透射电子显微镜透射电镜

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透射电子显微镜透射电镜相关的厂商

  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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  • 400-860-5877
    日本电子株式会社(JEOL)是世界顶级科学仪器制造商.50年来坚持为科学探索和技术进步提供最佳设备和解决方案.其产品广泛用于医学、生物、生化、农业、材料科学、冶金、化学、石油、制药、半导体和电子器件等领域的研究中。对这些学科的发展做出了卓越贡献。主要产品有透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描探针显微镜、电子探针、核磁共振谱仪、质谱、电子自旋共振谱仪、能谱、X荧光光谱仪等大型尖端设备。 日本电子株式会社在中国的第一个电镜用户时中科院武汉病毒所,该单位于1956年购买了我公司的透射电镜,到现在为止,日本电子株式会社在中国已经有超过2000个用户。 2010年,日本电子株式会社在中国成立了独立法人的全资子公司--捷欧路(北京)科贸有限公司,将销售和售后进一步规整统一,实现了产供销服一体化。
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  • 欧波同集团成立于2003年,是一家材料分析数字化解决方案服务商。旗下拥有科学仪器、智慧实验室、第三方检测、技术服务等业务板块。欧波同坚持“让实验更简单”的发展主线,充分掌握计算机视觉和图像识别技术,实现AI技术和工业分析技术的跨界融合,帮助中国企业在世界级竞争中取得成功。为世界材料分析贡献中国力量!SEM扫描电子显微镜、双束聚焦离子束显微镜、赛默飞扫描电镜、场发射扫描电镜、聚焦离子束电镜、赛默飞双束电镜、台式扫描电镜、FEI扫描电镜、FIB扫描电镜、FIB双束电镜、TEM透射电镜、球差电镜、工业三维扫描仪、氩离子抛光测试及制样设备中国区授权代理商,旗下拥有国际贸易、行业解决方案研发、第三方技术服务、融资租赁等业务板块。
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透射电子显微镜透射电镜相关的仪器

  • 专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。最近,该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪,进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时,该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置,可以以后加配球差校正进行升级。 特点 高分辨率扫描透射电子显微镜成像 HAADF-STEM图像0.136nm,FFT图像0.105nm(高分辨率镜头(*)) HAADF-STEM图像0.144nm(标准镜头) 明场扫描透射电子显微镜图像0.204nm(w/o球差校正仪) 高速,高灵敏度能谱分析:探针电流× 10倍 元素面分布更迅速及时 低浓度元素检测 操作简化 自动图像对中功能 从样品制备到观察分析实现无缝连接 样品杆与日立聚焦离子束系统兼容 配有各种选购件可执行各种评估和分析操作 同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布(*) 和DF/EELS面分布(*)图像。 低剂量功能(*)(有效降低样品的损伤和污染) 高精度放大校准和测量(*) 实时衍射单元(*)(同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案) 采用三维微型柱旋转样品杆(360度旋转)(*),具有自动倾斜图像获取功能。 ELV-3000即时元素面分布系统(*)(同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像)(*) 选购件技术指标 HD-2700球差校正扫描式透射电子显微镜项目描述图像分辨率w/o球差校正仪保证 0.204nm(当放大倍数为4,000,000时)w球差校正仪保证 0.144 nm(当放大倍数为7,000,000时)(标准镜头)保证 0.136nm(HAADF图像) 保证0.105 nm(通过FFT)(当放大倍数为7,000,000时)(高分辨率镜头(*))放大倍数100倍 至 10,000,000倍加速电压200 kV, 120 kV (*)成像信号明场扫描透射电子显微镜:相衬图像(TE图像) 暗场扫描透射电子显微镜:原子序数衬度图像(Z衬度图像) 二次电子图像(SE图像) 电子衍射(*) 特征X射线分析和面分布(能谱分析)(*) 电子能量损失谱分析和面分布(EV3000)(*)电子光学系统电子源肖特基发射电子源冷场致发射器(*)照明透镜系统2-段聚光镜镜头球差校正仪(*)六极镜头设计扫描线圈2-段式电磁感应线圈原子序数衬度收集角控制投影镜设计电磁图像位移± 1 &mu m试片镜台样品移动X/Y轴 = ± 1 mm, Z轴 = ± 0.4 mm样品倾斜单轴-倾斜样品杆:± 30° (标准镜头), ± 18° (高分辨率镜头(*))真空系统 3个离子泵,1个TMP极限真空10-8 Pa(电子枪), 10-5 Pa(样品室)图像显示个人电脑/操作系统PC/AT兼容, Windows® XP监视器19-inch液晶显示器面板图像帧尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素扫描速度快扫,慢扫(0.5至320秒/帧)自动数据显示记录序号,加速电压,下标尺,日期,时间 (*) 选购件
