电化学原子力显微镜

仪器信息网电化学原子力显微镜专题为您提供2024年最新电化学原子力显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括电化学原子力显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的电化学原子力显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合电化学原子力显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有电化学原子力显微镜相关的最新资讯、资料,以及电化学原子力显微镜相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

电化学原子力显微镜相关的厂商

  • 400-878-6829
    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
    留言咨询
  • 日立科学仪器是日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。主要产品包括:扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束(FIB)、原子力显微镜(AFM)等表面科学仪器和前处理设备,以及各类液相色谱(LC)、荧光分光光度计(FL)、紫外分光光度计(UV)、原子吸收分光光度计(AAS)、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务。
    留言咨询
  • 400-860-5168转3750
    企业概况英国工业显微镜有限公司是一家专业从事开发和生产人机工学的体视显微镜和非接触式测量系统的制造厂商。自1958年创立以来,英国Vision已成为世界上最具有创新活力的显微镜制造厂商,其分支机构遍及欧亚及北美。 世界各地的工程人员和科学家广泛地使用着我们的产品系统来从事他们在工业领域以及生物工程的日常的放大、检测和测量应用。迄今为止,已在全球各地安装 超过30万套设备系统。 英国Vision主要的生产基地设立在英国伦顿南部的沃京。商业运行及生产装配部门也设立在附近的厂房。英国Vision的北美生产分部设立在美国康州丹堡丽市,并在美国东岸和西岸的独立机构进行直销和分销网络运作。 本公司分别在日本、中国、法国、德国、意大利、以及比利时-荷兰-卢森堡经济联盟等国家建立了多个分支机构,此外加上由120多个拥有库存并经过专业技术培训的分销代理商所组成的服务网络,在所有其它发达国家里为企业提供解决问题的应用方案。同时我们根据发展,不断地扩大新代理的加盟机会。 出口和分销渠道英国Vision的产品出口占总产值的80%%以上,所以我们认识健全分销渠道的重要性。在1991 年,英国Vision荣获出口成就的英女皇奖。公司获得的其他荣誉还包括:1997年度科技创新的威尔士亲王奖和 1974 年度技术成就的英女皇奖。**的光学技术 英国Vision所拥有的世界**光学技术改变了在传统双目显微镜上安装目镜的必要。这些技术来源于采用英国Vision的高能光学(Dynascope)装置、扩大光瞳和宽阔成像光学系统、以及先进的人-机工学所带来的舒适使用、光学的清晰度、和减轻眼部疲劳。这一系列的功能改善了客户的生产效益和产品质量。Vision 的 Mantis 体视观察器在各行业得以广泛采用的实例可说明无目镜光学技术的优势效益。 在1994 年推出的第一代Mantis体视观察器主要是填补台式放大镜与显微镜之间的空白。 从此Mantis 就成了所有体视观察器的首选,超过13 万套的Mantis设备已在全球安装使用。 英国Vision的新一代Mantis系列产品于2005年开始在各行业里使用,它秉承原型产品的实用价值,并融合人机工学以进一步优化Mantis的设计。 产品研发近年来,大量的研发投入已成为取得 成功的关键,它确保了新产品和现有产品的持续的发展,以不断满足科学界和制造领域的需求。英国Vision不断地以研发新产品和新技术在光学革新和技术前沿引领全球。
    留言咨询

