非球面测量仪

a|非球面柱面镜表面形状偏差小于0.5 μm，高折射率玻璃制成的非曲面柱面镜产品负责人：姓名：刘工(Pindy)电话：（微信同号）邮箱：a|非球面柱面镜产品简介：非球面镜的形状经过优化，具有出色的成像特性。非球面镜主要优势在于能够校正球面像差。使用非球面镜可以减少光学系统中的元件总数。这样，与基于球面透镜的同类系统相 比，其结构设计更加紧凑、功能更强大。德国Asphericon公司的StockOptics产品（库存标准产品）种类繁多，有包含精密抛光的非球面透镜、非球面柱面镜和锥透镜的丰富产品组合任您挑选。Asphericon特别推出的非球面镜、锥透镜、非球面柱面镜和已安装光学器件——得益于asphericon在高精度非球面镜制造领域的技术领跑者地位。质量优异、交付快速，可带来诸多受益。除此之外，Asphericon也可根据客户要求提供定制型非球面透镜。柱面镜或非球面柱面镜是具有圆柱面的光学元件，其横截面不同于圆形。实际应用包括平凹和平凸柱面镜以及具有球面或非球面反面的柱面镜。与透镜相比，柱面不是在焦点处而是沿着焦线将入射光聚束。例如，圆柱体可用于照明技术，例如变形工艺。它们还用于测量仪器、光谱仪、激光扫描仪以及医疗技术中标记图案的生成。精密抛光非球面镜可实现更优的光束能量分布。特别适合您要求苛刻的激光应用。 也可提供已安装透镜。a|非球面柱面镜主要优点：RMSi ≤ 0.5 μm的表面形状偏差长焦距（f/d 2.0） 可提供3种标准镀膜（可根据要求定制镀膜）激光损伤阈值：12 J/cm2，100 Hz，6 ns，532 nm现货供应符合RoHS标准a|非球面柱面镜产品特性：表面形状偏差（RMSi）[ μm ]≤0.5EFL容差[ % ]≤0.1表面缺陷[ 伤痕-亮点 ]60-40宽度容差[ mm ]+/-0.05长度容差[ mm ]+/-0.1直径容差[ mm ]±0.05通光孔径[ % ]≥90AR膜A: RMAX1.0%, RAVG≤0.4%, 400-600 nm, AOI=0°B: RMAX1.0%, RAVG≤0.4%, 600-1050 nm, AOI=0°C: RMAX1.0%, RAVG≤0.4%, 1000-1600 nm, AOI=0° 说明： 1、RMSi对应于ISO 10110-5（表面形状容差）。 2、对于CHL45-32、CHL50-40透镜，请考虑中心厚度容差±0.1。 3、可根据要求提供定制镀膜。 StockOptics - 库存标准产品产品代码尺寸EFLNAf/dWD波长材料[ mm ][ mm ][ mm ][ nm ]CHL10-08-P10 x 1080.540.86.3780S-LAH64CHL12-10-P12.5 x 12.5100.550.87.2780S-LAH64CHL15-12-P15 x 15120.540.89.2780S-LAH64CHL18-15-P18 x 18150.530.8311.6780S-LAH64CHL20-18-P20 x 20180.490.914.3780S-LAH64CHL25-20-P25 x 25200.540.815.8780S-LAH64CHL30-26-P30 x 30260.520.8721.5780S-LAH64CHL45-32-P45 x 45320.610.7124.7780S-LAH64CHL50-40-P50 x 50400.550.832.1780S-LAH64生产能力：StockOptics - 库存标准产品定制非球面透镜直径10x10 - 50x50 mmmax. 200x96 mmRMSi≤ 500nm20nm表面缺陷（伤痕/亮点）60 - 4020 - 10镀膜4种标准镀膜客户特定激光损伤阈值12J/cm2, 100Hz, 6ns, 532nm客户特定全表面干涉测量可选可选

