草坪测量仪

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草坪测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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草坪测量仪相关的仪器

  • ◆PLMapping测量◆多种激光器可选◆Mapping扫描速度:优于20点/秒◆空间分辨率:10um(物镜),50um(透镜)◆光谱分辨率:0.1nm@1200g/mm◆Mapping结果以3D方式显示◆最大8吋的样品测量◆晶片精确定位◆样品真空吸附◆可做低温测量◆膜厚测量测试原理:PL是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下,电子吸收激发光子的能量,向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态,会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁,这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部,一定的电子能级跃迁的机制,也反映了材料的性能及其缺陷。操作简便、全电脑控制PMEye-3000系列PL Mapping测量仪,是一款适合于半导体晶片和LED外延片科研、生产和质量控制环节的仪器;采用整机设计,用户只需要根据需要放置合适的检测样品,无需进行复杂的光路调整,操作简便;所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计,采用真空吸附方式对样品进行固定,防止对样品的损伤;可对常规尺寸的晶圆样品进行精确定位,提高测量重复性。系统采用直流和交流两种测量模式,直流模式用于常规检测,交流模式用于微弱荧光检测。荧光测量一般的PL测量仪只是测量荧光的波长和强度。PMEye-3000系列增加对激光强度的监控,并根据监控结果来对荧光测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差,也使测量结果有可比性。Mapping功能PMEye-3000系列配置200X200mm的X-Y电控位移台,最大可测量8英寸的晶圆样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域及空间分辨率,扫描速度优于每秒20个点,空间分辨率可达10um(物镜),50um(透镜)。扫描结果以3D方式显示,以不同的颜色来表示不同的荧光强度。激光器PMEye-3000系列有多种高稳定性的激光器可选,系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器,标配为1个激光器。用户可以根据测量对象来配置不同的激光器,使PL检测更加灵活。PMEye-3000系列可内置的激光器波长有:266nm,405nm,442nm,532nm、785nm等,外置激光器波长有:325nm,632.8nm等。功能强大的软件我们具有多年的测量仪器操作软件的开发经验,熟悉用户的操作习惯,这使我们开发的这套PMEye-3000系列操作软件功能强大且操作简便。PMEye-3000系列操作软件提供单点PL光谱测量及显示,单波长的X-Y Mapping测量及显示,mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下,将呈现不同的荧光效果,这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示,从图中我们可以发现在室温时,GaN薄膜的发光波长几乎含盖整个可见光范围,且强度的最高峰出现在580nm附近,但整体而言其强度并不强;随着温度的降低,发光强度开始慢慢的增加,直到110K时,我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现,且当温度越降越低,这个小峰强度的增加也越显著,一直到最低温25K时,基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm,而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值,因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去,则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV,即特征波长为357.1nm,非常靠近实验所得的356.6nm,因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。