请问S-4800的YAG（装在极靴底下半导体背散射探头）和极靴内置的BSE探头（就是他们的EXB技术），哪种成像效果更好？

应助达人

没比较过，有两种都用过的吗

刚在一个2010年的帖子里回答了一下，就不重复了。
http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20100225/2415053/

感觉EXB用起来更繁琐 不如YAG好用 而且YAG接受到的BSE的信号也会更多 大部分的情况还是YAG更实用

感觉EXB用起来更繁琐 不如YAG好用 而且YAG接受到的BSE的信号也会更多 大部分的情况还是YAG更实用

不过问题是，在不需要能谱的情况下，场发射一般都用5kV以下的加速电压来观察样品的表面超微结构，那时候YAG成BSE像的效果并不理想，反倒是E×B产生的BSE信号不论是信噪比还是表面性都有相当的优势。

http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20121005/4280614/

LZ可以去看下，帖子里面PDBSE和YAG在这个实验当中效果差得不多。

YAG是单独的背散射探头，效果应该更好得到的是纯背散射像，那种混合探头的背散射有假象，但见过很多日立电镜都没有给配单独的背散射探头不知为什么

第一，Super ExB系统的电压适应范围比YAG广。YAG探头的适应工作电压在5kV~30kV，Super ExB系统的适应电压是全程。
第二，场发射更注重超高分辨和表面细节，而若要得到高的空间分辨率，加速电压一般会控制在5kV以下。
第三，YAG探头价格不菲。
另外，Super ExB系统因为极靴内外极板的梯度电压设计，基本可以滤除所有的SE信号。
因此，日立主推Super ExB系统。

可能价格也是一个因素