ICP-MS
laidekeai
第1楼2010/06/21
先坐沙发了,顺便说明下:手里只有jpg格式,附件中没法上传,只能在资料里面上传了,郁闷的是,还得一张一张上传,所以比较零散,不过,这样好像能赚比较多的积分哦,大家就慷慨些吧,支援下...
nps
第2楼2010/06/21
正式版早就发到我们这了,就是没扫描仪,没法扫描....
秋月芙蓉
第3楼2010/06/21
资料不错,感谢分享。
论坛版主招募|新窦
第4楼2010/06/21
感谢楼主分享,不过还是直接放在一个文件里好一点。GB/T 24582-2009 酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
popo
第5楼2010/06/22
还是楼上的最厚到!!!!
klbb778
第6楼2010/06/30
就是,大家交流下嘛,积分要那么多还不是去资助新人啊,呼吁大家分享不要积分。
laicpms_gpmr
第7楼2010/07/07
为什么不尝试用LA-ICP-MS作这工作呢,简单、快速。
第8楼2010/07/07
原因有以下几点:1、没法找到标准硅块2、LA-ICP-MS硬件成本高,估计没几家工厂能承受得了3、标准所下任务的时候就要求尽量采用国际成熟标准
suifengxiatian
第9楼2010/07/14
谢谢资料分享
光哥
第10楼2012/07/04
算不算挖坟??咨询过很多次关于LA的信息:1、标准样品不容易搞定,如果用NIST的玻璃做标样,玻璃中的金属元素和实际硅样的金属元素相差为“ppb~%“之间的差别。且不说别的,做样标样后清洗仪器就够吐血的~~~2、实际上LA-ICPMS的检出限要差于雾动气化的方式,某些元素更是远远不如;3、LA本身的价值也很高,结合以上的不足,估计GB里也不能推荐用这个吧?
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