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  • 国仪量子 场发射透射电子显微镜 TH-F120 TH-F120取名源自中华名山“太行”(TH),寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。产品特点肖特基场发射电子枪平行束/会聚束自适应切换照明系统对称式极靴、恒功率物镜 (高衬度/高分辨模式可选)高像素CMOS相机四轴高精度样品台全中文软件交互界面产品优势人机分离 电镜空间与工作空间分离,减少人为干扰,提升安全性,带来舒适的使用体验高效操作各模块控制高度集成至PC端,全中文软件交互界面一目了然,提升操作效率越级体验将场发射电子枪、高自动化系统等配置120 kV平台,入门即高配丰富拓展预设充足的附件加装接口以及整机升级空间,满足用户使用新需求,有效应对多样的应用场景产品参数 高衬度版高分辨版加速电压10~120 kV10~120 kV信息分辨率0.20 nm0.14 nm点分辨率0.36 nm0.30 nm放大倍率10~1,200,000 x10~1,500,000x主相机像素4096×40964096×4096样品台倾转角-90 °~+90 °-70 °~+70 °支持拓展EDS、STEM、侧插式相机、EELS、插入式冷冻盒
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  • Talos F200i S/TEM 产品描述更高生产率和灵活性 — 支持更多材料科学应用 用于高分辨率成像和分析应用的Thermo Scientific Talos F200i 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 现可提供对称布置的双100 mm2 Racetrack 检测器“( Dual-X”),以提高分析通量。 Thermo ScientificTM TalosTM F200i S/TEM 为 20-200 kV 场发射扫描/透射电子显微镜,专为提高各种材料科学样品和应 用的分析性能和生产率而设计。其标准 X-TWIN 物镜极靴间距——可赋予应用灵活性——结合高再现性镜筒设计,可支持高分辨率 2D 和 3D 表征分析、原位动态观察及衍射应用。同时,Talos F200i 还 配备了 4k × 4k Ceta 16M 相机,可在 64 位平台上提供大 视野、高灵敏度快速成像。您可根据自身需求选择适宜的 EDS 可加装各类的能谱探头,从单 30 mm2 到双 100 mm2 特点与用途关键优势 双 EDS 技术可实现。从单 30 mm2 探头到可实现高通量 (或低剂量)分析的双 100 mm2 探头,可根据您的需求 选择理想的 EDS 高质量 S/TEM 图像和准确的 EDS。借助创新直观的 Velox 软件用户界面,可通过极其简单的操作方法,获得 高质量 TEM 或 S/TEM 图像。Velox 软件内置的特有的 EDS 吸收校准功能可实现精确的定量分析 全方位原位分析功能。加装三维重构或原位分析 样品杆。高速相机、智能软件和我们的大 X-TWIN 物镜间 距可实现 3D 成像和原位数据采集,同时可避免分 辨率和分析能力的损失 提高生产效率。超稳定镜筒,借助 SmartCam 和恒定功率 物镜实现的远程操作,用于快速的模式和高压切换。轻松 快速切换,适用于多用户环境 可重复性的数据。所有日常 TEM 合轴(例如,聚焦、 共心高度调节、电子束偏转、聚光镜光阑器对中、电子束 倾斜和旋转中心)自动完成,确保每次开始使用时都具有优质的成像条件。实验可反复重现,使您可以更多关注研 究工作本身,而非所用设备 高速大视野成像。4k × 4k Ceta CMOS 相机具有大视野, 能够在整个高压范围实现高灵敏度、高速数码缩放 紧凑型设计。本设备具有更小的尺寸和占地面积,有助于 在更具挑战性的空间内安装,同时降低安装和支持成本 产品参数TEM 线分辨率 ≤0.10 nm TEM 信息分辨率 ≤0.12 nm LACBED 会聚角可至 ≥100 mrad 衍射角可至 24°STEM 分辨率 ≤0.16 nm EDS 侧插式,可伸缩 电子枪类型 场发射枪或高亮度场发 样品操作 Z 轴运动总行程 (标准样品杆) ±0.375 mm α 倾转角可至(三维重构样 品杆) (高视野样品杆) ±90° 样品漂移 (标准样品杆) ≤0.5 nm/min
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透射电子显微镜透射电镜相关的资讯

  • 一文看懂透射电子显微镜TEM
