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纳米颗粒（NPs）是开发改性（如光学、热学或机械性能）新材料的重要组成部分[1]。为了符合性能、成本及安全要求，必须严格控制颗粒大小、形状和浓度等参数。小角X射线散射（SAXS）是一种完善的可追溯性尺寸测量技术[2,3,4]。最近有研究表明，根据同步辐射设施采集的SAXS数据可以确定NPs的数量浓度，且量值溯源到标准单位制（SI）[5]。通过本应用手册我们可以证明，使用SAXS实验室设备，采集时间为10分钟，同样可以获得可溯源数量浓度
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SAXS是一种无损技术，可以用非常少的样品来确定样品结构。它不仅可以较大散射体积（通常是1mm3）的统计学相关的定量数据，还可以用于原位测试，所以是对显微镜的有益补充。SAXS对尺寸在1到250nm的颗粒比较敏感，对于大于100nm的颗粒， Nano-inXider的垂直设计有助于在浓度测量中减少沉淀。X射线散射可靠的理论框架使数量浓度的测量可溯源到SI单位，这是它仅与单粒子电感耦合等离子体质谱法（splCPMS）共同的属性。
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赛诺普（苏州）科学仪器有限公司为您提供《Xenocs小角X射线散射仪检测金纳米颗粒的数量浓度》，该方案主要用于纳米材料中金纳米颗粒的数量浓度检测，参考标准《暂无》，《Xenocs小角X射线散射仪检测金纳米颗粒的数量浓度》用到的仪器有Xenocs小角X射线散射仪Nano-inXider、赛诺普 毛细管流动池。
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