太赫兹时域分析系统

太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统 描述：太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统TeraSys-AIO时域光谱系统是Rainbow Photonics基于有机晶体开发的实验室级别的太赫兹光谱成像解决方案。它在测量透射和反射系统上提供了强大的灵活性，不需要对光学器件进行重新排序即可切换。太赫兹时域光谱仪它是基于有机晶体，具有高信噪比、结构紧凑、操作灵活、易于安装等优点，并且其工作频率范围极广，覆盖了光导天线不能达到的高频区域。TeraSys-AIO配有所有光学，机械和电子元件。包括太赫兹探测器，光学延时线，泵浦源，电子配件，湿度传感器，清洗室，专用软件和笔记本电脑等，为客户提供了全套的太赫兹时域解决方案！太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统TeraSys - AiO太赫兹时域光谱仪非常适用于高达20THz太赫兹范围内的材料光谱分析，可用于半导体材料研究、材料检测、高分子生物学、纳米科学以及太赫兹成像等应用方面的研究。Rainbow Photonics附属于苏黎世联邦理工学院非线性光学实验室，于1997年成立。公司基于非线性有机晶体产生和探测THz，研发出了一系列新颖的THz光谱仪产品，频谱范围覆盖了光导天线不能达到的高频区域。典型的时域光谱仪结构原理：太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统针对不同的样品、不同的测试要求、不同的太赫兹波与样品的作用方式，可以采用透射式、反射式等不同的探测模式。其中，最常见的为透射模式。图3为其结构装置图。 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统工作原理：太赫兹时域光谱仪是一种利用脉冲THz波进行光谱检测的装置，在测量中能够同时获得THz脉冲的振幅和相位信息，通过对时间波形进行傅里叶变换能直接得到样品的吸收系数、折射率等光学参数，具有很高的探测灵敏度和较宽的探测带宽，是一种非常有效的光谱测试手段。通过其在基础科研领域和食品药品安全领域的示范应用，可带动其在生物医学、半导体材料、工业加工、文物检测、石油勘探等领域的潜在应用。 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统产品特点：l 频率覆盖范围广l 高信噪比l 结构紧凑，方便安装l 操作灵活l 可提供透射式和反射式两种方案l 配有功能强大的软件和数据包 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统应用范围：l 材料检测l 高分子生物学l 化学结构分析l 安全检查l 半导体材料研究l 纳米科学l 太赫兹成像 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统技术参数：产品尺寸（包含泵浦）：550*450*280mm光谱范围: 透射 0.3-14THz 反射 0.3-8THz动态范围：透射 70dB 反射 40dB信噪比（@4THz）:透射 60dB 反射 35dB扫描范围：60ps频率分辨率：100GHz可升级选项： 太赫兹成像模块 扫描范围：50*50mm 泵浦源参数：泵浦类型：高功率超快铒光纤激光器脉冲长度：20fs平均功率：200mW峰值功率：120kW中心波长：1565nm重复频率：80MHz 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统频谱图：使用DSTMS作为太赫兹波发生和探测装置的TeraSys-AIO系统的透射和反射频谱图如下：

