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频域技术测试荧光寿命,不依赖激发源的快速闪烁频率,测试速度快,不存在TCSPC的无响应时间导致的测试速度限制(通常为90ns);所以理论讲,频域技术测试荧光寿命,可以比TCSPC快上月10倍,为动态荧光寿命成像创造了可能。对于频域技术的诟病,一直是我们无法直接读取寿命,不够直观。本文讲解采用矢量图方法,简化了需要大数据量拟合后获得荧光寿命的过程,在矢量图中直接读取荧光寿命,包括指数个数等,完全跨越了拟合过程,是荧光寿命测试技术的里程碑式进步。是的频域技术获得崭新的形象。本文的作者是荧光光谱测试原理作者,马里兰大学教授Joseph R. Lakowicz;希望读者对这个中国使用者比较陌生的频域荧光寿命测试技术有一个新的印象。
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天津东方科捷科技有限公司为您提供《细胞成像及一般荧光样品中荧光寿命检测方案(共聚焦显微镜)》,该方案主要用于其他中荧光寿命检测,参考标准《暂无》,《细胞成像及一般荧光样品中荧光寿命检测方案(共聚焦显微镜)》用到的仪器有激光共焦荧光寿命成像系统 FastFLIM。
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