ICP-MS同时测定Fe和Mn，相互之间有没有干扰？

如果 Fe、Mn都是微量元素，那么彼此没有干扰。
如果是测【铁基体】中的微量Mn，那么56Fe强峰会向左拖尾影响55Mn（即低质量端的丰度灵敏度）


普通四极杆ICP-MS低质量端丰度灵敏度通常 <1e-6（这个值越小越好）。假设56Fe有100万cps信号，该强峰会对55Mn造成1cps的拖尾贡献。

最后特别注意：丰度灵敏度（例如56Fe对相邻质量峰55Mn的影响）与多原子干扰（例如56Fe与40Ar16O），是两个不同概念。

应助达人

低含量没干扰，Fe含量高的话干扰很大。

学习了，二楼解释的很好啊

如果测试Mn基体中微量Fe，也会有干扰。

请教老师：ICPMS能像ICP光谱调整分辨率（半峰宽）的方法来降低（提高？）丰度灵敏度吗？能不能用这个办法来降低相邻质量数的干扰？

timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:如果 Fe、Mn都是微量元素，那么彼此没有干扰。
如果是测【铁基体】中的微量Mn，那么56Fe强峰会向左拖尾影响55Mn（即低质量端的丰度灵敏度）


普通四极杆ICP-MS低质量端丰度灵敏度通常 <1e-6（这个值越小越好）。假设56Fe有100万cps信号，该强峰会对55Mn造成1cps的拖尾贡献。

最后特别注意：丰度灵敏度（例如56Fe对相邻质量峰55Mn的影响）与多原子干扰（例如56Fe与40Ar16O），是两个不同概念。

丰度灵敏度 是由四极杆质量分析器(Quadrupole Mass Filter)的设计工艺所决定的，传统的ICPMS只有一个QMF，丰度灵敏度通常<1e-6。Agilent 8800有两个QMF，MS/MS Mode下丰度灵敏度<1e-10。

PS：四极杆有多种用途，例如 四极杆离子透镜、四极杆离子导杆、四极杆质量分析器。上面的描述，我特别强调是QMF。

看不懂啊。老师的意思是丰度灵敏度是不能调整的，与分辨率无关，是吗？

缩小质量轴峰宽（即提高分辨率），可以改善丰度灵敏度。但随之而来的是 灵敏度骤然降低，得不偿失。

例如 Thermo Element系列 扇形场高分辨 SF/HR-ICP-MS
在低分辨下，In=200万cps/ppb，丰度灵敏度<1e-6；
在高分辨下，In=5万cps/ppb —— 降低40倍；而丰度灵敏度<2e-8 —— 改善50倍。

所以丰度灵敏度 主要取决于 四级杆质量分析器QMF的设计制造工艺。再次强调：灵敏度 与 丰度灵敏度，完全是两个概念。

这次看明白了，谢谢。