膜厚仪

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膜厚仪相关的厂商

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    赛默飞世尔科技赛默飞世尔科技(纽约证交所代码:TMO)是科学服务领域的世界领导者。公司年销售额超过250亿美元。我们的使命是帮助客户使世界更健康、更清洁、更安全。我们帮助客户加速生命科学领域的研究、解决在分析领域所遇到的复杂问题与挑战、促进医疗诊断和治疗的发展、提高实验室生产力。我们全球超过75,000名赛默飞员工将借助于一系列行业领先的品牌Thermo Scientific、Applied Biosystems、Invitrogen、Fisher Scientific、Unity Lab Services和Patheon,为客户提供领先的创新技术、便捷采购方案和全方位服务。欲了解更多信息,请浏览公司网站:www.thermofisher.com赛默飞世尔科技中国赛默飞世尔科技进入中国发展已超过35年,在中国的总部设于上海,并在北京、广州、香港、成都、沈阳、西安、南京、武汉、昆明等地设立了分公司,员工人数约为5000名。我们的产品主要包括分析仪器、实验室设备、试剂、耗材和软件等,提供实验室综合解决方案,为各行各业的客户服务。为了满足中国市场的需求,现有7家工厂分别在上海、北京、苏州和广州等地运营。我们在全国还设立了8个应用开发中心以及示范实验室,将世界级的前沿技术和产品带给中国客户,并提供应用开发与培训等多项服务;位于上海的中国创新中心,拥有100多位专业研究人员和工程师及70多项专利。创新中心专注于针对垂直市场的产品研究和开发,结合中国市场的需求和国外先进技术,研发适合中国的技术和产品;我们拥有遍布全国的维修服务网点和特别成立的中国技术培训团队,在全国有超过2600名专业人员直接为客户提供服务。 赛默飞世尔科技中国区服务部赛默飞世尔科技中国区服务部成立于2012年,负责向赛默飞中国所有商务部门和设备用户提供售后技术服务及相关日常工作。目前拥有900多名员工,工程师超过600名,服务网点覆盖60多个城市,服务100,000多台仪器,超过400,000客户受益于我们的产品或服务。我们致力于帮助客户使世界更健康、更清洁、更安全。联系方式:热线电话:800 810 5118 / 400 650 5118 赛默飞官方微信赛默飞服务平台
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  • 厚礼博精密仪器(北京)有限公司是全球顶级热式质量流量控制器(MFC)制造商HORIBA STEC的全资子公司,以研发、生产、销售热式质量流量控制器为主业的高新技术企业。公司采用HORIBA STEC的国际先进技术,以日本品质、中国制造为宗旨,研发、生产、销售具有国际标准并符合国内市场的质量流量控制器。产品广泛应用于太阳能光伏、分析仪器、光纤、真空镀膜等领域,同时在石油化工、热处理、冶金、食品制药等领域也有充分的运用。
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  • 厚谱科仪于2020这个特殊的庚子年“诞生”在我国北方明珠、浪漫之都—大连,是分析仪器行业升起的一颗新星。公司凝聚了一个朝气蓬勃、才华横溢、勇于创新的一流团队。公司始终聚焦广大客户客户的需求,在“严谨的态度、创新的理念及务实的精神”指引下,并凭借自身超强的研发力量,志在为广大客户提供有着准确、稳定、可靠、高效、安全、便捷服务的高新技术产品及技术服务。 厚谱科仪产品涵盖了水质实验室分析仪器、油品实验室分析仪器及水质在线分析仪器在内的众多门类,公司能为电力、石化、化工、钢铁、环保、高校以及质检等行业的广大客户提供便捷优质的产品服务。公司的全面详细的售前支持、安全信赖的产品设计及优质快速的售后服务定能为您提供焕然一新的使用体验。 厚谱科仪志在吸纳更多的有志于献身于分析仪器行业的新秀,公司竭尽全力的为他们的快速健康成长保驾护航,愿他们能在公司这片沃土里茁壮成长,最终成为行业翘楚。 厚谱科仪全体人员:怀着“厚德载物,佳谱传世;崇尚科学,智造精仪”的初心,用最“新”的技术,用最“心”的服务,用最“辛”的努力,智造让客户满意的产品,提供让客户满意的服务。公司努力向前,最终实现“始于大连、立足祖国、放眼世界”的这一宏伟目标!
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膜厚仪相关的仪器

