高频介质损耗测试仪

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高频介质损耗测试仪相关的厂商

  • 金坛品杰测试仪器有限公司
    金坛市品杰测试仪器有限公司，主要从事气候环境与可靠性试验设备的科研、生产、销售和服务。公司产品是江苏省星火科技扶持项目，公司地址为位于国家科技产业区-著名数学家华罗庚的故乡：江苏省金坛市金城镇工业园区。距常州火车站以及南京禄口机场约一个小时车程，地理位置极其优越便捷。公司本着以“品质为企业的使命”、“服务是友谊的延续”的目标，为客户提供全方位，高品质的测试用试验设备。 公司主导产品有：高低温(交变)试验箱、高低温湿热(交变)试验箱（也称可程式恒温恒湿试验箱）、盐雾腐蚀试验箱（盐水喷雾试验机）、二氧化硫腐蚀试验箱，霉菌试验箱，温度冲击试验箱，防尘、防水（IP外壳防护等级测试设备），光老化（紫外光耐气候，氙灯耐气候），温度老化试验箱等模拟气候类环境试验设备以及各类步入式试验室，产品广泛应用在军工、航空航天、电工电子、仪器仪表、家用电器、汽摩配件、科研质检等各类领域。 公司拥有先进的生产设备及工艺，如数控冲床、折弯机、剪板机、二氧化碳气体保护焊等设备，令生产出的产品工艺更加精湛，公司外购件均采用国内、外知名品牌，如美国Honeywell，韩国三元，法国TE等，制冷压缩机采用法国泰康，德国谷轮等品牌。公司也自行开发专用试验箱控制器，在设计中融入了计算机技术，采用大面积彩色触摸屏的人机交谈方式，发挥了设备更好的性能以及方便了用户对设备的操作。 “客户满意”是公司永远的追求，公司承袭“以诚为本”的经营宗旨，奉行“质量是企业的生命”为用户提供有效可靠的最佳产品解决方案和售后跟踪“保姆式”服务，公司在2008年已经通过ISO9001:2000质量体系认证，真正做到售前指导、售中培训、售后跟踪的完善体系。
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  • 山东领创测试仪器有限公司
    山东领创测试仪器有限公司是集试验机、分析仪器等仪器仪表研发、制造、销售、服务于一体的高科技创新型企业。山东创领与山东省科学院强强联合，凭借着强大的技术研发团队，每年都有十几项新产品推出，现产品涵盖电子万能试验机、液压万能试验机、材料分析仪器 、无损检测仪器、生命科学仪器 、计量校验仪器、环境监测仪器 、石油化工检测仪器等八大系列500多个品种。并成为国内外许多知名检测仪器品牌的山东代理。山东领创测试仪器有限公司借助雄厚的技术实力，可以承接实验室整体设计及资质认定咨询。山东领创一流的产品质量、周到的售后服务得到了国内外知名院所和各界企业的信赖与支持，并与山东大学、山东省科学院、中国科学院工程研究所、中国建筑科学研究院等多家科研院所建立了长期的战略合作关系。山东领创以“诚信为本、引领创新”为宗旨，全面贯彻科学的管理体系，并成为国内为数不多的高精度仪器仪表生产及代理企业之一。公司秉承“专业创造品质、服务传递价值”的经营理念，不断对产品进行完善、创新，最大限度满足客户需求。公司谨遵“接到故障信息1小时内回应，2小时提供解决方案，专业工程师24小时内到达现场”的服务承诺，可随时为客户提供全方位的服务。山东领创测试仪器有限公司愿与社会各界朋友精诚合作，共展宏图！
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  • 株洲晨昕中高频设备有限公司
    株洲晨昕中高频设备有限公司成立于2003年6月，座落于株洲市石峰区红旗北路湘能工业园内，是一家以半导体变流技术为依托，集高温石墨化炉，碳化炉，烧结炉等中高频感应加热设备和工业控制设备科研开发、生产经营为一体的高新技术企业，此外我司还从事各种工具、石墨、碳布、碳绳、碳毡、高导热膜的销售以及高温石墨化处理，碳化，烧结等代工服务。 　　产品广泛应用于航天、交通、机械、冶金、军用设备、轨道交通机车车辆行业等几十种加工制造行业中，并以优质的产品、完善的服务赢得广大用户企业的信赖与赞誉。　　长期以来，株洲晨昕中高频设备有限公司为各类用户提供了无数堪称经典的技术和产品应用解决方案。随着技术和产品应用领域的不断扩大和延伸，株洲晨昕中高频设备有限公司愿意接受各位新老用户的批评指导，愿意为各位新老用户继续做好服务工作。也将弘扬“科技创新 节约资源”的企业精神，恪守 “诚为上、信为本”的原则，凭借着创新的设计、精湛的技术及高效的生产，制造出更高质量的产品，为您提供更先进的、更科学的应用技术。
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  • 高频/音频介电常数介质损耗测试仪 400-860-5168转5976
    高频/音频介电常数介质损耗测试仪操作规程：　　1、本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。　　2、每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。　　3、接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。　　4、测量试品前应先对试品进行高压试验，在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试(若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做)。　　5、对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。　　6、测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。　　7、在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿,待检查排除故障后，再进行高压测量工作。高频/音频介电常数介质损耗测试仪使用方法　　高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。　　1．测试注意事项　　a．本仪器应水平安放；　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。　　2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）　　技术参数：　　1．Q值测量　　a．Q值测量范围：2～1023。　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。　　c．标称误差　　频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH　　3．电容测量：1~205　　主电容调节范围：18～220pF　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明　　4. 