漂移校正（Drift Correction）

4． 测量鉴测试样
以下几节将介绍如何测量鉴测试样。

4.1 鉴测测量输出
不论在操作中是标准化漂移校正，直接漂移校正，使用一个或多个鉴测试样，以下信息将在测量后列出：
n    每通道的计数率
n    计数统计误差（C.S.E）
%CSE=
n    最终与最初结果的百分比差异
n    计算出的漂移校正系数d
下一条款仅在标准化漂移校正中出现（使用多个试样）
n    计算出的背景校正b

4.2 标准化漂移校正鉴测的测量
下面将对就检测试样的修正过程进行说明。

4.2.1 检测寄存修正
注意到仅仅使用一个鉴测试样（仅有漂移系数d进行修正）进行修正与使用多个鉴测试样（有漂移系数d和背景系数b进行修正）修正的差异是十分重要的。
鉴测试样可以任一方式进行测量：
1.    通过MEM（Measure External Monitor）命令。此时试样须进入光谱仪气密装置内。
OR
2. 通过MIM（Measure Internal Monitor）命令，在这种情况下，试样须事前进入光谱仪（参考Chapter4 LMO命令）

4.2.2 测量标准化漂移校正鉴测（MEM）
下例表明MEM命令是如何在设置检测试样的条件下进入外存寄存的修正过程的，MIM命令同样可用于产生分析部分，有关在鉴测寄存中的试样的具体叙述已列出，那些在此循环中测定过的试样被订上星号，你可以选择一个试样按顺序进行测量。
鉴测试样再完测之后，d.b系数值得以校正
* MEM
Monitor buffer DEMO2 :=
Monitor samples to measure
NO sample identification
1 * A2
2 * D1
3 * C1

谢谢楼主，希望再发多点。

谢谢啦，好东西就是要分享下的

多谢指导,谢谢

怎么我感觉做漂移较正,好像没什么效果的,
例如我的铜合金标样经常测出来的数据都不达标,,然后就做漂移较正,,但是做过之后还是老是不在范围之内.....