研究级影像校正光栅仪

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研究级影像校正光栅仪相关的厂商

  • 国家机床产品质量检验检测中心(四川)挂靠中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,中心下设高精度转台研发团队。团队致力服务于需要最高运动控制精度的领域,为这些领域提供微米、纳米级定位精度的核心部件。以顾客需求为导向,倾听客户严苛的应用需求,为客户提供最高精度运动控制系统的定制化解决方案。本中心针对不同用户需求,提供多款高精度转台:压电马达转台、气浮转台、机械转台、二维转台、速率转台等。转台内置无框力矩电机,有更好的驱动力和工作效率。所有转台均为自主研发,具有国际领先的精度水平。项目团队研制出的ZT320型高精度转台,测量不确定度优于0.05″,成功应用于我国最高法定计量机构——中国计量科学研究院,现已成为国家线角度计量基准。我们的应用领域包括光栅制造、角度编码器检测、半导体、测量检测、科研、国防等,各类转台均可以根据用户需求定制。
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  • 中机试验装备股份有限公司(中机试验)始建于1959年,原名机械工业部长春试验机研究所,是世界500强中国机械工业集团有限公司旗下子公司,是国家试验机质量检验检测中心和国家试验机标准化委员会支撑单位,国家试验机行业学会、协会秘书处均设在中机试验,被誉为“中国试验机技术的摇篮”。2018年登陆新三板,股票名称:中机试验,股票代码:872726。 中机试验是以“试验装备”研发制造为主业的国家级科技创新型企业,是国内试验装备领域规模最大最具竞争力和影响力的高科技产业公司之一。2020年被认定为国家级专精特新“小巨人”企业,并于2021年成功入选国家企业技术中心,成功入选国务院国资委“科改示范企业”。公司秉承“锻造国机所长,服务国家所需”的使命感和责任感,持续不断创新,已经掌握试验装备行业多项国际前沿核心技术,解决了多项国家“卡脖子”技术难题,其中静压支撑技术、测量传感技术等一批关键技术已经处于国际领先地位。 中机试验持续专注高端装备制造和服务领域,在北京设有研发中心,在长春、无锡设有制造基地,目前已经形成了一个中心,两个基地的产业布局。 中机试验围绕创新立企、质量强企、人才兴企的发展理念,致力于“和”文化建设,坚持走高质量发展道路,协同发展试验装备、校正与智能装配、军工保障、检测服务、进出口服务五个业务板块,持续推动中国试验装备技术进步和产业升级,为民族工业的崛起不懈努力!
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  • 深圳市赛麦吉图像技术有限公司(英文简称Sine Image)是“五苏产业”旗下企业,由3nh三恩时时和TILO天友利投入核心技术和优势资源打造,更具专业化、规模化,在影像检测领域拥有领先的技术、产品和服务优势。Sine Image的经营范围包括摄像头、镜头测试图卡和测试设备的技术研发、生产和销售;摄像头、镜头测试软件和图像质量分析软件的研发;摄像头模组调焦平台、自动检测平台及整机测试的方案提供;智能识别、机器视觉、光栅的技术研发等。Sine Image影像测试图卡(黑白+彩色Black and white & Color)全部可订制,建立了完整的产品档案和客户档案,每种测试卡都通过高于标准的检测才予以出库,并且保证前后批次的产品具有绝对的一致性。Sine Image投巨资引进了全系列的进口生产设备和检测设备,是国内首家自主研发和生产黑白、彩色高清测试卡的专业公司,大部分的系列产品都备有现货供应,订制产品的交货期为1-3天。Sine Image还拥有S-imageTest(图像质量分析软件)和ColorFilm(卡罗菲林)两大技术兼加工能力的资产,专为大中型企业和国家级企事业单位提供配套的产品加工和方案服务。赛麦吉(Sine Image)是民族之光企业,正一步步用技术、产品和实力为国家拟定行业标准而努力!
