浅析高分辨率光学链路诊断仪（OCI）测试大插损光纤链路损耗

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借助光纤环形器，高分辨率光学链路诊断仪（OCI）可以透射式测量大插损链路总体损耗，测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗，OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损（RL）的动态范围，动态范围高达60dB以上时，可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量，进一步扩展OFDR设备使用场景。etsc东隆科技 浅析高分辨率光学链路诊断仪 (OCI) 测试大插损光纤链路损耗 武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI) 是基于光频域反射技术 (OFDR)，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，并且能轻松测试出光纤链路损耗情 况。 据了解，光频域反射技术(OFDR)测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差 异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪(OCI)插损测 量动态范围为 18dB，反射式测量方式动态范围为 9dB。当待测链路中累积损耗超出 9dB时，超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没，给测试带来误差。针对上诉情况，本文借助光纤环 形器测试出大插损光链路单向累积损耗。 首先，测试样品为可调光衰减器，借助环形器测试大插损装置如图1，将光纤环行器2端 口接到 OCI 设备 DUT口上，1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI 设备输出光从 环形器2端口进入，3端口输出，经过待测样品后进入端口1，最后从端口2返回 OCI仪器。 图1.借助环形器测试大插损装置示意图 OCI 测试整个光链路结果如图2，距离-回损曲线在 2.95719m 位置出现最大回损峰值，对 应整个光传输链路。由于 OCI 仪器默认显示为反射式测量，而本链路中借助环形器是透射式测 武汉东隆科技有限公司 电话：027-87807123 邮箱： sa l es @etsc-t ech.com 网 址 ： www.etsc-tech.com 地址：湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号 武 汉未来科技城海外人才大楼 B4座14楼(430206) 量，所以实际链路长度为显示距离的两倍 5.91438m。同时，该位置积分回损为-25.69dB，是环 形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。 图 2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图 第二，使用 OCI 单独测试光纤环形器，损耗测试装置如图3。 图3.环形器损耗测试装置示意图 武汉东隆科技有限公司 电话：027-87807123 邮箱： sa l es @etsc-t ech.com 网 址 ： www.etsc-tech.com 图 4.0CI测试环形器结果图 测试结果如图4，从图中可以看出距离-回损曲线在 1.86088m 位置出现最大回损峰值(实 际光纤环形器光链路长度为 3.72176m)，回损为-2.55dB，是环形器单向累积损耗总和。可调 光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB-2.55dB)。 第三，使用功率计测试可调光衰减器插耗，测试装置如图5，测得可调光衰减器插耗为 23.33dB， OFDR 测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。 图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图 改变可调光衰减器插损，按照上诉方法分别用 OCI 和功率计测试可调光衰减器插损值，下 表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。 序号 OCI测试插损(dB) 功率计测试插损(dB) 差值(dB) 1 15.34 15.18 0.16 2 20.36 20.19 0.15 3 25.14 24.96 0.18 4 30.63 30.39 0.24 5 35.98 35.69 0.19 6 40.01 39.82 0.19 武汉东隆科技有限公司 电话：027-87807123 邮箱： sa l es @etsc-t ech .com 网 址 ： www.etsc-tech.com 地址：湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号 武 汉未来科技城海外人才大楼 B4座14楼(430206) etsc东隆科技 7 45.21 44.98 0.23 8 50.31 50.06 0.25 9 55.54 55.31 0.23 10 60.35 60.11 0.24 从对比表可以看出 OCI 和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过 0.3dB， 且OCl测 试值均比功率计测试值大，这是由于功率计测试链路时，比 OCI 测试链路多一个 FC 法兰。 因此，借助光纤环形器，高分辨率光学链路诊断仪(OCI)可以透射式测量大插损链路总 体损耗，测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于 OCI 反射式测量光纤链路分布式损耗，OCI 透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性 依赖 OCI测试回损(RL)的动态范围，动态范围高达60dB 以上时，可实现超出动态范围的大 插损光链路损耗测量，进一步扩展 OFDR 设备使用场景。 武汉东隆科技有限公司 电话：027-87807123 邮箱： sa l es @etsc-t ech.com 网 址 ： www.etsc-tech.com