性能及功能扫描模式单波长mapping摄谱模式峰值波长mapping;给定波长范围的积分光源405nm激光(标配)150W溴钨灯(可选,用于膜厚测量)光源调制斩波器光谱仪三光栅DSP扫描光谱仪光谱仪焦距500mm(标配)波长准确度± 0.2nm(1200g/mm,300nm)± 0.6nm(600g/mm,500nm)± 0.8nm(300g/mm,1250nm)探测器Si探测器,波长范围:200~1100nm (标配)数据采集设备带前置放大器的数字采集器DCS300PA锁相放大器SR830二维位移平台行程200*200mm,重复定位精度3&mu m样品台具有真空吸附功能,对主流的3&rsquo &rsquo ,4&rsquo &rsquo ,5&rsquo &rsquo ,6&rsquo &rsquo ,8&rsquo &rsquo 的晶片可进行精确定位Mapping扫描速度优于20点/秒Mapping位移步长最小可到1um空间分辨率10um(物镜方式),50um(透镜方式)重复定位精度3&mu m探测器选择探测器类型光谱响应范围R1527光电倍增管200~680nmCR131光电倍增管200~900nmDSi300硅光电探测器200~1100nmDInGaAs1700常温型铟镓砷探测器800~1700nmDInGaAs1900制冷型铟镓砷探测器800~1900nmDinGaAs2200制冷型铟镓砷探测器800~2200nmDinGaAs2600制冷型铟镓砷探测器800~2600nm
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  • TCM500 NDVI草坪色彩测量仪一、用途TCM500 NDVI草坪色彩测量仪用于测量判断草坪的健康情况。通过光谱分析原理,计算出归一化植被指数NDVI,提供了客观、准确的草坪色彩判断的标准,了解所测草坪的绿色程度,进而指导草坪管理维护。二、特点体积小,携带方便实时液晶显示操作简单易懂可以存储数据,实时计算平均值三、技术指标测量样品草坪测量原理红光(660 nm)和近红外光(850 nm)的反射率光源内置光源测量面积约7.6厘米测量单位红光和近红外光的反射率百分比(0.0~99.9);NDVI(0.000~1.000);绿色指数(1.00~9.00)测量间隔测量一次需要1秒(不带定位时)重复性测量值的±5%数据格式逗号分隔文本文件工作温度0~+40℃防护等级防尘自动关机10分钟无操作自动关机供电9V电池,可以测量3000次数据存储容量可保存3250个数据(不含定位信息时)四、仪器组成主机、T形手柄、数据下载软件产地:美国
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  • POGO Pro草坪土壤三参数测量仪可以同时测量显著影响草坪质量的因素,即湿度,可溶性离子浓度EC值,土壤温度。非常适合于高尔夫球场和足球场等草坪的维护管理以及草业科学、园艺和农学等相关领域研究使用。主要特点l 高精度且无需校准;l 集成专业的GPS接收器;l 探针不会对草坪造成物理损伤;l 通过WiFi进行无线连接和存储;l 自动生成有关草坪健康情况的报告;l 分析结果的可视化,在草坪云图上描绘空间数据。主要参数1.传感器探针数量:4个;2.传感器探针直径:3.175mm;3.温度范围:-10.0℃到+55.0℃;4.温度精确度:+/-0.1℃;5.电池使用时间:1天以上;6.湿度测量范围:从完全干燥到完全饱和;7.湿度精确度:对于大部分草坪/土壤系统为+/-0.01wfv, 对于结构精细的土壤不超过+/-0.03 wfv;8.电导率(EC ds/m)范围:0.1到15.0 ds/m(mmhos/cm);9.电导率(EC ds/m)精确度:+/-2.0%。产地与厂家:美国 Stevens
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草坪测量仪相关的资讯

