薄膜生长速率测试仪

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薄膜生长速率测试仪相关的厂商

  • 400-860-5168转1431
    巨力科技有限公司专门经销欧美、日本等国家制造的先进科学仪器,为客户提供完备的售前咨询和售后服务、技术支持。目前产品涵盖材料科学、微纳米技术、表面测量及表征、半导体、光伏和生命科学等领域。 主要产品:d33测量仪,压电系数测试仪,精密压电测试仪; 电容充放电测量系统高压漏电流及热释电测量系统电滞回线及高压介电击穿强度测量系统低温宽频介电测量系统高场宽频谱介电测量系统kSA MOS US薄膜应力测量系统,kSA MOS Thermal Scan薄膜热应力测量系统,kSA MOS原位薄膜应力测试仪,kSA MOS薄膜残余应力测试仪; kSA 400 RHEED 分析系统; kSA BandiT 测温系统;石磨盘发射率测量系统;kSA RateRat沉积速率检测仪; ALD 原子层沉积系统 碳纳米管生长系统 纳米碳制备CVD炉 石墨烯制备系统SPD喷雾热解成膜系统太阳能电池量子效率测试系统/光谱响应测量系统/IPCE测量系统; AAA级太阳光模拟器,全光谱太阳光模拟器(A+A+A+);高准直太阳光模拟器;稳态太阳光模拟器; 单体测试仪,太阳能电池IV测试仪,全自动太阳能电池IV测试; 大面积组件太阳能模拟器及IV测试系统; 有机太阳能电池太阳光模拟器;光催化太阳光模拟器;有机半导体载流子特性测量系统有机/钙钛矿太阳能电池载流子测量系统钙钛矿太阳能电池/LED寿命分析系统OLED光谱分析系统有机/钙钛矿太阳能电池扩散长度测量系统有机/钙钛矿太阳能电池量子效率测量系统有机/钙钛矿太阳能电池缺陷测量系统有机/钙钛矿太阳能电池制备系统实验室涂布机等等
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  • 上海摩尼测试仪器有限公司是实验室、便携式和在线分析检测仪器的专业供应商。我们致力为环境监测、教育科研、水文水利、化工制药以及工业实验室等众多领域长期提供世界著名品牌的分析检测仪器设备、解决方案和技术服务。 公司环境分析部现为美国Teledyne Isco、美国Xylem WTW、美国ITS、美国ASA、美国TraceDetect、德国Merck、荷兰Rhosonics等行业知名品牌的特约代理商和技术服务中心。
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  • 公司主营产品:几大系列:功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。
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薄膜生长速率测试仪相关的仪器

