薄膜中表面形貌检测方案(扫描探针)

智能文字提取功能测试中

中宇亿诚科技有限公司Join Honors Tech Co.，LTD Nanite全自动碳化钨球粗糙度测定仪 如何让常规产品的质量控制 在原子力显微镜测试条件下创造出竞争力 如今许多高科技产品都依赖纳米级功能结构，例如在移动电话，集成电路，眼镜等产品里，纳米米功能结构已经成为司空见惯的组成部分。但随着人们对产品及其质量要求的逐步增加，微小结构和评价它们的能力也成为常规产品生产制造的关键因素。一一个圆珠笔制造商的经验展示了如何使原子力显微镜能够在生产过程中实现高精度的质量控制，在过程中消除整个生产步骤误差。每个人都讨厌对付发出刮擦擦或或脏的圆珠笔头，但不是每个人都知道，常常这种故障是制造误差的结果：：书写流畅主要取决于笔尖球体表面的粗糙度。它的表面粗糙度需要在于一个明确的区间：太粗糙，笔会渗漏；太光滑，它划擦不能输送足够的墨水。因而这个小钢球的粗糙度成为决定整个书写工具质量的指示器。在过去，这些球的表面只能通过制作一支完整的笔在使用中测试他们，如果制造商选择采用纳米层级下的可靠的质量控制来代替，这个昂贵的步骤就可以被省略。 测量原子间作用力 原子力显微镜(AFM)属于扫描探针显微镜家族，它主要用于表面形貌特征检测。为实现其高分辨率，它依靠的是探察表面和探针之间微小的原子间力的能力。测量时，原子力显微镜控制器轻轻的追踪它的探针，，一支用显微镜可见的针固定在一支柔韧的悬臂上，在设定的光栅图中沿着表面形貌逐行扫描。高度变化的表面特征导致微悬臂反射的变化，通过检测针尖和表面间的原子间作用力和光学传感器测量表面形貌。控制软件采集在预定区域的样品数据并校对它们，从而得到表面精确的三维形貌像。这种成像能像照片一样形象化得到高度的图像，这样就能对样品表面有直接的理解。 圆珠笔笔尖AFM形貌像 一个新时代 这种高分辨率显微镜的一个缺点是它的技术复杂性。只有高级资深专家才能利用这种重要的方法。Nanosurf Nanite AFM 开创微原子力显微镜的新时代。这个小小的 AFM 展示了一组令人感兴趣的功能和特点，由此荣获了2007年“未来发明”类瑞士技术奖。它操作简单，易于使用，甚至可以由外行人操作得到高分辨率的表面信息，合理的价格使它得到广大研究者的关注，特别是中小企业。Nanosurf Nanite AFM-个突出的特点是它可以全自动完成一系列的测量而无需操作者在场，这样就可以提高生产力同时减少工作强度。而且， Nanite 进入了一个新境界，它能根据相关测量需要和要求进行定制。Nanite 系统平台提供了最大的可能性去适应整个测试过程，包括样品夹具，测量常规程序，和测量结果评价，可以满足不同客户的希望。 44搁在定制样品夹具中不同直径的钢球，夹具已预设定位置 钢球测试 但是 Nanite 是如何控制上述圆珠笔球形头钢球产品的质量的?首先，需要设计一个专用的样品夹具，可以在已知位置夹住20个钢球，并且能被精确再定位，因为钢球的位置需要一次性输入软件中。接着，适合测试任务的测量程序被开发。在这个例子中， AFM 测量钢球上的2条正交线。从这些数据，软件能计算出钢球的最高点，在钢球的表面 AFM 图像上定出中心。最后，设置和保存最关键的测量参数，例如测量速度，灵敏度和图像大小。Reporting 软件将执行全自动的分析，并提供百万钢球的粗糙度样本。这个分析将显示正在讨论的这批次产品是否满足制造商的要求，制造商现在将不在要求进行完整的系列测试，因为他已经有可靠的质量证据在进行下一步生产前。 新远景，新工具。在车间使用的高科技显微镜 随着价位合理易于使用的原子力显微镜的出现，在中小企业中以前只为研发准备的显微镜工具现在也可用于样品和规模生产中。就像其他技术一样，时间将告诉我我，纳米级别的简单快速表面分析会给工业带来最大的好处，，一系列潜在的成本节约和质量利润。现在许多单位使用比较不准确的轮廓仪，这样也局限他们的数据处理可能性，他们将发现 AFM 提供了进入纳米世界的新洞察力。管理的法则，“你不能测试就不能管理”，鹰眼式 AFM 提供基本的测试条件，实现对新产品和改良产品了的解，更好的费用回报率和更高质量，这些的结果，就是更好的产品。 全自动 Nanite 原子力显微镜测试系统， 包括移动平台(下部)和它的控制器，原子力显微镜和它的控制器(上部) 地址：北京海淀区海淀路科城大厦电话：ww.ihonors.com Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ●  原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ●  大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ●  PZT/Voice Coil双模式技术AFM ●  全自动运动平台，马达驱动 ●  专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ●  先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围>10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ●  可以进行纳米压痕和划痕实验 ●  专利光学系统， XY闭环扫描技术 ●  独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围>10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发