  • 光声无损膜厚仪随着电子和纳米科学时代的兴起,电子元件的小型化已成为其几乎呈指数级性能的重要因素。将技术层和涂层减薄到纳米级,可以在各种领域取得进步。复杂的制造流程推动控制变得越来越准确。光声无损膜厚仪为这些演变相关的许多问题提供了解决方案。缺陷检测现在在许多行业中非常必要,以避免在生产过程中遇到问题并提高质量水平。我们使用的光声技术设计了光声无损测量系统。 技术源自法国CNRS 和波尔多大学的技术转让,它依靠激光、材料和声波之间的相互作用深入物质的核心。我们的非破坏性和非接触式技术将光转换为声频超过100GHz 的声波。 目的在于表征涂层,例如不同类型材料的厚度和附着力。特别适用于测量从几纳米到几微米的薄层,无论是不透明的(金属、金属氧化物和陶瓷),还是半透明和透明的。 这种光学技术不受样品形状的影响。 产品特点非破坏性和非接触式技术薄膜的表征:厚度、附着力、热性能快速且可重复的测量超精密测量许多材料可用能检测的膜厚度从 2纳米~20微米扫描方式:单点、XY扫描、表面声波测样样品种类: 不透明、半透明、透明均可测试。平坦和弯曲的样品均可 系统构成:仪器使用两个同步的超快激光器。会产生大约100飞秒的不同波长的激光脉冲。使用这些脉冲进行非破坏性和非接触式测量。这些都集中在所研究的样品表面。 能使用的材料广泛的材料及其在许多应用中的使用使这一材料方面变得非常必要。自产品问世以来,我们的技术已证明其有能力测量许多金属材料。也适用于陶瓷和金属氧化物,并且不受外形因素的影响。 无损检测 (NDT) 具体应用案例半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积。 问题?在任何工艺过程中,不透明薄膜的沉积,无论是单层还是多层,都需要质量控制。无论是检测还是计量,厚度测量和界面表征都是确保其质量的关键问题。 我们的解决方案?- 高速控制。- 非破坏性和非接触式测量。- 单层和多层厚度测量。 显示器行业今天,不同的技术竞争主导显示器的生产,而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上,由于未来UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺,这个不断扩大的行业存在技术限制。问题?一个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面,控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致最终产品出现质量缺陷。 我们的解决方案?- 对此类层的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。 薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域,技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。问题?无论是法律限制还是技术限制,破坏性测试的采样方法通常提供不完整的答案。此外,由于形状因素、曲率等原因,很难控制3D作品。 我们的解决方案?- 非破坏性和非接触式测试- 快速测试厚度数据- 现在可以进行在线生产控制
