Pt(C)薄膜中形貌和电学特性检测方案(扫描探针)
检测样品 电子元器件产品
检测项目 形貌和电学特性
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QuantumDesignCHINA AFSEMTM原位分析辐照剂量对样品形貌和导电性的影响 > 形貌观察与导电特性分析有效关联 > 原位观测：在电子束辐照处理与微区导电特性测试之间方便切换，测试高效 样品处理与表征之间，无需样品转移，有效避免样品暴露在空气中的不利影响 图1带有导电铂针尖的自感应悬臂梁 图2测试流程示意图 图3利用AFSEMTM原位表征经过聚焦电子束辐照处理的Pt(C)薄膜，其形貌轮廓、导电特性依赖于辐照剂量 CHINA 相关产品： 扫描电镜专用原位 AFM 探测系统： hthtttpps：//qd-china.com/zh/pro/detail/3/1912082218984 Ouantum Design China AFSEMTM原位分析辐照剂量对样品形貌和导电性的影响 Ø 形貌观察与导电特性分析有效关联Ø 原位观测：在电子束辐照处理与微区导电特性测试之间方便切换，测试高效Ø 样品处理与表征之间，无需样品转移，有效避免样品暴露在空气中的不利影响 图1 带有导电铂针尖的自感应悬臂梁图2 测试流程示意图图3 利用AFSEMTM原位表征经过聚焦电子束辐照处理的Pt(C)薄膜，其形貌轮廓、导电特性依赖于辐照剂量
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QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司为您提供《Pt(C)薄膜中形貌和电学特性检测方案(扫描探针)》，该方案主要用于电子元器件产品中形貌和电学特性检测，参考标准《暂无》，《Pt(C)薄膜中形貌和电学特性检测方案(扫描探针)》用到的仪器有扫描电镜专用原位AFM探测系统。
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