电化学原子力显微镜相关的仪器

  • Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释,拥有最高的扫描分辨率,最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节 和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM,真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升,Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术,提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器,为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺,在空气中共振频率为1.3MHz,在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件,结合高共振频率X-Y-Z扫描管,在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度,结合高精度的闭环控制,在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高,即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差1%,真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率,与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合,提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新,配置了温度补偿位置传感器,展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平,这个惊人的性能出现在大样品台,34微米和90微米的扫描范围的系统上,尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度,而不损坏图像质量,实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合,即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平,展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程,使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中,同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间,到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率,全新的直观用户界面,世界闻名的Dimension AFM平台,三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能,保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能,坚固性和灵活度,使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型多元样品支架和许多简单易用的性能,将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升,以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据,获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术,模式和模式增强功能,Dimension FastScan以其独特的性能优势,帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术,大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应,大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位,适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式,可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA&trade 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法,同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章,Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信,进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制,及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时,高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选,这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下,随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中,对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:
    留言咨询
  • 美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能,具有强大的分析能力,使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具,还可以进行材料纳米级尺度的成分分析,热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点:简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上,确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成,即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式:接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM,实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)独有的可升级功能□ 热学性能:独有的热探针技术,提供纳米级红外分析□ 机械性能:洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能:可升级具有纳米红外光谱技术,实现局部化学组分分析□ 近场成像:可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能
    留言咨询
