土工膜糙面厚度仪

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土工膜糙面厚度仪相关的厂商

  • 泰安艾森特材料有限公司
    泰安艾森特工程材料有限公司是集土工合成材料的研发、设计、生产、咨询、施工、销售及国际贸易于一体的高新技术企业。公司位于山东省泰安市青春创业园，占地面积27000平方米，年产土工材料及新型复合材料10000吨，年销售收入1.2亿元，利税800万元，是“中国土工合成材料工程协会”会员单位，已通过ISO9001质量体系认证。　　　　本公司专业生产排水板、土工格栅、高密度聚乙烯土工膜、HDPE土工膜、LDPE防渗膜、复合土工膜、短丝土工布、长丝土工布、膨润土防水垫（GCL）、三维植被网、塑料软管、盲沟等土工材料，设备全部采用计算机自动控制，流水线作业，产品质量稳定可靠。产品广泛应用于道路、垃圾填埋场、污水处理厂、沙漠造田、园林景观、水利、公路、铁路 现有员工310余人，其中具有高中级以上职称的技术人员10名。本公司下设销售公司、生产部 、技术开发部、质检部、工程部、售后服务部等职能部门，为工程单位提供一流的产品及服务。　　公司始终秉承“求实、创新、和谐、奉献”的经营理念，土工材料价格合理，愿与广大海内外朋友及工程单位，真诚合作、和谐共赢、共创美好明天。
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  • 河北美特斯试验仪器有限公司
    河北美特斯试验仪器设备有限公司是专业化生产建筑防水材料系列、土工合成材料系列，建筑节能材料、沥青及水工沥青混凝土系列、高速、公路、铁路、以及水利测试仪器等方面的生产企业，集科研开发、加工制造、经营经销于一体的高新技术企业。 多年来积累了大量行业专业化生产技术及管理经验，广聚了满怀创业抱负的各类专业化技术人才，建立了顺应市场经济发展的运作模式。 公司拥有专业的加工设备，雄厚的设计、开发和制造于一体的加工能力，机器精密部件均由大型加工中心完成。主要产品：土工布电子万能试验机，电子万能试验机，氙弧灯老化试验箱，低温沥青延伸仪，土工布厚度仪，沥青检测仪器、水泥试验仪器、混凝土仪器、土工试验仪器、试验机系列、测绘测量仪器、检测仪器、试验箱养护设备等。
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  • 表面处理，真空镀膜
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土工膜糙面厚度仪相关的仪器

  • KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪
    KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪参考名:土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪/土工膜检漏仪/防渗膜破损检测仪/垃圾填埋场防渗渗漏破损检测仪适用现场：垃圾填埋场防渗渗漏破损检测、尾矿库坝体渗漏破损检测、景观湖渗漏破损检测、水产养殖池渗漏破损检测、污水存储池渗漏破损检测、化工固废处理池防渗漏 一款新品能带来多少可能？满足不同用户的需求，这可不是说说而已，做符合用户期待的好产品，私家定制，再升级！ 科电仪器，二代新品KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪重磅上市！ 全新外观，大气卓然，生动诠释工匠美学,进一步刷新着用户的感官。 二代KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪系统设备，在吸收采纳一代用户现场反馈的基础上，集成各地各工况的应用体验，进一步优化升级，通过大量的测试实验，改进核心升压组件，使之输出电压高达50KV，根据被检查的土工膜厚度，及土层干湿导电率，可灵敏度适配匹配，以更好的轻松的检测出漏点位置，并持续的报警提示。KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪系统设备，依旧有很好地便携性和一操作性，升级后的参数，输出更线性，检测漏点的效率更高，鉴于大电池容量倍增至4400AMH ，更适宜野外长时间连续施工。KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪适用于垃圾填埋场防渗渗漏破损检测、尾矿库坝体渗漏破损检测、景观湖渗漏破损检测、水产养殖池渗漏破损检测、污水存储池渗漏破损检测等施工防漏检测。适用土工膜类型为：HDPE\ LDPE PVC\ 聚丙烯\ 沥青土工膜\ 导电支撑土工膜\ 任何其他电绝缘材料。适用土工膜路基类型为：压实粘土具有合适的导电性导电混凝土\ 合适的导电GCL\ 土工合成材料的导电铝箔等。KODIN-7DJ土工膜（防渗膜）渗漏破损检测仪主要技术性能：1. 输出高压：0.6KV～50KV （无级连续可调)2. 检测厚度: 0.1~35mm(受现场地土壤环境影响)2.输出高压值直接指示3.可变灵敏度4.电池：12V/2200mA5.消耗功率：≤5W6.主机体积：220 × 130 × 88 mm37.背景光8.瞬时开机，自动断电关机9.3位液晶显示输出电压，全触摸面板10.报警：峰鸣器报警
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    厂商： 山东锐智科电检测仪器有限公司
    品牌： 未知
    型号： KODIN-7DJ
    价格： 面议
  • RC060-II型土工膜耐静水压测试仪
    适用范围：用于测试各种非织造布、土工布复合膜在规定的水力压差条件下的耐静水压性能。符合标准：GB/T19979.1 -2005土工合成材料 防渗性能第1部分：耐静水压的测定GB/T19979.2 -2006土工合成材料 防渗性能第2部分：渗透系数的测定GB/T17642-2008 土工合成材料 非织造布复合土工膜 等标准仪器特性：1、型材机架；进口金属面板、进口表头及金属按键；特铝型材台面，不锈钢压盘。2、进口控制阀、调压阀。3、预留校正孔技术参数：1、试样夹持及加压装置：圆筒状集水器，内腔直径:200±5mm，2、加压范围及精度：0～2.5MPa，±2% （用户自配）3、测试精度：0～2.5Mpa,0.4级4、多孔板上均匀分布直径为3±0.05mm的小透孔5、孔的中心间距为:6mm6、电源：AC220V，50Hz，100W7、外形尺寸：550mm×750mm×1200mm（L×W×H）8、重量：85Kg
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    厂商： 武汉荣测仪器有限公司
    品牌： 未知
    型号： RC060-II
    价格： 面议
  • 普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 400-860-5168转4961
    普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A
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    厂商： 山东普创工业科技有限公司
    品牌： 普创/paratronix
    型号： PTT-03A -普创
    价格： 1200元
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土工膜糙面厚度仪相关的资讯

