高精度激光干涉样品台

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高精度激光干涉样品台相关的厂商

  • 西安艾美科光电科技有限公司是一家专注于高精度检测设备研发、设计、生产、销售及售后的高新技术企业。 公司落地于西安市高新区富民路西段2号院内,占地1500平米。公司研发的光学影像检测技术、激光检测技术、微分干涉检测技术、3D扫描技术、电子控制技术、高精度检测技术、PLC自动化控制技术等,为下一步的机器人自动在线分选系统与云服务打下坚实基础,努力为时代赋予中国的工业4.0贡献一份力量。
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  • 深圳市火焱激光科技有限公司是一家专业致力于精密激光加工设备的研发、生产与销售的高科技企业。公司除向广大客户提供优质高效且性价比高的精密激光加工设备外,还可以根据客户的实际需求,提供高精度激光加工应用的定制化解决方案。 火焱激光一直致力于精密激光加工系统的研发与应用。在研发上,累计投放已超过5000万元,通过不断努力的耕耘,公司自主研发的SMT激光模板切割机、FPC/PCB等系列UV紫外激光切割机、精密金属零件激光切割机、精密陶瓷激光切割机、触摸屏银浆激光划线机等,以其精度高、速度快、性能稳定、切割品质精良的特点,已经占有国内大量市场,赢得了客户的充分肯定 公司仍在研发方面持续投入,新的系列产品将不断推向市场。 火焱激光始终坚持人才战略,通过不断引进和长期的培养,公司在光学技术、机械结构、电气工程、软件开发、激光加工工艺等领域拥有大量高级专业技术人才,占到公司总人数的50%%以上。正是基于强大的技术研发能力,公司一直走在行业前沿且高速发展。 公司一贯秉承勇于创新、卓于技术、精于质量、诚于服务的企业宗旨,努力拼搏,不断奋进,愿与广大客户携手,共创辉煌。
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  • 联合光科技(北京)有限公司创立于2016年, 由国内多家知名光学企业联手创办, 致力于为用户提供优质激光光学元件、工业成像镜头、进口高精度光学检测系统和快捷、专业的解决方案。我们的产品涵盖了大多数光学领域,包括元件类,机械类,光学检测服务,光学冷加工及镀膜,并提供光学产品的定制服务,在高功率激光和特殊镀膜应用尤为突出。总部位于北京,在深圳和香港设有分公司,在济南、上海设有办事处,并且在长春,锦州,昆明和重庆设有工厂。为了将更好的产品提供给用户,我们在北京建立了先进的检测实验室和较完善的检测体系,并且采用国际知名品牌检测仪器。 主要产品:l 光学元件(标准光学镜片、高功率激光窗口镜片、定制光学元件、偏振元件)l 英国ULO CO2红外光学材料、镜片、光学器件l 光机械部件(压电电控平台,光学防震桌,光学调整架,手动位移台,光机组件,光桥系统)l 全系列高品质工业成像镜头(定焦/远心/线扫/变焦变倍/特殊定制镜头)、照明光源l 光学测量仪器? 德国MarOpto- 轮廓仪、干涉仪(倾斜波干涉仪、斐索干涉仪、动态干涉仪、干涉测量软件、断面检测、表面检测)? 德国Dioptic- ARGOS 表面疵病检测仪、光纤端面缺陷检测? 日本壶坂Tsubosaka-镜头/相机鬼影、杂散光测试系统;可调色温、亮度光源;镜头焦点偏差、光圈、闪光灯、快门测量、手机防抖测试系统;太阳灯? 美国 Bristol- 非接触式测厚仪? 美国Optometrics- 衍射光栅、分光器件、线栅偏振片、Minichrom? 单色仪等? 德国Artifex-光功率计、跨阻抗放大器、门控积分放大器、LIV激光二极管和LED特性测试系统、积分球、激光二极管驱动器? 波兰inframet-可见光电视相机测试系统(TVT)、红外热像仪测试系统(DT、LAFT、SAFT)、夜视仪测试系统(NVT、NVS、NVB)、激光测距机测试系统(LT、LTF、LTE)、二代像管像增强器测试系统(ITS-I、ITS-P、ITS-R)、条纹管测试系统(SPT、STT)、多传感器测试系统(JT、MS)、被动式THz成像仪测试系统(THP)、短波成像仪测试系统(ST)、紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等? 美国Headwall -高光谱成像、拉曼光谱仪、衍射光学元件? 其他-SPF防晒指数测试仪;大气测量辐射计/光度计;Mini-Chrom单色仪;激光二极管测试分析系统;积分球;激光功率探测器;光伏测试太阳模拟器;固态光电倍增管等等
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高精度激光干涉样品台相关的仪器

  • 中图仪器SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体,利用激光干涉现象来实现非接触式测量,具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪结合不同的光学镜组,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件,可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列,依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中,线性镜组为标配,由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析,以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能(1)可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量;(2)可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等;(3)可实现对机床回转轴的测量与校准;(4)可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表,为设备误差修正提供依据;(5)具有动态测量与分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等,可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等;(6)支持手动或自动进行环境补偿。在机床领域中的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件,直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差,从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹,可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态,并及时进行调整和修正,确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹,可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求,从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用,激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系,从而检测和纠正机床的装配误差。此外,激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况,及时发现机床的故障和异常状态,保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准,受环境因素影响较大,校准条件要求高,且量程大于1m的测长机需要分段校准,效率低,而使用激光干涉仪进行校准,不仅可以提高效率,还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿,提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展,使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求,激光干涉仪测量准确度高,测量范围大,测量数据丰富,适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比,位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行,存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测,对测量数据进行运算分析,利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿,可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。