  • 多功能原子力显微镜,电化学测试的绝佳平台? 多功能原子力显微镜平台,满足纳米级显微镜需求 原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电,磁,热和机器性能测量的能力。 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜(SICM). 倒置光学显微镜(IOM)便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。? 通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台,Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明,不透明,或软或硬的样品。? 电化学测试的绝佳平台电池,燃料电池,传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域,然而许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计,为快速操作提供便利,从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括: 多功能易用电化学池 惰性气体和湿度的环境控制选项 双恒电位仪的兼容性? 研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用: 扫描电化学显微镜(SECM) 扫描电化学池显微镜(SECCM) 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)? 考虑建立多用户设备Park NX12完全重新构建,以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性,难以满足该设备中用户的多重需求,很难合理控制设备成本。然而,Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像,液体扫描探针显微镜,光学和纳米光学成像,使其成为最灵活的原子力显微镜之一。? 模块化设计Park NX12是专门针对专业电化学研究人员需求量身定制的原子力显微镜平台。它基于化学和电化学性质,气体和液体中介质的特性,为扫描探针显微镜提供了一个通用的解决方案,可用于广泛的不透明和透明材料。 Park NX12基于其广泛的可视光投置到扫描探针的扫描探针显微镜技术的纳米管,易用性强。 Park NX12准确度无与伦比,是多用户设备和职业研究人员的理想平台。? 多功能应用Park NX12功能广泛,包括液体中的PinPoint ™ 和纳米力学,倒置光学显微镜定位透明样品,离子电导显微镜超软样品成像,以及改善透明样品光学性能的可视性。? 综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整套餐,使其成为广泛应用中的理想选择.? 模块化NX12模块化设计,安装简单,兼容性强,可以满足您的多种实验需求。? 适合早期职业研究人员的有竞争力的价格和灵活性早期职业研究人员通常没有足够的预算购买价格高昂的原子力显微镜。Park NX12不仅是经济实惠的入门之选,同时还提供了可随着职业发展而不断壮大的模块化平台。它不同于其他价格相近的原子力显微镜,Park NX12配有先进的研究级精度和功能,可为在空气和液体中的透明和不透明材料提供其表面形态纳米级分辨率。这使得新的化学,材料科学或生物化学实验室的最佳投资回报成为可能。? Park SmartScan™ 自动模式下的单击成像Park NX12配备了我们的SmartScan™ 操作系统,使其成为市场上最易使用的原子力显微镜之一。其界面直观给力,即使是未经培训的用户也可以无需监控,快速扫描样品。这使得高级研究人员能够将他们的经验专注在解决更大的问题和开发更好的方案。? 易使用性共享实验室的用户通常背景各异,经验水平各异。NX12为每个用户提供简单的点击界面和自动化SmartScan™ 模式。? 功能高级,价格亲民NX12的功能和精度通常仅在较高价格的方案中可见,包括:l 电动对焦平台完全集成的原子力显微镜光学器件伴随针尖减少监管的需要。l 智能扫描使自动化的多重高质量扫描变得简单。Park的创新SmartScan™ 自动化功能允许用户点击按钮进行扫描并创建自动化脚本。NX12同样为离子电导显微镜提供SmartScan™ 。l 倒置光学显微镜(IOM)NX12的倒置光学显微镜使用户能够轻松使用纳米管技术测量透明样品。l PinPoint™ 化学品(扫描电化学显微镜)NX12的PinPoint™ 模式使用户通过高分辨率原子力显微镜针尖来操作扫描电化学显微镜,并且具有极高的精确度。l 双恒电器兼容性允许扫描隧道显微镜,原子力显微镜和离子电导显微镜之间的简单转换。l 多功能湿度和温度控制选项Park NX12能在测量之前和测量过程中控制湿度和温度。l 灯光可轻易投射到驱动聚焦平台该系统在测量期间可以从各个角度,顶部,侧面以及底部光纤接入探针。这种可以大范围投置灯光的方式与设备模块设计相结合,还可添加光学或纳米学附件。l 综合力谱方案Park NX12为液体和空气中的纳米机械表征提供完整封装,使其成为广泛应用的理想选择。? 规格l 扫描器Z扫描器AFM 扫描头柔性引导高推动力扫描器扫描范围:15μm(可选 30μm)SICM 扫描头多层压电叠层驱动器驱动的柔性引导结构扫描范围:15μm(可选 30μm)XY 扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围:100μm ×100μml 驱动台XY 驱动台行程范围: 50 mm x 50 mm Z 驱动台行程范围: 25 mm 聚焦驱动台行程范围: 15 mml 影像样品表面和悬臂的直观同轴影像视野: 840 μm × 630 μm (10倍物镜)摄像头:5 M Pixel (默认), 1M Pixel (可选)物镜10倍 (NA. 0.23) 超长工作距离镜头20倍 (NA. 0.35) 高分辨率,长工作距离镜头l 电子信号处理ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 扫描器位置传感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 扫描器定位集成功能3通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法) 数据Q 控制l 选项/模式标准成像:真正的非接触模式, 接触模式, 侧向摩擦力显微术(LFM), 相位成像模式, 轻敲模式, Pinpoint™ 模式:Pinpoint成像化学性能:扫描电化学池显微镜(SECCM), 扫描电化学显微镜(SECM), 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜(EC-STM), 功能化探针的化学力显微镜介电/压电性能:静电力显微镜, 动态接触式静电力显微镜(EFM-DC), 压电力显微镜 (PFM), 高电压PFM力测量:力-距离(F-D)光谱, 力谱成像磁性能:磁力显微镜(MFM), 可调外加磁场MFM热性能:扫描热显微镜(SThM)电性能:导电AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 导电AFM, I-V谱线, 扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM), 高电压SKPM, QuickStep™ 扫描电容显微镜(SCM), 扫描电阻显微镜(SSRM), 扫描隧道显微镜(STM), 扫描隧道光谱(STS), 光电流测绘(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)机械性能: Pinpoint™ 纳米力学模式, 力调制显微镜(FMM), 纳米压痕, 纳米刻蚀, 高电压纳米刻蚀, 纳米操纵l 软件Park SmartScan™ AFM系统控制和数据采集的专用软件自动模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件独立设计-可独立安装和分析数据能够生成采集数据的3D绘制l 配件控温台、手套箱、磁场发生器、液态选项、隔音罩
    留言咨询

