第2楼2005/08/02
您的头一个问题 我较糊嘟, 电磁透镜 说白了就是 一套线圈,您讲的三个名词应该 是不同的 检测器种类在 电磁透镜中的不同位置 , INLENS是检测器 嵌在镜筒之间, SEMI-INLENS是半在镜筒之内,半在之外, OFF-LENS是镜筒外检测器。
我对INLENSE很熟悉, OFF-LENSE就是我们常用的 ET 检测器, 我不太清楚 SEMI-INLENS。
另外, INLENSE 现在还是 ZEISS的专利名称, FEI 也注册了他们的专利,叫 THROUGH-LENS, 一回事。
背散射检测器分两种, 一种是固体检测器, SOLID STATE, 利用 固体硅片作 SENSOR,加上前置放大器 构成, 一种是 闪烁体加光导管加 光电倍增管 构成。
第3楼2005/08/08
这次开会见到日立的广告,说是in lens的设计,难道是买zeiss的专利?
第5楼2005/08/09
没什么收获,有几点感受:
1.电子显微学会越来越官腔了,居然因为有代表不去听厂商报告而扣留应该发的合影,并说如果要照片,需要缴纳5元的罚款。而我们缴纳的会费、会务费和厂商赞助已经约有30-40万元左右的基金,sigh。
2.组织的很一般,觉得远远不如我去包头那年参加会议的组织,觉得很乱。
3.不少会员是来玩的,无论是本身从事的工作和来贵阳做的事情都让人觉得这些人是跟电子显微无关的人物。
4.北京的科研气氛最浓,主要带头人很多,南方从事理论和实验结合并以此为主要手段的研究课题很少,主要是武汉大学,也是因为王仁卉,王建波这些郭可信的弟子或者弟子的弟子。
5.被困贵阳的时间里,我们有空回顾所有的过程,几乎都对此类电子显微学会组织的会议感到彻底的失望,电子显微学会以前的电镜工作者的家园印象彻底毁灭。