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研究级影像校正光栅仪相关的仪器

  • 高性能影像校正光谱仪 OmniEvo&ldquo 谱王&rdquo OmniEvo光谱仪是卓立汉光最新推出的将自有的&ldquo 谱王&rdquo 系列(Omni-&lambda 180i)影像校正光栅光谱仪与英国Andor公司的iVac制冷型CCD进行整合的新一代高性能光谱仪产品,充分发挥了&ldquo 谱王&rdquo 系列产品顶尖的光学分光性能以及iVac制冷型CCD优良的弱光探测性能,具有极高的性价比,是进行荧光、拉曼光谱实验的最佳选择之一。成熟的光学设计能力 OmniEvo高性能光谱仪的光学设计,均采用经典的C-T结构,并结合公司多年的研发经验加以改进,在光学分辨率、通光效率和杂散光抑制等各项关键指标上达到完美的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-&lambda 180i型影像校正光谱仪,更是国内首款运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪,其性能达到了国际一流水平。全进口光栅 OmniEvo光谱仪完全采用进口光栅(Newport公司生产),高质量的光栅确保了仪器的光谱性能指标。高灵敏的弱光探测能力OmniEvo高性能光谱仪选用了Andor公司的科研级、制冷型CCD作为光谱探测器件,在400-1000nm范围内进行了响应度优化,最高的量子效率达到60%;芯片的制冷温度达到了-60℃,使得其读出噪声仅为6.2e/count,因而能够满足大部分的弱光光谱探测应用。另有制冷温度更低至-100℃的背感光CCD可选,噪声更低,峰值量子效率高达80%以上;还提供适用于900-1700nm范围内使用的制冷型线阵InGaAs探测器,可用于近红外波段的光谱信号探测。 灵活的光输入结构选择OmniEvo高性能光谱仪采用的是标准的狭缝入口,开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择;通过可以选配光纤作为光输入附件,既可用于单点测量,也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。
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  • Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪功能及特点光谱范围广,灵敏度高,测量精度高;优良的机械和温度稳定性,绝对保证产品的一致性;预留各种接口,兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能,方便集成到系统中 成本低,操作简单,是OEM应用的理想选择 采用超环面影像校准设计,光谱影像校正, 多通道光谱研究的*佳解决方案;出色的杂散光抑制比(5X10-5);双光栅塔台设计,覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围,即插即用,只需零级校正,实验操作更加方便;多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选多种附件可选,包括:滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等;可与光源、探测器自由组合,实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。规格参数表(@1200g/mm光栅)Omni-λ200i系列焦距(mm)200相对孔径F/3.5光学结构C-T扫描步距(nm)0.01杂散光5X10-5焦平面(mm)30 (w)X14 (h)光轴高度(mm)146光栅规格mm50X50光栅台双光栅狭缝规格缝宽0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝。缝高:2、4、14mm可选外形尺寸(mm)300X216X213重量(Kg)14功耗峰值100W@24V通讯接口标配USB2.0规格参数表@不同光栅光栅(g/mm)24001800120060030015075倒线色散(nm/mm)@435.83nm 1.4 2.16 3.58 7.68 15.76 31.89 64.09机械扫描范围(nm)0-6000-8000-12000-24000-48000-96000-19200扫描步距(nm)0.0050.0070.010.020.040.080.16光谱分辨率(nm)@PMT 0.08 0.1 0.15 0.3 0.6 1.2 2.4光谱分辨率(nm)@CCD(15um) 0.106 0.163 0.27 0.58 1.19 2.41 4.84CCD单次摄谱范围(nm)@30mmCCD 42 64.8 107.4 230.4 472.8 956.7 1922.7波长准确度(nm)±0.1±0.14±0.2±0.4±0.8±1.6±3.2波长重复性(nm)0.050.070.10.20.40.81.6注1:分辨率的测试条件为中心波长435.83nm;注2:200i光谱仪,只有侧入口,且CCD只能配置侧出口 注3:CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值,随着中心波长增加,摄谱 范围变窄;注4:随着中心波长的增大,倒线色散数值减小;随着中心波长的减小,倒线色散数值增大。Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪典型型号表型号描述Omni-λ2002i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2003i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2005i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2007i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2015i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅,红外镀膜Omni-λ2017i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅,红外镀膜Omni-λ2045i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅,紫外增强镀膜Omni-λ2047i200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅,紫外增强镀膜注1:本型号系列,为手动狭缝(电动狭缝需要额外选择);注2:本型号系列,需要额外选配光栅,*多可配置2块光栅;注3:本型号系列,不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门,这些附件需要额外选择;注4:更多配置型号,请咨询本公司相关销售。典型光谱仪Omni-λ2003i外形尺寸图:Omni-λ200i入口Omni-λ200i出口 光栅规格型号表5:光栅(本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪)注:凡蓝色的标注的均为常备库存光栅,建议优先选择型号使用范围(nm)光栅刻线(g/mm)闪耀波长(nm)规格尺寸(mm)9-240-240-NP190-600240024050X509-180-400-NP300-800180040050X509-120-300-NP200-600120030050X509-120-500-NP350-1100120050050X509-060-300-NP200-60060030050X509-060-500-NP330-100060050050X509-060-750-NP500-150060075050X509-060-1200-NP800-2400600120050X509-030-300-NP200-60030030050X509-030-500-NP300-100030050050X509-030-1000-NP600-2000300100050X509-030-2000-NP1400-4000300200050X509-030-3000-NP2000-4800300300050X509-015-500-NP330-110015050050X509-015-800-NP400-160015080050X509-015-1000-NP600-2000150100050X509-015-1250-NP800-2500150125050X509-015-2000-NP1100-4000150200050X509-015-3000-NP2200-6000150300050X509-015-4000-NP2500-8000150400050X50光栅规格型号表6:经济型光栅(本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪)注:凡蓝色的标注的均为常备库存光栅,建议优先选择型号使用范围(nm)光栅刻线(g/mm)闪耀波长(nm)规格尺寸(mm)9-120-300200-600120030050X509-120-500350-1100120050050X509-060-300200-60060030050X509-060-500330-100060050050X509-060-750500-150060075050X509-060-1250800-2400600125050X509-030-500330-100030050050X509-030-750450-150030075050X509-030-1250850-2500300125050X509-015-500330-110015050050X509-015-1000600-2000150100050X50典型光栅效率曲线
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  • Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪 特点n 光谱范围广,灵敏度高,测量精准度高;n 优良的机械和温度稳定性,绝对保证产品的一致性;n 预留各种接口,兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能,方便集成到系统中 n 成本低,操作简单,是OEM应用的理想选择 n 采用超环面影像校准设计,光谱影像校正,多通道光谱研究的最佳解决方案n 出色的杂散光抑制比(1*10-5)n 双光栅塔轮设计,覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围,即插即用,只需零级校正,实验操作更加方便;n 多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选n 多种附件可选,包括:滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等n 可与光源、探测器自由组合,实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。 