信号源频率覆盖范围　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。　　6．B-测试仪正常工作条件　　a. 环境温度：0℃～+40℃；　　b．相对湿度 lt 80％；　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。高频/音频介电常数介质损耗测试仪四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法：　　一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：　　1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接 　　2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，(四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片)，将断针从铜片卡口座里取下即可 　　3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接 　　4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝 　　5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部。高频/音频介电常数介质损耗测试仪总有机碳分析仪的测定方式主要有三种类型。湿法氧化-非色散红外检测，该方式是在样品经过酸性过钾氧化之前经磷酸处理待测样品，去除无机碳后测定TOC的浓度。但湿法氧化对于含腐殖酸等高相对分子质量化合物的水体氧化不充分。紫外-湿法氧化-非色散红外检测，该方式是紫外氧化和湿法氧化两者的协同作用，针对紫外氧化法无法用于高含量TOC的复杂水体，两者的协同可以测量污染较重的水体。高温催化燃烧氧化-非色散红外检测，样品中有机碳在高温催化氧化条件下转化为二氧化碳后经非色散红外（NDIR）检测，因髙温燃烧相对彻底，适用于污染较重水体或是复杂水体，但需考虑样品的高盐分对于测定结果的影响问题。此外紫外氧化-非色散红外检测、电阻法、紫外吸收光谱、电导法等方式均因稳定性差或对颗粒状、高相对分子质量有机物氧化不完全而未能用于土壤学领域。将土壤、沉积物样品处理成为溶液样品时需要考虑一定粒度的漂浮物或可沉固体物质的处理问题。高频/音频介电常数介质损耗测试仪市面上常见的TOC分析仪都有两大基本功能：　　一，先将水中的总有机碳充分氧化，生成二氧化碳CO2；　　二，测试新产生的CO2.不同和型号的TOC分析仪的区别在于实现这两大基本功能的方法不同。　　常用的氧化技术有：燃烧氧化法、紫外线氧化法以及超临界氧化法；而对CO2的检测方法又分：非分散红外线检测，直接电导率检测以及选择性薄膜电导率检测。
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    厂商： 河北红日仪器设备有限公司
    品牌： 红日仪器/Red sun instrument
    型号： HRJD---A
    价格： 2万元
  • 高频介质损耗介电常数测试仪 400-803-6009
    ZJD系列高频介质损耗介电常数测试仪一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗直读功能有介质损耗系数精度万分之一介质损耗测试范围0.0001-1介电常数直读功能有介电常数精度千分之一介电常数测试范围0-1000LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm
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    厂商： 北京中航时代仪器设备有限公司
    品牌： 中航时代/zhonghangshidai
    型号： ZJD-C系列
    价格： 1.2万 - 6.5万元
  • 冠测高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD--A/B 400-860-5168转2010
    冠测高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD--A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）
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    厂商： 北京冠测精电仪器设备有限公司
    品牌： 冠测仪器
    型号： GCSTD--A/B
    价格： 1万元
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  • 技术更新|介损及体积电阻率测定仪可测介质损耗因数
    如今市场需求总体继续扩大，但增速下降。一方面，随着城镇化和基础设施建设的不断深入，基本原材料的需求还将保持一定增速，但增速会有所降低，人们日常生活用品也不会有太大的提高；另一方面，人们的消费升级以及生活方式和消费模式的改变，将提高或改变市场需求，促进与经济发展相配套的石化化工产品升级换代。因此，预计“十四五”期间，传统石化化工产品，如成品油、大宗化工产品等，在很长的一段时间内消费保持低速增长态势，甚至有些个别产品还会有略微下降；而在与智能制造、电子通信、中高生活消费品和医药保健等有关的化工产品，主要是电子化学品、纺织化学品、化妆品原材料、快餐用品、快递服务用品、个人防护和具备特殊功能的化工新材料等，都将会有很大增幅。同时安全生产、绿色发展的要求日益提高。石化化工生产“易燃、易爆、有毒、有害”特点突出，尤其是近几年，化工行业事故频发，特大恶性事故连续不断，给人们生命财产造成重大损失，在社会各界造成极其恶劣的影响。随着我国城镇化的快速推进，原来远离城市的石化化工企业已逐渐被新崛起的城镇包围，带来了许多隐患。“十四五”期间，社会各界将更加紧盯各地石化化工企业，石化化工企业进入化工园区，远离城镇布局将成为必然要求，安全生产也将是企业必须加强的一门必修课。绿色发展已经在社会上形成共识，坚持绿色发展是行业必须要强化的理念，一方面要补足以往的环保欠账；另一方面还要针对不断提高环保标准买单，这对行业来说，是一个巨大的挑战。A1170自动油介损及体积电阻率测定仪符合GB/T5654标准，用于测定在试验温度下呈液态的绝缘材料的介质损耗因数及体积电阻率，包括诸如变压器、电缆及其它电气设备内的绝缘液体。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。