电源管理芯片中高低温冲击耐受检测方案(冲击试验箱)

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伯东企业（上海）有限公司HAKUTO ENTERPRISES (SHANGHAI) LTD.TEL: (86) 21-5046 3511 FAX: (86) 21-5046 1490 上海伯东美国 inTEST (​http:​/​​/​www.hakuto-vacuum.cn​/​product-list.php?pid=88" \t "_blank​) 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试 在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS 系列高低温冲击测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度; inTEST 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件; 可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等工程机联用. inTEST 热销型号 ATS-545 (​http:​/​​/​www.hakuto-vacuum.cn​/​product-detail.php?id=335" \t "_blank​) ATS-710 (​http:​/​​/​www.hakuto-vacuum.cn​/​product-detail.php?id=336" \t "_blank​) ATS-535 (​http:​/​​/​www.hakuto-vacuum.cn​/​product-detail.php?id=334" \t "_blank​) 温度范围 °C -75 至 + 225 -75至+225 -60 至 +225 变温速率 -55 至 +125°C 约 10 S +125 至 -55°C 约 10 S -55 至 +125°C 约 10 s +125 至 -55°C 约 10 s -40至+ 125°C < 12 s +125至-40°C < 40 s  空压机 额外另配 额外另配 内部集成空压机 控制方式 旋钮式 触摸屏 旋钮式 气体流量 scfm 4 至 18 4 至 18 5 温度显示和分辨率 +/- 0.1°C 温度精度 1.0°C（根据  NIST 标准校准时） inTEST ATS-545 电源管理芯片高低温冲击测试: 某生产电源芯片企业, 下图为实际的被测电源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通电的情况下进行温度测试. 要求测试温度范围﹣60℃～150℃, 进行12组不同形式的循环温度设定. inTEST ATS-710 电源管理芯片高低温冲击测试:某研发电源管理芯片公司, 芯片测试温度范围要求 -40 至 80度,在电测试时, 同时搭配测试仪, 设定不同的温度数值, 检查不同温度下电源芯片各项功能是否正常. 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题. inTEST ATS-535 电源管理芯片高低温冲击测试: 南京某公司, 因场地受限, 无法使用空压机, 最终选用 ATS-535 全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机进行测试. 鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解 inTEST 高低温冲击测试机 (​http:​/​​/​www.hakuto-vacuum.cn​/​product-list.php?pid=88" \t "_blank​)详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士 上海伯东版权所有, 翻拷必究！ 在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS 系列高低温冲击测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度; inTEST 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件; 可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等工程机联用.