电化学原子力显微镜相关的资讯

  • 原位电化学原子力显微镜研究锂枝晶微观生长机理
    p  近年来,关于锂离子电池爆炸的新闻已经成为一个热点话题。锂枝晶(Dendrite)生长是影响锂离子电池安全性和循环稳定性的根本问题之一。锂枝晶的生长会破坏电极和电解液间已形成的具有保护功能的固体电解质界面膜(SEI),导致电解液不断消耗及金属锂的不可逆损失,造成电池库伦效率下降 严重时,锂枝晶还会刺穿隔膜导致锂离子电池内部短路,造成电池的热失控并引发爆炸。/pp  /pcenterimg alt="" src="http://scschina.sic.cas.cn/xjsbd/201803/W020180320671863220742.jpg" height="193" align="bottom" width="316"//centerp  关于锂枝晶的生长机理目前在学术界还存在争议。由于锂离子电池怕水怕氧,可用来表征SEI的技术手段非常有限。近年来发展起来的各种电镜技术都在努力尝试在微纳尺度甚至原子级别上理解锂枝晶生长的演变过程。遗憾的是,常规的透射电镜由于高能粒子的照射,容易引起SEI膜及金属锂的破坏 虽然低温冷冻电镜能够缓解这一问题,但是由于使用条件的限制,在实验中无法原位使用常温电解液进行实时观察。此外,其昂贵的设备也制约了其推广。/pp  中科院宁波材料所沈彩副研究员在前期利用原位电化学原子力显微镜(EC-AFM)对多种锂离子电池负极材料SEI膜成膜机理进行深入研究的基础上,利用SEI膜成膜电位比金属锂沉积电位更正的特点,设计了两步法研究锂枝晶的实时原位实验。研究者通过EC-AFM实时研究了以碳酸乙烯酯(EC)和氟代碳酸乙烯酯(FEC)为基础电解液的SEI膜的生长过程,并在此基础上进行原位锂枝晶的微观生长观察,通过对这两种电解液所形成的SEI膜的杨氏模量、CV图谱及EIS阻抗谱分析,结合XPS光谱分析,研究者发现FEC电解液所形成的SEI膜中含有较多的LiF无机盐,由于LiF具有较好的硬度和稳定性,使得其整体SEI膜具有较好性能,能够有效抑制锂枝晶生长。/pp  以上研究工作为SEI膜特性及锂枝晶生长研究提供了新思路。电化学原子力显微镜结合光谱技术,有望成为锂枝晶生长机制研究的有力表征手段,通过对各种电解液和添加剂的优化筛选、形成对金属锂负极有效保护的SEI膜或涂层修饰结构,提升金属锂负极的循环稳定性。/p
  • 布鲁克公司发布完整的扫描电化学显微镜解决方案
    完整的SECM电化学显微镜解决方案 布鲁克独有的PeakForce SECM™ 模块是全球首创的完备商用解决方案,在基于原子力显微镜的扫描电化学显微镜上实现了小于100纳米的空间分辨率。通过创新性探针设计,可实现纳米级分辨率的基于原子力显微镜的扫描电化学显微镜目前已广泛应用于新兴研究领域,如化学动力学,生物化学信号传导和环境化学等。此外,此技术可以纳米级横向分辨同时获取形貌、电化学、电学和机械性能等图谱。PeakForce SECM™ 充分利用峰值力模式的优势从根本上重新定义了在液下能实现哪些电学和化学过程的纳米尺度的观察。 PeakForce SECM首次实现了:(1)以往无法获得的100 nm 空间分辨率的电化学信息(2)同时实现液相下电化学、电学和机械性能等图谱(3)专为SECM设计的可靠而简单易用的商用原子力探针(4)在Dimension Icon原子力显微镜上实现最高分辨的SECM和原子力显微成像Au上的一个甜甜圈型图案,使用PeakForce SECM在微压印SAM(自组装)样品上成像。(A) 形貌图中高度差仅几个纳米;(B) 黏附力图清晰地显示出两种化学性质不同的区域; (C) 电流图显示出SAM因其绝缘特性降低了针尖的法拉第电流。 Image courtesy of A. Mark and S. G?drich, University of Bayreuth.了解更多详情请进入布鲁克公司官网。
  • 岛津原子力显微镜-铅酸电池界面研究
    岛津原子力显微镜铅酸电池 以铅酸电池和锂离子电池为代表的二次电池,为了提高充放电特性、耐久性等性能,一般会向电解液中添加添加剂。到目前为止,已有种类繁多而且性能优异的添加剂被广泛使用到各类二次电池中。然而,迄今为止,这些添加剂如何提高电池性能的原理仍不甚明了。观察电解质中负极附近的界面状态对于阐明添加剂的贡献很重要。 铅酸电池是一种具有多种优点的二次电池,包括出色的安全性、宽工作温度范围和大电流放电。由于这些原因,它们被广泛应用于不间断电源(UPS)设备、公共设施应急电源设备以及汽车发动机启停系统的启动电池,成为社会基础设施不可或缺的一部分。然而,铅酸电池在使用过程中会发生负极的硫酸盐化,并因此导致电池性能劣化。在电解液中增加添加剂可以缓解这一问题。磺化木质素是一种具有代表性的添加剂。然而,但木质素如何促进电化学反应和硫酸化的缓解直到现在仍未阐明。 SPM-8100FM使用调频(FM)方法可以检测到比传统原子力显微镜(AFM)更小的力。因此使用SPM-8100FM高分辨率原子力显微镜和电化学溶液电池,观察稀硫酸环境下铅的固液界面状态,有助于理解添加剂的作用原理。 以上两张图显示了在初始还原反应后对垂直于铅表面的截面进行成像得到的负极(铅)固液界面处的图像。图像的上半部分是电解液,图像下半部分变暗的位置是铅表面。探针检测到力(排斥力)的部分看起来很亮。 在左图仅有稀硫酸的情况下,在铅表面上方没有观察到明显的特异变化。但在右图中,使用“稀硫酸+木质素”的情况下,可以在铅表面上方看到明显的不同亮度分层,如图中红色箭头所示区域。判断该层为木质素-铅络合物,该层的存在有助于铅表面硫酸化程度降低,从而有效抑制了硫酸铅的结晶形成。木质素-铅层的与铅表面、液体部分的不同亮度对比表明探针已经深入到该层中,同时也表明木质素-铅层以柔软的状态吸附在铅表面。这是使用原子力显微镜第一次在铅表面上看到厚度为50nm至100nm的木质素-铅层。 该实验证明了用高分辨原子力显微镜对电化学表面进行观察的可能性,有助于获得更多的电催化过程中界面处的信息,从而提高我们对反应过程的理解。因此可以期待利用SPM-8100FM进行电解质的界面成像来分析其他类型的二次电池充放电过程固液界面处的状态变化。请点击查看视频:https://mp.weixin.qq.com/s/G-1nBKLAxmwPW3FUHYbouASPM-8100FM 本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。