  • 薄膜生长速率测试仪 400-860-5168转1431
    仪器简介:全球专业的薄膜沉积生长速率监控系统,采用无损的激光技术实时原位检测薄膜沉积速率、薄膜厚度以及光学常量(n&k),可广泛的应用于金属有机化学气象沉积MOCVD、分子束外延MBE、溅射系统Sputtering和蒸发系统等薄膜沉积过程的实时原位监控。主要特点:*实时薄膜沉积速率、薄膜厚度和光学常数(n&k)分析,同时标准偏差统计分析;*自动程序化校准;*实时反馈系统;*程序控制,可实时多层薄膜沉积监控和控制;*多Wafer监控功能;*Wafer基底旋转监控和控制功能;*所有参量原位实时检测;*操作装配简单便捷;
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  • 薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪基于压差法测试原理,专业适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片在各种温度下的气体透过率、溶解度系数、扩散系数、渗透系数的测定。符合GB、ISO、ASTM等多项标准要求。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪产品特点:全新彩虹桥式测试腔,采用360°气流循环恒温技术,温度稳定性更佳。原装进口高精度真空传感器,实现0.01~0.09 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa超高阻隔材料的准确测试。原装进口气动控制系统,具有超低故障率和超长使用寿命,确保系统整体密封良好,保障测试精度。原装进口真空泵,极限压可达0.2Pa,抽真空速率提升。系统自动控制真空泵,无需人工开闭,增效降耗。兰光特有的试验过程高精度自动补压技术,实现高压腔压差恒定,压力变化小于0.2 kPa。支持10kPa~150kPa范围内灵活设定高压腔压力,系统精确保压。高效六腔设计,独立六套标准面积测试腔,是传统透气检测仪器测试腔数量的三倍。支持同一条件下6个试样同时测试,数据相互独立。中、低阻隔性材料,测试时间<4小时(含抽真空时间)。高阻隔性材料,测试时间<8小时(含抽真空时间)。自动夹紧试样,省时省力,夹紧力度一致,密封更佳。采用Windows系统的12寸触控平板操控,操控更便捷。自动模式,输入试验温度,一键开启,全自动测试。智能仓盖自动开闭,声光提醒。专业试验模式,提供了灵活丰富的控制功能,满足科研需要。提供气体透过率曲线、气体透过系数曲线、温度曲线。超宽的温度范围,满足在不同极限温度下的阻隔性测试(选配)。超宽的测试范围,满足各类材料的阻隔性测试(定制)。支持H2、CH4等危险气体测试(定制)。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪测试原理:将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间,首先对低压腔(下腔)进行真空处理,然后对整个系统抽真空;当达到规定的真空度后,关闭测试下腔,向高压腔(上腔)充入一定压力的试验气体,并保证在试样两侧形成一个恒定的压差(可调);这样气体会在压差梯度的作用下,由高压侧向低压侧渗透,通过对低压侧内压强的监测分析,从而得出所测试样的各项阻隔性参数。参照标准:ISO 15105-1、ISO 2556、GB/T 1038-2000、ASTM D1434、JIS K7126-1、YBB 00082003测试应用:薄膜——各种塑料薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的气体透过率测试。片材——PP片、PVC片、PVDC片、金属箔片、橡胶片、硅片等片状材料的气体透过率测试。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪技术参数:仪器型号:C106H测试范围:0.01~50,000 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa分辨率:0.001 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa温度范围:15~50 ℃;5~60℃(选配)温度分辨率:0.01 ℃温度波动:±0.15 ℃湿度范围:0%,5~90%±2%(定制)%RH(标配温度范围内)真空分辨率:0.01 Pa真空精度:示值±0.2%(传感器规格的1%-100%)测试腔真空度:≤ 10 Pa技术规格:测试腔:6套样品尺寸:4.4” x 4.4”(11.2cm×11.2cm)样品厚度:≤120 Mil(3mm)标准测试面积:38.48cm2试验气体:O2、N2、CO2等气体(气源用户自备)试验压力:10 kPa~150 kPa(任意设定)压力波动:0.2 kPa气源压力:79.7 PSI / 550 kPa接口尺寸:Φ6 mm聚氨酯管外形尺寸:600mm × 490m m × 660mm电源:120VAC±10% 60Hz / 220VAC±10% 50Hz(二选一)净重:220Lbs(100kg)产品配置:标准配置:主机、平板电脑、真空泵(英国)、取样器、真空油脂、Φ6 mm聚氨酯管选购件:空压机、CFR21Part11、GMP计算机系统要求、DataShieldTM数据盾备注:本机压缩空气进口为Φ6 mm聚氨酯管(压力≥ 79.7 PSI / 550 kPa);气源自备
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  • 薄膜击穿电压测试仪 400-860-5168转5976
    薄膜击穿电压测试仪在强电场作用下,固体电介质丧失电绝缘能力而由绝缘状态突变为良导电状态。导致击穿的最低临界电压称为击穿电压,在均匀电场中,击穿电压与固体电介质厚度之比称为击穿电场强度,它反映固体电介质自岩芦身的耐电强度。薄膜击穿电压测试仪不均匀电场粗拍带中,击穿电压与击穿处固体电介质厚度之比称为平均击穿场强,它低于均匀电场中固体电介质的介电强度。不同电介质在相同温度下,其击穿场强不同。当电容器介质和两极板的距离d一定后,由U1-U2=Ed知,击穿场强决定了击穿电压。薄膜击穿电压测试仪打内压属于破坏性试验,当电压升到规定的内压数值时保持一定的时间,绝缘体击穿,说明绝缘体不合格,不能继续使用了。如果达到内压数值时维持一定的时间没有击穿就表示合格,可以继续使用。薄膜击穿电压测试仪 ,相线与地之间,承受的电压值。献艺交流码销键设备为例,交流设备又分为额定工频短时耐受电压和额定雷电冲击耐受电压。不通电压等级的设备其耐受电压值不同,电气设备在相应斗闷规定的耐压值下,在规定的时间内,绝缘不迟巧可以被破坏,不可以有击穿,这样设备才达到规定的耐压强度。薄膜击穿电压测试仪耐电压击穿试验仪针对绝缘材料的绝缘性能进行测试,材料的能承受的最大电压。电压击穿指的是电介质在足够强的电场作用下将失去其介电性能成为导体,称为电介质击穿,所对应的电压称为击穿电压。通过这一项实验,能得出电压击穿样品时的电压,而这个电压是该样品的上限值。当设计产品时岩册凳,通过耐高电压测试得到的上限值,就可以知道该材料的抗压性能,然而,影响击穿电压的因素有很多,又分为试样本身状态方面和试验条件方面的。输入电压: 交流 220 V输出电压: 交流/直流 0--50kv电器容量: 10KVA高压分级: 0-50kv升压速率: 0.1-5kv试验方式:交/直流试验:1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验试验介质:空气/绝缘油电压试验精度: ≤1%电源:220v±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率升压装置:采用先进的无触点原件匀速升压淘汰前款机械调压耐压时间:0-999小时(软件设定)漏 电 流:5- 200MA耐压式样:固体;液体。定做 高温环境 高温油控制方式:无线安全控制  ——影响因素——  1、试样本身的状态影响击穿电压的因素比较典型的有:  a.试样的厚度:试样的厚度不平均,每个点的击穿电压的大小就会不一样,厚度大的地方击穿电压往往会比薄的地方大。  b.试样的表面状况:试样是否存在着孔隙,也会影响击穿电粗旅压的测量。若样品存在着有孔隙,样品中的孔隙,可能会使得电场畸变,测量出的击穿电压,会比实际的电压要大。  c.机械应力:当样品受到太多的机械应力时,介质承受着机械应力,当样品承受的机械应力过大时,可能会导致样品表面有微微的开裂,从而使得测得的击穿电压偏小。  d.样品的前处理:同种类型的样品,预处理时的条件不同,也可能使得测得的击穿电压与实际值有偏差,所以,遇到需要预处理的样品时,保证同组的样品,要在相同的环境下进行预处理。
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薄膜生长速率测试仪相关的资讯

