【求助】请教薄膜材料XRD的测试方法

我们是荷兰帕纳科公司的x pert pro，我怎么觉得是固定theta而变化2theta呢。
我经常测薄膜都是这样的啊，号称略射吧。

我使用普析通用的XD-2,测定玻璃基体镀层，采用掠入射的方法（配备平行光薄膜附件）进行测定。具体测定步骤：
首先得到常规谱图，得到样品的衍射谱图Ⅰ；掠入射得到谱图：固定入射角（θ）为很小的角度（一般小于4度），单独检测器（2θ）扫描，得到衍射谱图Ⅱ；将此谱图Ⅰ与谱图Ⅱ相比较，采用掠入射方法后，谱图Ⅱ中玻璃基体衍射峰基本没有了

1 选择扫描方式为2Theta(平时都是Theta/2Theat)
2 Condition 页面里,按一下页面下的向右箭头,看到第2页,有一项是Fixed angle,输入5.
3楼主弄错了,3楼说得对,是Theat不动,保持5度,只转动2Theta.

请问各位要是薄膜师纳米级的话，测得的衍射峰是不是很弱啊？
这样就很难确定这个衍射峰对应的物相了，很是郁闷，请问比较有经验的做法！

如果薄膜是纳米级的，说明薄膜在结晶时形成的团聚，也就是晶粒是纳米级的，用谢乐公式解释的话，晶粒尺寸是与衍射峰的半高宽成反比的，纳米级的材料所对应的衍射峰应该是比较尖锐的，衍射峰的强弱应该与材料本身的结晶程度有关，而与晶粒尺寸无关。