仪器特点1、采用中频感应加热，室温加热至控温（90℃）并恒温自动测量仅需 15分钟。2、同时测量油介损及体积电阻率或任选一项。3、采用大屏幕液晶显示器，只需按照中文菜单提示，输入指令，仪器即可自动工作。4、具有通讯功能，可配置电脑进行实时监测，动态观察油介损值随油温变化并描绘成图。5、自动显示测量结果，并进行数据打印保存。6、具有过压、过流、短路保护，并具有高压指示，还具有报警提示功能。技术参数体积电阻率测量电压：DC500V±10%体积电阻率范围：2.5×106～2×1013Ω.m精度: 高于±10%电阻测量范围:2M～2TΩ介损测量范围：0.00001～1介损值分辨率：0.00001电容测量范围：10.0pF～200.0pF电容值分辨率：0.01pF空杯电容：60±5pF 介损值测量精度：±（1%读值+0.02%）电容值测量精度：±（1%读值+1pF）工作电源：AC220V±10%，50Hz测控温范围：室温～119.9℃测控温稳定度:±0.5 相对湿度：≤85%介损测量电压：1.5kV、2.0kV、2.5kV（常规使用2.0kV）(正接法) 环境温度：-5℃～50℃外形尺寸：480mm×400mm×420mm重　　量：25.7kg
    时间： 2021-08-12
    作者： 得利特
  • 浅析高分辨率光学链路诊断仪（OCI）测试大插损光纤链路损耗
    武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪（OCI）是基于光频域反射技术（OFDR），单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解，光频域反射技术（OFDR）测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪（OCI）插损测量动态范围为18dB，反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时，超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没，给测试带来误差。针对上诉情况，本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。首先，测试样品为可调光衰减器，借助环形器测试大插损装置如图1，将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上，1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入，3端口输出，经过待测样品后进入端口1，最后从端口2返回OCI仪器。图1.借助环形器测试大插损装置示意图OCI测试整个光链路结果如图2，距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值，对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量，而本链路中借助环形器是透射式测量，所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时，该位置积分回损为-25.69dB，是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图第二，使用OCI单独测试光纤环形器，损耗测试装置如图3。图3.环形器损耗测试装置示意图图4.OCI测试环形器结果图测试结果如图4，从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值（实际光纤环形器光链路长度为3.72176m），回损为-2.55dB，是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。第三，使用功率计测试可调光衰减器插耗，测试装置如图5，测得可调光衰减器插耗为23.33dB，OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图改变可调光衰减器插损，按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值，下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB，且OCI测试值均比功率计测试值大，这是由于功率计测试链路时，比OCI测试链路多一个FC法兰。因此，借助光纤环形器，高分辨率光学链路诊断仪（OCI）可以透射式测量大插损链路总体损耗，测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗，OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损（RL）的动态范围，动态范围高达60dB以上时，可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量，进一步扩展OFDR设备使用场景。
    时间： 2023-03-28
    作者： 东隆科技
  • 国际光纤微弯损耗测试标准明年有望出台
    在近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上，帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露，帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法和标准的立项工作，有望在2011年出台初步的测试标准。　　随着光纤网络的不断发展，光纤微弯耗损已变得不容忽视。光缆的损耗，是导致网络故障发生的主要原因，网络故障很大程度上提升了运营商网络成本。　　Telcordia公司的首席顾问奥斯曼盖比兹利奥卢博士在会上表示，中国通信业经过这么多年的发展，越来越多的光纤网故障证明了由于微弯和其他材料造成的损耗，对整个网络造成非常严重的损失。因此，在采购过程中必须建立一个光纤微弯测试标准，以此来保证所用光纤的性能。　　据史蒂夫施密德透露，帝斯曼一直致力于光纤微弯标准制定，在北美，光纤微弯测试标准已提交TIA组织，目前在搜集及提交相关的数据 在欧洲，帝斯曼重新启动了微弯标准测试方法的探讨工作，工作有望与北美地区同步进行 而目前在国内，帝斯曼在2009年已向通信标准化协会提交了相应的测试方法和标准的立项工作，在2011年有望出台初步的测试标准。　　另外，据帝斯曼迪索亚太区销售总监、总经理林为斌透露，目前帝斯曼在全球涂料市场的占有率已经达到了80%，抗微弯涂料的市场占有率目前也在50%以上。
    时间： 2010-03-04
    作者： sunny
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  • 【转帖】介质损耗测试仪的特点六则

