压缩强量仪

制冷剂泄漏是压缩机容易发生的隐患和故障，其会导致系统无法达到制冷效果，这个问题看似简单，其实后果是会造成严重故障。在制冷剂泄漏检测方面，传统检漏方式仍是主流大多需要耗费较多人力且结果只能通过目测观察得到，效果及准确性都较差，因此发掘新型快捷的检漏方式逐渐成为必需。今天小菲就来给大家介绍一款准确率高、操作简便的检漏方式！制冷剂、压缩机、蒸发器、节流器冷凝器是制冷系统五大主要组成部分其中压缩机是制冷系统的“心脏”当其发生故障时气温会发生异常因此“看见”温度的红外热像仪就是检查它的有效工具！压缩机故障的表现和原因压缩机是制冷系统的重要部件，一般由壳体、电动机、缸体、活塞、控制设备 ( 启动器和热保护器 ) 及冷却系统组成。当出现温度异常时，可能有以下表现、原因和后果：1.制冷剂部位温度低：原因是制冷剂泄露，导致能源损耗和制冷达不到效果；2.压缩机壳体温度异常，影响压缩机的使用寿命；3.电动机壳体及其轴承温度异常，可能导致电机和整个制冷系统停止运行；4.缸体或冷却液排出口温度异常，无法达到制冷效果；5.控制设备温度异常，影响系统的工作稳定性和部件使用寿命。压缩电机是制冷系统的重要组成部分使用红外热像仪可以及时发现上述温度异常点从而确定问题并采取补救措施今天小菲就来给大家推荐一款性价比不错的FLIR新品FLIR E52红外热像仪在制冷系统的检查过程中它绝对是你的好帮手！FLIR E52的红外分辨率为240×180(43,200像素)，热灵敏度为50mk，最高可测温550℃，搭配FLIR专利技术MSX® (专利号：201380073584.9)图像增强功能，以及±2°C或读数的±2%的测量精度，可准确定位故障点。制冷剂泄漏在设计和焊接和生产过程中，可能会出现制冷剂压力容器与钢管处由于焊接问题，或钢管的质量问题，出现微小的泄漏，导致制冷剂非常容易消耗掉，产生质量问题，这时使用FLIR E52可以很轻松的看出制冷剂管道的温度分布不均。电动机温度异常当运行中的电动机，由于散热不良或不均匀、内部线圈老化、负载能力过重、供电系统电能质量问题造成壳体温度超高或温度不均匀，以及电动机由于润滑不良或轴心偏移造成轴承温度异常时，使用可产生高分辨率的FLIR E52热像仪一扫就可以精准发现故障点。热像仪更容易识别电机上的热点，表明其过热可能导致故障一机多用，超值的FLIR E52当压缩机的其他部件出现温度异常时，FLIR E52热像仪都能检测到，不仅如此它还是电气、机械还是建筑领域检测的“佼佼者”，当控制制冷系统的电气设备出现故障时，它就可以化身电工师傅的“眼睛”，无需停机检修，运行期间就可以看清电力设备的状态，及时找到问题点。像一些机械设备的磨损不均、建筑物隔热层缺失、地暖管道的铺设走向等问题，都可以使用FLIR E52检测。拥有4英寸清晰触摸屏，160°视角的E52，可以让你在使用过程，看清、看全需要检测的部位，一机多用非常划算！FLIR E52红外热像仪是Exx系列的基础款产品它满足了电气、机械和建筑等领域温度相关的各项基本检查需求价格也可以被更多专业人员接受

中科院强激光材料重点实验室在800nm中心波长宽带脉宽压缩光栅的研制上取得阶段性重要进展。课题组采用模拟退火和傅里叶模式结合的全局优化设计方法，设计出了800nm中心波长宽带全介质脉宽压缩光栅(Pulse Compression Gratings, PCG，图1)(详见：Optical Letters，35(2010)187)。 　　该课题组成员经过大量的优化和容差计算，结合优良的制膜技术，获得了阈值~1J/cm2(50fs，TE，57°入射)的全介质膜，相关光栅参数具有较大工艺容差。中科大同步辐射光学实验室和清华大学衍射光栅课题组对课题组提供的全介质膜进行了光栅参数的刻蚀验证，得到带宽优于110nm的PCG样品。课题组测试了样品0级反射率谱(图2)，采用-1级和0级反射率互补的计算方法，反演得到-1级衍射效率大于95%的带宽110nm以上(图3)，在国际同领域中首次得到了带宽百纳米以上全介质PCG样品。 　　全介质膜PCG相对现行使用的金膜光栅具有高衍射效率和高损伤阈值的优点，在800nm高能飞秒激光器中具有重要应用前景。本项研究得到国家高技术863计划和国家自然科学基金支持。

中科院强激光材料重点实验室在800nm中心波长宽带脉宽压缩光栅的研制上取得阶段性重要进展。课题组采用模拟退火和傅里叶模式结合的全局优化设计方法，设计出了800nm中心波长宽带全介质脉宽压缩光栅(Pulse Compression Gratings, PCG)(详见：Optical Letters，35(2010)187)。 　　该课题组成员经过大量的优化和容差计算，结合优良的制膜技术，获得了阈值~1J/cm2(50fs，TE，57°入射)的全介质膜，相关光栅参数具有较大工艺容差。中科大同步辐射光学实验室和清华大学衍射光栅课题组对课题组提供的全介质膜进行了光栅参数的刻蚀验证，得到带宽优于110nm的PCG样品。课题组测试了样品0级反射率谱，采用-1级和0级反射率互补的计算方法，反演得到-1级衍射效率大于95%的带宽110nm以上，在国际同领域中首次得到了带宽百纳米以上全介质PCG样品。 　　全介质膜PCG相对现行使用的金膜光栅具有高衍射效率和高损伤阈值的优点，在800nm高能飞秒激光器中具有重要应用前景。本项研究得到国家高技术863计划和国家自然科学基金支持。