电化学原子力显微镜相关的方案

  • 电化学原子力显微镜(EC-AFM)实时监测铜在金表面的电沉积
    近年来,对电化学过程的理解如电沉积(也称电镀)在各种科学技术中的作用变得非常凸显,包括括微电子、纳米生物系统、太阳能电池、化学等其他广泛应用。〔1,2〕电沉积是一种传统方法,利用电流通过一种称为电解质的溶液来改变表面特性,无论是化学的还是物理的,使得材料可适合于某些应用。基于电解原理,它是将直流电流施加到电解质溶液中,用来减少所需材料的阳离子,并将颗粒沉积到材料的导电衬底表面上的过程[3 ]。此项技术会普遍增强导电性,提高耐腐蚀性和耐热性,使产品更美观。良好的沉积主要取决于衬底表面形貌〔4〕。因此,一项可以在纳米等级上测量,表征和监测电沉积过程的技术是非常必要的。有几种方法被应用到了这种表面表征。例如像扫描电子显微镜(SEM)和扫描隧道显微镜(STM)。这些技术可以进行纳米级结构的测量,但是,其中一些为非实时下的,一些通常需要高真空,而另一些则由于其耗时的图像采集而不适用于监测不断变化的过程。[2,5] 为了克服这些缺点,电化学结合原子力显微镜(通常称为EC-AFM)被引入进来。 这种技术允许用户进行实时成像和样品表面形貌变化的观测,并可以在纳米级的特定的电化学环境下实现。[ 6 ]在此次研究中,成功地验证了铜颗粒在金表面的沉积和溶解。利用Park NX10 AFM在反应过程中观察铜颗粒的形态变化,并在实验过程中使用恒电位仪同时获得电流-电压(CV)曲线。
  • 布鲁克公司发布完整的扫描电化学显微镜解决方案
    布鲁克独有的PeakForce SECM™ 模块是全球首创的完备商用解决方案,在基于原子力显微镜的扫描电化学显微镜上实现了小于100纳米的空间分辨率。
  • 原子力显微镜与拉曼联用 AFM - Raman
    原子力显微镜与拉曼联用 AFM - Raman 作为一种新兴的检测手段, 可以在样品成分和结构方面提供新的信息. 原子力显微镜 - 拉曼联用系统可以在纳米尺度提供样品形貌信息, 再结合拉曼图像中获得的化学信息, 可以对样品进行更加全面的表征. 上海伯东代理英国 NanoMagnetics 原子力显微镜可与各品牌拉曼测试仪联用.

