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EDXRF定量分析计算过程的基本步骤

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • X射线荧光仪定量分析计算过程的基本步骤为:

    1. 标准曲线模型的建立;
    2. 在标准曲线模型设定的各元素测量条件下,测量样品,获得测量谱图;
    3. 谱处理过程,得到各元素的荧光强度;
    4. 基体效应校正过程,在标准曲线模型设定的校正方法计算样品中各元素含量;
    FP法基体效应校正,需要计算光管原级谱分布,可参考附件中的计算程序。

    下面详细介绍这四个部分。

    关键词:XRF,模型,谱处理,基体效应,定量分析

附件:

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  • dragondjf

    第2楼2011/03/26

    怎么没有附件?

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  • 金水楼台先得月

    第3楼2011/03/26

    请楼主上传附件!1

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  • X荧光

    第4楼2011/03/29

    FP法基体效应校正,需要计算光管原级谱分布,可参考附件中的计算程序。

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  • jqliuyan

    第5楼2011/04/07

    没有密码怎么使用啊?

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  • 金水楼台先得月

    第6楼2011/04/08

    替你上传附件

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  • gamer0021

    第7楼2011/04/12

    载入文件类型只有两个吗?可以用在哪些仪器上还是都可以?

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  • 金水楼台先得月

    第8楼2011/04/12

    你要不直接站内短信问楼主吧

    gamer0021(gamer0021) 发表:载入文件类型只有两个吗?可以用在哪些仪器上还是都可以?

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  • X荧光

    第9楼2011/04/14

    1. 标准曲线模型的建立;

    设置一些具体参数
    (一)仪器固定参数
       阳极靶材料,射线取出角,Be窗口厚度,样品入射角,样品出射角,光路距离等。这些参数用于FP法基体效应校正。
    (二)模型具体参数
       高压,管流,测量时间,滤波片,准直器,气氛条件等,每个模型可根据样品情况自由变化。这些参数用于FP法基体效应校正。
    (三)元素测量条件
       设置每个计算元素,谱线和测量条件。
    (四)标准样品
       输入标准样品的标准含量,获得实测荧光强度。
    (五)标定曲线
       根据标准样品的标准含量和荧光强度,校正基体效应,建立标定曲线。

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  • X荧光

    第10楼2011/04/14

    2. 在标准曲线模型设定的各元素测量条件下,测量样品,获得测量谱图

       X荧光仪调整到标准曲线模型设定条件下,如高压,管流,测量时间,滤波片,准直器,气氛条件等,待仪器稳定,根据各元素测量条件,测量待测样品,获得测量谱图。

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