    介质损耗测试仪突破了传统的测量方式，是一种新颖的测量介质损耗角正切(tanδ)和电容值(Cx)的自动化仪表。它采用单片机和现代化电子技术进行自动数据采集、模/数转换和数据运算。不仅操作简便、测试速度快而且精度高。　　介质损耗测试仪的主要特点如下：　　1.介质损耗测试仪的内部使用的是45HZ/55HZ异频电源，从根本上解决了现场抗干扰的难题，提高了精确度。　　2.测试仪的内部附有高精密SF6标准电容，该电容tgδ不随温度、湿度等变化。　　3.介质损耗测试仪有大屏幕(240×128)菜单式操作，全新中文界面，使用非常方便。　　4.全电子调压，输出电压连续可调。　　5.多重保护，介质损耗测试仪能在高压短路、激穿、过压、过流及电压波动下快速切断高压。　　6.含有特殊的自激法测量全密封的CVT，可直接测试C1、C2的介质损耗。

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  • LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTS
    LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTSThe FTE-4000 TTI Hand Held Variable Optical Attenuator is available in two models, with 40 dB attenuation level or 80 dB attenuation level to meet single mode testing requirements. Like the rest of the FTE line, the VOA has an onboard help feature. The FTE-4000 has a built in output power monitor to assist in setting the appropriate attenuation levels and a sweep mode which can scan the attenuation across desired levels. It is rugged with a splash proof housing with a highly protective boot. The FTE-4000 can assist in the testing of system budget compliance, balancing transmitter power and adjusting receiver attenuation settings.Features?Integrated Power Meter?Up to 80 dB Attenuation?Typical Insertion Loss ?Remotely Program Sweep Settings?Adjustable step sizes?USB PC Interface w/Remote Operation?Absolute/Relative Attenuation Settings?Calibrated at 1310/1550?Sealed Rugged Case?Lowest Cost Hand Held VOA?4” Color DisplayOrdering InformationFTE-4000-4040 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000-8080 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000 SpecificationsAttenuation RangeFTE-4000-4 2 to 40dBFTE-4000-8 4 to 80dBWavelength Range1310, 1550 nmResolution.01 dBUncertainty+/- 0.5 dBRepeatability+/- 0.1 dBInsertion LossReturn Loss50 dBMax Input Power27 dBmGraphical Display4 in Color TFTDimensions7.75 x 4.5 x 2.25 inchesWeight2 lbsBatteryRechargeable NiMH - 6 hours operating timePower100-240 universal US, GB, EU, AU MainsEnvironmental Operation-10°C to + 40°CAccessories IncludedUniversal power supply. FC and SC adaptors,CertSof VI Software, USB Cable and Manual
    供应商： 上海屹持光电技术有限公司
    品牌： Eachwave
    价格： 面议
  • FTE5000 损耗测试仪 带ORL和视频探头
    FTE5000 损耗测试仪 带ORL和视频探头The FTE-5000combines four functions for testing optical networks together in one unit. It brings together a -55dB ORL meter, power meter, laser source and video scope capability with IEC61300-3-35 method “B” Pass/Fail End face Grading Map (probe sold separately).The FTE-5000 is a full featured ORL Loss Test Set. It has 4” super bright color touch screen display with large easy to read characters. It performs optical return loss measurements to -55db at up to three wavelengths and is an automated loss test set with dual or triple wave Light sources. The power meter uses an InGaAs detector which is calibrated at 850,1300, 1310, 1490, 1550 and 1625nm, with a dynamic range of -77dBm. These units are available in