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为何ICP-OES中通常用面阵的CCD或CID,而SPARK-OES却用线阵的CCD?

  • chauchylan
    2012/08/15
  • 私聊

直读光谱

  • 为何ICP-OES中通常用面阵的CCD或CID,而SPARK-OES却用线阵的CCD?主要是成本的原因吗??
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  • 沧海青城

    第1楼2012/08/16

    应助达人

    这个可能是厂家对于技术要求的不同吧

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  • =牛牛=

    第2楼2012/08/16

    成本因素应该有 会不会是面阵的CCD或CID的处理速度不及线阵的CCD或PMT 但是动态范围要更大

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  • 谁能百里挑一

    第3楼2012/08/16

    CID是不是还在保护中啊?

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  • chauchylan

    第4楼2012/08/17

    目前SPARK-OES还没有用CID的厂家

    谁能百里挑一(denica) 发表:CID是不是还在保护中啊?

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  • dyz

    第6楼2012/08/22

    ==========
    十几年前贝尔德公司的ONE-SPARK仪器用的是CID,目前国内还有几台仪器在用。

    chauchylan(chauchylan) 发表:目前SPARK-OES还没有用CID的厂家

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  • chauchylan

    第7楼2012/08/23

    第一次听说SPARK-OES有用CID的厂商,难道国外已在这方面做过研究???目前为何不采用CID????

    dyz(dyz) 发表:==========
    十几年前贝尔德公司的ONE-SPARK仪器用的是CID,目前国内还有几台仪器在用。

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  • 云☆飘☆逸

    第8楼2012/08/23

    应助达人

    成本差不少呢

    沧海青城(lgt228) 发表:这个可能是厂家对于技术要求的不同吧

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  • =牛牛=

    第9楼2012/08/27

    主要因素不在成本这块啊 往往越贵的他们还越能挣钱 

    云飘西风落(denx5201314) 发表:成本差不少呢

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  • wccd

    第10楼2012/08/28

    应助达人

    按传感器结构分为面阵CCD相机与线阵CCD。

    面阵CCD的优点是可以获取二维图像信息,测量图像直观。缺点是像元总数多,而每行的像元数一般较线阵少,帧幅率受到限制,因此其应用面较广,如面积、形状、尺寸、位置,甚至温度等的测量。由于生产技术的制约,单个面阵CCD的面积很难达到一般工业测量对视场的需求。

    而线阵CCD的优点是一维像元数可以做得很多,而总像元数角较面阵CCD相机少,而且像元尺寸比较灵活,帧幅数高,特别适用于一维动态目标的测量。而且线阵CCD 分辨力高,价格低廉,可满足大多数测量视场的要求,但要用线阵CCD获取二维图像,必须配以扫描运动,而且为了能确定图像每一像素点在被测件上的对应位置,还必须配以光栅等器件以记录线阵CCD每一扫描行的坐标。一般看来,这两方面的要求导致用线阵CCD获取图像有以下不足:图像获取时间长,测量效率低;由于扫描运动及相应的位置反馈环节的存在,增加了系统复杂性和成本;图像精度可能受扫描运动精度的影响而降低,最终影响测量精度。

      即便如此,线阵CCD获取图像的方案在以下几方面仍有其特有的优势:线阵CCD加上扫描机构及位置反馈环节,其成本仍然大大低于同等面积、同等分辨率的面阵CCD;扫描行的坐标由光栅提供,高精度的光栅尺的示值精度可高于面阵CCD像元间距的制造精度,从这个意义上讲,线阵CCD获取的图像在扫描方向上的精度可高于面阵CCD图像;新近出现的线阵CCD 亚像元的拼接技术可将两个CCD芯片的像元在线阵的排列长度方向上用光学的方法使之相互错位1/2个像元,相当于将第二片CCD的所有像元依次插入第一片CCD的像元间隙中,间接“减小”线阵CCD像元尺寸,提高了CCD的分辨率,缓解了由于受工艺和材料影响而很难减小CCD像元尺寸的难题,在理论上可获得比面阵CCD更高的分辨率和精度。

      因此,线阵CCD加扫描运动获取图像的方案目前仍使用广泛,尤其是在要求视场大,图像分辨率高的情况下甚至不能用面阵CCD替代。但是,仅有高的分辨率还不能保证有高的图像识别精度,特别是线阵CCD获取的图像虽然分辨率高,但由于受扫描运动精度的影响,其图像较面阵CCD图像更具特殊性。因此,图像识别时不仅要充分利用分辨率高的优势,还必须从算法上克服扫描运动的影响,使机械传动的误差不致直接影响最终的图像识别精度。

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