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  • SJ6000中图高精度单频激光干涉仪集光、机、电、计算机等技术于一体,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。工作原理激光干涉仪利用激光光束的干涉原理来测量物体的形状和表面的高度差异。其原理是基于两束相干光在空间交叉的地方发生干涉,形成干涉条纹,通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。测量原理激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数;位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品功能(1)可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量;(2)可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等;(3)可实现对机床回转轴的测量与校准;(4)可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表,为设备误差修正提供依据; (5)具有动态测量与分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等,可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等;(6)支持手动或自动进行环境补偿。高精度性能特点SJ6000中图高精度单频激光干涉仪以干涉技术为核心,其光波可直接对米进行定义。SJ6000中图高精度单频激光干涉仪采用激光双纵模热稳频技术,可实现高精度、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出;采用高精度环境补偿模块,可实现激光波长和材料的自动补偿;干涉镜与主机分离设计,避免干涉镜受热影响,保证干涉光路稳定可靠。在机床领域的应用激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量,具有高精度、高分辨率、快速测量等优点,在机床加工领域有着广泛的应用。1.测量机床导轨的直线度和平行度。 导轨是机床中的重要零部件,直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差,从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹,可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态,并及时进行调整和修正,确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹,可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求,从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用,激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系,从而检测和纠正机床的装配误差。此外,激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况,及时发现机床的故障和异常状态,保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值,单位:μm;M为测量距离,单位:m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1~3.0)m 长距离(1.0~15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项:平面度测量配置需求:平面度镜组+角度镜组 平行度测量配置需求:依据轴向量程范围,选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求:短直线度镜组+垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求:长直线度镜组+垂直度镜组直线度附件:主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图超高精度激光干涉仪sj6000集光、机、电、计算机等技术于一体,具有测量精度高、测量速度快、测量范围大、最高测速下分辨率高等特点。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件,可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列,依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中,线性镜组为标配,由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析,以及反向间隙修正和螺距补偿。线性测量配置线性测量(线性轴位置精度测量的简称)配置主要由SJ6000主机、EC20环境补偿单元、线性镜组、SJ6000静态测量软件等组件构成,可满足0~80m范围内的线性测量。其中,线性测量包括定位精度测量、重复定位精度测量和设备反向间隙测量等。线性测量应用 SJ6000激光干涉仪广泛应用于机床、三坐标、机器人、3D打印设备、自动化设备、线性位移平台、精密机械设备、精密检测仪器等领域的线性测量。中图超高精度激光干涉仪sj6000结合不同的光学镜组,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品功能(1)可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量;(2)可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等;(3)可实现对机床回转轴的测量与校准;(4)可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表,为设备误差修正提供依据;(5)中图超高精度激光干涉仪sj6000具有动态测量与分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等,可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等;(6)支持手动或自动进行环境补偿。测量软件(1)友好的人机界面;(2)丰富的应用功能模块;(3)向导式的操作流程;(4)简洁化的记录管理;(5)支持中文、英文和俄文界面;(6)支持企业专属模板定制。
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  • 应用解读:皮米精度激光干涉仪如何实现高精度实时位移反馈?