single, dual, triple or quad wavelength configurations and displays measurements up to three wavelengths at one time. In the Autotest mode, the master unit changes wavelengths at a fixed rate and informs the slave unit of the wavelength currently being measured. Use this method to test up to three wavelengths at a time and store the loss measurements for each of the lasers fired during the test. Up to 5000 tests may be stored and recalled via the unit’s USB port. Use TTI’s CertSoft PC application software for downloading stored data and organizing the information or use the Android Bluetooth virtual instrument application for remote operation.The information from OTDR, LTS, ORL and video scope may be combined to offer a comprehensive report for all of your network testing needs.The FTE-5000 also includes a video scope (probe sold separately). Use the video scope to ensure the integrity and cleanliness of the connectors being tested. Use the modulation feature to perform fiber identification function. The power meter will identify modulated signals at 270, 1000 and 2000 Hz produced a modulate light source.Features?Optical Loss/ORL Tester?ORL Measurement Range to -55 dB?PM with -77 dBm Dynamic Range?IEC61300-3-35 method “B” Video Scope(Probe Sold Separately)?Auto Test Up To Three Wavelengths?Automated Loss Measurements?Auto Wavelength Switching?Universal PM and LS Adapters?Storage for 5,000 Test?Bright Color Display?Rechargeable NiMH Batteries?USB Interface?Free Report Software?On-Board Help FeatureOrdering InformationFTE-5000-8513LTS with 850/1300nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-1315LTS with 1310/1550nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-345LTS with 1310/1490/1550nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-QUADLTS with 850/1300/1310/1550nm Light Source (No Video Scope Capability)VIS300Video Probe for use with FTE-7000, FTE-1700 and FTE-5000 seriesGeneral SpecificationsDisplay4 in Color TFTStorage Locations5000Battery/Operating Time4 AA Rechargeable NiMH / 6 hrsPower RequirementsWall Mount, Universal 100-240V47-63 Hz 9 VDC Center Positivewith, US, UK, Continental Europe, and Australian PlugsOperating Temperature Range-10 to 45 CDimensions(w/o rubber boot )7.62” L x 3.88” W x 1.56” H(194mm L x 99mm W x 40mm H)Weight0.52 KgAccessories ProvidedFC, ST, SC adaptors for both Power Meter and Light Source, rubber boot, battery,power supply/charger, manual and software on CD and USB cablePower Meter SpecificationsDetector TypeInGaAsConnector Type2.5mm InterchangeableDynamic Range+5 to -77dB (CATV - +25 to -57dB)Auto Test Range0 to -40dBCalibrated Wavelengths850,1300,1310,1490,1550,1625nmUnits of MeasurementdBm, dB, mW, μW and nWPower Measurement Uncertainty± 0.18 dB under reference conditions, ± 0.25 dB from 0 to -65 dBm,± 0.35 dB from 0 to +5 dBm and from -65 to -77 dBmUnits of MeasurementdBm, dBResolution.01 dBModulation Modes DetectedCW, 270 Hz, 1000 Hz, 2000 HzLight Source SpecificationsFiber