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傅立叶红外技术可以快速、灵敏、无损地分析硅材料中的碳、氧含量，因此它在硅材料质量控制领域被广泛接受 和应用。布鲁克在这个前沿领域拥有和积累了几十年的经验，并结合布鲁克VERTEX 系列傅立叶红外光谱仪推出 了业内最专业和最与时俱进的完整分析方案。
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傅立叶红外技术可以快速、灵敏、无损地分析硅材料中的碳、氧含量，因此它在硅材料质量控制领域被广泛接受 和应用。布鲁克在这个前沿领域拥有和积累了几十年的经验，并结合布鲁克VERTEX 系列傅立叶红外光谱仪推出 了业内最专业和最与时俱进的完整分析方案。
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上海尔迪仪器科技有限公司为您提供《半导体材料中元素分析、薄膜分析、厚度分析检测方案(扫描探针)》，该方案主要用于集成电路中化学性质检测，参考标准《暂无》，《半导体材料中元素分析、薄膜分析、厚度分析检测方案(扫描探针)》用到的仪器有bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP、bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP、bruker布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD、bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD。
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