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纳米粒子的高比表面为它们提供了独特的特性，这使得它们不管在高科技还是传统行业的应用中都具有吸引力，例如在建筑业。由于提纯选择的技术有限，生产过程中对尺寸和形状的控制至关重要。X 射线散射测量可以有效地得到这些参数，此外，还可以深入了解形成机制。
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实验结果表明，原位SAXS分析银纳米粒子形成不仅能提供所形成粒子的尺寸和形状的详细信息，而且还提供了关于尺寸分布和形成机制的实时信息。这使得能够通过淬灭反应来控制合成结果。
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赛诺普（苏州）科学仪器有限公司为您提供《纳米颗粒中原位分析检测方案(X射线散射仪)》，该方案主要用于其他中表征检测，参考标准《暂无》，《纳米颗粒中原位分析检测方案(X射线散射仪)》用到的仪器有Xenocs小角X射线散射仪Nano-inXider。
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