TypeSingle Mode, MultimodeWavelengths Available850,1300,1310,1490,1550 and 625 nm ±20nmas Unit is EquippedOutput Power0 dBm, 1mw(-3dBm @ 1625nm)Output Stability± .05 dB / 24 hrs @ constant temp,, ± .02 dB/C temperature coefficientLaser Safety ClassificationClass I Safety Per FDA/CDRH and IEC-825-1 RegulationModulation ModesCW, 270 Hz, 1000 Hz, 2000 HzSpectral WidthORL MeterOptical Return Loss Dynamic Range0-55 dBORL WavelengthsSM Source WavelengthsOptical Return Loss Accuracy± 1dB @ -40db reflectionResolution0.01 dB
    供应商： 上海屹持光电技术有限公司
    品牌： Eachwave
    价格： 面议
  • 低插入损耗单模光纤跳线
    低插入损耗单模光纤跳线特性低插入损耗(典型值)：0.3 分贝 (600 - 800 nm)0.5 - 0.6 分贝(405 - 532 nm和488 - 633 nm)0.9 分贝(320 - 430 nm)有效波段范围：320 - 430 nm，405 - 532 nm，488 - 633 nm或是633 -780 nm可选的接头有(皆为2.0 毫米的窄口接头):FC/PCFC/APCFC/PC转FC/APC具有每根跳线单独测试的数据附带两个CAPF防尘帽Thorlabs公司提供两头带有FC/PC或FC/APC接头的低插入损耗单模跳线。此外，我们还提供FC/PC转FC/APC跳线。这些小纤芯跳线由我们自己的工厂中用zui先进的设备进行制造，每一根都经过人工挑选，保证光纤具有很小的公差以及匹配的插芯。它们都经过测试，保证了其低损耗特性。这里提供的跳线设计用于320 - 430 nm，400 - 532 nm，488 -633 nm，或者633 - 780nm光波范围的信号传输，在低插入损耗跳线之间分别具有典型0.9 dB，0.5-0.6 dB或者0.3 dB插入损耗。我们的FC/PC跳线具有较高的50分贝(典型值)回波损耗，FC/APC跳线具有60分贝(典型值)回波损耗。每根光纤跳线的测量性能参数都在其附带的规格表中有详细介绍。在标准跳线中，光纤参数(如纤芯-包层偏心度或纤芯与跳线中心的不对准程度)都会有微小的差异。在使用标准匹配套管对准单模跳线的纤芯时，其小纤芯会使这些差异更加严重，或是导致更高的插入损耗。通过广泛地挑选和测试过程，我们的低插入损耗跳线具有高同心度、对心良好的纤芯，可以极大地减小跳线的插入损耗(请参看对比标签了解更多细节)。生产低插入损耗跳线的流程的di一步是人工挑选纤芯-包层同心度高于典型值、小公差光纤外径的光纤，从而与插芯进行匹配。每个插芯也是通过人工进行挑选，从而使插芯内径与光纤尺寸相匹配，并匹配插芯的纤芯-外径同心度。这样就可以保证光纤能够zui紧凑地被包裹，并具有zui佳同心度，保证低插入损耗性能。插芯经过机器抛光，光纤纤芯与接头插销之间的对准公差为±5度。zui后，跳线的插入损耗通过测试，直到符合you秀跳线的标准。通过人工挑选光纤和插芯，Thorlabs公司的低插入损耗跳线能够具有出色的性能和质量。我们还提供匹配套管用于连接FC转FC、SMA转SMA和FC转SMA接头。这些匹配套管可以将背向反射zui小化，保证每个连接光纤末端的纤芯能够很好地对准。我们特别推荐使用我们更小公差的ADAFCPM2精密PM匹配套管，被用于达到下面说明书提到的插入损耗。每根跳线有两个防尘帽，能够防止插芯末端受到尘土和其它污染物的污染。我们也单独销售保护FC/PC终端CAPF塑料光纤帽和CAPFM金属螺纹光纤帽。Stock Single Mode Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesLow-Insertion-Loss Patch CablesMIR Fluoride Fiber Patch CablesAR-Coated Patch Cables如果您在我们的库存中找不到适合您应用的跳线，Thorlabs公司还提供定制低插入损耗跳线服务。请联系技术支持了解报价。此外，点击下面表格中连接有标准跳线定制且当天发货服务。用我们的Centroc测试设备所测得的结果，显示了标准跳线(左)和低插入损耗跳线(右)的典型纤芯角度对准和同心度。规格：Item # PrefixP1-305P-FCP3-305P-FCP5-305P-FCAPCP1-405P-FCP3-405P-FCP5-405P-FCAPCConnector TypeFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFiber TypeSM300SM400Operating Wavelength320 - 430 nm405 - 532 nmCutoff Wavelength≤310 nm305 - 400 nmInsertion Loss (Max/Typ.)a1.5 dB / 0.9 dB1.0 dB / 0.5 dB (1 m and 2 m Long Cables)1.0 dB / 0.6 dB (5 m Long Cables)Mode Field Diameter2.0 - 2.4 μm @ 350 nm2.5 - 3.4 μm @ 480 nmKey Width2.0 mm (Narrow)Cable Length Tolerance+0.075/-0.0 mJacket Type?3 mm FT030-YCladding Diameter125 ± 1.0 μmCoating Diameter245 ± 15 μmNumerical Aperture0.12 - 0.14Max Attenuationb≤70 dB/km @ 350 nm≤50 dB/km @ 430 nm≤30 dB/km @ 532 nmOperating Temperature0 to 70 °CStorage Temperature-45 to 85 °C与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在405 nm波段下使用低插入损耗的跳线和一个ADAFCPM2匹配套管进行测试。zui大衰减度数据针对无端接头的光纤。