  • SYSTESTER发布智能全自动薄膜阻隔性测试仪新品
    智能全自动薄膜阻隔性测试仪品牌:【SYSTESTER】济南思克测试技术有限公司适用范围:气体透过率测定仪主要用于包装材料气体透过量测定工作原理:压差法测试原理型号:气体透过率测试仪(又称:薄膜透气仪,透氧仪,气体渗透仪,压差法透气仪,等压法透气仪,氧气透过率测试仪等,气体透过量测定义,药用复合膜气体透过率测试仪,人工智能技术仪,氧气渗透仪,济南思克,OTR透氧仪)智能全自动薄膜阻隔性测试仪采用真空法测试原理,用于各种食品包装材料、包装材料、高阻隔材料、金属薄片等气体透过率、气体透过系数的测定。 可测试样:塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、方便面包装、铝箔、输液袋、人造皮肤;(红外法)(电解法)水蒸气透过率测试仪气囊、生物降解膜、电池隔膜、分离膜、橡胶、轮胎、烟包铝箔纸、PP片材、PET片材、PVC片材、PVDC片材等。试验气体:氧气、二氧化碳、氮气、空气、氦气、氢气、丁烷、氨气等。 GTR系列 药用复合膜气体透过率测试仪,人工智能技术【济南思克】技术指标:测试范围:0.01~190,000 cm3/m2?24h/0.1MPa(标准配置)分 辨 率:0.001 cm3/m2/24h/0.1MPa试样件数:1~3 件,各自独立真空分辨率:0.1 Pa控温范围:5℃~95℃ 控温精度:±0.1℃ 试样厚度:≤5mm 试样尺寸:150 mm × 94mm 测试面积:50 cm2试验气体:氧气、氮气、二氧化碳、氦气等气体(气源用户自备)试验压力范围:-0.1 MPa~+0.1 MPa(标准)接口尺寸:Ф8 mm 外形尺寸:730 mm(L)×510mm(B)×350 mm(H) 智能全自动薄膜阻隔性测试仪产品特点:真空法测试原理,完全符合国标、国际标准要求三腔独立测试,可出具独立、组合结果计算机控制,试验全自动,一键式操作高精度进口传感器,保证了结果精度、重复性进口管路系统,更适合极高阻隔材料测试进口控制器件,系统运行可靠,寿命更长进口温度、湿度传感器,准确指示试验条件一次试验可得到气体透过率、透过系数等参数宽范围三腔水浴控温技术,可满足不同条件试验系统内置24位精度Δ-Σ AD转换器,高速高精度数据采集,使结果精度高,范围宽嵌入式系统内核,系统长期稳定性好、重复性好嵌入式系统灵活、强大的扩展能力,可满足各种测试要求多种试验模式可选择,可满足各种标准、非标、快速测试试验过程曲线显示,直观、客观、清晰、透明支持真空度校准、标准膜校准等模式;方便快捷、使用成本极低廉标准通信接口,数据标准化传递可支持DSM实验室数据管理系统,能实现数据统一管理,方便数据共享 (选购) 标准配置:主机、高性能服务器、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、恒温控制器、氧气精密减压阀、取样器、取样刀、真空密封脂、真空泵(进口)、快速定量滤纸 执行标准:GB/T 1038-2000、ISO 15105-1、ISO 2556、ASTM D1434、JIS 7126-1、YBB 00082003 其他相关:系列一:透氧仪,透气仪, 透湿仪,透水仪,水蒸气透过率测试仪,药用复合膜气体透过率测试仪,人工智能技术,7001GTR透气仪系列二:包装拉力试验机、摩擦系数仪、动静摩擦系数仪、表面滑爽性测试仪、热封试验仪、热封强度测试仪、落镖冲击试验仪、密封试验仪、高精度薄膜测厚仪、扭矩仪、包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、安瓿折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、电化铝专用剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、薄膜穿刺测试仪、弹性模量测试仪、气相色谱仪、溶剂残留测试仪等优质包装性能测试仪!注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与最终解释权!创新点:1.以边缘计算为特点的嵌入式人工智能技术赐予了仪器更高的智能性;2.赋予仪器高度自动化、智能化;3.外观设计独到智能全自动薄膜阻隔性测试仪
