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我们专注于工作流程解决方案，提供一系列产品，助力您在 TEM、SEM、LM和 AFM的研究工作。
徕卡显微材料科学工作流程---- 满足您需求的产品组合
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应用于材料科学研究的样品制备工作流程 通过 TEM、SEM、LM或 AFM表征材料样品时，样品制备是获得最佳结果的关键。要对样品进行 TEM观察时，需要制备非常薄的样品，而使 用 LM、SEM和 AFM进行分析表征，则要求样品表面光滑。最大限度地减少制备过程中的人工痕迹，对提高研究分析的准确性至关重要。 本手册介绍了 Leica最常用的样品制备解决方案。我们的产品将帮助您获得TEM、LM、SEM和 AFM分析所需的结果。如果您有特殊要求或问 题，我们的徕卡专家将随时为您提供帮助。目录 固态样品制备...............................07 聚合物样品制备...........................11 电子材料和半导体.......................15 金属、陶瓷材料、硬质材料 复合材料加工.................................19 真空转移........................................22
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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司为您提供《材料科学研究的全流程解决方案》，该方案主要用于其他中材料科学研究检测，参考标准《暂无》，《材料科学研究的全流程解决方案》用到的仪器有德国徕卡 三离子束切割仪 EM TIC 3X。
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