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高纵深度光学相干层析扫描

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我司提供的光学相干层析扫描，利用自适应光学。具有目前业内最高的纵向扫描深度5um。目前正积极改善横向扫描深度。目前为国内领先世界上仅次于德国蔡司的OCT商用设备

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我司提供的光学相干层析扫描，利用自适应光学。具有目前业内最高的纵向扫描深度5um。目前正积极改善横向扫描深度。目前为国内领先世界上仅次于德国蔡司的OCT商用设备OCT系统方案（一）系统光路布局图1 SS-OCT的整体光学结构示意图图1是SS-OCT光学结构示意图。如图所示，整套系统围绕着封装好的整体式迈克尔逊干涉仪布局，该器件集成了光纤环形器、光纤耦合器和WDM器件，不仅可实现50/50的光束分光，而且提供了相应的光电平衡探测器。扫频光源（HSL 2100, Santec：中心波长1310nm，带宽110nm，扫频速度20 KHz）的成像光束进入迈克尔逊干涉仪之后，从环形器的入口端进入耦合器，并被耦合器分成两支：一支是由光纤准直镜和参考反射镜组成参考臂；另一支是由光纤准直镜、反射镜和成像物镜组成的样品臂，样品被放置于X-Y二维平移台上，实现X-Y扫描，从而获取样品的B-Scan和 C-Scan图像。当两支光路的光程≤光源相干长度时，其后向反射光在耦合器中形成干涉信号。接着干涉信号又被耦合器分成两支：其中一支进入光纤环形器，并从环形器的出口端出射；另一支进入WDM器件（对660nm和 1300nm波段可以实现复用分光），从WDM器件的1300nm端口出射。通过WDM器件和环形器的使用，可以方便的实现了平衡探测，消除掉SS-OCT中的直流信号，提高SS-OCT系统的信噪比。最终干涉信号被平衡探测器接收，并通过数据采集卡实现A/D转化传送送入电脑，进行数据处理和图像重构。（二）筱晓光子技术提供器件列表根据内容（一）可以开展SS-OCT系统的选型，并形成如下的器件表：名称选型因素扫频激光器技术成熟，功能稳定；分辨率和成像深度涵盖绝大部分的OCT应用场合数据采集卡刚好具备100MHz的采样率迈克尔逊干涉内含平衡探测器，可以实现平衡探测，提高系统信噪比仪成像物镜横线分辨率 5um左右，涵盖绝大多数 OCT 系统的使用范围 X-Y 平移台线性平移扫描台，可以在慢速下，实现超采样B-Scan 扫描光纤准直器满足 5um 横向分辨率的要求偏振控制器实现对样品光和参考光的偏振态匹配。反射镜

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