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利用岛津EPMA-1720型电子探针元素面分析的功能表征了不同温度、不同时间下,表面附着的Te元素对纯镍基体和镍铬二元合金基体的侵蚀扩散行为。结果显示:Te在中低温时主要沿晶界侵蚀进入到镍基体内部,在高温时,侵蚀模式由晶界逐渐转变为晶格侵蚀;Te在纯镍中的侵蚀深度随实验温度的升高而增加,随侵蚀时间的延长而增加;镍基中添加适量的Cr元素可以有效地抵抗Te对镍基的扩散侵蚀,特别是改善晶间腐蚀开裂的倾向。
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岛津企业管理(中国)有限公司为您提供《岛津电子探针对镍基体耐碲侵蚀扩散行为的表征》,该方案主要用于合金中侵蚀扩散行为的表征检测,参考标准《暂无》,《岛津电子探针对镍基体耐碲侵蚀扩散行为的表征》用到的仪器有电子探针EPMA-1720系列。
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