  • 泽泉科技应邀参加第九届国际牧草与草坪草分子育种学术研讨会
    2016年8月15-19日,由中国工程院、中国草学会、兰州大学、草地农业生态系统国家重点实验室主办,中国草学会草业生物技术专业委员会和兰州大学草地农业科技学院承办的第九届国际牧草与草坪草分子育种学术研讨会(The 9th International Symposium on Molecular Breeding of Forage and Turf, MBFT)和第三届全国草业生物技术大会在甘肃兰州隆重召开。国际牧草与草坪草分子育种学术研讨会是草类植物分子育种学术界规格最高、规模最大的世界性学术与技术盛会,会议每2-3年举办一次,迄今已举办过8届。这是该学术研讨会首次在中国和发展中国家举办,彰显了我国牧草与草坪草分子育种方面的科技实力已被国际学术界认可。 会议现场 本届研讨会会期4天,来自澳大利亚、美国、英国、荷兰、墨西哥、日本、韩国、巴基斯坦、中国等国草业科学研究领域的相关专家250余人参会。与会专家围绕&ldquo 种质资源多样性及其对育种的影响&rdquo 、&ldquo 非生物和生物胁迫&rdquo 、&ldquo 生物质能源&rdquo 、&ldquo 牧草和草坪草研究的新技术、新工具和新方法&rdquo 、&ldquo 功能基因组学和遗传图谱构建&rdquo 、&ldquo 植物微生物互作&rdquo 等议题探讨牧草与草坪草分子育种的国际前沿问题,分享最新研究成果,寻求未来分子育种发展方向。澳大利亚German Spangenberg教授和王增裕教授分别作大会开幕式和闭幕式主旨报告。 泽泉展台 上海泽泉科技股份有限公司应邀出席本次研讨会,并在会议期间向广大用户展示了德国WALZ公司光合作用测量仪器、美国CID公司便携式测量仪器、种子质量评价与检测方案(种子成熟度和活力检测新方法)、植物CT三维成像系统等,吸引了来自中国农业大学、河南农业大学、山东省农科院等单位的专家们前来展台交流。泽泉科技工程师与现场参会的老用户交流了仪器的使用技巧,如CI-600根系成像输出等,专业耐心的解答得到了用户的认可与好评。部分用户对泽泉科技在上海浦东建立的AgriPheno&trade 高通量植物基因型-表型-育种服务平台产生了极大的兴趣,表达了亲自前往平台参观考察的意愿。 展台交流 本次参会得到了会议承办方中国草学会草业生物技术专业委员会、兰州大学草地农业科技学院和与会专家们的大力支持,泽泉科技在此表示衷心的感谢!
  • LI-COR新产品介绍——LI-710蒸散测量仪
    蒸散(Evapotranspiration)是地表水分循环和能量平衡中的重要组成部分,也被称为蒸散发,由地表水分蒸发和植物蒸腾耗水两部分组成。它在分析气候干燥度、评估水资源利用、管理草坪/作物灌溉以及研究区域生态环境变化(如荒漠化)等方面发挥着关键作用。蒸散的两个组分:地表蒸发和植物蒸腾(图源/Wikipedia)目前,有两种方法可用于获取蒸散数据:间接获取法和直接测量法。间接获取蒸散量的方法往往需要获取两个参数:作物系数和潜在/参考蒸散量,这无疑增加了数据估算的不确定性。涡度相关通量测量技术可用于直接测量地表蒸散量,但由于方法复杂性等原因,一直没有得到广泛应用。为解决这一问题,LI-COR公司开发了LI-710蒸散测量仪,该仪器基于得到广泛认可的涡度相关通量测量技术,可直接测量地表与大气之间的水汽交换通量,成为直接测量样地蒸散的理想选择。LI-710蒸散测量仪的主要特点可验证的精准度LI-710采用涡度相关通量测量技术,以10Hz的频率测量垂直方向上的风速和水汽浓度。通过成熟的涡度相关通量数据算法,每30分钟得到水汽通量数据和蒸散量。与传统涡度相关仪器采集的数据以及根据彭曼公式计算得到的潜在蒸散量数据相比,LI-710数据显示出很好的一致性(详见下图)。直接输出计算完毕的蒸散数据LI-710内嵌计算模块,直接输出计算完毕的蒸散数据,这使得用户无需花费额外时间和精力进行数据处理和分析。不仅如此,该模块的算法遵循成熟的涡度相关通量数据处理方法,确保了蒸散数据的准确性和可靠性。方便快捷的安装极简式设计,即连即用。这大大减少了用户的野外工作时间,降低了安装和操作的门槛,即便是非专业人士也能轻松上手。SDI12数据输出采用一根线缆输出数据,方便数据采集和集成到现有测量系统中。低功耗1.5w的低功耗设计,方便在野外部署。无需校准,维护量极低可方便地进行多点布设,无需校准和频繁维护。选择 LI-710 ,还是传统涡度相关通量测量系统?