Item # PrefixP1-460P-FCP3-460P-FCP5-460P-FCAPCP1-630P-FCP3-630P-FCP5-630P-PCAPCConnector TypeFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFiber TypeSM450SM600Operating Wavelength488 - 633 nma633 - 780 nmCutoff Wavelength350 - 470 nma500 - 600 nmInsertion Loss (Max/Typ.)b1.0 dB / 0.5 dB (1 m and 2 m Long Cables)1.0 dB / 0.6 dB (5 m Long Cables)0.8 dB / 0.3 dBMode Field Diameter2.8 - 4.1 μm @ 488 nm3.6 - 5.3 μm @ 633 nmKey Width2.0 mm (Narrow)Cable Length Tolerance+0.075/-0.0 mJacket Type?3 mm FT030-YCladding Diameter125 ± 1.0 μmCoating Diameter245 ± 15 μmNumerical Aperture0.10 - 0.14Max Attenuationc≤50 dB/km @ 488 nm≤15 dB/km @ 630 nmdOperating Temperature0 to 70 °CStorage Temperature-45 to 85 °C光纤经过手工挑选，以确保更高的截止波长。在截止波长附近的单模操作需要考虑发射条件。与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在488 nm（SM450跳线）或是630 nm（SM600跳线）波段，配合一个ADAFCPM2匹配套管利用另一根低插入损耗的跳线进行测试。zui大衰减度数据针对无端接头的光纤。衰减度是zui差值，针对zui短波长的情况。对比405 纳米跳线对比T上图包含了Thorlabs公司长1米、2米的低插入损耗（LIL）跳线和标准跳线之间的示例对比数据。上述数据下长1米的LIL跳线具有-0.37分贝的平均插入损耗，长2米的LIL跳线具有-0.39分贝的插入损耗，长5米的LIL跳线具有-0.59分贝的插入损耗，而长1米的标准跳线具有-2.48分贝的插入损耗，长2米的标准跳线具有-2.44分贝的插入损耗，长5米的标准跳线具有-2.42分贝的插入损耗。5米跳线所测得的插入损耗稍高，这是因为我们没有对光纤的损耗进行校准。我们的LIL跳线的平均插入损耗与标准跳线相比平均高～7倍。T在测试我们跳线的插入损耗时，我们将波长为405乃的光纤耦合激光光源耦合到精选的跳线中；跳线输出功率经过测试和调节，保证不同跳线的数值基本相同。每根待测光纤经过检查、清洁并连接到匹配套管上，然后记录下跳线的输出功率。这样一来，就可以进行光纤插入损耗的均匀性测量，并与其它跳线的插入损耗进行对比。测试过程如右图所示。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论，请联系技术支持。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。320 - 430 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationbNAJacketLengthP1-305P-FC-1FC/PCSM3001.5 dB/0.9 dB320 - 430 nm≤310 nm2.0 - 2.4 μm @ 350 nm≤70 dB/km @ 350 nm0.12 -0.14FT030-Y1mP1-305P-FC-22mP3-305P-FC-1FC/APC1mP3-305P-FC-22mP5-305P-PCAPC-1FC/PC to FC/APC1ma. 与另一低插入损耗光纤跳线配接时的插入损耗值。将低插入损耗单模跳线在405 nm波长下，搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. zui大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。产品型号公英制通用P1-305P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，1米长，320 - 430 nm， FC/PC接头P1-305P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，2米长，320 - 430 nm，FC/PC接头P3-305P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，1米长，320 - 430 nm，FC/APC接头P3-305P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，2米长，320 - 430 nm，FC/APC接头P5-305P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，1米长，320 - 430 nm，FC/PC转FC/APC接头405 - 532 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationb,cNAJacketLengthP1-405P-FC-1FC/PCSM4001.0 dB/0.5 dB405 - 532 nm305 - 400 nm2.5 - 3.4 μm @ 480 nm≤50 dB/km @ 430 nm≤30 dB/km @ 532 nm0.12 -0.14FT030-Y1mP1-405P-FC-22mP1-405P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP3-405P-FC-1FC/APC1.0 dB/0.5 dB1mP3-405P-FC-22mP3-405P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP5-405P-FC-1FC/PC to FC/APC1.0 dB/0.5 dB1ma. 与另一低插入损耗光纤跳线配接时的插入损耗值。将低插入损耗单模跳线在405 nm波长下，搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. zui大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。c. 所述的衰减度是zui差情况的值，针对的是zui短设计波长。