    “坐标”这个概念源于解析几何,其基本思想是构建坐标系,将点与实数联系起来,进而可以将平面上的曲线用代数方程表示。坐标的概念应用到工业生产中解决了大量实际问题,例如,坐标测量机可采集被测工件表面上的被测点的坐标值,并投射到空间坐标系中,构建工件的空间模型等诸多案例。坐标测量机还被用于产品质量控制,测量磨损,制造精度,产品形貌,对称性,角度等工业产品参数,因此需要非常高的移动精度,才能确保测量的准确性。德国attocube公司推出的IDS3010皮米精度位移测量激光干涉仪就是辅助坐标测量机提高测量精度的有力手段。图1 皮米精度位移测量激光干涉仪IDS3010IDS3010皮米精度位移测量激光干涉仪是如何帮助坐标测量机实现高精度的呢?图2 IDS3010激光干涉仪集成到坐标测量机探测臂上通常坐标测量机要求探测臂位移精度高于1微米,现在坐标测量机位移反馈大多是通过玻璃分划尺来实现的。玻璃分划尺是常用的一种位置测量的方法,分划尺在坐标测量机上位于龙门处,一般情况下,采用玻璃分划尺探测的不是探测臂本身,而是坐标测量机龙门处的位置变化。实际上, 坐标测量机的探测臂与龙门之间有一定长度的距离,它们的位置变化会因存在例如振动、位置差等而有所不同,因此只凭借龙门处位置变化来判断真实的位移反馈是不准确的,影响到实际样品的测量精度。图3 IDS3010激光干涉仪集成到坐标测量机上。坐标测量机通过干涉仪探头的配合,可反馈探测臂的位移。德国attocube公司的IDS3010皮米精度位移测量激光干涉仪通过非接触式方法测量,可以直接测量探测臂的运动,避免龙门处探测误差,实现高精度测量。如图3,激光探头位于坐标测量机侧边,M12/C7.6激光探头出射的激光可以被探测臂上的反射镜(直径3mm)反射回激光探头,IDS3010干涉仪通过分析干涉信号从而进行位置测量。探测臂能够移动0.8米距离,移动精度达到10微米。干涉仪能够实时测量该探测臂的位移以及振动等信息。图4 IDS3010实时位置测量软件WAVE测量数据。扩展图为中间区域的数据放大。IDS3010配置的软件WAVE可以实时观测与保存测量数据。如图4,坐标测量机的运动数据被测量并记录。图中所示,前15秒与终10秒间的数据是0.8m距离的往复运动。中间时间的数据看似没有变化,但通过WAVE软件的放大功能,我们发现中间时间的探测臂其实进行了10微米的步进运动。同时,通过WAVE软件我们也可以观测到步进运动的详细变化过程。每一个步进大约2秒,在运动初始的时候位移有超过,在大约0.4秒的短时间内位移被调整为10微米的步进长度。而在步进的末尾,也有小幅的位置噪音,该噪音一般是由于振动引入。这对于探测样品位移以及振动信息具有重大意义。IDS3010技术特点:IDS3010皮米精度位移测量激光干涉仪具有体积小、适合集成到工业应用与同步辐射应用中的特点,同时,测量精度高,分辨率高达1 pm,是适合工业集成与工业网络无缝对接的理想产品。除与坐标测量机结合使用外,在工业中的其他应用实例也非常广泛,包括闭环位移反馈系统搭建、振动测量、轴承误差测量等等。