高压差示扫描量热仪

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高压差示扫描量热仪相关的厂商

  • 南京大展检测仪器有限公司位于南京市江宁区百家湖科技产业园,是集科研、生产、销售于一体的高新技术型企业,专业从事差示扫描量热仪dsc、热重分析仪、同步热分析仪、差热分析仪、炭黑含量测试仪、炭黑分散度检测仪、导热仪和介电常数测试仪、热失重分析仪、高温差示扫描量热仪等仪器的研发、制造,产品广泛应用于电力、煤炭、造纸、石化、农牧、医药科研、教学等领域,在众多用户中享有很好的口碑。 南京大展检测仪器是热分析仪器生产厂家,用于dsc差示扫描量热仪、tga热重分析仪、综合热分析仪和导热系数测试仪等仪器的研发和生产,并且有专业的研发、生产、技术和营销团队,我们可提供样品测试、上门调试、售后维修等服务,并且产品2年质保期,可送货上门,期待您的来点咨询。
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  • 上海埃提森仪器科技有限公司,为德国sinmo公司在中国设立的,专门从事研发、生产、检测、销售、技术服务、技术咨询等仪器设备的综合服务机构。德国sinmo公司专业从于自动化仪器设备的生产与贸易。2016年在中国成立莘默(上海)自动化设备有限公司。随后设立我司。企业总部位于德国。“埃提森仪器科技”目前集中致力于对高端检测类仪器设备的研发生产和技术服务,立志成为中国领先的高端检测类仪器生产商和服务商。 “埃提森”使合作伙伴对设备的选择更便捷,使用更高效,竞争更有优势。 “埃提森”为伙伴提供了强大的售前和售后的服务,以及精准与细微的技术培训服务。 诚信为本,精益求精,追求卓越,矢志创新!是“埃提森”的奋斗目标!是全体员工对所有业务合作朋友的承诺! 我司已取得各类检测设备的多项专利。 差示扫描量热仪专利 热重分析仪专利 导热系数测定仪专利公司产品热分析类产品差示扫描量热仪、导热系数测定仪、介电常数测试仪、氧化诱导期分析仪、热重分析仪TGA、同步热分析仪STA、全自动熔点仪、炭黑分散度测试仪、炭黑含量测试仪、便携式灰分含量测试仪等燃烧类产品 水平垂直燃烧测试仪、灼热丝试验机、针焰试验机、多工位漏电起痕试验机、建材及制品单体燃烧设备、数显氧指数测定仪、建材不燃性试验炉等LED检测类产品ALP-01照明护照Pro等
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  • 400-860-5168转5026
    主营:(气相色谱质谱联用仪 GC-MS) (三重四极杆气质联用仪 GC-MSMS)(X射线荧光光谱仪 XRF) (电感耦合等离子体光谱仪 ICP-OES) (傅里叶红外光谱仪 FTIR) (原子吸收光谱仪 AAS)(紫外分光光度计 UV) (扫描电子显微镜 SEM+EDX);(差示扫描量热仪 DSC);(同步热分析仪 STD) (热膨胀分析仪 热重分析仪 TGA);(液相色谱仪 LC);(液相色谱质谱联用仪 LCMSMS);(气相色谱仪 GC),流变仪,ROHS2.0分析检测方案;ROHS1.0分析检测方案;ROHS3.0检测方案,加州65检测方案,镀层膜厚仪,(X-RAY 透视检测系统)工业CT,
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高压差示扫描量热仪相关的仪器