    p   透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。 /p p   strong  1 背景知识 /strong /p p   在光学显微镜下无法看清小于0.2微米的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达0.2纳米。 /p center p style=" text-align:center" img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/e4bcd2dc67574096b089e3a428a72210_th.jpeg" height=" 316" width=" 521" / /p /center p style=" text-align: center " strong 电子束与样品之间的相互作用图 /strong /p p & nbsp & nbsp & nbsp 来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书] /p p   透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。 /p p    strong 2 TEM系统组件 /strong /p p   TEM系统由以下几部分组成: /p p   电子枪:发射电子。由阴极,栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速和加压的作用。 /p p   聚光镜:将电子束聚集得到平行光源。 /p p   样品杆:装载需观察的样品。 /p p   物镜:聚焦成像,一次放大。 /p p   中间镜:二次放大,并控制成像模式(图像模式或者电子衍射模式)。 /p p   投影镜:三次放大。 /p p   荧光屏:将电子信号转化为可见光,供操作者观察。 /p p   CCD相机:电荷耦合元件,将光学影像转化为数字信号。 /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/077c0e70dca94509a9990ee4bf72b7c8_th.jpeg" height=" 359" width=" 358" / /center p style=" text-align: center " strong 透射电镜基本构造示意图 /strong /p p & nbsp & nbsp & nbsp 来源:中科院科普文章 /p p    strong 3 原 理 /strong /p p   透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致,都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品,光束透过样品后进入物镜,由物镜会聚成像,之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛,而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。 /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/e9d4e63ae7de44bdb90ac7b937a15169_th.jpeg" height=" 333" width=" 422" / /center p style=" text-align: center " strong 电镜和光镜光路图及电镜物镜成像原理 /strong /p p & nbsp & nbsp & nbsp 来源:中科院科普文章 /p p    strong 4 样品制备 /strong /p p   由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息,因而样品必须要足够薄,使电子束透过。 /p p   试样分类:复型样品,超显微颗粒样品,材料薄膜样品等。 /p p   制样设备:真空镀膜仪,超声清洗仪,切片机,磨片机,电解双喷仪,离子薄化仪,超薄切片机等。 /p p    /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/57ee42cd8391437292cd04cc7bd24694_th.jpeg" height=" 296" width=" 406" / /center p style=" text-align: center " strong 超细颗粒制备方法示意图 /strong /p p & nbsp & nbsp & nbsp 来源:公开资料 /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/2ddf2c80dbe34a069bc51a3595a55160_th.jpeg" height=" 325" width=" 404" / br/ strong 材料薄膜制备过程示意图 /strong /center p   来源:公开资料 /p p   strong  5 图像类别 /strong /p p    strong (1)明暗场衬度图像 /strong /p p   明场成像(Bright field image):在物镜的背焦面上,让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。 /p p   暗场成像(Dark field image):将入射束方向倾斜2θ角度,使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。 /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/c458ccf5fa5c4ffa9cb948e2d28b76b0.png" height=" 306" width=" 237" / br/ strong 明暗场光路示意图 /strong /center center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/701e2e4343ea4409b3afdd92e1717804.jpeg" height=" 318" width=" 294" / br/ strong 硅内部位错明暗场图 /strong /center p   来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书] /p p    strong (2)高分辨TEM(HRTEM)图像 /strong /p p   HRTEM可以获得晶格条纹像(反映晶面间距信息) 结构像及单个原子像(反映晶体结构中原子或原子团配置情况)等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。 /p p    /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/264c1d9b2f454ea9b8aa548033200a33.png" height=" 312" width=" 213" / /center p style=" text-align: center " strong HRTEM光路示意图 /strong /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/d53de1201a4e41948d4d095401c3dc3b.jpeg" height=" 234" width=" 321" / br/ strong 硅纳米线的HRTEM图像 /strong /center p   来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书] /p p    strong (3)电子衍射图像 /strong /p p   选区衍射(Selected area diffraction, SAD): 微米级微小区域结构特征。 /p p   会聚束衍射(Convergent beam electron diffraction, CBED): 纳米级微小区域结构特征。 /p p   微束衍射(Microbeam electron diffraction, MED): 纳米级微小区域结构特征。 br/ /p p    /p center p style=" text-align:center" img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/f6fc1e403ef74234af93d4f9979429cd.png" height=" 296" width=" 227" / /p p strong 电子衍射光路示意图 /strong /p /center p   来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书] /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/b0631c33d4b44f10bf9bdb0f908830c5.png" height=" 174" width=" 173" / /center p style=" text-align: center " strong 单晶氧化锌电子衍射图 /strong /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/2ac3b6fb7b03421096ee3af0790b9acb.png" height=" 174" width=" 175" / /center p style=" text-align: center " strong strong 无定形氮化硅电子衍射图 /strong /strong /p center img alt=" " src=" http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/02f2f6c3980a4450a36bc7bbc36f10e5.png" height=" 174" width=" 170" / br/ strong 锆镍铜合金电子衍射图 /strong /center p   来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书] /p p    strong 6 设备厂家 /strong /p p   世界上能生产透射电镜的厂家不多,主要是欧美日的大型电子公司,比如德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI公司,日本的日立(Hitachi)等。 /p p    strong 7 疑难解答 /strong /p p    strong TEM和SEM的区别: /strong /p p   当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息,透射电镜收集透射电子的信息。 /p p   SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面 TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。 /p p    strong 简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理: /strong /p p   单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。 /p p   多晶面的衍射花样为各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或者照相底片的相交线,为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面,与Ewald球的相贯线为圆环,因此样品各晶粒{hkl}晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴,2θ为半锥角的衍射圆锥,不同晶面族衍射圆锥2θ不同,但各衍射圆锥共顶、共轴。 /p p   非晶的衍射花样为一个圆斑。 /p p   strong  什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别? /strong /p p   晶体试样在进行电镜观察时,由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同,满足布拉格条件的程度不同,使得对应试样下表面处有不同的衍射效果,从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布,这样形成的衬度称为衍射衬度。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的,适用于对复型膜试样电子图象做出解释。 /p p    strong 8 参考书籍 /strong /p p   《电子衍射图在晶体学中的应用》 郭可信,叶恒强,吴玉琨著 /p p   《电子衍射分析方法》 黄孝瑛著 /p p   《透射电子显微学进展》 叶恒强,王元明主编 /p p   《高空间分辨分析电子显微学》 朱静,叶恒强,王仁卉等编著 /p p   《材料评价的分析电子显微方法》 (日)进藤大辅,及川哲夫合著,刘安生译。 /p p   来源:中国科学院科普文章《透射电子显微镜基本知识介绍》 /p
  • 承鸿鹄之志,造大国电镜!首台国产商业场发射透射电子显微镜发布
    1月20日,广州慧炬科技有限公司成功举办“承鸿鹄之志,造大国电镜”新品发布会,正式发布首台国产商业场发射透射电子显微镜“太行”TH-F120。标志着我国已掌握透射电镜整机研制能力以及电子枪、高压电源、电子探测相机等核心技术。该产品将打破国内透射电镜100%依赖进口的局面,为我国在材料科学、生命科学、化学、物理等前沿科学以及半导体工业、锂电新能源材料等先进制造业领域的高质量发展提供有力支撑。  中国科学院院士饶子和、中国科学院院士隋森芳、中国科学院院士徐涛,以及来自全国学界、业界相关领域的60余位专家出席本次发布会。  院士大咖云集!共见首台国产商业场发射透射电子显微镜发布会议伊始,广州慧炬科技总经理曹峰向各位嘉宾的到来表示热烈欢迎,并感谢各位专家对国产透射电子显微镜的支持。广州开发区管委会二级巡视员、生物岛实验室主任助理杨寿桃致辞。国仪量子技术(合肥)股份有限公司董事长贺羽致辞。中国科学院隋森芳院士致辞。中国科学院物理研究所研究员、松山湖材料实验室研究员、中国电子显微学会副理事长、粤港澳大湾区电镜联盟理事长马秀良致辞。中国科学院生物物理研究所、生物岛实验室研究员、广州慧炬科技首席科学家孙飞分享了《生物医学电镜自主研制之路》报告。发布会上,饶子和院士与隋森芳院士共同为太行TH-F120揭幕。饶子和院士(左二)与隋森芳院士(左一)为太行TH-F120揭幕,徐涛院士(左三)等专家见证揭幕仪式合影  ▍破局之作!场发射透射电子显微镜“太行”TH-F120广州慧炬科技总经理曹峰向与会嘉宾详细介绍了太行TH-F120的产品特点与优势。TH-F120是慧炬120kV成像平台的首款产品,它的诞生意味着国产商业透射电镜向前迈进了一大步。其中文名称“太行”源自中华名山太行山,寓意TH-F120将如太行山一样,挺起中国透射电镜产业的脊梁。  TH-F120自主研制的高亮度场发射电子枪,相比于同级进口产品的热发射电子枪,亮度更高,发射稳定性和相干性更优,匹配自主研制的电磁透镜系统,针对120kV成像平台特别优化了电子光学设计,可为用户带来更佳的图像衬度和分辨率;自主研制的高稳定性的低纹波高压电源,实现了高压自动控制,保证电子枪稳定发射;标配自主研制的高像素CMOS相机,在低电子剂量的工况下仍可呈现丰富的样品细节;整机以人机分离为设计理念,匹配高度自动化的控制系统,使图像采集工作更加舒适高效;同时,TH-F120预设了充足的拓展接口和整机升级空间,满足用户迭代需求,有效延长整机使用年限。太行TH-F120产品参数太行TH-F120应用案例  ▍承鸿鹄之志,造大国电镜  透射电镜具有极高的技术门槛,国外品牌已形成了垄断局面。此前,我国透射电镜100%依赖进口,国产化尚属空白。2022年,我国进口透射电镜约300台,进口总额超30亿元,预计2022年至2028年期间,年复合增长率超5.8%。  2022年,生物岛实验室与国内领先的科学仪器公司国仪量子技术(合肥)股份有限公司联合成立广州慧炬科技有限公司,依托生物岛实验室徐涛院士、孙飞研究员团队在国产透射电镜领域的研发成果,与国仪量子成熟的产品工程化与市场开拓经验,进一步推动透射电镜的普及和应用。此前,国仪量子自主研制的场发射/钨灯丝扫描电镜、超高分辨场发射扫描电镜、镓离子束双束电镜、量子传感设备、电子顺磁共振波谱仪、气体吸附分析仪等产品获得了良好的市场反响,形成了国产高端科学仪器的示范应用。双方的合作,将充分整合人才与技术优势,加速推进透射电镜技术转化为商业化产品并进行批量生产。  广州慧炬科技首台国产商业场发射透射电子显微镜正式发布,填补了国内该领域的空白,实现了从“买”到“造”的重大突破。未来,广州慧炬科技将持续加强在透射电镜领域的自主创新能力,研发更高端的电镜产品,服务中国科研人,为实现科技自立自强贡献力量。与会嘉宾合影
  • 承鸿鹄之志,造大国电镜!首台国产商业场发射透射电子显微镜发布