+ 测量精度高,分辨率高达1 pm+ 测量速度快,采样带宽10MHz+ 样品大移动速度 2m/s+ 光纤式激光探头尺寸小,灵活性高+ 兼容超高真空,低温,强辐射等端环境+ 其可靠与稳定+ 环境补偿单元,不同湿度、压力环境中校正反射率参数提高测量精度+ 多功能实时测量界面,包含HSSL、AquadB、CANopen、Profibus、EtherCAT、Biss-C等界面相关产品及链接:1、皮米精度位移激光干涉器attoFPSensor:http://www.instrument.com.cn/netshow/C159543.htm2、EcoSmart Drive系列纳米精度位移台:http://www.instrument.com.cn/netshow/C168197.htm3、低温强磁场纳米精度位移台:http://www.instrument.com.cn/netshow/C80795.htm
  • 超高精度相移式激光干涉仪赋能光电产业升级——访金燧奖获奖单位慧利仪器
    近期,由中国光学工程学会、辽宁省科学技术协会主办的全国光电测量测试技术及产业发展大会暨辽宁省第十七届学术年会在大连成功召开。会议同期举办首届“金燧奖”中国光电仪器品牌榜颁奖典礼。仪器信息网作为大会独家合作媒体参与了本次会议,并采访了金燧奖银奖获奖单位代表苏州慧利仪器有限责任公司(以下简称“慧利仪器”)市场负责人庄锦程。本次获奖项目为“超高精度相移式激光干涉仪”,由慧利仪器、上海理工大学联合申报。超高精度相移式激光干涉仪集光学干涉与计算机数字化测量技术于一体,可实现纳米级精度的非接触式测量,主要面向国家高端计量、国家大科学仪器装置以及高端装备加工检测等领域,可以检测光学平面、球面的平面度,球面的曲率半径,柱面的表面面形,光学材料的均匀性,光学系统透射波前,光学平板的平行度等关键参数。近年来,国内在光学计量、国家大科学仪器装置、大规模集成电路、强激光系统等项目中对超高精度光学元件的检测需求越来越高,亟需在非稳环境下进行检测,同时对检测精度要求也越来越高。然而国际形势骤变,国外对中国的技术封锁与产品禁运愈发严重。正是在这样的背景下,慧利仪器坚持走产学研用相结合的道路,与上海理工大学、长春理工大学、苏州科技大学等高校合作创新,研制了超高精度相移式激光干涉仪。该成果实现了怎样的创新突破,解决了什么样的关键问题?该成果当前的产业化情况如何,取得了怎样的经济效益或社会效益,未来的市场前景如何?随着技术的进步和产业的发展,未来还将对相关技术提出哪些技术需求和挑战?有哪些发展建议?更多内容请观看视频: 首届“金燧奖”中国光电仪器品牌榜由中国光学工程学会联合多家单位于2022年发起,旨在积极面向国家重大战略需求,进一步突出企业的创新主体地位,促进关键核心技术攻关,突破卡脖子技术。本届“金燧奖”重点围绕分析仪器、计量仪器、测量仪器、物理性能测试仪器、环境测试仪器、医学诊断仪器、工业自动化仪器等7个类别进行广泛征集,得到了社会各界积极的参与和热情的响应。经过严格评审,71个优秀仪器产品脱颖而出,遴选出金奖10项、银奖16项、铜奖28项、优秀奖17项。这些产品都是我国自主研发、制造、生产的专精特新的高端光学仪器,较好地展现了我国在高端科学仪器中的自主核心竞争力,提升了民族品牌在激励市场竞争中的自信心,鼓舞了国产厂商的攻关热情。
  • 皮米精度激光干涉仪如何在众多前沿领域中大显神通?