仪器简介：FRT公司(FriesResearch& TechnologyGmbH)由物理学博士Dr.ThomasFries于1995年创立,位于德国科隆市郊BG高科技园区,是生产光学表面测量仪器的专业公司.FRT公司拥有世界先进的纳米测量技术和专利,1996年获得德国创新技术企业奖,1998年和2001年分别成立了FRT美国和FRT瑞士分公司.FRT与强大的伙伴合作,在表面测量领域处于绝对先锋.产品包含非接触式电子扫描测量仪器系列,原子力扫描测量显微镜系列，超声波原子力扫描，干涉仪，测量软件系列和特殊工艺控制测量装置等,用于测量面形轮廓,表面粗糙度,表面形貌,薄膜厚度，材料特性等.测量原理是传感器扫描非接触测量,特点是测量速度快,纳米高精度测量,可测量大口径和大厚度的零件，排除了损害零件和在零件上留痕迹的风险等.技术参数：●测量范围：2-140mm●透镜厚度测量范围：2-50mm，最大偏差+/-300um●系统分辨率：1/3200º 主要特点：●白光色差测量传感器●非接触无损测量●用于抛光或未抛光的球面、非球面测量●面形、轮廓、粗糙度测量●高精密气浮旋转工作台，HEIDENHAIN旋转编码器

中图仪器推出SJ5720光学曲面测量仪，仪器精度达到高端水平（仪器直线度≤0.25μm/200mm，大范围形貌微观轮廓Pt≤0.3μm，粗糙度测量精度达到纳米级、测力最小0.5mN），自主研发的智能全自动测量功能，用户操作体验感佳。SJ5720光学曲面测量仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度光学曲面测量仪。可操作性能强，譬如自动找拐点、智能多方向保护、状态智能显示、测针智能装夹、软件智能匹配光学镜片类型、光学镜片研磨机参数对接等，操作人员在使用仪器过程中，只需将光学镜片放置到指定位置，输入被测非球面、其他面型参数，设定起点，即可实现一键测量，无需人工干涉测量过程，通过智能测力匹配系统控制测力大小，做到无损伤测量。功能介绍1 超精密转轴测力系统超精密专利轻巧轴系细微专利测力0.5mN自动测杆保护系统2 智能测针拔插结构一键式拔插测针高刚性碳纤维针杆高精度测针惯量小3 智能防撞结构、仪器状态显示扫描轴自带X、Z轴防撞系统模组外壳自带防撞系统仪器状态面板实时监控仪器状态4 专业的非球面分析软件数据结果自动分析各种非球面参数，自动得到残差曲线输入非球面\球面参数智能防错检测数据对接非球面精密加工机床，支持面形数据导入非球面加工机床带系统振动实时监测功能，实时监测外界振动5 一体封闭式外观减少外界噪声，气浮减震系统隔绝环境振动整体式亚克力框架，美观大方，可关门检测产品并实时观看检测状态封闭式门框结构，保障测量高精度非球面时，不受外界振动干扰仪器配备精密稳压气浮减震垫，隔绝外界振动影响SJ5720光学曲面测量仪广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。该仪器可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，可分析出非球面参数、多种粗糙度参数、微观轮廓度参数。是大曲面测量（光学镜片、光学精密模具、轴承、人工关节、齿轮、叶片）领域精细粗糙度测量的利器。部分技术规格型号SJ5720-OPT100轮廓参数测量范围X：0~100mm立柱：0~300mmZ：±6mm（标准测针杆）（±12mm：选择两倍测针杆时）扫描速度0.05～5mm/s测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（电子档位可调）粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围）示值误差Ra0.012μm ~ Ra3.2μm： ≤±(3nm+2.0%A)（A：测量Ra标称值，μm）Ra3.201μm ~ Ra12.5μm： ≤±(3nm+3.5%A)（A：测量Ra标称值，μm）非球面测量参数微观轮廓参数：Pt、Pa、Fig；倾角参数：Smx、Smn；水平轴线夹角参数：Tilt；光轴与轮廓的距离参数：Xp、Xv、Xt；均方根粗糙度参数：RMS；斜率参数：Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave；顶点半径误差参数：Radius Err。粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte；符合标准：GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994，JIS B 0601-1982，ISO 1302:2002如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。