Mercury Light Source 435.83 nmFWHM: 0.15 nmPeak wavelength: 435.80 nmGrating: 1200 l/mm, Blaze@300 nm Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪规格参数表(@1200g/mm光栅)Omni-λ200i焦距(mm)200相对孔径f/3.5光学结构C-T分辨率(nm)-PMT0.15分辨率(nm)-CCD(26um)0.28倒线色散(nm/mm)3.6波长准确度(nm)±0.2波长重复性(nm)±0.1扫描步距(nm)0.01杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×14 (h)光轴高度(mm)146狭缝规格缝宽:0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;缝高:2,4,14mm可选光栅尺寸(mm)50×50光栅台双光栅外形尺寸(mm)300×216×213重量(Kg)14通讯接口USB2.0 光路示意图 Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪选型表型号描述Omni-λ2002i200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2003i200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2005i200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2007i200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅光谱仪内部光学元件可实现镀银、镀金或紫外增强处理等特殊要求,欢迎洽询。 CCD单次摄谱范围型号光栅(g/mm)倒线色散(nm/mm)分辨率(nm)-CCD(26um)分辨率(nm)-PMT 单次摄谱范围(nm)@ 30mm CCDOmni-λ200i360010.10.053024001.40.140.084218002.160.20.16412003.60.280.151089004.960.40.21486007.680.560.323030015.771.120.647315031.892.241.2956★表中3600刻线光栅计算值对应的参考波长为253.65nm,其余刻线光栅计算值对应的参考波长为435.83nm。光栅选型表ModelRange(nm)Grooves(g/mm)Blaze(nm)Size(mm)9-360-180-500-NP180-4003600300(全息)50×509-240-250-800-NP250-6002400300(全息)50×509-240-190-800-NP190-6002400250(全息)50×509-200-300-900-NP300-7202000475(全息)50×509-180-350-900-NP350-8001800500(全息)50×509-180-190-900-NP190-8001800250(全息)50×509-120-190-800-NP190-8001200250(全息)50×509-120-400-1200-NP400-12001200700(全息)50×509-240-240-NP190-600240024050×509-240-300-NP250-600240030050×509-180-400-NP300-800180040050×509-180-500-NP350-800180050050×509-120-250-NP200-500120025050×509-120-300-NP200-600120030050×509-120-400-NP200-1000120040050×509-120-500-NP330-11001200 50050×509-120-750-NP500-1200120075050×509-090-550-NP350-160090055050×509-083-1200-NP700-1700830120050×509-060-300-NP200-60060030050×509-060-500-NP330-1000600 50050×509-060-750-NP500-1500600 75050×509-060-1000-NP650-2200600100050×509-060-1200-NP800-2400600120050×509-060-1600-NP1000-2400600160050×509-030-300-NP200-60030030050×509-030-500-NP300-100030050050×509-030-760-NP450-150030076050×509-030-1000-NP600-2000300100050×509-030-1200-NP800-2200300120050×509-030-2000-NP1400-4000300 200050×509-030-3000-NP2000-4800300300050×509-015-300-NP200-60015030050×509-015-500-NP330-110015050050×509-015-800-NP400-160015080050×509-015-1000-NP600-2000150109050×509-015-1250-NP800-2500150125050×509-015-2000-NP1100-4000150200050×509-015-3000-NP2200-4000150300050×509-015-4000-NP2500-8000150400050×509-0075-8000-NP6000-1600075800050×509-0075-10000-NP6000-18000751000050×509-0070-12000-NP9000-20000751200050×509-0050-12000-NP8000-22000501200050×50 Omni-λ200i 光谱仪入口配件选型: Omni-λ200i 光谱仪出口配件选型: 附件选型表型号描述SD25六档滤光片轮,不含滤光片,可安装滤光片直径:25mmEMSLIT电动狭缝-入射缝OMSLIT电动狭缝-出射缝BFC-441光谱仪光纤束连接器(13mm直径接口)BFC-442光谱仪光纤束连接器(SMA905接口)BFC-443光谱仪光纤束连接器(10mm直径接口)BFC-447谱仪-光纤连接器(适合13mm圆柱接口,10mm圆柱接口,SMA905接口)SHT-9002侧入口可接电子快门 Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪外观尺寸图
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  • “卓立造,中国芯”卓立汉光重磅发布十余款仪器新品