  • 速普仪器发布【SuPro】薄膜应力测试仪FST2000新品
    基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的矩阵激光点阵扫描方式和探测技术,以及智能化的操作,使得FST2000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的曲率半径和应力测量。独特的双模扫描模式方便适应不同应用场景下需求:Mapping不同区域的薄膜应力分布或快速表征样品整体平均残余应力。 创新点:1.半导体薄膜、光电薄膜专用残余应力测试仪器;2.兼容区域性薄膜应力分布mapping结果和快速表征样品整体平均残余应力;3.通过独特对减模式算法,可数据处理校正原始表面不平影响。【SuPro】薄膜应力测试仪FST2000
  • 赛成发布压差法薄膜透气性能测试仪新品
    GPT-01压差法气体渗透仪基于压差法的测试原理,是一款专业用于薄膜试样的气体透过率测试仪,适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片、橡胶、轮胎气密性、渗透膜等在各种温度下的气体透过率、溶解度系数、扩散系数、渗透系数的测定。产品应用薄膜 复合膜 共挤膜 镀铝膜 铝箔 PP片材 PVC片材 PVDC片材GPT-01压差法气体渗透仪 技术特征:u 可同时测定试样的气体透过率、溶解度系数、以及扩散系数u 宽范围、高精度温湿度控制,满足各种试验条件下的测试u 提供比例和模糊双重试验过程判断模式u 测试量程可根据需要进行扩展,满足大透过率测试的要求u 可进行任意温度下的数据拟合,轻松获得极端条件下的试验结果u 支持有毒气体及易燃易爆气体的测试(需改制)u 系统采用计算机控制,整个试验过程自动完成u 提供标准膜进行快速校准,保证检测数据的准确性和通用性u 配备USB通用数据接口,方便数据传递测试原理GPT-01采用压差法测试原理,将预先处理好的试样放置在上下测试腔之间,夹紧。首先对低压腔(下腔)进行真空处理,然后对整个系统抽真空;当达到规定的真空度后,关闭测试下腔,向高压腔(上腔)充入一定压力的试验气体,并保证在试样两侧形成一个恒定的压差(可调);这样气体会在压差梯度的作用下,由高压侧向低压侧渗透,通过对低压侧内压强的监测处理,从而得出所测试样的各项阻隔性参数。标准该仪器满足多种国家和国际标准:ISO 15105-1、ISO 2556、GB/T 1038-2000、ASTM D1434、JIS K7126-1、YBB 00082003技术指标指标薄膜测试测试范围0.1~100,000 cm3/m224h0.1MPa(常规)上限不小于600,000 cm3/m224h0.1MPa(扩展体积)试样件数1 件真空分辨率0.1 Pa测试腔真空度<20 Pa控温范围室温~50℃控温精度±0.1℃控湿范围0%RH、2%RH~98.5%RH、***RH(湿度发生装置另购)控湿精度±1%RH试样尺寸Φ97 mm透过面积38.48 cm2试验气体O2、 N2、CO2等气体(气源用户自备)试验压力-0.1 MPa~+0.1 MPa(常规)气源压力0.4 MPa~0.6 MPa接口尺寸Ф6 mm 聚氨酯管外形尺寸460 mm (L) × 475 mm (W) × 450 mm (H)电源AC 220V 50Hz净重75 kg 标准配置:主机、 恒温控制器、计算机、专业软件、专用取样器、真空脂、快速定量滤纸、真空泵(进口) 选购件:取样刀片、真空脂、真空泵油、快速定量滤纸、湿度发生装置创新点:GPT-01采用压差法测试原理,将预先处理好的试样放置在上下测试腔之间,夹紧。首先对低压腔(下腔)进行真空处理,然后对整个系统抽真空;当达到规定的真空度后,关闭测试下腔,向高压腔(上腔)充入一定压力的试验气体,并保证在试样两侧形成一个恒定的压差(可调);这样气体会在压差梯度的作用下,由高压侧向低压侧渗透,通过对低压侧内压强的监测处理,从而得出所测试样的各项阻隔性参数。