    1.IDS3010激光干涉仪在自动驾驶高分辨调频连续波(FMCW)雷达中的应用自动驾驶是目前汽车工业为前沿和火热的研究,其中可靠和高分辨率的距离测量雷达的开发是尤为重要的。德国弗劳恩霍夫高频物理和雷达技术研究所(Wachtberg,D)Nils Pohl教授和波鸿鲁尔大学(Bochum,D)的研究小组提出了一种全集成硅锗基调频连续波雷达传感器(FMCW),工作频率为224 GHz,调谐频率为52 GHz。通过使用德国attocube公司的皮米精度激光干涉仪FPS1010(新版本为IDS3010),该雷达测量系统在-3.9 um至+2.8 um之间实现了-0.5-0.4 um的超高精度。这种新型的高精度雷达传感器将会应用于许多全新的汽车自动驾驶领域。更多信息请了解:S. Thomas, et al IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67, 11, (2019)图1.1 紧凑型FMCW传感器的照片图1.2 雷达测距示意图,左边为雷达,右边为移目标,attocube激光干涉仪用来标定测量结果 2. IDS3010激光干涉仪在半导体晶圆加工无轴承转台形变测量上的应用半导体光刻系统中的晶圆轻量化移动结构的变形阻碍了高通吐量的半导体制造过程。为了补偿这些变形,需要的测量由光压产生的形变。来自理工大学荷兰Eindhoven University of Technology 的科学家设计了一种基于德国attocube干涉仪IDS3010的测量结构,以此来详细地研究由光压导致的形变特性。图2.1所示为测量装置示意图,测量装置是由5 x 5 共计25个M12/F40激光探头组成的网格,用于监测纳米的无轴承平面电机内部的移动器变形。实验目的是通过对无轴承平面的力分布进行适当的补偿,从而有效控制转台的变形。实验测得大形变量为544 nm,小形变量为110 nm(如图2.2所示)。更多信息请了解:Measuring the Deformation of a Magnetically Levitated Plate displacement sensor图2.1 左侧为5X5排列探头测量装置示意图,右图为实物图图2.2 无轴承磁悬浮机台形变量的测量结果,大形变量为544 nm 3.IDS3010在提高X射线成像分辨率中的应用在硬X射线成像中,每个探针平均扫描时间的减少对于由束流造成的损伤是至关重要的。同时,系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中,扫描时间主要取决于装置的稳定性。attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010(升后的型号为IDS3010),被用于测量及优化由多层波带片(MZP)和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量,装置的成像分辨率被提高到了±10 nm。更多信息请了解:Markus Osterhoff, et at. Proceedings Volume 10389, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods III 103890T (2017)图3.1 实验得到的系统分辨率结果 4.IDS3010激光干涉仪在微小振动分析中的应用电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带,它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。全球研究机构苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙地利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体,次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在Nature上(doi:10.1038/nature25156)。研究人员通过测试一种机械超材料的体、边缘和拐角的物理属性,发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。德国attocube公司的激光干涉仪IDS3010被用于超声-空气转换器激励后的机械超材料振动分析。IDS3010能到探测到机械超材料不同位置的微小振动,以识别共振频率。终实现了11.2 pm的系统误差,为声子四拓扑缘体的实验分析提供了有力的支持。更多信息请了解:Marc Serra-Garcia, et al. Nature volume 555, pages 342–345 (2018)图4.1 实验中对对机械超材料微小振动的频率分析5. IDS3010激光干涉仪在快速机床校准中的应用德国亚琛工业大学(Rwth Aachen University,被誉为“欧洲的麻省理工”)机床与生产工程实验室(WZL)生产计量与质量管理主任的研究人员利用IDS3010让机床自动校准成为可能,这又将大的提高机床的加工精度和加工效率。研究人员通过将IDS3010皮米精度激光干涉仪和其他传感器集成到机床中,实现对机床的自动在线测量。这使得耗时且需要中断生产过程的安装和卸载校准设备变得多余。研究人员建立了一个单轴装置的原型,利用IDS3010进行位置跟踪。其他传感器如CMOS相机被用来检测俯仰和偏摆。校准结果与常规校准系统的结果进行了比较,六个运动误差(位置、俯仰、偏摆、Y-直线度、Z-直线度)对这两个系统显示出良好的一致性。值得指出的是,使用IDS3010的总时间和成本显著降低。该装置演示了自动校准机床的个原型,而且自动程序减少了机器停机时间,从而在保持相同的精度水平下大的提高了生产率。更多信息请了解:Benjamin Montavon et al J. Manuf. Mater. Process. 