    1月20日,广州慧炬科技有限公司成功举办“承鸿鹄之志,造大国电镜”新品发布会,正式发布首台国产商业场发射透射电子显微镜“太行”TH-F120。标志着我国已掌握透射电镜整机研制能力以及电子枪、高压电源、电子探测相机等核心技术。该产品将打破国内透射电镜100%依赖进口的局面,为我国在材料科学、生命科学、化学、物理等前沿科学以及半导体工业、锂电新能源材料等先进制造业领域的高质量发展提供有力支撑。中国科学院院士饶子和、中国科学院院士隋森芳、中国科学院院士徐涛,以及来自全国学界、业界相关领域的60余位专家出席本次发布会。点击观看发布会精彩回顾院士大咖云集!共见首台国产商业场发射透射电子显微镜发布会议伊始,广州慧炬科技总经理曹峰向各位嘉宾的到来表示热烈欢迎,并感谢各位专家对国产透射电子显微镜的支持。广州开发区管委会二级巡视员、生物岛实验室主任助理杨寿桃致辞。国仪量子技术(合肥)股份有限公司董事长贺羽致辞。中国科学院隋森芳院士致辞。中国科学院物理研究所研究员、松山湖材料实验室研究员、中国电子显微学会副理事长、粤港澳大湾区电镜联盟理事长马秀良致辞。中国科学院生物物理研究所、生物岛实验室研究员、广州慧炬科技首席科学家孙飞分享了《生物医学电镜自主研制之路》报告。发布会上,饶子和院士与隋森芳院士共同为太行TH-F120揭幕。饶子和院士(左二)与隋森芳院士(左一)为太行TH-F120揭幕,徐涛院士(左三)等专家见证揭幕仪式合影破局之作!场发射透射电子显微镜“太行”TH-F120广州慧炬科技总经理曹峰向与会嘉宾详细介绍了太行TH-F120的产品特点与优势。TH-F120是慧炬120kV成像平台的首款产品,它的诞生意味着国产商业透射电镜向前迈进了一大步。其中文名称“太行”源自中华名山太行山,寓意TH-F120将如太行山一样,挺起中国透射电镜产业的脊梁。TH-F120自主研制的高亮度场发射电子枪,相比于同级进口产品的热发射电子枪,亮度更高,发射稳定性和相干性更优,匹配自主研制的电磁透镜系统,针对120kV成像平台特别优化了电子光学设计,可为用户带来更佳的图像衬度和分辨率;自主研制的高稳定性的低纹波高压电源,实现了高压自动控制,保证电子枪稳定发射;标配自主研制的高像素CMOS相机,在低电子剂量的工况下仍可呈现丰富的样品细节;整机以人机分离为设计理念,匹配高度自动化的控制系统,使图像采集工作更加舒适高效;同时,TH-F120预设了充足的拓展接口和整机升级空间,满足用户迭代需求,有效延长整机使用年限。太行TH-F120产品参数太行TH-F120应用案例承鸿鹄之志,造大国电镜透射电镜具有极高的技术门槛,国外品牌已形成了垄断局面。此前,我国透射电镜100%依赖进口,国产化尚属空白。2022年,我国进口透射电镜约300台,进口总额超30亿元,预计2022年至2028年期间,年复合增长率超5.8%。2022年,生物岛实验室与国内领先的科学仪器公司国仪量子技术(合肥)股份有限公司联合成立广州慧炬科技有限公司,依托生物岛实验室徐涛院士、孙飞研究员团队在国产透射电镜领域的研发成果,与国仪量子成熟的产品工程化与市场开拓经验,进一步推动透射电镜的普及和应用。此前,国仪量子自主研制的场发射/钨灯丝扫描电镜、超高分辨场发射扫描电镜、镓离子束双束电镜、量子传感设备、电子顺磁共振波谱仪、气体吸附分析仪等产品获得了良好的市场反响,形成了国产高端科学仪器的示范应用。双方的合作,将充分整合人才与技术优势,加速推进透射电镜技术转化为商业化产品并进行批量生产。广州慧炬科技首台国产商业场发射透射电子显微镜正式发布,填补了国内该领域的空白,实现了从“买”到“造”的重大突破。未来,广州慧炬科技将持续加强在透射电镜领域的自主创新能力,研发更高端的电镜产品,服务中国科研人,为实现科技自立自强贡献力量。与会嘉宾合影

透射电子显微镜透射电镜相关的方案

  • 低压透射电子显微镜LVEM在病毒学研究中的应用
    病毒作为一种病原体一直受到学术界的广泛关注。然而由于病毒通常尺寸较小,传统的光学显微镜往往难以满足其形态观测的需求,这使得高分辨率的透射电子显微镜成为了当前病毒学研究的一个重要手段,可以用来研究病毒的结构和成分。目前使用的透射电子显微镜进行病毒颗粒的检测和识别仍面临着巨大的挑战。这是因为病毒的主要组成部分多为含碳的轻元素有机物,这类样品很容易被高能电子束穿过,造成其光学衬度较低,且由于共价键化合物的低稳定性使得其在传统电子显微镜的高加速电压 (一般为80-200 kV) 下非常不稳定,不适合直接进行观察。因此病毒的形态学观察一般采用负染色成像技术,需要在观测前对样品进行复杂的负染操作,占有大量的时间,且可能会掩盖掉一些病毒的形貌特征,造成使用透射电子显微镜观测病毒的门槛较高。为了解决这一难题,低压透射电子显微镜(Low Voltage Electron Microscope, LVEM)应运而生。LVEM突破了传统透射电子显微镜的80 kV加速电压的低限,研究人员可在低压下观察轻质生物样品,无需染色,简化了样品制备流程;同时该设备可在保证高图像对比度的前提下,使用温和的加速电压进行病毒形态学的检测和识别,能够识别以往可能被污渍和负染的瑕疵所掩盖的病毒特征。
  • 扫描电镜和透射电镜的区别
    电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中,两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)。 在这篇博客中,将简要描述他们的相似点和不同点。
  • 透射电子显微镜样品杆输运气体真空压力和流量精密控制解决方案
