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Xenocs赛诺普小角X射线散射仪测量对结晶度和层状尺寸与电性能进行相关性分析

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利用SAXS和WAXS测量对结晶度和层状尺寸与电性能进行相关性分析。

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PVDF-TrFE是一种多功能压电聚合物,因其铁电和热电性能而受到广泛研究和关注。它在能量收集、传感器和电池技术、非挥发性存储器和组织工程等各个领域都有应用。PVDF-TrFE的电性能受其结构影响,因此可以通过改变形态、结晶度、结晶相比例或晶粒尺寸来调整。小角和广角X射线散射(SAXS和WAXS)是优秀的分析技术,可监测结晶度、纳米结构和层状尺寸的变化,然后将其与电性能的变化进行相关性分析。在本应用手册中,我们展示了如何通过SAXS和WAXS测量轻松地表征层状结构和结晶度。该技术的高灵敏度使我们能够在长周期(对应于结晶和无定形相)和短周期(对应于结晶相的尺寸)中识别β相含量的微小变化以及层状相的改变(如图1所示)。这些结构的变化将进一步影响材料的电性能。

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赛诺普(苏州)科学仪器有限公司为您提供《Xenocs赛诺普小角X射线散射仪测量对结晶度和层状尺寸与电性能进行相关性分析》,该方案主要用于其他中无检测,参考标准《暂无》,《Xenocs赛诺普小角X射线散射仪测量对结晶度和层状尺寸与电性能进行相关性分析》用到的仪器有X-ray Scattering Analysis and Calculation Tool。

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