请问X射线能谱仪(EDS)固体探测器的发展状况和最新动态？

请与中国分析测试协会咨询委员会汪老师联系，电话：010-68512283

请访问下面的网页：

http://www.oxford-instruments.com.cn/product/ia/xrf/xrf.htm

读： 电子显微学报，“低能(5keV)电子束X射线能谱分析的进展” 1998，03

所答非所问，整个一个推销仪器者。而且信息也太陈旧了。

据我所知，目前，能量色散型X射线仪所使用的固体检测器为半导体固体检测器（SSD），它的优点是有极高的能量分辨率，可用来测量软X射线的能量和波长。缺点是需要在液氮温度（约－170℃）下才能正常工作，且售价很高。现在已有可适用于X射线检测工作的半导体电致冷Si检测器，能量分辨力为300eV，是近年X射线检测实用技术的重要突破。

补充一点，专家咨询栏目是本网免费为广大网友服务的栏目，多位专家也是在百忙之中挤出时间来回答网友的问题。但是，毕竟专家人数有限，每个人所涉及到的知识领域还是有一个范围的，可能有一些问题回答的不太令您满意，本网也在不断扩大我们的专家库。

但是，您所说的“推销仪器者”，我们不太赞成，这也是对我们工作的不尊重。

这个问题也太大了吧，国内有Oxford，EDAX，Noran等厂家，可以去咨询一下。