透射电镜(TEM)
第1楼2005/09/03
我来讲两个辐照损伤的例子:1. 高分子样品:如果是低熔点的,那么电子束从光滑表面扫过的时候就会有明显的皱褶,而快速扫描的话就看不到这种形貌,那么这类皱褶就是损伤2. 孔结构样品:如果电子束比较亮,你就压根看不到好的形貌和结构,还会得出样品本来就不好就是无定型的错误结论。
第2楼2005/09/04
1.低真空2.低电压3.低电流4.调高对比度和亮度5.提高样品接地导电性
第3楼2005/09/04
TEM下,可以减小束斑,用较小的物镜光栏和聚光镜光栏。
第4楼2005/09/04
很棒!!!
第5楼2005/09/04
呵呵,不错
第6楼2005/09/04
如果SEM加大工作距离能否有效果呢?
第7楼2005/09/04
如果样品是拍高分辨,但怕损伤,用底片拍摄如何操作比较合理呢?
第8楼2005/09/05
很有意思的话题, 操作员如果手快的话, 样本损伤应该能 减小到最低程度。我在场发射 扫描上操作 AU ON C 样本, 从 打开 发射枪到得到 100,000 倍的清晰图像, 时间 约为 一分钟半。
第9楼2005/09/05
您手真快了,赞! 这些我在原创里面其实有提到过,不过不是很详细。
第10楼2005/09/05
真不错,先奖励一下几位讲的到位的,有新答案的朋友还会奖励的:)另外,除了把电子束斑调弱这一主要方法之外,觉得还应该多考虑样品的观察技巧:比如在不易损伤区域调焦调象散之后,迅速移动到目的区域加大亮度拍照-毕竟拍底片需要一定的亮度才能得到比较高反差的照片。renxin版主说的手法熟练也就包含这么个意思吧。另外,通过包埋能减少损伤吗?我没有尝试过,有类似经验的朋友讲讲吗?
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