产品型号公英制通用P1-405P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，405 - 532纳米，FC/PCP1-405P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，405 - 532 nm，FC/PC接头P1-405P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，405 - 532 nm，FC/PC接头P3-405P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，405 - 532纳米，FC/APCP3-405P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，405 - 532纳米，FC/APCP3-405P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，405 - 532纳米，FC/APCP5-405P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，405 - 532纳米，FC/PC转FC/APC接头488 - 633 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationb,cNAJacketLengthP1-460P-FC-1FC/PCSM4501.0 dB/0.5 dB488 - 633 nm350 - 470 nm2.8 - 4.1μm @ 488nm≤50 dB/km @ 488 nm0.10 -0.10 -0.14FT030-Y1mP1-460P-FC-22mP1-460P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP3-460P-FC-1FC/APC1.0 dB/0.5 dB1mP3-460P-FC-22mP3-460P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP5-460P-FC-1FC/PC to FC/APC1.0 dB/0.5 dB1ma. 与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在488 nm波长下使用低插入损耗单模跳线和一个ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. 手选光纤来保证更高的截止波长。对于截止波长附近的单模操作，需考虑发射条件。c. zui大衰减数据针对无端接头的光纤。产品型号公英制通用P1-460P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，488 - 633纳米，FC/PCP1-460P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，488 - 633 nm，FC/PC接头P1-460P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，488 - 633 nm，FC/PC接头P3-460P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，488 - 633纳米，FC/APCP3-460P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，488 - 633纳米，FC/APCP3-460P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，488 - 633纳米，FC/APCP5-460P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，488 - 633纳米，FC/PC转FC/APC接头633 - 780 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationb,cNAJacketLengthP1-630P-FC-1FC/PCSM6000.8 dB/0.3 dB633 - 780 nm500 - 600 nm3.6 - 5.3 μm @ 633 nm≤15 dB/km @ 630 nm0.10 -0.10 -0.14FT030-Y1mP1-630P-FC-22mP1-630P-FC-55mP3-630P-FC-1FC/APC1mP3-630P-FC-22mP3-630P-FC-55mP5-630P-FC-1FC/PC to FC/APC1ma. 与另一低插入损耗的光纤配接时的插入损耗。在630 nm波长下将低插入损耗单模跳线搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. 波长范围是截止波长和光纤不再传输的边缘波长之间的光谱区域，它表示光纤以低衰减度传输TEM00模的区域。对于这种光纤，边缘波长通常比截止波长长200nm。c. 衰减度是zui差情况的值，针对的是zui短波长。zui大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。d. 衰减度是zui差情况的值，针对的是zui短波长。产品型号公英制通用P1-630P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，633- 780纳米，FC/PCP1-630P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，633 - 780 nm，FC/PC接头P1-630P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，633 -780 nm，FC/PC接头P3-630P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，633 - 780纳米，FC/APCP3-630P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，633 - 780纳米，FC/APCP3-630P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，633 - 780纳米，FC/APCP5-630P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，633 - 780纳米，FC/PC转FC/APC接头
    供应商： 江阴韵翔光电技术有限公司
    品牌： Thorlabs
    价格： 0
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