X射线荧光光谱仪(XRF)
hsteel
第1楼2010/09/05
按照你的比例,样品被稀释了35倍,如果Ni和Mg是5%的话,熔成玻璃片后含量大概是0.15%,Ni和Mg有这个的计数率也是正常的,即使是这个范围的计数率做曲线也是可以的。用小电压大电流可适当的增加强度。
markon_yan
第2楼2010/09/06
小电压大电流,,,不要用FILTER.或者在样品中适当的添加点高纯度的Ni和Mg氧化物或者其他.至于MONITOR,只要以前他有做你就接着他的做就可以了.实在不放心你把他的更新下,很简单的.
第3楼2010/09/06
不建议用添加Ni和Mg的氧化物来增加他们的强度,这样引入的误差会更大。
klj466242957
第4楼2010/09/07
venus200 minilab pw4120的电压是固定在50KV 4mA的,镁在这台机子上不能做calibrate angle,扫描时几乎看不出尖锐峰。我刚用这台机子,是否是配置问题导致无法测镁,检测器校正时用什么样品啊,万请帮忙。
ljzllj
第5楼2010/09/07
小小的建议:1、Mg的强度不到1KCPS,建议检查背景,轻基体的背景可能就有这个程度的强度。2、Mg本来就是产额低的元素,且又经制样过程中的稀释,导致实际所测的样片中Mg的含量大大降低,建议先查看本机的配置,看看有没有灵敏度更高的晶体,另外,选择粗一些的准直器,测量条件保证电流最大,然后相应调节电压。如尝试用25KV,8mA条件,若仪器最大电流只有4mA,那么就无能为力了。
第6楼2010/09/07
对了,还有一点,积分时间放长一些,比如200秒,或者更长时间。
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