    仪器信息网讯 2024年1月26日, “卓立造,中国芯”——2024年度新品发布会暨卓立汉光25周年系列活动(第一辑)在北辰五洲皇冠国际酒店召开。100余位专家、用户及卓立汉光的相关领导、技术专家等出席活动。特别值得一提的是,该活动在仪器信息网3i讲堂、视频号等多渠道全球同步直播。据不完全统计,超万人次线上参与,引发热烈讨论与交流。新品发布会现场北京卓立汉光仪器有限公司总经理 张志涛致辞苏州惟光探真科技有限公司创始人 刘争晖致辞卓立汉光成立于1999年,以精密位移控制以及光谱仪模块和光谱仪系统为核心,并且为广大的科研和工业客户提供相应的产品和服务。卓立汉光总经理张志涛在致辞中讲到:“今年是卓立汉光成立的25周年,非常感谢在过去的发展历程当中,所有客户对卓立汉光的支持与帮助,以及所有员工对卓立汉光的贡献。未来我们将会继续加大在技术研发和市场应用端的投入,实现卓立汉光下一个腾飞的25年。”苏州惟光探真科技有限公司创始人刘争晖在致辞中谈到了国产仪器目前面临的问题,并就国产科学仪器如何发展壮大与大家进行了探讨。其介绍说,“国产仪器要发展壮大就要欢迎竞争和内卷,关注核心技术,关注软件和应用体验等。”此外,致辞中,刘争晖还就科学仪器转移转化的方式谈了自己的看法。重磅新品揭幕据张志涛介绍,本次发布会推出了十余款新品,主要分成两大类,核心配件及应用系统。其中,核心配件重点突破关键技术,为客户及卓立汉光自身系统开发提供基础保障。比如 Hipers 光谱仪,实现了全球领先的光谱成像效果,将在科研及生命科学应用发挥重大作用;应用系统以解决客户需求为目的,提供最终解决方案。比如高光谱系列智能一体机,实现数据的收集、分析、输出的一体化设计,方便客户使用。接下来的会议日程依次为大家揭晓了本次发布会的新产品和相关解决方案,包括HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪、Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机、FI-RIR便携式红外拉曼一体机、2μm 掺铥光纤激光器、高能量连续可调衰减器、TL-900 热释光测试系统、T-lab系列通用型条纹相机、可见光分幅相机、CS系列30mm笼式组件、无线温振传感器等,并在现场进行了真机展示。一直以来,卓立汉光深耕科学仪器行业,而此次新品的集中发布就特别彰显了科学仪器的“中国力量”!据介绍,本次发布会推出的HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪、Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机等已经实现国产替代,甚至超越国外品牌。Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机(左)、HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪(右)第一排:Omni-λ300s”影像谱王”光栅光谱仪/光谱仪(左)、FI-RIR便携式红外拉曼一体机(右);第二排:超快时间分辨光谱测试系统(左)、超快高速成像-分幅相机(右)第一排:GaiaSmart系列高光谱成像仪(左)、高光谱激光雷达热红外一体机-GaiaSky-Lidar(中)、无人机载日光诱导叶绿素荧光系统GaiaSky-Fluo(右);第二排: 像素级控光影像整机(左)、高能量连续可变偏振分光器(中)、CS系列30mm笼式组件(右)第一排:无线分体式温振传感器VA350_ICP(左)、无线温振传感器VA325(中)、NB-loT无线温振传感器VA525(右);第二排:无线网关BS910、BS913(左)、VT108无线温湿度监控器和VT112温湿度监控终端(中)、全自动微区光电系统(右)第一排:北京必创科技股份有限公司产品经理 邱航(左)、无锡必创测控科技有限公司副总经理及研发负责人 姚先华(右);第二排:北京清智元视科技有限公司首席执行官 胡成洋(左)、北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家 覃冰(右)北京必创科技股份有限公司产品经理邱航分享了设备状态监测产品及解决方案;无锡必创测控科技有限公司副总经理及研发负责人姚先华介绍了实验室冷链安全监测产品及方案;北京清智元视科技有限公司首席执行官胡成洋对新品“像素级控光影像整机”—MetaCam进行详细讲解;北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家覃冰对TL-900热释光测试系统和基于振镜的FLIM系统进行详细介绍。北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家 吴京航(左)、湖北众韦光电科技有限公司 蔡梦豪(中)、江苏双利合谱科技有限公司总经理 张永强(右)北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家吴京航介绍了超快时间分辨光谱与高速成像产品;湖北众韦光电科技有限公司蔡梦豪分享了全自动微区光电系统;江苏双利合谱科技有限公司总经理张永强详细讲解了多种类高光谱智能一体机系统。北京卓立汉光仪器有限公司项目经理 佟飞(左)、无锡中镭光电科技有限公司研发总监 王旭(中)、北京卓立汉光仪器有限公司激光产品服务部总经理 张瑞宝(右)北京卓立汉光仪器有限公司项目经理佟飞介绍了全焦面影像校正光谱仪;无锡中镭光电科技有限公司研发总监王旭介绍了2μm波段光纤激光器新品;北京卓立汉光仪器有限公司激光产品服务部总经理张瑞宝分享了高能量连续可调衰减器。北京卓立汉光仪器有限公司工业分析仪器事业部总经理 李敏(左)、北京卓立汉光仪器有限公司光机机械工程师 曹佳宝(中)、北京卓立汉光仪器有限公司光色测量事业部总经理 韩莉(右)北京卓立汉光仪器有限公司工业分析仪器事业部总经理李敏讲解了便携式红外-拉曼检测系统;北京卓立汉光仪器有限公司光机机械工程师曹佳宝讲解了CS系列30mm笼式结构组件;北京卓立汉光仪器有限公司光色测量事业部总经理韩莉带来了发光材料及器件光色电综合测试方案。相关新产品的详细特点和性能优势请查看仪器信息网的视频回放。