当前位置：金属矿产 > 方案详情

白铁矿晶体中晶粒取向分析检测方案(扫描电镜)

检测样品金属矿产

检测项目晶粒取向分析

关联设备共1种下载方案

泰思肯（中国）有限公司

白金会员 29 篇解决方案

方案详情文

取向是晶体材料的重要基本参数，拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析，但是对于很多无机材料来说，取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。

智能文字提取功能测试中

泰思肯(中国)有限公司上海市闵行区联航路1688弄旭辉国际28号楼1层电话 +86-21-64398570 传真 +86-21-64806110邮箱： market@tescanchina.comTESCAN 中国官网 www.tescan-china.com 应用解决方案 TESCAN 应用技术文档Application documents by TESCAN CHINA 分析测试解决方案 Complete solution for analysis and testing 无机材料之取向分析应用解决方案无机材料之取向分析取向是晶体材料的重要基本参数，拉曼光谱虽然不能像 EBSD一样直接进行晶面指数的分析，但是对于很多无机材料来说，取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。如下图，试样为白铁矿晶体，主要成分为FeS2，结构属斜方双锥晶类，对称性较低。在RISE 系统下， SEM 图像获得了明显的 ECC衬度，然后再进行曼曼光谱面扫描，发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化，其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后，得到了随取向变化的 RISE 图像。 10 pm 应用解决方案虽然我们不能得到每个晶粒的精确的取向，但是晶粒的分布及大小却可用非常清楚的从 RISE 图像获得。RISE 不同于 EBSD 识别衍射花样，它另一个角度为分析晶粒提供了一定新的方法。 Performance In Nanospace第页，共页TESCAN CHINA， Ltd. 如下图，试样为白铁矿晶体，主要成分为FeS2，结构属斜方双锥晶类，对称性较低。在RISE系统下，SEM图像获得了明显的ECC衬度，然后再进行拉曼光谱面扫描，发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化，其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后，得到了随取向变化的RISE图像。

关闭