2(1), 14 (2018)图5.1 自动校准激光探头安装示意图6.IDS3010激光干涉仪在工业C-T断层扫描设备中的应用工业C-T断层扫描被广泛用于材料测试和工件尺寸表征。几何测量系统是设计的锥束C-T系统的一大挑战。近期,瑞士联邦计量院(METAS)的科学家采用德国attocube公司的IDS3010皮米精度激光干涉仪用于X射线源、样品和探测器之间的精密位移跟踪。该实验共有八个轴用于位移跟踪。除了测量位移之外,该实验装置还能够进行样品台的角度误差分析。终实现非线性度小于0.1 um,锥束稳定性在一小时内优于10 ppb的高精度工业C-T。更多信息请了解:Benjamin A. Bircher, Felix Meli, Alain Küng, Rudolf Thalmann: "A geometry measurement system for a dimensional cone beam CT", 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), At Wels, AU6.1激光干涉仪在系统中的测量定位示意图7.IDS3010激光干涉仪在增材制造3D打印中的应用微尺度选择性激光烧结(u-SLS)是制造集成电路封装构件(如微控制器)的一种创新方法。在大多数的增材制造中需要微米量的精度控制,然而集成电路封装的生产尺寸只有几微米,并且需要比传统的增材制造方法有更小的公差。德克萨斯大学和NXP半导体公司开发了一种基于u-SLS技术的新型3D打印机,用于制造集成电路封装。该系统包括用于在烧结站和槽模涂布台之间传送工件的空气轴承线性导轨。为满足导轨对定位精度高的要求,该系统采用德国attocube公司的皮米精度干涉仪IDS3010来进行位置的跟踪。更多信息请了解:Nilabh K. Roy, Chee S. Foong, Michael A. Cullinan: "Design of a Micro-scale Selective Laser Sintering System", 27th Annual International Solid Freeform Fabrication Symposium, At Austin, Texas, USA 7.1系统示意图,其中激光干涉仪被用作位移的测量和反馈8. IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时,对系统稳定性提出了更高的要求。在整个实验过程中,必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力,在40小时内表现出优于1.25 nm的稳定性,并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300 pm的分辨率。因此,IDS3010是对上述X射线显微镜装置的所有部件进行机械控制的不二选择,使得整个X射线显微镜实现了40 nm的分辨率,而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45 nm。更多信息请了解:Characterizing a scanning fluorescence X ray microscope made with the displacement sensor 8.1荧光X射线显微镜的高分辨成像结果

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  • 激光干涉仪的特征及作用

    激光干涉仪是以激光波长为已知长度,利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。测量长度的激光干涉仪,主要是以迈克尔逊干涉仪为主,并以稳频氦氖激光为光源,构成一个具有干涉作用的测量系统。 激光干涉仪采用一个双光束激光头和一个双通道的处理器,采用飞行采样方式,在测量过程中无须停机采样检测,节约了测量时间和编程时间;利用RENISHAW动态特性测量与评估软件,可进行机床振动测试与分析,滚珠丝杠的动态特性分析,伺服驱动系统的响应特性分析。激光干涉仪的激光头和靶标反射镜二件之间只要发生相对位移就能进行测量,测量系统中无须分光镜、所以对光极其方便。 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来作线性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等测量工作,并可作为精密工具机或测量仪器的校正工作。激光干涉仪可用来精确测量和校准机床、三座标测量机和X-Y平台的机械精度,也测量轴的定位精度、重复定位精度及反向间隙,测量轴的角偏、直线度,测量平台的平面度。

高精度激光干涉样品台相关的耗材

  • 850nm VCSEL激光器_干涉仪激光器
    852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测,VSEL激光器拥有价格低廉,线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐
  • 高精度高稳定性激光调整架
