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超薄切片UC7制备缺陷检测样品

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样品是显示器上的偏振光片。由于里面的异物点很小，且不容易定位，可采用超薄切片机制备需要检测缺陷的样品。

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样品是显示器上的偏振光片。由于里面的异物点很小，且不容易定位，可采用超薄切片机制备需要检测缺陷的样品。

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广州领拓贸易有限公司为您提供《超薄切片UC7制备缺陷检测样品》，该方案主要用于电子元器件产品中/检测，参考标准《暂无》，《超薄切片UC7制备缺陷检测样品》用到的仪器有徕卡Leica EM UC7 超薄切片机。

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