绝缘介电常数介质损耗检测仪

介电常数介质损耗测试仪 产品型号：LJD-B介电常数及介质损耗主机采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详细请见以下图1/2两款主机：介电常数及介质损耗主机前面板各功能键说明主机1：（LJD-B）主机2：（LJD-C）介电常数及介质损耗主机前面板和外形示意图(1.2)1．工作频段选择/数字1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 主机1：工作频段选择/1按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。主机2：介电常数直读功能/2按键，按一次显示为D2，再按一次切换至D4，蕞后按一次显示介电常数值；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值量程递减（手动方式时有效）/数字3按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键3。4．Q值量程递增（手动方式时有效）/数字4按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/数字5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．数字6按键，直接按是电容自动搜索，先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/数字7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/数字8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．Ct大电容直接测量/数字9（先按12键后有效）按键。10．Lt残余电感扣除/数字0(先按12键后有效) 按键。11．介质损耗系数测量/小数点(先按12键后有效) 按键。12．频率/电容设置按键：主机1：第一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。(没有电容设置功能)主机2：第一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，有效数后为0的，可以不输入0，直接再按一下此键完成设置。13．频率调谐数码开关。14．主调电容调谐（长寿命调谐慢转结构）；15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱：主机1：左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端；主机2：上边两个为电感接入端，下边两个为外接电容接入端；18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明介电常数及介质损耗主机后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V；2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。主机，电感，平板电容器链接方式LJD-B 主机1：LJD-C 主机2LJD系列介电常数及介质损耗测试系统使用方法一 手动介电常数测试方法与步骤测试前主机建议预热30分钟把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上，锁止开关向上旋转。（使用完，请按OFF关闭微分尺，并且锁止开关向下旋转至水平位置）3、在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。4、被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法）5、调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。6、再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值蕞大值）上。7、取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值蕞大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.8、计算被测样品的介电常数: Σ＝D2 / D4二 自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块)自动介电常数测试时，基本步骤同手动一样，只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据，并自动计算出介电常数。使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座.（见下图）按主机键盘区“2”按键第一次，出现下图界面.当S916测试夹具夹紧待测材料，调节主机的主调电容使主机谐振，此时第二次按主机键盘区“2”按键。此时主机将保留蕞终的D2数据，并显示下图界面拿出被测材料，再次调节S916测试夹具的上下极片，直到主机再次谐振，蕞后再一次按下主机键盘区“2”按键，主机保存D4数据，并计算出介电常数的数值。显示下图界面，此时主机已经把计算出的介电常数e显示在显示屏上。按主机键盘区“LT”按键两次退出测试，结束测试。三 介质损耗测试方法与步骤主机C0值的计算方式: 其中C0值设置为20P。选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；将调谐电容器调到200P左右，令这个电容是C4，按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q4(注：若频率搜索未能找到蕞高Q值谐振点，可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值蕞大值的谐振点；将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，上下极片夹紧材料后记住夹具显示值，然后拿出材料，调回到夹具的显示数值，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C3，Q值读数为Q3。(注：C3数值肯定比C4要小)机构电容的有效电容为：Cz= C4－C3分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL（参考电感的技术说明）的和介质损耗系数/介质损耗正切值为把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，改变主机上的主调电容容量，使主机处于谐振点（Q值蕞大值，为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容，当Q为蕞大值时候可以稍等1分钟，等Q值稳定），然后按一次 主机上的小数点（tgδ）键(请用绝缘材料来按，不要用手来按），在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz+CL电感分布电容)需要手动输入，记住厚度D2的值，此时显示数值为C2和Q2。取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时主机又失去谐振（Q值变小），再改变主机上的主调电容容量，使主机重新处于谐振点（Q值蕞大值，为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容，当Q为蕞大值时候可以稍等1分钟，等Q值稳定））上。注意：多次测试同一个材料时，要求保持每次材料厚度的读数一致。第二次按下 主机上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。附录 一显示数据介绍：C1材料拿出后，谐振时测得的电容值C2材料在夹具中，谐振时测得的电容值Q1材料拿出后，谐振时测得的Q值Q2材料在夹具中，谐振时测得的Q值CZ主机+测试夹具测得的结构电容值CL标准电感的分布电容值C0结构电容值+电感的分布电容值D2材料的厚度tn介质损耗系数/介质损耗正切值附录 二LKI-1电感组LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个，凡仪器在进行测试线圈的分布电容量，电容器的电容量，高频介质损耗，高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时，必须用电感组作辅助工具。本电感组有较高Q值，能使仪器测量时得到尖锐谐振点，因而增加其测量的准确度，各电感的有关数据如下表：电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率LJD-BLJD-C10.1μH±0.05μH1805pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%1806pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz1015nH±10%400≥100100MHz附录 三粘性材料以及超薄材料的测试方法一 如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数1 用锡箔纸覆胶在材料的两面，上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX 2 超薄材料需要叠加：叠加方式如下 250μ贴合6层后测试；200μ贴合8层后测试；175μ贴合9层后测试；125μ贴合12层后测试；100μ贴合15层后测试；75μ贴合20层后测试；50μ贴合30层后测试。 3 计算公式 Σ＝(D2-2*DX)/D44 介质损耗系数测试同理二 单层薄膜材料测量，蕞薄50um（此方法误差较大，只能测试一个参考数据）1 主机频率调整到1MHz，在电感接线柱上插上6号电感，在电容接线柱上插上S916测试夹具。2 把S916测试夹具上下极片调整到0.05mm，调节主调电容，直到Q值蕞大。记录下此时的主调电容值 C1。3 把薄膜放入S916测试夹具中，再次调节主调电容，直到Q值蕞大。记录下此时主调电容值C2。使用C1-C2得到薄膜材料的电容值C3.4 1）38mm极片下：Σ≈ta×C3×10-1 （ta是样品厚度，单位为毫米，C3单位PF）2）6mm极片下：Σ≈ta×C3×10-1×57.52÷2 （ta是样品厚度，单位为毫米，C3单位PF）5 此测试方法误差较大，叠厚测试比较推荐附录 四 液体材料测试1 液体材料的测试和固体方法一样。2 把S916测试夹具的下极片更换成液体杯。倒入需要测试的液体，液体应该少于液体杯1/2左右。然后按照固体材料的测试方法测试即可。

