【序号】： 10.1021/ac60359a038 【作者】：R. J. Gehrke, R. C. Davies 【题名】： Spectrum fitting technique for energy dispersive x-ray analysis of oxides and silicates with electron microbeam excitation 【期刊】：Anal. Chem. 【年、卷、期、起止页码】： 1975, 47 (9), pp 1537–1541 【全文链接】： http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/ac60359a038 大侠在来帮帮偶啊，非常感谢了！
KK-yiqi2009/07/03
Paper you want.不好意思，网太慢。
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