    高精度高稳定性激光调整架5OM60和5OM61是通用的,经久耐用的,超级稳定光学调整架,它提供高达3arcsec分辨率,广泛用于激光镜片调整。 高精度高稳定性激光调整架独立倾斜,两水平轴为6°,灵敏度为3秒。线性平移为5mm,灵敏度为1μm。移动三分之一螺线管代替移动插座和枢轴轴承。 高精度高稳定性激光调整架采用三个特殊弹簧块预装平台,大大提高工作稳定性。调整架采用螺旋管推动硬化钢座,并预留有一些M6安装孔。 高精度高稳定性激光调整架5OM60有一个直径为42mm的通光口径。固定架5OM60和5OM61通过M6螺钉尖端可以安装到各种安装柱上。此外,高精度高稳定性激光调整架5OM60的背面有一个孔,使用该孔5OM60可以以水平面安装,作倾斜平台使用。平台底座有三个孔M10x1用于驱动螺钉,您可以选择使用。标准螺钉的间距为0.5mm。为了有更大的灵敏度,你可以选择要间距0.35或是0.25的螺线管。孚光精仪公司会根据您的要求对标准型号进行修改,即使只下一个订单也会提供该服务。 高精度高稳定性激光调整架型号5OM60-SQ2 有一个50.8mm(2英寸)的方形框架5OM61-RN2 有一个50.8mm(2英寸)的环形框架 高精度高稳定性激光调整架要用2到3个螺钉安装。有2个驱动螺钉的变体模型有一个直径8的圆球头作为第三个基准点。标准平台配备的螺钉是9S65M。下单不需要特别标明要购买该螺钉。如果您想购买其他螺钉,请在订单里标明,请将要购买的螺钉代号加在平台编号后面。 5OM60-2-9S7C 和5OM61-2-9S127M-10 高精度高稳定性激光调整架5OM60和5OM61的材质是黑色阳极氧化铝(默认),黑色成品钢(根据要求提供)。重量为0.35kg。 高精度高稳定性激光调整架规格 细螺钉 安装螺纹 M10x1 倾斜 范围 6° 灵敏度 3角秒 线性 平移 5 mm 灵敏度 1 μm
  • Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计
    本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围:1-5um;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0008 nm @ 1000 nm;测量速率:10Hz;最大带宽:10GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。 671A型是精确的,测量波长的精度为±0.2百万分之一(1000 nm时为±0.0002 nm)。对于不太严格的实验,671B型是一种价格较低的替代品,精度为±0.75百万分之一(1000 nm时为±0.0008 nm)为了保证波长测量的准确性,671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源,因为它的波长是众所周知的,并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度,671A系统使用单频HeNe激光器,该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中,使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入,波长高达2.6μm。自由空间光圈输入,具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件,用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。 五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波(重复频率10 MHz)波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1,2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm) IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯径9μm)-可选自由光束到光纤耦合器NIR2:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯直径7μm)-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR:准直光束,2-3mm直径孔径,可见示踪光束,便于对准仪表接口USB和以太网接口,带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库(SCPI)计算机要求 12运行Windows 10的电脑,1 GB可用RAM,USB 2.0(或更高版本)端口,显示器,定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸(高x宽x深)13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) (1) 定义为测量不确定度或最大波长误差,置信度≥99.7%。(2) 可追溯到公认的物理标准。(3) 对于671A,仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。(4) 对于671B,仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。(5) 波长分辨率大约是可重复性的两倍。(6) 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。(7) NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。(8) 带宽为FWHM。当带宽较大时,波长精度会降低。(9) 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。(10) 特性性能,但无担保。(11) IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。(12) 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。(13) IR和MIR仪器高度可调(7.25±0.25“),用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利,以改进其产品的设计。 规格如有更改,恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机
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