您这样的东西,建议您使用显微红外光谱仪,如果您涂层厚度超过10微米就可以切片分析,还可以用红外显微镜成像进行分析.如果您用普通红外分析是很难的.因为各种信息混合,很难分辨.
sophaloki(sophaloki) 发表:如题,我们用ATR反射测复合膜,软件中有差谱这一项,我个人觉得不是很好应用,像我们的高分子膜片上面又涂了一层,但各点不均匀,特征峰的吸收强度也不尽相同,所以差谱出来的图不能代表我待测的某一层的信息。
不知道有没有用这个用的比较熟悉的版友,讨论讨论吧!因为其它部门的人说既然它有这个功能那就能够用的!所以我现在很苦恼!