仪器简介：介绍：太赫兹和亚太赫兹频段(100GHz-10THz)正好填补了电磁波谱的毫米波与红外波谱间的空白，除了太赫兹吸收或反射光谱，生物或其它物体的成像，太赫兹X线断层摄影术，超快太赫兹探针光谱仪方面是被研究的热点外，在半导体、医学及安全生产方面同样有广阔的应用前景。EKSPLA&rsquo s太赫兹光谱分析系统对于扩展系统容量到太赫兹频段的研究者来说是一个非常好的工具。THz时域光谱分析：典型的THz时域光谱学系统如图1，用亚皮秒的太赫兹脉冲透过样品，再经一段对称的自由空间后由探测器接收，测量由此产生的电磁场强度随时间的变化（利用傅立叶变换获得频域上幅度和相位的变化量），进而得到样品的信息。该系统包括超快泵浦激光，光电导天线THz发射器和探测器，泵浦激光光束导向，伴随控制器的机械化的延迟线，锁定放大器和装有实验观察软件计算机，由计算机来获取实验数据。典型的数据收集的例子如图2，发射与探测器间没有放置样品时探测的THz脉冲波行和它的傅立叶光谱。通用性：该系统的设置很容易得到改进。Ekspla提供了四种设备供选择，分别用于传输、反射、成像或泵浦探针探测。最基础(也是最简单的)的设备是用于传输探测。以后可以订购其它光学设备进行系统升级。THz反射系数：对于安全应用，像无损材料检测或细微水痕探测，研究它的反射光谱是很重要的，多种材料在THz范围的反射率可以用光反射系数测量设备记录下来。THz光的入射角可以进行30-50度范围的调整。红光导向光束有利于THz辐射定位样品和样品表面的取向。因为我们的THz发射器提供了极化输出，系统可以根据垂直或水平极化测量进行配置。THz泵浦探针实验：飞秒激光器的引入为研究半导体中超快过程的非平衡动态力学提供了手段。基于此，光泵浦-光学探针技术的应用非常普遍。在采用光泵浦探针技术的试验中，样品一面被超短的强激光脉冲照射，激发出自由电信号，同时一束相对较弱的泵浦信号光从另一面射入，这束THz波改变了样品的光学性质。与纯粹的光学探针技术恰恰相反&mdash 研究发现THz泵浦脉冲在半导体的级带上是非共振的，这就避免了自由电子动力学领域试验中许多人工的假象干扰，可以放心地直接作为探针应用于光泵浦-光学探针系统。THz成像：太赫兹射线能够深入到许多有机材料内部而不伤害材料，这个特长使太赫兹成像非常适合用来测量生物样品。样品的像可以通过光栅扫描获得，可获得的图形分辨率大约1mm。软件：实验观测是基于软件所获得的数据。该软件可以用来参照光谱的探测和传输系数的计算。得到的数据可以保存在硬盘，之后通过专门的软件进行分析。分离的有效器件有利于THz系统的装备，可以控制锁定放大器和其它的设备。1.6GHz奔腾4系列的微处理器笔记本电脑可以用来系统控制。为了比较容易的综合或修正，我们可以提供实验观察源代码。THz组件：THz发射器和探测器是任何THz系统的核心组件。Ekspla生产的THz发射和接收器均集成了低温环境下生长的GaAs(LT-GaAs)晶体材料光电导天线（含微波传输带）和THz透镜，安置在X-Y调整架中。半导体中的电子迁移率和诱捕时间这两个技术指标分别决定了光电导天线在发射器和接收器上的表现。LT-GaAs是最适于太赫兹应用的材料之一，因为它有极高的电子迁移率、较快的电信号捕获时间、很高的击穿电压以及高抗性。另外，我们在低温环境生长GaAs的过程中采用了一种特别的技术，使得光电激发寿命获得了一个远宽于正常的可控波谱范围：从低于100fs 一直到100ps。光电导天线的几何设计，THz透镜组的参数的准确选择和低温GaAs晶体外延法生长过程选择哪类材料的附着层，这些都是非常关键的因素。我们在保留最佳的带宽情况下，通过优化还能输出最高能量的THz辐射。比较典型的THz辐射输出能量超过10&mu W，当锁模超快激光泵浦时能量输出达到100mW，脉宽150fs。探测系统的FWHM带宽超过700 GHz时，可用光谱范围为0.1-3THz。选项净化箱 移动水蒸气吸收在1.5-3 THz范围反射系数测量 可以进行反射光谱探测光泵浦THz探针 可以对半导体及其它材料进行超快泵浦探针光谱分析2D样品成像 可以获得样品图象实时光谱获取 快的光延迟线使得实时光谱记录实验观察源代码技术参数：参量 数据 说明泵浦激光输出能量，mW 60脉宽，fs 50 可选20fs型号波长，nm 760-840脉冲重复频率，MHz 50-100 探索其它的脉冲重复频率光谱仪(传输模式)光谱范围，cm-1 6-100 或0.2-3THz光谱分辨率，GHz 15 70ps的扫描窗口精度，％ ± 2 @0.6THz动力学范围 1000:1 电场振幅@0.6THz扫描范围，ps 300 探索更长的扫描范围主要特点：特性：光谱范围0.2-3THz信噪比1000:1@0.6THz光谱分辩率优于15GHz光反射系数测量可选择的光泵浦THz探针配置应用：THz传输光谱分析THz反射光谱分析THz成像光泵浦THz探针光谱仪

太赫兹(THz)时域光谱分析系统 THz-TDS BATOP GmbH是一家创新型公司，从事的专业领域包括：低温分子束外延技术，介质溅射镀膜，晶圆加工和芯片安装技术。BATOP的一个主要产品系列是用于太赫兹发射和探测的太赫兹光电导天线(PCA)。BATOP不仅提供单带隙天线，还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉天线阵列和整套的太赫兹光谱仪。TDS10XX台式太赫兹时域光谱仪 产品特性： 光谱范围最高可至3.5THz 带透射测试样品仓，可充氮气 针对小样品可选聚焦太赫兹光束 有额外端口，适用于外部光纤耦合测试 可选x-y-z样品位移台，用于3D扫描透反射测试 T3DS软件支持技术参数：型号TDS1008TDS1010TDS1015光谱范围0.05-4THz(with 800 nm laser)0.05-3THz(with 1040 nm laser)0.05-2 THz(with 1560 nm laser)动态范围 75 dB 65 dB 70 dB扫描范围650 ps (2 GHz resolution)太赫兹光束直径22 mm (collimated beam) / 1mm@1THz (focussed beam)可测样品大小30 x 30 mm (collimated beam) / 5 x 5 mm (focussed beam) FC TDS 1550nm光纤耦合太赫兹时域光谱系统主要参数：光谱范围0.05 to 2 THz动态范围≥70 dB扫描范围500 ps ( 2 GHz 慢扫)太赫兹光束直径12 mm (准直光束)太赫兹光斑大小1.55 mm @ 1 THz (聚焦)快扫时间0.5 s慢扫时间8~45min发射器偏置电压10V调制频率1 to 30 kHz, (10 kHz default) FS TDS 1060nm自由空间太赫兹时域光谱系统产品特性： 光谱范围最高可至3.5THz 带透射测试样品仓，可充氮气 针对小样品可选聚集太赫兹光束 有额外端口，适用于外部光纤耦合测试主要参数：光谱范围 0.1 - 2.5 THz动态范围 ≥70 dB光谱分辨率 2GHz0.4THz时信噪比 1000快扫时间 0.5 s太赫兹焦距 50mm