  • 到梅特勒托利多公司官网详细了解 HP DSC1 高压差示扫描量热仪梅特勒托利多HP DSC 1高压差示扫描量热仪基于DSC 1技术,采用惯性低、升降温快的DSC 1炉体集成于循环水冷却的压力容器内。炉体特殊的绝缘保证不发生温度梯度,从而确保直至高压下的基线的稳定性和重复性。双重安全系统限定压力允许范围(防爆片和密封系统结构)。HP DSC 1高压差示扫描量热仪采用先进的FRS5和HSS8传感器以保证其卓越的性能。FRS5传感器56对热电耦星形排列,提供了出色的灵敏度、分辨率和平坦基线。HSS8传感器的120对热电耦分三层排列,结果产生了难以置信的灵敏度,噪声水平低于微瓦。另外,可选择外置压力和流量控制器,精确控制静态和动态程控气氛下的压力。HP DSC 1高压差示扫描量热仪与化学发光测量装置结合,可扩展为HP DSC-化学发光测量系统;与显微镜结合,可扩展为HP DSC-显微镜系统(这在热分析市场上是独一无二的)。差示扫描量热仪技术参数:温度范围: 22~500或700℃升温速率:0.1~50℃/min压力范围: 0~10MPa量热灵敏度: 0.04&mu W(FRS5)(专业型) / 0.01&mu W(HSS8)(至尊型)差示扫描量热仪主要特点:压力范围宽-真空至10 MPa高压高分辨率、高灵敏度-可靠的FRS5和HSS8传感器可测量微弱和紧靠的效应在工艺条件下测试-模拟实际反应环境特定气氛下测量-O2、H2和CO2及可燃和有毒气体等不同压力下测量-更精确地测试吸附和解吸附行为差示扫描量热仪应用领域:聚合物(热塑性塑料、热固性树脂、弹性体、粘合剂和复合材料)、药物、食品、化学品等的质量控制和研究开发。差示扫描量热仪主要型号: HP DSC 1 到梅特勒托利多公司官网详细了解 HP DSC1 高压差示扫描量热仪查看更多信息咨询电话:4008-878-788
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  • 到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪Flash DSC 2+ 是完全创新型的超高速扫描量热仪(中文名称为闪速DSC),是对传统 DSC 的完美补充,是目前世界上扫描速率最快的商品化DSC扫描量热仪,升温速率达到2,400,000K/min,降温速率达到240,000K/min。该仪器能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,例如在注塑过程中快速冷却时出现的结构;极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。Flash DSC扫描量热仪也是研究结晶过程动力学的理想工具,不同的降温速率的应用可影响试样的结晶行为和结构。Flash DSC2+扫描量热仪的心脏是基于MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems微机电系统)技术的芯片传感器(UFS1)。MEMS芯片传感器安置于稳固的有电路连接端口的陶瓷基座上。全量程UFS1传感器有16对热电偶,试样面和参比面各8对。Flash DSC扫描量热仪基于功率补偿测试原理,专利注册的动态功率补偿电路可使超高升降温速率下的测试噪声最小化。传感器的试样和参比面各有热阻加热块,一起生成需要的温度程序。加热块由动态功率补偿控制。热流由排列于样品面和参比面的热电偶测量。 Flash DSC 2+扫描量热仪为快速扫描 DSC 带来了变化。 该仪器可分析以前无法测量的结构重组过程。 Flash DSC 2+ 扫描量热仪是对传统 DSC 的完美补充。 现在,升温速率范围已超过 7 个数量级。它的升温与降温速率极高,为研究热物理转变(如聚合物的结晶与结构重组)和化学过程提供全新的视角。超高降温速率 &mdash 可以制备特定结构的的材料超高升温速率 缩短测量时间、抑制重排过程温度范围宽 可在 -95 至 1000℃ 的范围内测量 扫描量热仪技术参数:温度范围: -95~1000℃升温速率:30~2,400,000℃/min降温速率:6~240,000℃/min最大热流信号: 20mW热流信号噪声: 0. 5&mu W扫描量热仪主要特点:极快的降温速率&ndash 可制备明确定义的结构性能的材料超高的升温速率&ndash 缩短测量时间、防止结构改变极速响应的传感器&ndash 可研究极快反应或结晶过程的动力学超高灵敏度&ndash 可使用低升温速率,测量范围与常规DSC交迭温度范围宽&ndash &ndash 95至450 ° C友好的人体工程学设计和功能&ndash 试样制备快速、容易扫描量热仪应用领域:聚合物等物质的结构形成过程的详细分析、测量快速结晶过程、测定快速反应的反应动力学、研究接近生产条件下的添加剂机理等。扫描量热仪主要型号:Flash DSC 2+到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪查看更多信息 咨询电话:4008-878-788
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  • 产品介绍:DZ-DSC300差示扫描量热仪是南京大展仪器生产的灵敏度高的仪器,采用了全新的外形设计,内置炉体设计,保温性高,测量速度快,灵敏度高,同时7寸彩色触摸屏显示,双向控制操作等。测试范围:DZ-DSC300高压差示扫描量热仪主要测量玻璃化转变温度。冷结晶、相转变、熔融、结晶、热稳定性、固化/交联、氧化诱导期等,都是DSC的研发领域。性能优势:1.全新的炉体结构,好的解析度和分辨率以及好的基线稳定性。2.参数可设置多段升温、恒温、降温。3.仪器可采用双向控制(主机控制、软件控制),界面友好,操作简便。4.采集电路屏蔽抗干扰处理。5.传感器采用热熔技术代替传统的点焊技术,灵敏度更高。技术参数:温度范围室温~600℃温度精度0.001℃温度波动±0.01℃升温速率0.1~100℃/min恒温时间可自行设置控温方式升温,恒温,降温(全自动程序控制)扫描方式升温扫描、降温扫描DSC量程0~±600mWDSC解析度0.01uWDSC灵敏度0.001mW工作电源AC220V/50Hz或定制气氛控制气体两路自动切换(仪器自动切换)程序控制可实现六段升温恒温控制,特殊参数可定制气体流量0-300mL/min (可定制其它量程)气体压力≤5MPa显示方式24bit色,7寸 LCD触摸屏显示数据接口标准USB接口参数标准配有标准物质(铟,锡,铅),用户可自行校正温度软件带有温度多点校正功能
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高压差示扫描量热仪相关的资讯