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  • 为了保证功能涂层在任何工作环境中都能发挥其作用,油漆涂装技术正在朝着精细化控制优化生产工艺和确保经济可持续发展方向努力。例如:家电行业希望油漆涂层更加耐用,能够适应各种各样家用电器和厨房器具的要求;而建筑行业则期望粉末涂层能够耐用且适应不同环境,特别是防腐涂料,期望能够经受得住太阳暴晒和风雨冲刷。过薄涂层无法保证涂料充分发挥功能作用;过厚涂层则会造成表面不平整,导致光泽度不同;对于机械阻力而言,越厚涂层硬度越大,则越容易断裂,因此生产厂家必须严格控制涂装工艺质量,令产品膜厚快速精准控制在合格范围内,从而满足不同的使用需求。目前市场上普遍使用的是几十年前开发的接触式磁性测厚仪和涡流测厚仪,或者是超声波测厚仪,这些测厚仪器虽然是非破坏式测厚,但是只能等待涂层固化后才能测量膜厚,无法在湿膜状态下测出固化后干膜厚度。为了更好实现测湿膜直接显示干膜厚度功能,瑞士涂魔师非接触无损测厚仪应运而生。涂魔师膜厚测量仪是一款非接触无损涂层测厚仪,不管漆膜是烘干后还是未烘干,粉末涂料是固化前还是固化后,涂魔师都可以轻松测出其干膜厚度。涂魔师膜厚测量仪工作原理涂魔师膜厚测量仪采用ATO光热法原理和数字信息处理技术(DSP),通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师膜厚测量仪优势---精准协助厂家提高产线的喷涂效率及产品合格率湿膜状态下测出干膜厚度涂魔师膜厚测试仪能在涂层烘干前测出干膜的真实厚度,并实时直接传入ERP/MES系统,可全程数据化监控,也便于下次调用生产或回溯分析。自动监控,减少次品率全程数据化追溯涂装工艺,有效协助涂装部门在生产过程中及时发现喷涂厚度问题,马上调整设备参数,优化工艺过程和消耗品的更换频率。快速研发,提高质量研发中心不必等待涂层干透,快速确保样品干膜厚度达标而做出测试样品,大幅缩短研发周期,助力制定新的质量标准、生产工艺,使产品更加有竞争力。喷涂厂家使用涂魔师膜厚测量仪测量未固化涂层即时得出固化后涂层厚度,并且全程能实现生产工艺的统计及不间断追溯,高效监控膜厚真实情况,进行数据的不间断监控记录和智能统一管理。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电【400-6808-138】咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。
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  • 设备咨询 吴先生反射膜厚测量仪型号:-HS-100;波长范围:380 - 1000 nm;测量范围:10nm-100um型号:-HS-200;波长范围:250 - 1000 nm;测量范围:2nm-100um型号:-HS-300;波长范围:700 - 1200 nm;测量范围25nm-1mm光斑尺寸:0.4 - 2 mm膜厚测量范围1nm到1毫米测量反射率,膜厚,颜色,折射率透射测量仪型号:A3-ST-100:波长范围380 - 780 nm型号:A3-ST-200:波长范围250 - 1000 nm光斑尺寸:0.4 - 2 mm膜厚测量范围1nm到1毫米测量透射率,膜厚,颜色,折射率
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膜厚仪相关的资讯