先看下面的对比表综上所述,如果您需要简便地获取蒸散量数据,LI-710 是更适合的选择;如果您需要同时获取CO2通量数据,或者对涡度相关数据有专业需求,传统涡度相关测量系统可能更适合您。应用案例(一): 安装在US-PAS站点(美洲通量网)的LI-710 US-PAS站点(美洲通量网)位于佛罗里达坦帕东南的牧场上。站上配备了一套完整的LI-COR涡度相关通量观测仪器(以下简称EC)。Bracho-Garrillo是该站的首席调查员,同时也是佛罗里达大学的老师。他对LI-710蒸散传感器进行了测试。对比数据显示,LI-710和EC取得的蒸散结果一致性非常高。US-PAS站点的LI-710(左),右侧是LI-COR涡度相关通量测量系统Bracho-Garrillo表示:“LI-710布设起来非常容易,耗电少,不需要额外的电源配置,这对于野外台站来说太方便了。”他认为LI-710能有效指导人们进行灌溉管理。“人们习惯于使用作物系数来估算ET,因为不是实测,这会带来较大的误差。”他解释道,“LI-710能非常方便的实测ET,这是一个巨大的技术进步。”应用案例(二):Land IQ 公司科学家们利用 LI-710 分析加州地区的农业需水Land IQ 公司总部位于加利福尼亚州首府萨克拉门托,是一家专注于提供农业科学咨询和遥感服务的企业。他们推出了Land IQ ET,这是一款基于数据驱动的实地用水模型,利用了来自80多个气象站的地面数据。Land IQ 公司的主要客户是当地的水资源管理部门,其中包括近40个地下水可持续发展机构(GSA)。这些机构监测着35-40种不同作物的蒸散量,总面积达300多万英亩,主要覆盖Stanislaus、Madera、Fresno、Tulare、Kings和Kern六个农业县。该公司的科学家Frank Anderson每月收集并分析来自气象站的数据,作为蒸散量ET模型的数据基础。他表示:“我们致力于为客户收集全面且准确的蒸散量数据。”自2022年11月以来,Land IQ公司已在其研究网络中安装了5套LI-710蒸散测量仪,这些新设备安装在现有气象站旁边。Anderson表示:“我们计划在不同覆盖类型的样地上部署LI-710,包括休耕地、开心果树林、杏树林、柑橘林和苜蓿地等。特别是对于苜蓿地,由于其需要定期插播,这使我们能够分析蒸散量数据的变化。”他们选择在蒸散量ET较低的时段安装LI-710。Anderson对LI-710采集的数据很满意,他说:“LI-710在蒸散量较低的情况下采集的数据可靠性很高。”在一家奶牛场旁的苜蓿样地上,他们安装的LI-710在高粉尘环境中运行。Anderson表示:“这是一个挑战,因为样地空气中存在氨、挥发性有机化合物和灰尘颗粒等。”为此,LI-COR公司开发了一个工具,可以帮助用户轻松更换过滤器。Anderson认为,LI-710的安装和维护非常简单。两个人花了不到一个小时就将LI-710安装到了现有的气象站系统中。他对LI-710采集的数据非常满意,表示:“我们的整个数学模型都需要建立在可靠的蒸散实测数据基础上。我们希望能够在更多地点部署LI-710并实现联网观测。”
  • 中图仪器参与起草的《螺纹量规扫描测量仪校准规范》正式发布
    由中国计量科学研究院和深圳中图仪器等单位起草的《JJF1950-2021螺纹量规扫描测量仪校准规范》发布,将于2022年6月28日正式实施。螺纹检测问题是一直困扰世界机械工业的一大难题,是阻碍我国机械行业质量提高的一大瓶颈。随着中图仪器SJ5200系列螺纹综合测量机的推出,其采用接触扫描式原理,接触式螺纹检测技术颠覆了传统的螺纹检测方法,其突破性、历史性地解决了螺纹单参数综合检测的方法,能较真实、全面地综合反映螺纹的各项几何参数指标。接触式测量是利用扫描针与被测螺纹表面进行轴向截面轮廓的接触扫描,由测量系统获得螺纹轴向轮廓的形貌,按螺纹参数的相关定义直接进行分析与计算,获得螺纹的综合几何参数,其测量、计算完全符合螺纹参数的定义,并且其拥有的数据库能自动进行螺纹的合格性判断。整个过程仅需2分钟,一次测量就能全自动获得圆柱和圆锥螺纹的作用中径、单一中径、中径、大径、小径、螺距、牙型角、牙型半角、牙侧直线度、螺纹升角、锥度等参数,非常适合各等级螺纹的检测。《JJF1950-2021螺纹量规扫描测量仪校准规范》的正式发布对我国螺纹量值的准确可靠具有重要意义,将促进我国螺纹产业高质量发展。中图仪器目前已参与起草制定10余部国家、地方标准和校准规范,促进了我国计量、测量行业技术发展。未来我们将承担越来越多的标准、校准规范的制定和修订任务,全面实施质量强企和标准化战略,进一步提升公司品牌影响力!

