大陆
第1楼2009/06/03
从FWHM的衍射角度分布分析晶粒尺寸以下的缺陷,不靠谱。
因为信息量本来就不多,而且影响因素非常多。
当然,如果你有高超的制样水平和测试水平,从XRD得到一些和电镜自洽的结果不是没有可能。请参考马普所(斯图)最近的一篇文章,研究层错的,方法学讲得很仔细,其部分参考文献我想对你很有帮助。
The structure of nitrogen-supersaturated ferrite produced by ball milling---PhilosMag-.pdf
无敌大冰冰
第2楼2009/06/03
看了一些中文文章,有人说可以通过xrd线型分析得到位错密度,但都是模棱两可的得到了,不知道方法,有些傅立叶积分啥的也看不懂,因此想问一下,希望有人能简单明了的告知,嘿嘿。
谢谢大陆兄,我去研读一下这篇文章!