    针对环境扫描/透射电子显微镜对样品杆中的真空压力气氛环境和流体流量精密控制控制要求,本文提出了更简单高效和准确的国产化解决方案。解决方案的关键是采用动态平衡法控制真空压力,真空压力控制范围为1E-03Pa~0.7MPa;采用压差法控制微小流量,解决了以往采用质量流量控制器较难对混合气体和微小流量准确控制的难题,可实现气体和液体在0.005sccm~10slm范围内的流量的高精度控制。

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  • 关于透射电子显微镜的工作原理

    透射电子显微镜(TEM)是一种现代综合性大型分析仪器,在现代科学、技术的研究、开发工作中被广泛地使用。顾名思义,所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲,形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象,所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”,从而开发出电子显微镜。而作为透射电子显微镜(TEM)其特点在于我们是利用透过样品的电子束来成像,这一点有别于扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)。由于电子波的波长大大小于可见光的波长(100kV的电子波的波长为0.0037nm,而紫光的波长为400nm),根据光学理论,我们可以预期电子显微镜的分辨本领应大大优于光学显微镜。事实上,现代电子显微镜的分辨本领已经可达0.1nm。

  • 【原创大赛】透射电子显微镜-小析

    【原创大赛】透射电子显微镜-小析

    随着现代信息的不断发展,作为三大支柱产业之一的材料越发显得重要。而材料的结构分析是决定材料性能的关键因素。众所周知,光学显微镜及扫描电镜均只能观察物质表面的微观形貌,无法获得物质内部的信息。而透射电镜可以根据透射电子图象所获得的信息来了解试样内部的结构。鉴于此,现阶段透射电子显微镜(TEM)已经广泛应用在各个学科领域和技术部门,并且已经成为联系和沟通材料性能和内在结构的一个最重要的“桥梁”。1 TEM的概念 透射电子显微镜(TEM)是以波长极短高能电子作为照明源,利用电子透镜使电子与固体样品作用产生的弹性散射电子聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数显微分析仪器。图1为JEM-2100高分辨透射电子显微镜。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208211425_385009_2105598_3.jpg图1 JEM-2100高分辨透射电子显微镜2 TEM的发展历程 1924年,德国科学家德布洛依(Brogliel.De)提出了微观粒子具有二象性的假设,后来这种假设得到了证实。1932年,德国学者诺尔(Knoll)和鲁卡斯(Ruska)获得了放大12~17倍的电子光学系统中的光阑的像,证明可用电子束和电磁透镜得到电子像,但是这一装置还不是真正的电子显微镜,因为它没有样品台。1932~1933年间,鲁卡斯等对以上装置进行了改进,做出了世界上第一台透射电子显微镜。1934年,电子显微镜的分辨率已达到500Å。1939年德国西门子公司造出了世界第一台商品透射电子显微镜,分辨率优于100Å。1947年,莱保尔发展了TEM的选区衍射模式,把电子显微像和电子衍射对应起来。1956年,赫什用衍射动力学法说明衍射衬度,在不锈钢和铝中观察到位错和层错。目前世界上生产透射电镜的主要是这三家电镜制造商:日本的日本电子(JEOL)和日立(Hitachi)以及美国的FEI。3 TEM的特点 TEM可以进行组织形貌与晶体结构同位分析;具有高的分辨率,可以达到1Å;能够在原子和分子尺度直接观察材料的内部结构;能方便地研究材料内部的相组成和分布以及晶体中的位错、层错、晶界和空位团等缺陷,是研究材料微观组织结构最有力的工具;能同时进行材料晶体结构的电子衍射分析,并能同时配置X线能谱、电子能损谱等测定微区成分仪器。目前,它已经是兼有分析微相、观察图像、测定成分、鉴定结构四个功能结合、对照分析的仪器。4 TEM的三个主要指标 TEM的三个主要指标如下: (1)加速电压(一般在80~3000千伏之间); (2)分辨率(一般点分辨率在2~3.5 Å之间); (3)放大倍数(一般在30~80万倍之间)。5 TEM的结构 TEM结构如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208211426_385010_2105598_3.jpg图2 TEM结构 照明系统主要由电子枪和聚光镜组成。电子枪是发射电子的照明光源。聚光镜是把电子枪发射出来的电子会聚而成的交叉点进一步会聚后照射到样品上。照明系统的作用就是提供一束亮度高、照明孔径角小、平行度好、束流稳定的照明源。 成像系统主要由物镜、中间镜和投影镜组成。物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍射花样的透镜。透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于物镜。因为物镜的任何缺陷都被成像系统中其它透镜进一步放大。欲获得物镜的高分辨率,必须尽可能降低像差。通常采用强激磁,短焦距的物镜。物镜是一个强激磁短焦距的透镜,它的放大倍数较高,一般为100~300倍。目前,高质量的物镜其分辨率可达0.1nm左右。中间镜是一个弱激磁的长焦距变倍透镜,可在0-20倍范围调节。当M1时,用来进一步放大物镜的像;当M1时,用来缩小物镜的像。