[求助]TEM请教

可以做磁性样品，但要小心一点，样品有磁性会影响电镜的磁场，而且如果样品做的不好可能会掉到极靴上去，我们就吃过这个亏， 。也有人把样品杆改装一下专门用来做磁性样品。

有些组专门用TEM观察磁性样品。可以关掉物镜用lorentz模式，或者是electron holography.但倍数不太高，一般在1万倍以下。物镜关闭后样品在无场区域,应该是安全的.
如果不用专门看磁性性质，在合适制样的情况下也可以打开物镜用高倍模式。
如果需要测试不同外场下的样品磁性变化，可以在free lens模式下调整物镜产生的磁场大小，并倾转样品导入平面内磁场。

关闭物镜的Lorentz模式或者此模式下的holography, 主要是为了测量无场下的磁性性质。如果仍然主要是想得到结构信息，如高分辨或衍衬象，仍然可以打开物镜采用高倍模式。不会有什么影响。分辨率应该和普通STM差不多。当然现在有spin-polarized STM,可以测小尺度下的磁性结构.

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看来你真正是一个JEOL user了，所以对其它的产品了解不多。你所说的关物镜的LM模式（被JEOL有意地称为Lorentz模式），的确存在放大倍数和分辨率的问题。FEI透射电镜的Lorentz模式，则是包括一个特殊的、远离样品的Lorentz透镜：当物镜关闭后，Lorentz透镜承担主要的放大任务。样品仍处在无外界磁场的环境下，而最大的放大倍数可以到6-7万倍，分辨率也在几个纳米。
你说的电子全息有争议，如何理解？所有的学术问题都会有争议，能否细细说来？

替TEM_ABC兄稍微补充一下，jeol的lorentz模式也有个minilens,处于无场区域.不过最高放大倍数只在1万5千倍左右。另外好象有的电镜可以通过能量过滤系统(不知道是不是一定是in column的)提供额外的放大倍数。不知道是怎么实现的。

谢谢templus朋友的补充，的确JEOL在某些电镜上有objective minilens，让我忽略掉了。通过能量过滤系统（post column的GIF），你可以得到额外的20x放大。但由于成像系统的缺陷（主要是球差），无论有没有objective minilens，分辨率都受到了限制，放大倍数再高也没有帮助。这就像数字放大图像，再大一些你就看到像素了。

jeol的lorentz模式怎么用？

原来有此cljia来作报告,讲到lorentz透镜,然后那天晚上我正好作实验,然后听到老板好像咕隆了一句,别人的电镜是专门的,我们的就算把物镜电流全部关掉也不行,放大倍数太低.
我也不懂JEOL的怎么弄

JOEL的低倍模式就是lorentz模式，物镜自动关闭，启用mini lens.打开free lens 控制，可以看到各个lens的电流大小，可以看到物镜被关闭,mini lens 打开。
当然也可以自己用free lens控制，不过难度太高，没法把每级透镜正确聚焦。
注意如果是mini lens,这是聚焦钮仍然对mini lens 聚焦，老式的电镜如果没有minilens，关掉物镜后只能用diffraction focus 聚焦.