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VCSEL/薄膜测量/OES/终点检测/激光波长测量
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VCSEL 的生产和测试很多VCSEL制造商和集成商都使用Avantes公司的光谱仪来测试VCSEL的性能。许多客户发现Avantes的光谱仪在VCSEL的许多常规测试中可以替代昂贵的光谱分析仪（OSA）。Avantes光谱仪被客户称赞的主要优势包括高分辨率，高灵敏度，高像素数，软件易于集成，可以实现高速测试。
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北京爱万提斯科技有限公司为您提供《半导体中VCSEL/薄膜测量/OES/终点检测/激光波长测量检测方案(激光诱导击穿)》，该方案主要用于集成电路中物理性质检测，参考标准《暂无》，《半导体中VCSEL/薄膜测量/OES/终点检测/激光波长测量检测方案(激光诱导击穿)》用到的仪器有AvaSpec激光诱导击穿光谱仪、NIR256-1.7-HSC-EVO制冷型近红外光谱仪、爱万提斯2048CL-EVO光纤光谱仪、AvaSpec-ULS4096CL光纤光谱仪。
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