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【原创】飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS）

xgq_2001

2010/05/20

综合仪器采购

tof-sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪，它可以进行全元素分析，包括H，同时还可以分析元素的全部同位素。对有机物，无机物都能进行分析，而且对样品导电性能无任何要求，仪器的灵敏度高，可以检测出ppb~ppt量级的杂质。其基本的原理，采用脉冲粒子束轰击样品表面使其产生二次离子（正离子，负离子），产生的二次离子经过一个漂移管到达检测器。根据不同离子的荷质比不同，所以在漂移管中的飞行时间也不相同，质量数小的离子先到达检测器，质量大的后到达检测器，这样就实现了质谱的分离。
1 基本原理：
入射粒子束的能量为E0，根据能量守恒原理
E0=1/2 mv^2
t=L/V
所以，离子在漂移管中的飞行时间与其质量的1/2成正比，所以，质量越大，飞行时间越长。
2 分析模式
两种工作模式：正离子谱模式和负离子谱模式
我们知道不同元素的电负性不同，所以得失电子的能力也不同，有的元素易于形成负离子（如第七主族的卤素元素），有的易于形成正离子（如第一主族的碱金属元素）。所以，分析的过程可根据实际需要选择正离子或者是负离子的工作模式。
3 样品要求：
一般可以分析固体样品，液体样品也可，但是液体要求黏度要大，真空中不挥发。由于仪器的灵敏度高，所以样品制备过程要防止其受到污染。

欢迎大家讨论。

相关话题

坤哥

第1楼2010/05/24

讨论什么？
xgq_2001(xgq_2001) 发表:tof-sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪，它可以进行全元素分析，包括H，同时还可以分析元素的全部同位素。对有机物，无机物都能进行分析，而且对样品导电性能无任何要求，仪器的灵敏度高，可以检测出ppb~ppt量级的杂质。其基本的原理，采用脉冲粒子束轰击样品表面使其产生二次离子（正离子，负离子），产生的二次离子经过一个漂移管到达检测器。根据不同离子的荷质比不同，所以在漂移管中的飞行时间也不相同，质量数小的离子先到达检测器，质量大的后到达检测器，这样就实现了质谱的分离。
1 基本原理：
入射粒子束的能量为E0，根据能量守恒原理
E0=1/2 mv^2
t=L/V
所以，离子在漂移管中的飞行时间与其质量的1/2成正比，所以，质量越大，飞行时间越长。
2 分析模式
两种工作模式：正离子谱模式和负离子谱模式
我们知道不同元素的电负性不同，所以得失电子的能力也不同，有的元素易于形成负离子（如第七主族的卤素元素），有的易于形成正离子（如第一主族的碱金属元素）。所以，分析的过程可根据实际需要选择正离子或者是负离子的工作模式。
3 样品要求：
一般可以分析固体样品，液体样品也可，但是液体要求黏度要大，真空中不挥发。由于仪器的灵敏度高，所以样品制备过程要防止其受到污染。

欢迎大家讨论。

0

fly117

第2楼2010/05/24

是不是ICP-MS

0

风中飞扬

第3楼2010/05/26

tof-sims和单纯的Tof有什么区别呢?

0

xgq_2001

第4楼2010/05/28

tof-sims和单纯的tof有很大区别
1, 单纯的tof是指飞行时间检测器的统称，它可以配合任何质谱仪使用，比如GC-MS,MALDI等，均可以采用tof分析器，且其离化方式多种多样，可以采用辉光放电离化，如GD-MS,可以采用电子轰击离化,如GC-MS(一般上采用四极杆作为监测器，也可采用tof)

2.tof-sims指的是飞行时间-二次离子质谱仪，既然是二次离子的话，就需要有一次离子作为离子源。主要用来分析固体表面成分的分析方法。

0

xgq_2001

第5楼2010/05/28

这里有一个该仪器的图片

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