  • 140万!北京大学超高压差示扫描量热仪采购项目
    项目编号:BMCC-ZC22-0289项目名称:北京大学超高压差示扫描量热仪采购项目预算金额:140.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量预算金额是否接受进口产品01超高压差示扫描量热仪1套140万元是注:1.交货时间:自合同签订之日起240日内交货并安装调试完毕。2.交货地点:北京大学用户指定地点。3.简要技术需求及用途:北京大学拟采购超高压差示扫描量热仪,主要目的是高压条件下材料相变的吸放热测试,同时服务于新能源材料方向的教学任务。极端环境下固态相变制冷材料的探索正处于起步阶段,提高固态相变制冷材料的性能兼具重大科学意义和应用价值。该设备的采购将有利于材料学科抢占领域高地,解决高端制冷机技术的关键问题。 合同履行期限:按招标文件要求。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 106万!法国凯璞科技集团中标北京大学超高压差示扫描量热仪采购项目
    一、项目编号:BMCC-ZC22-0289(招标文件编号:BMCC-ZC22-0289)二、项目名称:北京大学超高压差示扫描量热仪采购项目三、中标(成交)信息供应商名称:北京合众汇美国际贸易有限公司供应商地址:北京市朝阳区光华路7号13层16B1号中标(成交)金额:106.7000000(万元)四、主要标的信息序号 供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 1 北京合众汇美国际贸易有限公司 超高压差示扫描量热仪 法国凯璞科技集团 MicroCALVET 1套 1067000.00
  • 差示扫描量热仪的扩展
    p   差示扫描量热仪除常规的热通量式DSC和功率补偿式DSC外,还有数种特殊的应用形式。 /p p strong 超快速差示扫描量热仪 /strong /p p   超快速DSC是最新发展起来的创新型快速差示扫描量热仪,采用动态功率补偿电路,属于功率补偿式DSC的一类。 /p p   瑞士梅特勒-托利多公司于2010年9月推出了世界上首款商品化超快速差示扫描量热仪Flash DSC(中文名称:闪速DSC)。升温速率可达到2400000K/min,降温速率可达到240000K/min。 /p p   闪速DSC的心脏是基于微机电系统(micro electro mechanical systems-MEMS)技术的芯片传感器,传感器置于有电路连接端口的陶瓷基座上。如图所示为闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/b5b7573d-a532-4a86-95d9-b7ec0e2ba93d.jpg" title=" 闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图.jpg" width=" 400" height=" 325" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 325px " / /p p style=" text-align: center " strong 闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图 /strong /p p style=" text-align: center " 1.陶瓷板 2.硅支架 3.金属连线 4.电阻加热块 5.铝薄涂层 6.热电偶 /p p   试样面和参比面各有电阻加热块,加热块由动态功率补偿控制。补偿功率即热流由排列于样品面和参比面的各8对热电偶测量。热电偶呈星形对称排列,可获得平坦和重复性好的基线。样品面和参比面由涂有铝薄涂层的氮化硅和二氧化硅制成,可保证传感器上的温度分布均匀。传感器面厚约2.1μm,时间常数约为1ms,可保证快速升降温速率下的高分辨率。 /p p   在常规DSC中,为了保护传感器,将试样放在坩埚内测试,坩埚的热容和导热性对测量有显著影响。典型的试样质量为10mg。在闪速DSC中,试样直接放在丢弃型芯片传感器上进行测试。试样量一般为几十纳克(ng)。由于试样量极小,必须借助显微镜制备试样。 /p p   闪速DSC能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,如在注塑过程中快速冷却时出现的结构 极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。不同的降温速率可影响试样的结晶行为和结构,因此闪速DSC是研究结晶动力学的很好工具。闪速DSC在其升、降温低速段可与常规DSC交叠,如闪速DSC的最低升温速率为30K/min、最低降温速率为6K/min。因此,闪速DSC与常规DSC可互为补充,达到极宽的扫描速率范围。 /p p strong 高压差示扫描量热仪 /strong /p p   将DSC炉体集成于压力容器内,可制成高压差示扫描量热仪。高压DSC一般有3个气体接口,各由一个阀门来控制:快速进气口用来增压 炉腔吹扫气体入口用于进行测试过程中的气流控制 气体出口用于进行压力控制。测试炉内的实际压力由压力表显示。通过压力和气体流量控制器,可实现静态和动态程序气氛下的精确压力控制。 /p p   加压将影响试样所有伴随发生体积改变的物理变化和化学反应。在材料测试、工艺过程开发或质量控制中,经常需要在压力下进行DSC测试。高压DSC仪器扩展了热分析的应用。 /p p   压力下进行DSC测试可缩短分析时间,较高压力和温度将加速反应进程 可模拟实际反应环境,在工艺条件下测试 可抑制或延迟蒸发,将蒸发效应与其他重叠的物理效应及化学反应分开,从而改进对重叠效应的分析和解释 可提高气氛的浓度,加速与气体的多相反应速率 可在特定气氛下测量,如氧化、无氧条件或含有毒或可燃气体(如氢气) 可通过不同压力下的实验,更精确地测试吸附和解吸附行为。 /p p strong 光量热差示扫描量热仪 /strong /p p   光量热组件与DSC结合,可生成DSC光量热仪,测量材料在不同温度下用一定波长的光照射引发固化反应所产生的焓变。主要应用于材料的光固化领域,测试光引发的反应。可用于研究各种光敏材料的光效应,如光活性固化过程、光引发反应以及紫外线稳定剂影响、加速测试或老化研究中聚合物稳定性的光强度效应。 /p p   如图所示为光量热DSC仪光学部分的示意图。光源一般为紫外线,也可为其他光源,如可见光。通过遮光器的开闭来控制光照时间,光强度由光源控制。光由光纤透过石英炉片(用作炉盖)照射到试样和参比坩埚上,由DSC传感器测量固化反应焓。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/2da48264-bd5e-4dc3-8c3f-1cea1d15ca90.jpg" title=" 光量热DSC系统的光学设计示意图.jpg" width=" 400" height=" 421" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 421px " / /p p style=" text-align: center " strong 光量热DSC系统的光学设计示意图 /strong /p p strong 差示扫描量热仪显微镜系统 /strong /p p   DSC与装备有摄像技术的显微镜的结合可生成DSC显微镜系统,在DSC加热或冷却过程中可对试样进行光学观察,得到与DSC测试同步的图像信息。这种图像信息对于DSC测试到的现象作出精确的解释往往非常有用,而且显微镜能对极少或无焓变的过程摄录信息,达到极高的测试极限。 /p p   典型的应用有粘合剂或固体涂料的流延性测试,薄膜或纤维收缩的光学观察,药物或化学品从溶液结晶、热致变色、汽化、升华及安全性研究,食物脂肪和食用油的氧化稳定性、与活性气体的反应,等等。 /p p strong 温度调制式差示扫描量热法 /strong /p p   DSC的传统温度程序是以恒定的速率将试样升温或降温。温度调制式差示扫描量热法的升温速率以更复杂的方式变化,是在线性温度程序上叠加一个很小的调制温度。 /p p   典型的温度调制式DSC方法有等温步阶扫描法、调制DSC法和随机调制DSC法3种。 /p p   等温步阶扫描法的温度程序由一系列等温周期步阶组成。调制DSC方法的温度程序为在线性温度变化上叠加一个周期性变化(通常为正弦)的调制,也可叠加其他调制函数(如锯齿形)。随机调制DSC为最先进的温度调制式技术,它的温度程序是在基础线性升温速率上叠加脉冲形式的随机温度变化。 /p p   温度调制技术的优势在于可将热流分离为两个分量,一个对应于试样的比热容,另一个对应于所谓的动力学过程,如化学反应、结晶过程或蒸发过程等。 /p