电化学原子力显微镜相关的资料

电化学原子力显微镜相关的论坛

  • 【网络讲座】峰值力轻敲(PeakForce) 扫描电化学显微镜(2016-11-09 10:00)

    【网络讲座】峰值力轻敲(PeakForce) 扫描电化学显微镜(2016-11-09 10:00)

    1700次,H指数 为18.【会议简介】电化学应用与日常生活和前沿研发的很多领域都有着紧密联系,比如在新能源开发,生物电分析,材料合成,表面保护等。 宏观的电化学反应是电极表面的混杂异构的平均结果, 包含了来自不同反应位点,晶面多向属性以及不同的表面缺陷的平均响应。 这些微观尺度的多样性源取决于材料在纳米尺度下结构,力学,电学以及电化学特性的不均一性。现代电极材料的结构工程正是希望能够在纳米尺度对这些特性进行可控剪裁和加工。在这种情况下,原位和微区电分析技术研究纳米尺度的表面反应是不可或缺的。 为了适应今天这些高度跨学科的研究需要, 能够在原位电化学过程中同时获取相关微观多维信息的技术是科学工作者和工程师们一直的追求。本次报告介绍了布鲁克(Bruker)最新开发,批量制备,高质,稳定且使用便捷的扫描电化学(SECM)纳米电极探针。这些纳米电极探针的特征尺度大约为50 nm。这些探针被用于结合了峰值力轻敲成像模式的原子力显微镜(AFM)平台,也就是布鲁克最近推出的峰值力轻敲扫描电化学显微镜技术。这项技术能够实时的提供空间分辨率高于100 nm的电化学形貌图,以及其他同时获取的高分辨的AFM信息,比如表面形貌图,电学图以及力学图。 另外,这些探针也可以跟布鲁克高带宽的电学模块结合,使得液下纳米电分析成像成为可能。在这次报告,我们也将通过具体例子介绍这项技术在多个领域的应用。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名截止时间:2016-11-09 8:003、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1979http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609271113_612273_2507958_3.jpg扫描二维码,报名参会4、报名及参会咨询:QQ群—290101720,扫码入群“大讲堂”http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669143_2507958_3.gif

  • 【讨论】原子力显微镜

    【讨论】原子力显微镜

    原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德?宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子穿隧效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或喀希米尔效应等来呈现样品的表面特性。1. 工作原理原子力显微镜的原理示意图: Detector and Feedback Electronics 侦检器及回馈电路; Photodiode 感光二极管; Laser 激光器; Sample Surface 样品表面; Cantilever & Tip 微悬臂及探针; PZT Scanner 压电扫描器 AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在数十至数百微米,通常由硅或者氮化硅构成,其上载有探针,探针之尖端的曲率半径则在纳米量级。当探针被放置到样品表面附近的地方时,悬臂会因为受到探针头和表面的引力而遵从胡克定律弯曲偏移。在不同的情况下,这种被AFM测量到的力可能是机械接触力、范德华力、毛吸力、化学键、静电力、磁力(见磁力显微镜)喀希米尔效应力、溶剂力等等。通常,偏移会由射在微悬臂上的激光束反射至光敏二极管阵列而测量到,较薄之悬臂表面常镀上反光材质( 如铝)以增强其反射。其他方法还包括光学干涉法、电容法和压电效应法。这些探头通常由采用压电效应的变形测量器而制得。通过惠斯登电桥,探头的形变何以被测得,不过这种方法没有激光反射法或干涉法灵敏。 当在恒定高度扫描时,探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持探头与样品片表面的高度恒定。传统上,样品被放在压电管上并可以在z方向上移动以保持与探头之间的恒定距离,在x、y方向上移动来实现扫描。或者采用一种“三脚架”技术,在三个方向上实现扫描。扫描的结果S(x,y)就是样品的表面图。AFM可以在不同模式下运行。这些模式可以被分为接触模式(Contact Mode)、非接触(Non-Contact Mode)、轻敲模式(Tapping Mode)、侧向力(Lateral Force Mode)模式。2. 优点与缺点 相对于扫描电子显微镜,原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活的生物组织。和扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812311440_127077_1664664_3.jpg[/img]