草坪测量仪相关的方案

草坪测量仪相关的资料

草坪测量仪相关的论坛

  • 轮廓测量仪测量铁道特殊轮毂沟槽的应用

    在4月份 CIMT2017北京国际机床展上,几位神秘观众来到我公司展台前拿出一份图纸,面带焦虑的询问道:“我们工件的这个沟槽凸台非常重要,之前咨询过国内外一些仪器厂家得到的答复是不能测量或者需要破坏式测量。为此公司的领导已经下了军令状,一定要找到好的解决方案,请问你们公司的仪器能否测量?”[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708058075979.jpg[/img][/align][align=center]图 1工件图纸[/align]  我公司技术人员接过图纸一看:图纸上的沟槽较狭小,一侧是盲边且角度小,用传统仪器测量是有很大的难度。技术人员经过分析评估后,告知客户我们的[color=#3366ff][b]轮廓测量仪[/b][/color]可以测量,但需要定制测针,随后向客户讲解我司轮廓测量仪的工作原理、测量过程及相关技术参数,客户听后十分认可我们的方案,后期将工件邮寄至我司测量。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708054168013.jpg[/img][/align][align=center]图 2工件实物[/align]  技术人员收到客户的工件后,先是对其特征进行分析,模拟测针在测量工件沟槽内的着力点和面时,测针需满足哪些要求与突破哪些限制。然后设计制作测针,我公司拥有完全自主的设计和加工制造能力,很快定制的测针及连接装置就迎刃而解,经过品质检测符合设计要求。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708053543905.jpg[/img][/align][align=center]图 3扫描过程模拟[/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708059325952.jpg[/img][/align][align=center]图 4定制的测针[/align]  紧接着就是实物测量过程,把定制的测针安装到SJ5760轮廓测量仪上,并对测针进行相关参数调试后,实物测量就正式开启,随着测针在工件的沟槽内有条不紊地行进扫描,检定软件将测针扫描的相关数据绘制在计算机屏幕中,形成一幅精美的二维效果分析图。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708055731400.jpg[/img][/align][align=center]图 5测量过程[/align]检测结果如下:[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708055418522.jpg[/img][/align][align=center]图 6测量结果[/align]  将工件测量结果提供给客户后,客户惊讶的同时感慨道:“没想到是国内的厂家替我们解决了棘手难题,中图仪器快速响应客户需求的能力让我们对国产测量仪器设备厂家刮目相看。”附:SJ5760轮廓测量仪技术参数1.X轴1) 测量范围:0~200mm;2) 示值误差:±(1.2+2L/100)μm,其中L为水平测量长度,单位:mm;3) 分辨率:0.01μm;4) 直线度:2μm/200mm5) 测量速度:0.1~5mm/s;6) 移动速度:0~80mm/s;2.Z轴1) 测量范围:0~450mm;2) 移动速度:0~30mm/s;3.Z0轴1) 测量范围:±25mm;2) 示值误差:±(2+|2H|/40)μm,其中H为垂直测量高度,单位:mm;3) 分辨率:0.01μm;4.测量力:10~150mN;5.爬坡能力:上坡77o,下坡83o;[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2017/8/201708052450577.jpg[/img][/align][align=center]图7 SJ5760轮廓测量仪[/align]

  • 触针式表面粗糙度测量仪的原理

    目前,检测表面粗糙度比较常用的方法是比较法、光切法、干涉法、触针法和印模法等,而其中触针法因其测量迅速方便、测量精度高、使用成本较低等良好特性而得到广泛使用。当采用触针法对加工工件表面进行表面粗糙度测量时,探测头上的触针在被测表面轻轻划过。由于存在轮廓峰谷的起伏,所以触针将在垂直与被测轮廓表面方向上产生上下起伏的移动。这种移动量虽然非常微细,但足以被敏感的电子装置捕捉并加以放大。放大之后的信息则通过指示表或其他输出装置以数据或图形的方式输出。这就是触针式表面粗糙度测量仪的工作方式。其中,按其传感器类型可以分:电感式、压电式、光电式等;按其指示方式又可分为:积分式、连续移动式。触针式表面粗糙度测量仪由传感器、驱动箱、指示表、记录器和工作台等主要部件组织。其中电感传感器的工作原理为:传感器测杆一端装有触针(由于金刚石耐磨、硬度高的特点,触针多选用金刚石材质),触针的尖端要求曲率半径很小,以便于全面的反映表面情况。测量时将触针尖端搭在加工工件的被测表面上,并使针尖与被测面保持垂直接触,利用驱动装置以缓慢、均匀的速度拖动,当触针在被测表面拖动滑行时,将随着被测面的轮廓峰谷表面作反向上下运动,并将运动幅度放大,从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化,并将触针微笑的垂直位移转化为同步成比例的电信号。