绝缘材料介电常数介质损耗测试仪 是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。绝缘材料介电常数介质损耗测试仪采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。绝缘材料介电常数介质损耗测试仪本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。仪器的技术指标1．Q值测量范围：2～10232．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信号源频率覆盖范围10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有GDAT-C 频率范围10KHz-70MHz及200KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围：5～1000Q值自动锁定，无需人工搜索9．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。11．产品配置：a.测试主机一台；b.电感一套；c.夹具一 套 性能特点：1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mmφ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。北广精仪公司简介北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司，“精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供的产品和优质的服务。北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术 创新理念 储备的开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造精良的检测仪器。北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率ZJD-BZJC-C10.1μH±0.05μH2005pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz注意: 可定制100MHz电感. 其他相关产品：BDJC-50KV型电压击穿强度试验仪BDJC-100KV型电压击穿强度试验仪BEST-121型体积表面电阻测试仪BEST-212型体积表面电阻率测试仪BEST-991型导体和防静电材料电阻率测试仪GDAT-A型介电常数及介质损耗测试仪GDAC-C型介电常数及介质损耗测试仪BQS-37工频介电常数介质损耗测试仪BLD-600V漏电起痕试验仪BLD-6000V高压漏电起痕试验仪BDH-20KV耐电弧试验仪BWK-300系类热变形维卡温度测定仪BRT-400Z系类熔体流动速率测定仪M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机BYH-B球压痕硬度计JF-3型数显氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪BWN系类电子试验机

补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等