北京大学副研究员 洪浩(左)、中国科学院化学研究所研究员 张贞(中)、中国海洋大学副教授 夏呈辉(右)除了优秀产品重磅推出与技术干货倾情分享外,本次活动还诚邀业内重要专家现场分享,共话光电新品与未来。其中,北京大学副研究员洪浩以《二维材料界面非线性光学调控》为题进行报告分享;中国科学院化学研究所研究员张贞以《复杂界面分子结构非线性光谱研究》为题展开讨论;中国海洋大学副教授夏呈辉进行《多功能半导体铜基疏化物纳米晶体的精准制备及光电性质研究》的主题报告。北京卓立汉光仪器有限公司销售经理 刘沫主持活动合影留念25年的积累、25年的沉淀,25年的风雨兼程,卓立汉光在国产替代的道路上砥砺前行。25周年,也必将是一个新起点,就像张志涛在致辞中介绍的:2024年不光是卓立汉光成立25周年的重要时刻,也将定义为卓立汉光进军国际市场、打造国际知名品牌的元年。据悉,本次发布会是卓立汉光25周年庆典的一个开端,后面将展开卓立25周年的质量万里行回馈客户活动、逐梦光电﹣卓立汉光25周年特别用户研讨会、贯穿全年度的线上名师讲堂活动、线下区域性的用户交流活动等一系列的市场宣传和客户回馈活动,敬请期待!虎啸龙吟展宏图,2024甲辰龙年是卓立汉光的25周年,也是卓立汉光和仪器信息网携手同行的16年,更是品牌合作伙伴加深合作的新一年,期待双方强强联手,合作共赢!活动直播过程中,仪器信息网的3i讲堂和视频号分别为参会代表准备了有奖问答、红包雨等系列惊喜,现场氛围热烈非凡,更多精彩内容请查看:
  • 日立分光光度计衍射光栅技术
    日立分光光度计的衍射光栅技术 衍射光栅覆盖了从软X射线到远红外的各种波长,扩展了光谱仪中光学元件的应用领域。日立的衍射光栅在全球多个领域获得了高度评价。比如日本的国立基础生物学研究所的冈崎教授使用90cm*90cm的衍射光栅(刻有36条15cm*15cm的光栅格子)实现了一种人造彩虹,其强度是赤道处太阳光的20倍。此外,美国宇航局发射的探测卫星的极紫外分光光度计采用了日立变间距平面和凹面衍射光栅。 衍射光栅的原理图1衍射光栅衍射的过程衍射光栅是各种光学仪器的核心部件,是一种色散元件,可以将混合了不同波长的光(白光)分成单个波长的光(单色光)。其原理是根据衍射现象将入射处的白光分成不同波长的光,因此单色器中常用光栅作为色散元件。在单色器中,夹缝通常设置在光栅后面,选取特定波长的单色光。在凹面衍射光栅中,一般每毫米有几百或几千个凹槽,如图2所示。图2 凹面衍射光栅 光栅刻划机光栅刻划技术是世界上一种罕见的技术之一,使用机刻光栅能够制造出高质量的单色器。日立优异的衍射光栅刻制技术,能够将光栅刻槽精确到nm级别。光栅刻划机一般使用金刚石刀具,这样制作的光栅衍射效率高,同时凹槽设计具有像差校正功能。详细光栅种类和应用信息请参考:https://www.instrument.com.cn/netshow/sh102446/down_917717.htm 总结日立开发的反射平面光栅和凹面光栅致力于满足前沿科学领域的需求,丰富的产品线能够适应多样化的实际应用。
  • 了解球差校正透射电镜,从这里开始
    p   作者:Mix + CCL br/ /p p & nbsp & nbsp & nbsp strong 前言: /strong /p p   球差校正透射电镜(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高分辨率配合诸多分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。本期我们将给大家介绍何为球差,ACTEM的种类,球差的优势,何时才需要ACTEM、以及如何为ACTEM准备你的样品。最后我们会介绍一下透射电镜的最前沿,球差色差校正透射电镜。 /p p    strong 什么是球差: /strong /p p   100 kV的电子束的波长为0.037埃,而普通TEM的点分辨率仅为0.8纳米。这主要是由TEM中磁透镜的像差造成的。球差即为球面像差,是透镜像差中的一种。其他的三种主要像差为:像散、彗形像差和色差。透镜系统,无论是光学透镜还是电磁透镜,都无法做到绝对完美。对于凸透镜,透镜边缘的会聚能力比透镜中心更强,从而导致所有的光线(电子)无法会聚到一个焦点从而影响成像能力。在光学镜组中,凸透镜和凹透镜的组合能有效减少球差,然而电磁透镜却只有凸透镜而没有凹透镜,因此球差成为影响TEM分辨率最主要和最难校正的因素。此外,色差是由于能量不均一的电子束经过磁透镜后无法聚焦在同一个焦点而造成的,它是仅次于球差的影响TEM分辨率的因素。 /p p style=" text-align: center" img style=" width: 450px height: 246px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/565984ed-0352-4b62-8539-a16db18b6f6b.jpg" title=" 1.jpg" height=" 246" hspace=" 0" border=" 0" vspace=" 0" width=" 450" / /p p style=" text-align: center " strong 图1:球差和色差示意图 /strong /p p 自TEM发明后,科学家一直致力于提高其分辨率。1992年德国的三名科学家Harald Rose (UUlm)、Knut Urban(FZJ)以及Maximilian Haider(EMBL)研发使用多极子校正装置(图3)调节和控制电磁透镜的聚焦中心从而实现对球差的校正(图4),最终实现了亚埃级的分辨率。被称为ACTEM三巨头的他们也获得了2011年的沃尔夫奖。多极子校正装置通过多组可调节磁场的磁镜组对电子束的洛伦茨力作用逐步调节TEM的球差,从而实现亚埃级的分辨率。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/2080a2cf-4ab3-41ab-b731-7719f0c32d28.jpg" title=" 2.jpg" / /p p style=" text-align: center "   strong  图2 三种多极子校正装置示意图 /strong /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/090bb4c0-aeea-4ab4-8601-79bcf74b7c8e.jpg" title=" 3.