草坪测量仪相关的耗材

  • 多功能翘曲度测量仪配件
    多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆(wafer)和太阳能电池(solar cell)的翘曲度(warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计,可以测量晶圆翘曲度(wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率,既适合科研单位使用,也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪: 1. 非反射型:适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带(wafer tape),图案化晶圆 /图样化晶圆(patterned wafer),粗糙的晶圆的应用; 2. 高反射型: 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点: × 适合不同尺寸的晶圆检测,从0.5’‘到12' ' 的直径; * 标准检测能力为: 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池; × 同时测量多个晶圆或太阳能电池; × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力; * 对晶圆表面进行图像分析; * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆; * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数: × 翘曲度测量范围:1-20微米; * 重复精度: 百分之0.5 (1 sigma) * 给出结果:曲率半径,晶圆弯曲高度,翘曲度,测量日期和时间; * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可选项); * 光源:根据用户的应用而配备不同光源; * 探测器:高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件;
  • 测量仪性能指标
    产品特点:测量仪性能指标主要行业/应用测量详细信息* 制药行业 * 食品安全 * 生物农业 * 环境 * 水质* 酸碱水平 * 相关离子的电极电位值(mV) * G4383A 是只包括 3200P 测量仪的套装 * G4391A 的基本套装包括电极、电极支 架和缓冲剂 * G4392A 的组件包括三复合电极、电极 支架和缓冲剂* 环境 * 石油化工 * 食品安全 * 生物学 * 电导率 * 电阻率 * 总溶解固体(TDS) * 盐度 * 当前溶液温度值* G4384A 是只包括 3200C 测量仪的套装 * G4393A 的套装包括 3200C 测量仪、电 极和电极支架 * 环境 * 污水处理 * 自来水水源监测 * 食品安全 * 水产养殖 * 饮料生产 * 生物农业 * 科学研究* 溶解氧浓度 * 水溶液氧的饱和度 * G4385A 是只包括 3200D 测量仪的套装 * G4395A 的套装包括 3200D 测量仪、电 极和电极支架 * 食品安全 * 生物农业 * 石油化工 * 环境保护 * 科学研究 * 疾病控制*电极电位值(mV) * pX 值和离子浓度 * G4396A 是只包括 3200I测量仪的套装 * 为 G4396A 的套装包括 3200I 测量仪、 pH 电极、电极支架和缓冲剂 * 为 G4397A 的 氟 离 子 测 定 套 装 包 括 3200I 测量仪、氟离子电极、电极支架 和缓冲剂* 水质 * 疾病控制 * 环境保护 * 生物农业 * 科学研究* 可同时测量 pH/pX、离子浓度、离子 电极电位(mV)、电导率、总溶解固 体量、盐度、溶解氧量和温度 * G4378A 是只包括 3200M 测量仪的套装 * G4398A 的套装包括 3200M 测量仪、电 极、电极支架和缓冲剂 测量仪性能指标安捷伦提供了不同测量仪以满足您最具挑战性的应用。测量仪性能指标优势3200P3200C3200D3200I3200M 温度:-5.0-110.0 °C 可在很宽的温度范围内使用 测量模式:连续/定时读取/自动锁定采用一台测量仪即可进行多种方式测量点阵式液晶显示屏 快速获得实验结果 易于初学者使用数字操作键简便的操作适合于各种熟练程度的实验操作人员3200P3200I3200M 缓冲液可自动识别 可选用 NIST 和 GB 标准缓冲液 高阻抗:3 x 1012?可从众多类型电极中选择适合测定您样品的电极溶解氧 测定的准确度:±0.10 mg/L 精确测量和优异的温度补偿功能实现了卓越的溶解氧测定准 确度3200I3200M 为 H+、Ag+、Na+ 和 K+ 提供离子测量模式 NH 、 2 4+ Cl-、F-、NO 、 3- BF 、 4- CN-、Cu +、Pb2+ 和 Ca2+易于更换电极(或离子选择电极),实现多种离子灵活地分析 不同单位之间可以自由转换自动优化测量并保证结果准确离子浓度测量模式:直接读取模式、“标准”添加模式、样品 添加模式和 GRAN 作图添加模式操作方便
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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