥力或是从当中能量的关系来看,原子力式显微镜就是利用原子之间那奇妙的关系来把原子样子给呈现出来,让微观的世界不再神秘。 在原子力显微镜的系统中,是利用微小探针与待测物之间交互作用力,来呈现待测物的表面之物理特性。所以在原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种操作模式: (1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜(contact AFM ),探针与试片的距离约数个?。 (2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜(non-contact AFM ),探针与试片的距离约数十个? 到数百个?。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191628_119373_1601358_3.gif[/img]

  • 原子力显微镜

    用原子力显微镜观察鱼的微观结构,求鱼的预处理方法,多点这些

原子力显微镜相关的耗材

  • AFM原子力显微镜纳米标尺
    产品特点:GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构,可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要,不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性,还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺,现在,有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后,就有了足够的测试样品,这些样本用DNA做成,呈现70nm*90nm*2nm(高)的长方体形状。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
  • AFM原子力显微镜操作台
    AFM原子力显微镜操作台 铝制;可转动;磁力大小可调,能够稳定固定原子力显微镜载物片;周边凹槽可以用于收集碎屑,也可用于放置载物片。也可用于云母分层时固定云母之用。订购信息货号产品描述规格P15010AFM原子力显微镜操作台个P16220AFM 载物片夹取工具个
  • AFM原子力显微镜计量校准片
    问题:当原子力显微镜做样品成像时,很难知道表面是否准确的表征?也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异,如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示,必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测,这两种方法都非常的浪费探针或耗时。解决方案:BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上,也使之间的差异变得明显。因此,tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好,是否已经磨损或破损,从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外,该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层,沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状,尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较,扫描尺寸为1*1um,高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块?原子力显微镜已经成为一个有价值的工具,不仅用于可视化,而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量,原子力显微镜需要正确的校准。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应,能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm(HS-20MG)100nm(HS-100MG)和500nm(HS-500MG)每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准,这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围(40~100um以内),而且,校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何结构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG:~20nmHS-100MG:~100nmHS-500MG:~500nm注:每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准?为了使原子力显微镜更精准的测量,必须进行正确校准。因此,更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面,校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。我们的解决方案:CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准,使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之,又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内,每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何机构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度:20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值
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