深圳莱雷
第6楼2011/07/08
使用1D-XRD检测样品,样品的制备是关键。峰的相对强度比(RIR)不一致是由于晶体的择优取向照成的,峰位的偏移则是由于样品在制片过程中由于表面倾斜未与玻片一致照成的。消除择优取向,关键在于1)样品的颗粒要足够小,200目筛子较合适。 2)刮平处理时要从各方向,保证样品分散的随机性。3)样品不能太致密,以免外力对样品产生作用,从而影响光路。
附件为使用2D-XRD检测的钴酸锂样品,仪器使用钴靶,样品制备无需制片,只需得到粉末,在样品检测时,样品以5000HZ的频率振动,从理论上而言无择优取向和角度偏差问题,楼主权且作为参照。请重点考察不同晶面的d值及RIR。