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 图3 球差校正光路示意图 /strong /p p    strong ACTEM的种类: /strong /p p   我们在前期TEM相关内容已经介绍了透镜相关内容,TEM中包含多个磁透镜:聚光镜、物镜、中间镜和投影镜等。球差是由于磁镜的构造不完美造成的,那么这些磁镜组都会产生球差。当我们矫正不同的磁透镜就有了不同种类的ACTEM。回想一下STEM的原理,当我们使用STEM模式时,聚光镜会聚电子束扫描样品成像,此时聚光镜球差是影响分辨率的主要原因。因此,以做STEM为主的TEM,球差校正装置会安装在聚光镜位置,即为AC-STEM。而当我们使用image模式时,影响成像分辨率的主要是物镜的球差,此种校正器安装在物镜位置的即为AC-TEM。当然也有在一台TEM上安装两个校正器的,就是所谓的双球差校正TEM。此外,由于校正器有电压限制,因此不同的型号的ACTEM有其对应的加速电压,如FEI TITAN 80-300就是在80-300 kV电压下运行,也有专门为低电压配置的低压ACTEM。 /p p    strong 球差校正电镜的优势: /strong /p p   ACTEM或者ACSTEM的最大优势在于球差校正削减了像差,从而提高了分辨率。传统的TEM或者STEM的分辨率在纳米级、亚纳米级,而ACTEM的分辨率能达到埃级,甚至亚埃级别。分辨率的提高意味着能够更“深入”的了解材料。例如:最近单原子催化很火,我们公众号也介绍了大量相关工作。为什么单原子能火,一个很大的原因是电镜分辨率的提高,使得对单原子的观察成为可能。浏览这些单原子催化相关文献,几乎无一例外都用到了ACTEM或者ACSTEM。这些文献所谓的“单原子催化剂”,可能早就有人发现,但是因为受限于当时电镜分辨率不够,所以没能发现关键的催化活性中心。正是因为球差校正的引入,提高了分辨率,才真正揭示了这一系列催化剂的活性中心。 /p p    strong 何时才需要用球差校正电镜呢? /strong /p p   虽然现在ACTEM和ACSTEM正在“大众化”,但是并非一定要用这么高大上的装备。如果你想观察你的样品的原子级结构并希望知道原子的元素种类(例如纳米晶体催化剂等),ACSTEM将会是比较好的选择。如果你想观察样品的形貌和电子衍射图案或者样品在TEM中的原位反应,那么物镜校正的ACTEM将会是更好的选择。就纳米晶的合成而言,球差校正电镜常用来揭示纳米材料的细微结构信息。比如合成一种纳米核壳材料,其中壳层仅有几个原子层厚度,这个时候普通电镜下很难观察到,而球差电镜则可以拍到这一细微的结构信息(请参见夏幼男教授的SCIENCE,349,412)。 /p p    strong 如何为ACTEM准备你的样品: /strong /p p   首先如果没有合作的实验室的帮助,ACTEM的测试费用将会是非常昂贵的。因此非常有必要在这里介绍如何准备样品。在测试之前最好尽量了解样品的性质,并将这些信息准确地告知测试者。其中我认为先用普通的高分辨TEM观察样品是必须的,通过高分辨TEM的预观察,你需要知道并记录以下几点:一、样品的浓度是否合适,目标位点数量是否足量 二、确定样品在测试电压下是否稳定并确定测试电压,许多样品在电子束照射下会出现积累电荷(导电性差)、结构变化(电子束的knock-on作用)等等 三、观察测试目标性状,比如你希望测试复合结构中的纳米颗粒的原子结构,那么必须观察这些纳米颗粒是否有其他物质包覆等,洁净的样品是实现高分辨率的基础 四、确定样品预处理的方式,明确样品测试前是否需要加热等预处理。五、拍摄足量的高分辨照片,并标注需要进一步观察的特征位点。在ACTEM测试中,与测试人员的交流非常重要,多说多问。 /p p    strong 球差色差校正透射电镜: /strong /p p   球差校正器经过多年的发展,在最新的五重球差校正器的帮助下,人类成功地将球差对分辨率的影响校正到小于色差。只有校正色差才能进一步提高分辨率,于是球差色差校正透射电镜就诞生了。我们欣赏一下放置在德国Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO双球差物镜色差校正TEM (300 kV分辨小于0.5埃)以及德国乌尔姆大学的TitanG3 20-80 SALVE 低电压物镜球差色差校正TEM (20 kV 分辨率小于1.4埃)。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/04b96c4d-c6fe-40d2-85c0-b86ce091e6e8.jpg" title=" 4.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 图4 Titan G3 50-300 PICO、TitanG3 20-80 SALVE及其矫正器 /strong /p

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  • 影像仪校正标定玻璃板 其他配件
    校正片玻璃/影像测量仪专用校正片/二次元校正片|标定板|测微尺 专业用于测量仪器在测量的时候进行标准化校准,仪器校准后方可测量,得到准确的数值,对于PCB,五金电镀,2次元,3次元,显微镜,贴片机等测量,定位仪器起到很重要的作用。专业用于测量仪器在测量的时候进行标准化校准。即仪器测量工件前对仪器进行校对,以此标准片作为标准样品,根据距离对应关系,来得到标准数值。仪器校准后方可进行测量,得到准确数值。对于PCB,五金电镀,二次元,三次元,显微镜,贴片机等测量,定位仪器起到很重要的作用。 特点:准确的标定,校验仪器的精度。规格:50mm*50mm、63mm*63mm(可订做)
  • 太赫兹元件 太赫兹光栅 太赫兹衍射光栅