  • 机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试
    在塑料薄膜的生产与质量控制中,准确测量薄膜的厚度是至关重要的环节。机械接触式塑料薄膜测厚仪以其高精度、高可靠性和自动化程度,成为了行业内的首选工具。本文将深入探讨机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试,从原理、操作到应用进行全面解析。一、机械接触式测厚仪的基本原理机械接触式塑料薄膜测厚仪主要由测量传感器和测量电路组成,其工作原理基于机械接触式测量技术。测量过程中,传感器与薄膜表面直接接触,通过感受薄膜厚度的变化并转化为电信号输出,再由测量电路进行处理和分析,最终得出精确的薄膜厚度值。这种测量方式具有高精度和稳定性,能够有效避免因非接触式测量可能带来的误差。二、多点测试的必要性在塑料薄膜的生产过程中,由于原料、工艺、环境等多种因素的影响,薄膜的厚度可能会存在不均匀性。为了确保薄膜的质量,需要对不同位置进行多点测试,以获取全面的厚度数据。多点测试不仅有助于提高测量的准确性,还能及时发现生产过程中的问题,为工艺调整提供数据支持。三、实现多点测试的具体步骤1. 设备准备与检查首先,确保机械接触式塑料薄膜测厚仪电量充足或已正确连接电源,检查外观是否完好,显示屏是否清晰可见。同时,根据被测材料的类型和特性,选择合适的测量探头。对于塑料薄膜,通常选用接触面积为50mm² 的探头,以确保测量的准确性。2. 样品准备与摆放被测样品表面应平整、无污垢、油脂、氧化层或其他可能影响测量精度的杂质,确保表面干燥且无残留物。将截取好的薄膜样品平整地铺放在测量台面上,保持试样整洁、干净、平整无褶皱。为了进行多点测试,可以通过人为挪动试样,选择不同位置进行测试。3. 设定测试参数机械接触式塑料薄膜测厚仪通常具有自动化程度高的特点,用户可以根据需要设定进样步距、测量点数和进样速度等参数。在多点测试中,可以根据样品的尺寸和测试要求,合理设定这些参数,以确保测试的全面性和准确性。4. 进行多点测试启动测厚仪后,测量头会在机械装置的驱动下,按照预设的进样步距和速度,自动或手动地移动到薄膜样品的不同位置进行测试。每次测量时,传感器都会与薄膜表面紧密接触,瞬间捕捉并记录下该点的厚度数据。同时,测厚仪内部的测量电路会实时处理这些电信号,转换成直观的厚度值显示在屏幕上。5. 数据记录与分析完成多点测试后,测厚仪通常会提供数据记录功能,用户可以将所有测试点的厚度数据保存下来,以便后续的数据分析。通过对比不同位置的厚度值,可以评估薄膜的均匀性,并识别出潜在的厚度偏差区域。此外,一些高级测厚仪还具备数据分析软件,能够自动生成厚度分布图、统计报告等,帮助用户更直观地了解薄膜的质量状况。6. 结果反馈与工艺调整基于多点测试的结果,生产人员可以及时发现薄膜生产过程中的问题,如原料配比不当、挤出机温度控制不准确等。针对这些问题,可以迅速调整生产工艺参数,如改变挤出速度、调整模具间隙等,以改善薄膜的厚度均匀性。同时,这些测试数据也为后续的产品质量控制和工艺优化提供了宝贵的参考依据。综上所述,机械接触式塑料薄膜测厚仪通过其高精度、高可靠性和自动化程度,实现了对塑料薄膜的多点测试。这一技术的应用,不仅提高了薄膜厚度测量的准确性和效率,还促进了生产工艺的改进和产品质量的提升。在未来的发展中,随着技术的不断进步和创新,机械接触式塑料薄膜测厚仪将在更多领域发挥重要作用,为塑料薄膜行业的发展贡献更多力量。
  • Coatmaster发布 手持非接触式湿膜测厚仪新品
    这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化,其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度,避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用,并对其十分赞赏。远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理,测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯,测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试,Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制,可用于金属,塑料,橡胶,木材,碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外,也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计,易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量(不含电池)1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm创新点:Coatmaster Flex手持非接触式湿膜测厚仪属于便携式的湿膜测厚仪器,解决了传统涂层喷涂厚度测试中,需要接触测试(会破坏涂层表面)以及无法测量复杂表面的工件(如拐角、边角、曲面等),无法适用特殊底材的难题。仪器采用光热法作为测量原理,测量时无需与涂层表面接触,不受基材材质的影响,且不受涂层的颜色影响,可实现即时测量,并得出读数,即可实现涂层喷涂厚度的即时检测,修正喷涂厚度不良的问题,缩短工艺流程、大幅度的提升良品率。
  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。 二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。

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  • 关于膜厚仪

    有谁见过膜厚仪,用在钢铁行业的,测量涂层厚度的在线检测仪器,有用过的请把品牌告诉我,谢谢!

  • 在线薄膜测厚仪,求购

    求购在线薄膜测厚仪,做压敏胶带用。现在有八条线,薄膜厚度25u,涂层厚度25u。大家有没有推荐的。

  • 【原创】薄膜测厚仪

    【原创】薄膜测厚仪

    电容性薄膜测厚仪 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646126_2244676_3.jpg 名称属性 测厚仪组成部分发射探头 1个接受探头 1个电脑控制转换器 1个工业触摸屏 1个操作柜 1台U型探头支架 1个技术指标检测厚度: 10um-20mm检测精度:土0.1um检测宽度:根据产品宽度循环测厚设定在线速度 max:60m\min作业环境海拔低于1500米,三相380v电。适用于POF、牛奶包装膜、彩印膜、大棚膜等各类薄膜产品。

膜厚仪相关的耗材

  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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