薄膜生长速率测试仪相关的方案

薄膜生长速率测试仪相关的资料

薄膜生长速率测试仪相关的试剂

薄膜生长速率测试仪相关的论坛

  • 霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例

    样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm样品尺寸: 10 * 10 mm实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS [url=http://www.hakuto-vacuum.cn/product-list.php?sid=131][color=#0000ff]霍尔效应测试仪[/color][/url]测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla[color=#ff0000]* 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.[/color][b][color=#000000]样品 ITO1 测试结果:[/color][color=#000000]I-V 测量结果[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-nano.jpg[/img][/color][/b][color=#000000][b]VdP 测量结果[/b][/color][color=#000000] 测量头类型: RT Head 磁场: 9677G 厚度: 80nm[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-vdp.jpg[/img][/color][b]部分测试结论:[/b]1. 得到的电阻值彼此相容.2. 所有的IV 曲线都是线性的3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. ...[color=#ff0000]* 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎联络上海伯东[/color]

  • 【原创】菌落为何沿着薄膜周边环绕生长

    【原创】菌落为何沿着薄膜周边环绕生长

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/03/201103241055_284836_2168123_3.jpg 薄膜过滤后,于琼脂培养基上贴膜,33摄氏度下培养3天,结果如上图片所示,薄膜表面上的菌落数较少,曾经也有过薄膜面上无菌落生长,而薄膜周边则环绕生长了一圈细菌。 大家帮忙分析下,这是什么原因引起的。 我们自己觉得,会不会是过滤时候水为过滤完,去触摸贴于培养基的过程中将膜竖起了,引起水往边缘留,菌也就跟着留到了边缘,贴到琼脂上后,水分又沿着薄膜的周边将薄膜环绕,菌也就环绕了一圈。这个解释不知是否可行。

薄膜生长速率测试仪相关的耗材

  • 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、剥离机
    薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍:LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示,加上电脑可实现微机操作,参数随意设定,可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy: 30KN(任意选) 2、荷重元精度Load Accuracy: 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy: 4、操作方式Control: 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width: 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke: 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy:: ± 0.5%以内; 9、位移测量精度Stroke Accuracy: ± 0.5%以内; 10、变形测量精度Displacement Accuracy: ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device: 电子限位保护,紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight : 约140kg
  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米;波长范围:200-1100nm精度:0.5%分辨率:0.02nm光源:使用显微镜光源光斑大小:由显微镜物镜决定计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:120x120x120mm重量:1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量
  • 高温纸垫薄膜 其他物性测试仪配件
    高温纸垫薄膜
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