    Tydex生产的衍射光栅用于太赫兹频率范围的光谱测量。它们是凸面相位传输光栅。这种光栅的规则结构是通过在透明衬底上切割平行的破折号(凹槽)来实现的。衬底由太赫兹范围内透明的材料制成,如TPX(聚甲基戊烯)和ZEONEX(环烯烃聚合物)。光栅可用于:• 太赫兹光谱 • 太赫兹诊断仪器 • 光电设备 • 天文学和天体物理应用,包括天基 • 材料研究。光栅在0.3-3太赫兹范围内的以下传输频段有四个标准选项:0.28-0.55太赫兹 0.49 - -0.98太赫兹 0.87 - -1.75太赫兹 1.56 - -3.12太赫兹。其他频段0.3-3太赫兹范围内的光栅可根据客户要求生产。TPX和ZEONEX板在切割槽前的两侧抛光后的透射光谱如下图所示。 太赫兹光栅通常做成方形,一面35毫米到70毫米。其他形状和尺寸可根据需要提供。根据预期的应用,衍射光栅可以用于各种光学安排,有或没有聚光透镜。用夫琅禾费近似法计算了单色波的光栅参数、衍射波强度和一阶最大角。为了验证操作,并比较计算和实际参数,测量了光栅在不同太赫兹辐射源下的各种光学排列方式下的特性。使用了两个光源。第一种是远红外激光,这是一种亚毫米的甲醇蒸汽激光,由可调谐的CO2激光(Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University)泵浦。第二个是自由电子激光器(FEL),一种自由电子激光器(Siberian Synchrotron and THz Radiation Center, Budker Institute of Nuclear Physics, RAS)。图3和图4描绘了使用FIR激光器作为辐射源时,间距d=250 μm的TPX和ZEONEX光栅的单色波强度(λ=118 μm)与衍射角的关系。图5和图6给出了单色波的强度(λ=141 μm)对衍射角的影响。在第二种情况下,一个会聚透镜被放置在光栅和辐射传感器之间。这些图的比较表明,在第一种情况下,零阶和一阶极大值比透镜排列更宽。这是由会聚透镜使平行光束聚焦的结果。用户在根据自己的意图设计实验时,必须考虑到这一点。当光栅用于研究辐射源的特性(功率、光束形状、能量分布等)时,透镜是多余的。但当光谱线需要分辨时,透镜就变得必不可少。对于使用瑞利准则确定特定透射带的衍射光栅,衍射单色波的强度与波长有关。它在山脉中部达到最大值,在边界附近下降。例如,数据3-6结果表明,对于间距为250 μm的TPX和ZEONEX衍射光栅(透射波段为1.56 ~ 3.12 THz或96 ~ 192 μm), λ=141 μm单色波的一阶最大光强是λ=118 μm单色波的几倍。(第一个在传输带的中间,而第二个更接近边缘。)它与用夫琅和费近似计算的单色波理论衍射波强度和一阶最大角相匹配。由于测试光栅时使用的辐射源和光学安排不同,下面的强度以任意单位给出。研究数据表明,该方法具有较高的光学效率和运算最大值的分辨率。因此,这种光栅可以有效地用于研究辐射源的光谱,包括低功率源,这是研究太赫兹频率范围的一个重要能力。
  • 太赫兹衍射光栅,太赫兹光栅,THz Diffraction Gratings
    产品简介:Tydex推出的新产品太赫兹衍射光栅用于太赫兹频率范围的光谱测量。它们是凸面相位透射型光栅。这种光栅的规则结构是通过在透明衬底上切割平行的凹槽来实现的。衬底由太赫兹波段的透明材料制成,如TPX(聚甲基戊烯)和ZEONEX(环烯烃聚合物)。太赫兹衍射光栅应用:• 太赫兹光谱 • 太赫兹诊断仪器 • 光电设备 • 天文学和天体物理应用,包括天基 • 材料研究。太赫兹衍射光栅性能特点:在0.3-3THz范围内,我们有四个太赫兹光栅的标准产品选项:0.28-0.55THz 0.49 - -0.98THz 0.87 - -1.75THz 1.56 - -3.12THz。其他频段0.3-3THz范围内的光栅可根据客户要求生产。TPX和ZEONEX板在切割槽前的两侧抛光后的透射光谱如下图所示。太赫兹光栅通常做成方形,变长一般为35mm到70mm。其他形状和尺寸可根据需要提供。根据预期的应用,太赫兹衍射光栅可以用于各种有或没有聚焦透镜的太赫兹光学实验。我们用夫琅禾费近似法计算了单色波的光栅参数、衍射波强度和一阶最大角。为了验证操作,并比较模拟计算和实际测量参数,我们测量了太赫兹光栅在不同太赫兹辐射源下de特性。使用了两个光源。第一种是远红外激光,这是一种亚毫米的甲醇蒸汽激光,由可调谐的CO2激光(Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University)泵浦。第二个是自由电子激光器(FEL),一种自由电子激光器(Siberian Synchrotron and THz Radiation Center, Budker Institute of Nuclear Physics, RAS)。图3和图4描绘了使用FIR激光器作为辐射源时,间距d=250 μm的TPX和ZEONEX光栅的单色波强度(λ=118 μm)与衍射角的关系。图5和图6给出了单色波的强度(λ=141 μm)对衍射角的影响。在第二种情况下,一个会聚透镜被放置在光栅和辐射探测器之间。这些图的比较表明,在第一种情况下,零阶和一阶极最大值比有透镜的光路更宽。这是由会聚透镜使平行光束聚焦的结果。用户在根据自己的意图设计实验时,必须考虑到这一点。当光栅用于研究辐射源的特性(功率、光束形状、能量分布等)时,透镜是多余的。但当光谱线需要分辨时,透镜就变得必不可少。对于使用瑞利判据确定特定透射带的衍射光栅,衍射单色波的强度与波长有关。它在曲线中部达到最大值,在边界附近下降。例如,数据3-6结果表明,对于间距为250 μm的TPX和ZEONEX衍射光栅(透射波段为1.56 ~ 3.12 THz或96 ~ 192 μm), λ=141 μm单色波的一阶最大光强是λ=118 μm单色波的几倍。(第一个在传输带的中间,而第二个更接近边缘。)它与用夫琅和费近似计算的单色波理论衍射波强度和一阶最大角相匹配。由于测试光栅时使用的辐射源和光学实验配置不同,下面的强度以任意单位给出。研究数据表明,该方法具有较高的光学效率和运算最大值的分辨率。因此,这种光栅可以有效地用于研究辐射源的光谱,包括低功率源,这是研究太赫兹频率范围的一个重要能力。
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