在电镜操作过程中,主要是利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。投影镜的作用是把经中间镜放大(或缩小)的像(电子衍射花样)进一步放大,并投影到荧光屏上,它和物镜一样,是一个短焦距的强磁透镜。投影镜的激磁电流是固定的。因为成像电子束进入投影镜时孔镜角很小(约10~3rad),因此它的景深和焦距都非常大。即使改变中间镜的放大倍数,使显微镜的总放大倍数有很大的变化,也不会影响图像的清晰度。有时,中间镜的像平面还会出现一定的位移,由于这个位移距离仍处于投影镜的景深范围之内,因此,在荧光屏上的图像仍旧是清晰的。 观察和记录装置包括荧光屏和照相机构,在荧光屏下面放置一下可以自动换片的照相暗盒。照相时只要把荧光屏竖起,电子束即可使照相底片曝光。由于透射电子显微镜的焦长很大,虽然荧光屏和底片之间有数十厘米的间距,仍能得到清晰的图像。6 TEM成像原理http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208211427_385011_2105598_3.jpg6.1高斯成像原理 如图3所示,电子枪产生的电子束经1~2级聚光镜会聚后均匀照射到试样上的某一待观察微小区域,入射电子与试样物质相互作用,由于试样很薄,绝大部分电子穿透试样,其强度分布与所观察试样区的形貌、组织、结构一一对应,透射出试样的电子经物镜、中间镜、投影镜的三级磁透镜放大投射到观察图形的荧光屏上,荧光屏把电子强度分布转变为人眼可见的光强分布,于是在荧光屏上显出与试样形貌、组织、结构相应的图像。即当一束发射角在透镜孔径角以内的入射电子穿过样品,并通过样品下方的物镜后,样品上的每个物点必然在透镜的像平面上有一一对应的像点。6.2阿贝成像原理 当平行入射束与晶体样品作用,除了形成透射束之外,还会产生各级衍射束,通过物镜的聚焦作用在其后焦面上形成衍射振幅的极大值,每个振幅极大值又视为次级光源互相干涉,再于透镜像平面上形成显微放大像。如图4所示。7 TEM的样品及其制备7.1 TEM样品的基本要求 TEM样品的基本要求包括以下: (1)形状尺寸:Φ3,薄区厚度﹤100nm; (2)不失真:无变形,无氧化,不晶化和相变等。7.2 TEM样品的种类和用途 TEM样品的种类和用途包括以下

透射电子显微镜透射电镜相关的耗材

  • 大和电子科技 透射电镜圆形光阑
    产品介绍用途:用于透射电镜(TEM),扫描透射电镜(STEM)尺寸:如图所示后期处理: ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点: ■微细深孔的高精密加工 ■去除小孔边缘的小突起 ■小孔内壁实现镜面加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化,加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 交货期:根据产品规格另作商量,一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商,从事耗材制作50余年。除了上述的扫描透射电镜光阑,透射电镜光阑外,我们可以制作用于扫描电镜、聚焦离子束和X射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001mm。欢迎您的咨询,期待为您服务!大和电子科技株式会社是仪器信息网银牌会员,已合作1年,提供的大和电子科技 透射电镜用圆形光阑 ,请放心选择。大和电子科技株式会社还可为用户供应优质的大和电子科技 走查电镜用光阑、等产品,欢迎在线咨询。
  • 中镜科仪 双联铜环 铜双联环 (不带碳膜)透射电子显微镜TEM载网
    主要用于粘结易碎块状样品作载体,离子减薄或双喷后,进行形貌观察。100枚/瓶,国产,材质为铜 商品编号商品名称材质孔径产地AZDA10/10铜双联环铜1.0+1.0mm中国AZDA15/10铜双联环铜1.5+1.0mm中国AZDA15/15铜双联环铜1.5+1.5mm中国AZDA18/14铜双联环铜1.8+1.4mm中国AZDA20/15铜双联环铜2.0+1.5mm中国AZDA20/18铜双联环铜2.0+ 1.8mm中国中镜科仪TM载网系列是专为透射电子显微镜(TEM)自主设计生产,载网上“Z”字样为本公司的标志符号,并且为用户提供了正反面判断依据。同时也为其它科研领域提供特殊载网。中镜科仪TM系列载网将网的承载能力与TEM视野大小两者很好的结合,既保障了载网不易折损又提供尽量大的视野。中镜科仪TM系列载网可分为方孔、圆孔、光圈、狭缝、平行、双联、其他特殊载网等等,能够满足材料、生物以及众多交叉学科的科研需求。为了能更大限度的方便用户,可根据您的要求定做铝制(Al)、钨质(W)、不锈钢等不同材质的特殊载网。本公司还代理美国、英国、日本等进口品牌的载网。不同材质载网特性比较铜载网(Copper Grids)是最广泛使用的载网。价格低廉,并且无磁性,缺点是铜在低的PH值下具有活性。镍载网(Nickle Grids)性能稳定,强度也很高,缺点是具有磁性,会发生粘附,建议使用防磁镊子进行操作。金载网(Gold Grids)难与其他物质发生反应,但金有柔软性,易变形,尺寸不精确,且价格较高。钼载网(Molybdenum Grids)具有低的收缩系数、高强度、高硬度,可用于高温惰性环境中的研究,负载的样品不会发生变形。
  • 透射电镜胶片
    透射电镜底片显影装置主要用于TEM底片冲洗,随时观察每一张冲洗效果。批量冲洗底片互不粘连。形貌像和电子衍射像可以同时显影
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