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电子级氢氟酸中杂质含量检测方案(ICP-MS)

检测样品 其他

检测项目 化学性质

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方案详情

试样溶液经雾化系统雾化后形成气溶胶,由载气带入等离子体内,在高温和惰性氩气气氛中蒸发、汽化、解离和电离,转化成带正电荷的离子,经离子采集系统进入质谱仪,按离子的质荷比进行分离,各离子质谱峰的强度与样品中相应离子浓度成正比,可对各元素进行定性或定量分析。

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高纯氢氟酸为强酸性清洗、腐蚀剂,可与硝酸、冰醋酸、双氧水及氢氧化铵等配置使用,主要应用于集成电路(IC)和超大规模集成电路(VLSI)芯片的清洗和腐蚀,是微电子行业制作过程中的关键性基础化工材料之一,还可用作分析试剂和制备高纯度的含氟化学品。目前,在国内基本上是作为蚀刻剂和清洗剂用于微电子行业,其他方面用量较少。

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上海美析仪器有限公司为您提供《电子级氢氟酸中杂质含量检测方案(ICP-MS)》,该方案主要用于其他中化学性质检测,参考标准《暂无》,《电子级氢氟酸中杂质含量检测方案(ICP-MS)》用到的仪器有电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS6880。

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