  • 扫描电镜测试法：我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日，由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜（SEM）检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法，适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施，对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接：https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml
    时间： 2024-07-16
    作者： 张张
  • 操作薄膜厚度测量仪时，有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中，薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具，其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而，在实际操作过程中，一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视，这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发，探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备：环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前，对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此，应确保测量环境符合仪器说明书的要求，如温度控制在一定范围内，避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候，操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上，即使是最精密的仪器，在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此，定期按照厂家提供的校准程序进行校准，是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态（如清洁度、平整度）对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平，会导致测量探头与样品接触不良，从而影响测量精度。因此，在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性，应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而，实际操作中，操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量，这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点，并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项，如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当，不仅会影响测量精度，还可能损坏仪器或样品。因此，在测量前，应仔细阅读仪器说明书，合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中，详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中，操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息，导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此，应建立规范的数据记录制度，确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而，在实际操作中，操作者可能仅关注测量结果是否达标，而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此，在数据分析阶段，应采用多种方法（如统计分析、图形表示等）对数据进行全面剖析，以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时，每一个步骤都至关重要，任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此，操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力，严格按照操作规程进行操作，确保测量结果的准确性和可靠性。同时，随着科技的进步和测量技术的不断发展，我们也应不断学习新知识、掌握新技能，以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
    时间： 2024-09-06
    作者： 泉科瑞达仪器
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中，厚度是非常重要的质量参数，厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前，薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术，在线应用时，通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上，得到的是一个“之”字形的检测轨迹（如下图左），因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描（推扫式成像）高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中，光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度（如上图右），并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用，芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17（935nm-1700nm)）测量了4 种薄膜样品的厚度，薄膜样品的标称厚度为17 μm，20 μm，20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法，并仔细检查干涉图形，根据相长干涉之间的光谱位置及距离，可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图，可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图，通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据，计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm，标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时，没有拉伸薄膜，因此测量值略高于标称值。此外，在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷，如下图所示，两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像，同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测，显著提高了台式检测系统的检测速度，提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比，高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统，同时也无X射线辐射风险。 理论上，SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度，而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情，请参考：工业高光谱相机-SPECIM FX：https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
    时间： 2022-04-13
    作者： QUANTUM量子科学
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  • 如何控制好复合土工膜施工质量的关键性要素

    施工质量控制要点主要体现在三个方面：进场原材料质量控制、施工过程控制、施工完质量检测。土工合成材料工程协会会员单位，主营各种规格土工膜、土工布、复合土工膜、膨润土防水毯等。　　针对于2013年复合土工膜施工质量控制要点，以下进行具体总结分析：　　1.原材料质量控制　　进场的土工膜必须有厂家提供的合格证书、性能及特性指标和使用说明书。复合土工膜外观上不允许有针眼、疵点和厚薄不均现象；土工布不允许有裂口、孔洞、裂纹或者退化变质等材料。在运输过程中和运抵工地后应妥善保存，避免日晒，尽量减少装卸次数。　　2.施工过程控制　　主要是加强土工膜焊缝质量检测，检测方法有目测法和现场检漏。　　（1）目测法：复合土工膜焊接好后，观察有无漏接，接缝是否烫损，有无褶皱，是否拼接均匀等。　　（2）现场检漏，采用充气法对全部焊缝进行检测，焊缝为双条，两条之间留有约10cm的空腔，将待测段两端封死，插入气针，充气至0.05MPa～0.20MPa，静观0.5min，观察真空表，如气压无下降，表明不漏，焊缝合格，否则要查找原因及时修补。　　3.施工完质量检测　　施工完质量检测主要是抽样检测，施工中每1000m2取一试件，做拉伸强度试验，要求强度不低于母材的90%，且试样断裂不得在接缝处，否则接缝质量不合格。整个工程共使用复合土工膜461100m2左右，现场共抽取焊缝试样461组，作拉伸强度试验，经检测合格率100%，焊缝质量合格。

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土工膜糙面厚度仪相关的耗材

  • 土工布CBR顶破夹具
    适用于土工合成材料（主要为土工织物和土工膜等）的CBR顶破试验，测定土工合成材料的CBR顶破强度。 满足标准JTJ/T 060-98中CBR顶破试验的规定。 夹具内径：&Phi 150mm； 顶杆直径：&Phi 50mm。 采用槽形快卸结构，装卸试样快捷，夹持可靠。
    供应商： 上海百若试验仪器有限公司
    品牌： 上海百若
    价格： 面议
  • 土工布圆球顶破、刺破夹具
    适用于土工合成材料（主要为土工织物和土工膜等）的圆球顶破、刺破试验，测定土工合成材料的圆球顶破强度，刺破试验用来评价土工合成材料抵抗颗粒料贯入的能力。满足标准JTJ/T 060-98中圆球顶破、刺破试验的规定。土工布圆球顶破、刺破夹具的试样夹持部分相同，区别在于顶破球头和刺破头的不同。 夹具内径：&Phi 44.5mm；球头直径：&Phi 25.4mm； 刺破头直径：&Phi 8mm。
    供应商： 上海百若试验仪器有限公司
    品牌： 上海百若
    价格： 面议
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
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