高压差示扫描量热仪相关的方案

高压差示扫描量热仪相关的资料

高压差示扫描量热仪相关的试剂

高压差示扫描量热仪相关的论坛

  • dsc差示扫描量热仪测试原理和优势

    dsc差示扫描量热仪测试原理和优势

    你们有[b]dsc差示扫描量热仪[/b]吗?dsc测什么?这些问题常常被客户问起,作为dsc差示扫描量热仪的生产厂家,针对客户的常见问题,来详细了解一下。  dsc差示扫描量热仪测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系,应用范围非常广,特别是材料的研发、性能检测与质量控制。材料的特性,如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等,都是差示扫描量热仪的研究领域。  dsc差示扫描量热仪选择一种对热稳定的物质作为参比物,将其与样品一起置于DSC可按设定速率升温的电炉中,分别记录参比物的温度以及样品与参比物间的温度差△T,以温差△T对温度T作图就可以得到一条差热分析曲线,这种热分析曲线称为差热谱图,从差热谱图中可分析出试样的比热容和玻璃化转变温度Tg值。[align=center][img=,690,463]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211291358573976_8892_3513183_3.jpg!w690x463.jpg[/img][/align]  dsc差示扫描量热仪具备哪些优势?以DSC300差示扫描量热仪为例,介绍其具备性能优势。  1、智能控温系统。可通过软件多段温度设置,实现升温、恒温、降温等,操作方便快捷。  2、全新的炉体结构设计,保温性能好,灵敏度高。  3、仪器的灵敏度可达到0.001mW,测量的准确率大大提升。  4、双向控制系统,可通过仪器界面和软件同时操作,提高了工作效率。  5、7寸彩色触摸屏显示,显示的清晰度高,信息齐全。  6、采用进口芯片,采集电路屏蔽抗干扰处理。

高压差示扫描量热仪相关的耗材

  • 扫描电镜X射线源
    这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源,非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能,允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”(x射线)。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦(35千伏和0.1毫安,取决于阳极材料)。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作,包括在同一样品上使用电子束,同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束(来自扫描电子显微镜)产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别,量化,甚至生成痕量X射线图,以查看样品中微量元素的元素分布。 应用: 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料,聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag,Mo&W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm,500μm,1000μm(其他可选) 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却,不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA,X射线开/关按钮,kV /μA显示。 连接到SEM,键控上电开关,集成高压电源,HV-On灯,警示灯
  • 微阵列芯片扫描仪配件
    微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片,蛋白质芯片等微阵列芯片而设计,是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片,如DNA芯片,蛋白质芯片和细胞和组织,并适用于各类型的应用研究,如基因表达,基因分型,aCGH,芯片分析片内,微RNA检测的SNP,蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统,兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm(玻璃基板,塑料,透明和不透明),可以扫描生物芯片,有3 1.mu.m/像素的分辨率,同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟(10.mu.m/像素,最大扫描区域),InnoScan900是市场上最快的扫描器,扫描速率可调节,达10到35行每秒。 微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管(PMT),非常敏感,整个工作范围(0至100%)线性完美,允许用户简单地改变PMT,调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统,提供的是不敏感的基板的变形,整个扫描表面上完美,均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能,特别是在灵敏度和信噪比方面。 微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序,四扫描器(710,710 U,900 U和900)。该Innoscan® 900和900AL系列(磁带自动加载机)是专为现在和未来的高密度微阵列发展。
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
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