  • 【分享】基本原则的原子力显微镜

    基本原则的原子力显微镜 在原子力显微镜基本上是一个微型悬臂式(一小束停泊在一端,而另一项目进入太空像跳水板) ,以纤巧,指出探针(同一个极为精细陶瓷或半导体尖端这是衡量规模的纳米)底下的一端,就像笔就测谎,甚至是地震。 不同的笔在纸上打印或其他媒介,一个原子力显微镜有几项改进,使原子级测量的吸引力或令人厌恶的部队之间的“笔”尖和样品的表面。 作为小费是吸引或排斥的样品的表面,是悬臂偏转。 的严重性挠度测量激光反映在斜角月底的调查。 绘图激光挠度对冰山上的立场样品表面创造了“地图”的丘陵和山谷的表面。 这提供了一个高分辨率图像的样品的表面。 在原子力显微镜有两种扫描模式。 在接触模式下,原子力显微镜的探针接触样品的表面。 作为文书拖累冰山的表面,检测设备的措施悬臂的垂直挠度和说明了当地的样品高度-实际上,衡量'排斥'势力之间的尖端和样品。 在非接触模式下,原子力显微镜的探针没有触及表面的样本,它的措施有吸引力的部队之间的冰山,表面画地形图的表面。 利弊原子力显微镜 一个原子力显微镜具有优势了扫描电子显微镜( SEM ) 。 其中之一是,一个原子力显微镜可以功能的空气或液体的环境不同,电子显微镜,要求所有探头进行在真空中进行。 鉴于此,研究人员已经开始测试原子力显微镜的适宜用于研究活生物体在纳米尺度(例如,扫描和研究生物大分子如DNA等) 。 另一方面,一个原子力显微镜可以绘制三维图像 的扫描电镜只能提供二维图像或投影的抽样调查。 另一方面,一个主要的缺点是原子力显微镜是该地区它可以扫描和图像分辨率,它可以产生。 电子显微镜可以扫描面积测量毫米 一个原子力显微镜的扫描涵盖微米(纳米,事实上) 。 从这个角度看,可以很容易地看到,电子显微镜可以扫描的区域面积更广,速度超过了原子力显微镜。 原子力显微镜是相当新的,仍然有一些错误,但它是目前使用广泛的研究在电子,化学和生物领域包括深奥的学科磨损和粘附,清洗和腐蚀,以及作为东道主的其他应用软件。

电化学原子力显微镜相关的耗材

  • AFM原子力显微镜纳米标尺
    产品特点:GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构,可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要,不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性,还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺,现在,有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后,就有了足够的测试样品,这些样本用DNA做成,呈现70nm*90nm*2nm(高)的长方体形状。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
  • AFM原子力显微镜操作台
    AFM原子力显微镜操作台 铝制;可转动;磁力大小可调,能够稳定固定原子力显微镜载物片;周边凹槽可以用于收集碎屑,也可用于放置载物片。也可用于云母分层时固定云母之用。订购信息货号产品描述规格P15010AFM原子力显微镜操作台个P16220AFM 载物片夹取工具个
  • AFM原子力显微镜计量校准片
    问题:当原子力显微镜做样品成像时,很难知道表面是否准确的表征?也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异,如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示,必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测,这两种方法都非常的浪费探针或耗时。解决方案:BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上,也使之间的差异变得明显。因此,tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好,是否已经磨损或破损,从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外,该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层,沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状,尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较,扫描尺寸为1*1um,高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块?原子力显微镜已经成为一个有价值的工具,不仅用于可视化,而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量,原子力显微镜需要正确的校准。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应,能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm(HS-20MG)100nm(HS-100MG)和500nm(HS-500MG)每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准,这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围(40~100um以内),而且,校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何结构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG:~20nmHS-100MG:~100nmHS-500MG:~500nm注:每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准?为了使原子力显微镜更精准的测量,必须进行正确校准。因此,更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面,校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。我们的解决方案:CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准,使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之,又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内,每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何机构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度:20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制